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FI2817611T3
(fi)
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Kriittisen kulman optinen anturilaitteisto
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JP2006522934A
(ja)
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欠陥に関する透明な基板の検査
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TW202013358A
(zh)
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厚度測量裝置
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TW202014673A
(zh)
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加工裝置以及放電加工裝置
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CN109855570B
(zh)
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一种基于光隙法的直线度误差测量装置及其使用方法
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CN104034272B
(zh)
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一种宽光谱光干涉法测量薄膜厚度的系统
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CN113964052A
(zh)
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晶圆厚度实时测量装置
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CN110455505B
(zh)
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一种镜片偏芯测量仪
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SU156715A1
(enExample)
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CN110530821A
(zh)
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一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法
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JP7105247B2
(ja)
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材料除去を決定する方法及びワークのビーム加工装置
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JP2011180113A
(ja)
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ダイアモンド状カーボン薄膜の膜厚と屈折率の計測
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CN104897078B
(zh)
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一种基于可见光反射光谱特性的超精密车削加工表面三维微观形貌的测量方法
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JPH082596Y2
(ja)
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偏光顕微鏡試料作製機用偏光照明付き薄片試料研磨ホルダー
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TW202328635A
(zh)
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計測裝置
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JPS55101002A
(en)
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Inspecting method for mirror face body
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CN114608454A
(zh)
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高精度aoi在线检测整体设备
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JP5574226B2
(ja)
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干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置
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ES2079282B1
(es)
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Dispositivo interferometrico y metodo para medir y para estabilizar la longitud de onda de diodo laser.
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CN220438624U
(zh)
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一种检测镜组装置
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CN105899989B
(zh)
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偏心量取得方法以及偏心量取得装置
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CN109323849B
(zh)
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一种光纤切割头零焦点测量系统和测量方法
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CN114234828B
(zh)
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一种高温应变测量装置
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SU1283521A1
(ru)
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Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов
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RU2547346C1
(ru)
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Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него
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