SU156715A1 - - Google Patents
Info
- Publication number
- SU156715A1 SU156715A1 SU781733A SU781733A SU156715A1 SU 156715 A1 SU156715 A1 SU 156715A1 SU 781733 A SU781733 A SU 781733A SU 781733 A SU781733 A SU 781733A SU 156715 A1 SU156715 A1 SU 156715A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- standard
- interferometer
- test
- glass
- interference pattern
- Prior art date
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000005338 frosted glass Substances 0.000 description 1
Description
При контроле плоскости путем пр мого положени пробного стекла на исследуемую поверхность на эталоне и провер емой детали по вл ютс царапины.When inspecting the plane by direct positioning of the test glass, scratches appear on the test surface on the reference and the part being inspected.
Предлагаемый переносный интерферометр отличаетс от известных тем, что он исключает опасность по влени царапин при наложении эталона на контролируемую деталь, позвол ет вести контроль непосредственно на шпинделе оптического станка и дает повыгненную контрастность интерференционной картины.The proposed portable interferometer differs from the known ones in that it eliminates the risk of scratches when the reference is applied to a test piece, allows control to be carried out directly on the spindle of the optical machine, and gives a traceable contrast of the interference pattern.
Это достигаетс тем, что между эталоном и контролируемой деталью по.мещены прокладки, наклеенные на эталон, а дл освещени применен монохроматический источник света.This is achieved by laying spacers glued to the standard between the standard and the test piece, and a monochromatic light source is used for the illumination.
На чертеже изображена оптическа с.хема интерферометра, котора содержит монохроматический источник света 1, матовое стекло 2, пластинку-отражатель 3 и эталон 4.The drawing shows an optical s.chem of an interferometer that contains a monochromatic light source 1, frosted glass 2, a reflector plate 3 and a standard 4.
В качестве эталона вз то рабочее стекло заданного диаметра, рабоча поверхность которого обработана с точностью до 1 интерференционной полосы (в линейной мере не более 0,03 мк. На поверхности эталона приклеены три пластинки 5 заданной толщины (около 5 мк.).As a reference, a working glass of a given diameter was taken, the working surface of which was processed with an accuracy of 1 interference band (linearly no more than 0.03 microns. Three plates 5 of a given thickness (about 5 microns) are glued on the surface of the standard.
Производственные испытани интерферометра показали, что он удобен в работе и дает четкую, контрастную интерференционную картину .Production tests of the interferometer showed that it is easy to use and gives a clear, contrasting interference pattern.
Предмет изобретени Subject invention
Переносный интерферометр дл контрол плоскостей, работающий по принципу пробного стекла, отличающийс тем, что, с цельюA portable interferometer for controlling planes, operating on the principle of a test glass, characterized in that
предохранени от повреждени эталонной и исследземой поверхностей и повышени контрастности интерференционной картины при осуществлении контрол непосредственно на шпинделе оптического станка; между эталоном и контролируемой деталью помещены прокладки, наклеенные на эталон, а дл освещени применен монохроматический -источник света.protection from damage to the reference and surface-tested surfaces and increasing the contrast of the interference pattern when monitoring directly on the spindle of the optical machine; between the standard and the test piece, there are spacers glued to the standard, and a monochromatic source of light is used for illumination.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU156715A1 true SU156715A1 (en) |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI2817611T3 (en) | Critical angle optical sensor apparatus | |
JP2006522934A (en) | Inspection of transparent substrates for defects | |
RU2011105013A (en) | PHOTOACOUSTIC MEASURING DEVICE | |
TWI677404B (en) | Polishing apparatus | |
CN109855570B (en) | Straightness error measuring device based on optical gap method and using method thereof | |
KR20170117878A (en) | Surface polishing apparatus | |
TW202013358A (en) | Thickness measuring apparatus | |
SU156715A1 (en) | ||
JP7105247B2 (en) | Method for determining material removal and workpiece beam processing apparatus | |
TWI821333B (en) | Measurement sensor, temperature measurement system and measurement method | |
CN110530821B (en) | Measuring device and measuring method for refractive index of optical material | |
JP2011180113A (en) | Measurement of film thickness, and measurement of refractive index of diamond-like carbon thin film | |
KR102257311B1 (en) | Apparatus for aligning measuring head of spectroscope | |
JPH082596Y2 (en) | Thin Sample Polishing Holder with Polarized Illumination for Polarizing Microscope Sample Maker | |
JPS55101002A (en) | Inspecting method for mirror face body | |
JP5574226B2 (en) | Interference objective lens and microscope apparatus having the same | |
CN114234828B (en) | High-temperature strain measuring device | |
ES2079282B1 (en) | INTERFEROMETRIC DEVICE AND METHOD FOR MEASURING AND STABILIZING THE WAVE LENGTH OF DIODE LASER. | |
JP6378213B2 (en) | Eccentricity acquisition method and eccentricity acquisition device | |
SU1283521A1 (en) | Interferometer for checking shape of surface of optical members | |
TWM567357U (en) | Probe of raman spectrometer | |
CN212989161U (en) | Low-range gas chamber and case | |
SU844995A1 (en) | Interferometer for inspection of article surface | |
CN213337338U (en) | Single return gas chamber and case | |
SU345352A1 (en) | PORTABLE INTERFEROMETER FOR CONTROL OF SURFACE FORM DETAILS |