|
JP2794482B2
(ja)
|
|
Ｌｓｉチップを識別する方法
|
|
KR950020755A
(ko)
|
|
일치 검출 회로를 갖고 있는 반도체 메모리 디바이스 및 테스트 방법
|
|
GB887111A
(en)
|
|
Input system for storage devices
|
|
SU182405A1
(ja)
|
|
|
|
KR960012005A
(ko)
|
|
반도체 메모리
|
|
US6708295B2
(en)
|
|
Circuit and method, for storing data prior to and after determining failure
|
|
KR910014808A
(ko)
|
|
논리 시뮬레이터(logic simulator)
|
|
JPH0660210A
(ja)
|
|
測定装置
|
|
DE69030209D1
(de)
|
|
Durch Ereigniss befähigte Prüfarchitektur für integrierte Schaltungen
|
|
US5430677A
(en)
|
|
Architecture for reading information from a memory array
|
|
JP2583056B2
(ja)
|
|
Ｉｃテストシステム
|
|
JP2806656B2
(ja)
|
|
Ｒｏｍコードチェック回路
|
|
SU239667A1
(ru)
|
|
УСТРОЙСТВО дл ПРОВЕРКИ СХЕМ СОЕДИНЕНИЙ
|
|
SU1234827A1
(ru)
|
|
Устройство дл упор дочени массива чисел
|
|
JP2808303B2
(ja)
|
|
Ｉｃデバイステスト装置
|
|
SU1405059A1
(ru)
|
|
Устройство дл контрол цифровых блоков
|
|
SU750570A1
(ru)
|
|
Устройство дл контрол оперативной пам ти
|
|
SU1149779A1
(ru)
|
|
Устройство дл тестового контрол цифровых блоков
|
|
SU329578A1
(ru)
|
|
Магнитное запоминающее устройство
|
|
JP2654604B2
(ja)
|
|
論理回路
|
|
SU1365134A1
(ru)
|
|
Устройство дл тестового контрол блоков пам ти
|
|
JP2710456B2
(ja)
|
|
スキャンパスデータ採取方式
|
|
JPH0593764A
(ja)
|
|
論理回路の検査装置
|
|
JP2500434B2
(ja)
|
|
検査条件出力装置
|
|
SU562868A1
(ru)
|
|
Устройство дл контрол адресных токов блоков пам ти
|