DE4123589C2 - Vorrichtung zum Messen der Lichtstrahlung eines Plasmas - Google Patents
Vorrichtung zum Messen der Lichtstrahlung eines PlasmasInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen von Lichtstrahlung nach dem Ober
begriff des Patentanspruchs 1.
In der Plasmatechnik ist es oft notwendig, den physikalischen Zustand des Plasmas festzu
stellen, der sich u. a. in seiner Helligkeit ausdrückt. Hierzu muß eine Lichtmessung vorge
nommen werden, die in den meisten Fällen problematisch ist, weil das Plasma die Licht
sensoren beschichtet oder sich in einem lichtundurchlässigen Gehäuse befindet.
Um Plasma-Lichtstrahlung zu messen, ist es bereits bekannt, in lichtundurchlässigen Plas
mabehältern Quarzfenster vorzusehen, durch die Licht auf eine Fotozelle fällt (US-PS 4
166 784). Eine lokale Intensitätsmessung benachbarter Plasmen ist hiermit jedoch nicht
möglich.
Ebenfalls bekannt ist es, Plasma-Lichtstrahlung über ein Glasfaserkabel zu erfassen (DE-
A-38 03 840). Hierbei können die Glasfaserkabel jedoch leicht durch das Plasma beschich
tet werden.
Weiterhin ist eine Vorrichtung zum Erfassen von Strahlungen eines schnell erzeugten
Plasmas, das aus einem einzigen plasmaerzeugenden Ereignis hervorgegangen ist,
bekannt (US-PS 4 542 290). Das einzige plasmaerzeugende Ereignis ist beispielswei
se das Auftreffen eines Laser- oder Teilchenpulses z. B. auf ein Target aus Titan, wo
durch verschiedene Röntgenstrahlen und sichtbares Licht entstehen. Mit Hilfe von
drei optischen Fasern, die mit ihrem jeweils einen Ende auf das Target gerichtet sind,
werden drei verschiedene Strahlungsarten erfasst und mittels einer Kamera, welche
auf das jeweils andere Ende der optischen Fasern gerichtet ist, dargestellt. Das Target
ist hierbei so ausgebildet, dass die verschiedenen Strahlungsarten von unterschied
lichen Richtungen aus erfassbar sind. Für die Erfassung von Plasmen, die mit Hilfe
einer Elektrode erzeugt werden, ist die bekannte Vorrichtung nicht geeignet.
Schließlich ist auch noch eine Vorrichtung für die Behandlung von Silizium-Wafern
mit Plasma bekannt, bei der die Plasmakammer mit einer kuppelförmigen Abdeckung
versehen ist (US-PS 4 245 154). Durch eine Öffnung der aus Quarz bestehenden Ab
deckung ist eine Glasfaser geführt, die an dem dem Plasma zugewandten Ende einer
Linse aufweist und mit ihrem anderen Ende mit einem Mikrovoltmeter in Verbin
dung steht. Vor dem Mikrovoltmeter ist eine Fotozelle angeordnet, die das empfange
ne Licht in ein elektrisches Signal umformt. Mit dieser Vorrichtung ist es nicht mög
lich, die Lichtstrahlung eines Plasmas in einer Sputterkammer mit Sputterelektroden
zu erfassen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum Messen der Licht
strahlen eines Plasmas zu schaffen, das mit Hilfe wenigstens einer Elektrode erzeugt
wird.
Diese Aufgabe wird gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
Der mit der Erfindung erzielte Vorteil besteht insbesondere darin, daß eine lokale Intensi
tätsmessung benachbarter Plasmen möglich ist. Außerdem kann bei Rundkathoden-Mehr
ringsystemen eine Trennung von innerer und äußerer Intensität erfolgen. Hierdurch können
verschiedene Sputterraten eingestellt bzw. geregelt werden. Durch die geringe Apertur der
Glasfaser ist die Regelung einzelner Plasmaringe möglich. Hinzu kommt, daß die Licht
leitfaser, welche das Plasma-Licht aufnimmt, mit der Kathode eine Baueinheit bildet, die
fest justiert werden kann.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im fol
genden näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 eine Prinzipdarstellung einer Sputterkammer mit einer Vorrichtung zum
Erfassen von Plasma-Licht;
Fig. 2 eine vergrößerte Darstellung einer Kathode mit einem Target und einer
Lichtleitfaser;
Fig. 3 eine Vorrichtung zum Befestigen einer Lichtleitfaser auf einem Target
trägertopf.
