SU775732A1 - Устройство дл построени провер ющего теста и диагностировани бесповторных комбинационных схем - Google Patents

Description

Изобретение относится к автомати* ке и контрольно-измерительной технике и может быть использовано при создании автоматических устройств контроля и поиска неисправностей 5 дискретных автоматов.

Известно устройство [Д] поиска неисправностей логических схем, основанное на измерении реакции диагностируемого автомата на наборы теста, Ю вырабатываемого генератором случайных чисел, и сравнении ее с сигналом контрольного автомата.

Недостатками этого устройства являются большое время контроля, пос- 15 кольку посылаемые на вход наборы соответствуют случайным числам, а также трудности определения места неисправности, т.е. дешифрация результатов контроля. 20

Известно автоматическое устройство контроля и поиска неисправностей [2J . основанное на сравнении выходного сигнала диагностируемого автомата на наборах проверяющего и диагности- 25 ческого тестов с эталонным его значением. Недостаток этого устройства большой объем вычислительных операций, связанных с получением диагностического и проверяющего тестов, что 30 приводит к большому времени контроля различных диагностируемых схем.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство контроля и поиска неисправностей бесповторных комбинационных схем £зЗ . Оно содержит источник питания, подключенный к входу блока управления, один выход которого подключен к входу первого коммутатора, а другой выход - к входу второго коммутатора, блок фиксации неисправностей, вход которого подключен к выходу генератора эталонных сигналов, й электронные ключи, выходы которых соединены с выходами устройства .

Недостаток данного устройства заключается в том, что для обнаружения логических неисправностей бесповторных комбинационных схем в нем используются избыточные проводящие наборы, что приводит к большому расходу ресурса диагностируемой схемы и необоснованному увеличению времени диагностирования .

Цель изобретения - повышение быстродействия устройства.

Указанная цель достигается тем, что устройство содержит блок памяти состояний входов диагностируемой схемы, блок памяти обработанных переменных, элемент И и индикатор проверяющего теста. При этом выходы второго коммутатора подключены к одним входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы, а выходы первого коммутатора - к другим входам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы и к первым входам блока памяти обработанных переменных, выходы которого через элемент И соединены с входами индикатора проверяющего теста и с управляющими входами электронных ключей, подсоединенных информационными входами к выходам блока памяти состояний входов диагностируемой схемы, а выход -блока фиксации неисправностей подключен к второму входу блока памяти обработанных переменных.

При построении проверяющего теста бесповторный комбинационный схемы в устройстве используются прямая и инверсная дизъюнктивная форма функции ДНФ выхода схемы. Для элементарной конъюнкции ДНФ строится проверяющий набор по правилам. Для получения полного теста схемы достаточно построить проверяющие наборы для такого множества конъюнкций прямой (инверсной) ДНФ, в которое входят все переменные функции выхода. В настоящем устройстве используется указанное свойство.

На чертеже представлена функциональная схема устройства.

Устройство содержит источник 1 питания, блок 2. управления, первый коммутатор 3 для переменных элементарных конъюкций, блок 4 памяти обработанных переменных, блока 5 памяти состояний входов диагностируемой схемы 8, второй коммутатор 6 для переменных логической функции, электронные ключи 7, 8, 9, диагностируемую схему 10, элемент И 11, индикатор 12 проверяющего теста, блок 13 фиксации неисправностей, генератор 14 эталонных сигналов.

Устройство работает следующим образом.

С.помощью блока 2 подается напряжение источника 1 на вход коммутаторов 3 и 6, с помощью которых соответствующие команда проходят на входа блока 5. € выхода блока 5 сигналы, соответствующие элементарным конъюнкцияи прямой (инверсной) дизъюнктивной нормальной формы логической функции, дополненные переменными инверсной прямой функции выхода схемы через ключи 7, 8, 9, поступают на входа схемы 10. При этом блок 4 фиксирует наличие (но не'состояние) обработанных переменных в конъюнкциях дизъюнктивных нормальных форм прямой и инверсной логических функций, т.е. тех конъюнкций, на основе которых формируются проверяющие наборы, например сначала разрыв, а потом шунтирование. Выходной сигнал с выхода схемы 10 сравнивается в блоке 13 с сигналом, поступившим с генератора 14. При несовпадении этих сигналов индикатор 12 фиксирует неисправность.

Наличие переменных в элементарных конъюнкциях прямой дизъюнктивной нормальной форме логической функции запоминается блоком 4 памяти и посылается на входы элемента И Некоторый осуществляет счет использованных ими обработанных переменных. Как только будут обработаны все переменные для прямой функции, с выхода элемента И 11 сигнал поступит на закрытие ключей 7, 8, 9. Этим самым исключается подача проверяющих наборов, соответствующих остальным элементарным конъюнкциям, т.е. выдача проверяющих наборов для прямой ДНФ прекращается. Схема возвращается в исходное состояние и начинается аналогичная проверка конъюнкций обратней ДНФ.

Если диагностируемая схема неисправна, то с выхода блока 13 подается сигнал на разблокировку блока 4, т.е. в этом случае возможно использование остальных наборов.

Преимуществом предлагаемого устройства перед известным является сокращение времени контроля диагностируемых автоматов за счет исключения реализации проверяющих наборов для лишних конъюнкций прямой и обратной ДНФ.

Claims (3)

1.Патент США №3614608, кл. 32 1-г73, опублик. 1972.

2.Кострыкин А.И. Логический контроль релейно-контактных схем. М.,

Св зь, 1970, с. 80-86. .

3.Авторское свидетельство СССР

t 526834, кл. G 06 F 11/02, 06.09.74 (прототип),