In der Fig. 1 ist das Prinzip einer Sputterkammer 1 dargestellt, die mit einem Gaseinlaß 2
und einem Pumpenstutzen 3 zum Evakuieren der Sputterkammer 1 versehen ist. Auf einem
als Anode dienenden Teller 4, der sich in der Vakuumkammer 1 befindet, sind mehrere
Substrate 5, 6, 7 angeordnet, die geätzt oder mit einer Sputterschicht versehen werden sol
len. Gegenüber und in einem Abstand von diesem Teller 4 befindet sich eine Kathode 8,
die auf ihrer dem Teller 4 zugewandten Seite ein Target 9 aufweist. Auf der anderen Seite
der Kathode 8 befindet sich ein Dauermagnet 10, dessen Magnetfeld 11 durch die Kathode
8 und das Target 9 durchdringt und im eigentlichen Plasmaraum 12 einen Bogen bildet.
Der Dauermagnet ist nur symbolisch angedeutet. Die dargestellten Nord- bzw. Südpole
können z. B. die Enden eines im einzelnen nicht dargestellten Hufeisenmagnets sein. Die
Kathode 8 und das Target 9 sind jeweils mit einer Bohrung versehen, und zwar an gegenü
berliegenden Stellen, so daß sich eine durchgehende Bohrung 13 ergibt, in die das Ende ei
ner Glasfaser 14 hineinragt. Dem anderen Ende der Glasfaser 14 liegt ein lichtempfindli
cher Sensor 15 gegenüber, der das Licht, welches aus der Glasfaser 14 auf ihn auftrifft, in
ein elektrisches Signal umwandelt und einer Auswerteeinrichtung 16 zuführt.
Der Übersichtlichkeit halber ist in der Fig. 1 nur eine Glasfaser 14 dargestellt. In der Praxis
können selbstverständlich an mehreren Stellen der Kathode 8 bzw. des Targets 9 Bohrun
gen vorgesehen sein, in welche jeweils gesonderte Glasfasern ragen.
Die Kathode 8 und die Anode 4 liegen über Leitungen 17, 18 an einer Spannungsquelle 19,
bei der es sich um eine Gleich- oder Wechselspannungsquelle handeln kann. Eine Gleich
stromquelle ist in der Regel nur für leitfähige Target-Materialien, z. B. Metalle und die
meisten Halbleiter geeignet, während eine Wechselstromquelle von z. B. 13,56 MHz auch
für nichtleitende Target-Materialien verwendet werden kann.
Durch die Gaszuführung 2 wird Inertgas, z. B. Argon, in die auf einen Druck von 0,1 bis
0,01 mbar evakuierte Sputterkammer 1 eingeführt, das bei anliegender Spannung, z. B. ei
ner Gleichspannung von 1 bis 3 kV, ionisiert wird. Die positiven Ionen dieses Inertgases
werden durch das elektrische Feld der anliegenden Gleichspannung beschleunigt und tref
fen mit großer Geschwindigkeit auf das Target 9 auf, wo sie aus diesem Partikel heraus
schlagen, die sich auf dem Substrat 5 bis 7 ablagern. Durch das Magnetfeld 11 werden die
Elektronen des Plasmas auf eine Spiralbahn gebracht, wodurch sich die Wahrscheinlich
keit eines Zusammenstoßes mit einem neutralen Inertgas-Molekül erhöht, das durch diesen
Zusammenstoß ionisiert wird.
In der Fig. 2 ist der Bereich um die Bohrung 13 noch einmal in vergrößertem Maßstab dar
gestellt. Der Dauermagnet hat hierbei einen Nordpol 20 von der Gestalt eines rechteckigen
Rahmens, während der Südpol 21 als rechteckiger Streifen innerhalb des Nordpols 20 an
geordnet ist. Aufgrund dieser Anordnung bildet sich ein umlaufendes Magnetfeld (vgl.
Severin: Sputtern, Physik in unserer Zeit, 1986, Seite 73, Abbildung rechts oben). Die
Elektrode 8 ist als ein nach unten offener Topf ausgebildet, der das Target umschließt. Auf
den Dauermagneten 20, 21 ist zum Feldschluß eine Jochplatte 30 gelegt.
Nach längerem Betrieb bilden sich auf der Unterseite des Targets 9 und zwischen den
Nord- und Südpolen des Dauermagneten 20, 21 Krater, was auf das verstärkte Bombarde
ment durch Ionen zurückzuführen ist.
Statt der dargestellten Rechteckkathode sind auch Rundkathoden, Delta-Kathoden und
elliptische Kathoden denkbar (Severin, a. a. O., Seite 75, Abb. 8).
Die Fig. 3 zeigt einen Ausschnitt aus der Fig. 2, wobei die Halterung der Glasfaser 14 nä
her dargestellt ist. Anstelle einer Glasfaser kann auch ein Glasfaserbündel eingesetzt wer
den. Die Glasfaser 14 ist mit einer Ummantelung 24 versehen, die in einen Schraubkopf 25
eingepaßt ist, der seinerseits auf einen mit der Kathode 8 verschweißten Träger 26 aufge
schraubt ist. Der Träger 26 weist eine Bohrung 27 auf, die sich in ihrem oberen Bereich
konisch aufweitet und dort einen Dichtungsring 28 trägt, der die Glasfaser 14 umschließt.
Der Durchmesser d1 der Bohrung 13 beträgt etwa 2 mm bis 3 mm, während der Durch
messer d2 der Glasfaser etwa 1,2 bis 1,5 mm beträgt. Der Abstand h der Unterkante der
Glasfaser 14 zur Unterseite des Targets wird zu h ≧ 10 mm gewählt, während d1 < 3 mm
ist, um parasitäre Plasmen im Druckbereich 10-3 mbar zu verhindern, die eine Kontamina
tion oder Sputtern des Lichtleiters 14 bewirken könnten. Mit 29 ist ein Krater bezeichnet,
der dort entsteht, wo das Magnetfeld 22, 23 parallel zum Target verläuft.
In der Kathode 8 sind Kühlwasserkanäle 31, 32, 33 vorgesehen, zwischen denen sich die
Glasfaser 14 befindet.
Unterhalb des Kühlwasserkanals 33 bildet sich ebenfalls ein Krater aus, der jedoch nicht
dargestellt ist.
Claims (15)
1. Vorrichtung zum Messen der Lichtstrahlung eines Plasmas, das mit Hilfe wenigstens ei
ner Elektrode erzeugt wird, wobei ein lichtempfindlicher Sensor vorgesehen ist, der mit ei
ner zur Leuchtdichte des Plasmas proportionalen Leuchtdichte beaufschlagt wird, dadurch
gekennzeichnet, daß die Elektrode (8) mit einer Bohrung (13) versehen ist, in der sich das
Ende einer Glasfaser (14) befindet, die mit ihrem anderen Ende dem lichtempfindlichen
Sensor (15) zugeführt ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode (8) eine Ka
thode mit einem Target (9) ist, wobei auch das Target (9) mit einer Bohrung (13) für die
Aufnahme des Endes der Glasfaser (14) versehen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß statt einer einzelnen Glas
faser ein Glasfaserbündel verwendet wird.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kathode (8) als
Magnetronkathode (8, 10) mit wenigstens einem Magneten (10) ausgebildet ist, der ein
Magnetfeld ausbildet, welches aus dem Target (9) austritt und zum Target (9) zurückführt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Bohrung (13) für die
Aufnahme des einen Endes der Glasfaser (14) zwischen Sputtergraben (29) des Targets (9)
und derjenigen Stelle vorgesehen ist, in welche das Magnetfeld ein- bzw. austritt.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode (8) an nega
tivem Gleichspannungspotential liegt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode (8) an
Wechselspannungspotential liegt.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Targethalter (8) vor
gesehen ist und daß pro Target (9) mindestens eine Glasfaser eingesetzt wird.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Targethalter und das
Target (9) Bohrungen aufweisen, die entlang einer gemeinsamen Achse ausgerichtet sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bohrungen nicht
größer als die Dunkelraumzone sind.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Bohrungen bei 10-3
mbar etwa 2 bis 3 mm betragen, was dem Dunkelraum einer Glimmentladungsstrecke ent
spricht.
12. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtleitfasern einen
Durchmesser von 1,2 bis 1,5 mm haben.
13. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand (h) der
Glasfaser-Unterkante zur Targetunterkante so gewählt ist, daß eine Blendenwirkung auf
tritt, die verhindert, daß schräg einfallende Teilchen die Glasfaser zusputtern.
14. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektrode (8) mit
mehreren Bohrungen versehen ist, wobei sich in jeder Bohrung das Ende einer eigenen
Glasfaser bzw. eines Glasfaserbündels befindet und wobei das jeweils andere Ende einer
Glasfaser einem lichtempfindlichen Sensor zugeführt ist.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß für mehrere Glasfasern
nur ein lichtempfindlicher Sensor vorgesehen ist und die Enden der Glasfasern zeitlich
nacheinander in eine Position gebracht werden, die dem Sensor gegenüberliegt.
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