SU156715A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU156715A1
SU156715A1 SU781733A SU781733A SU156715A1 SU 156715 A1 SU156715 A1 SU 156715A1 SU 781733 A SU781733 A SU 781733A SU 781733 A SU781733 A SU 781733A SU 156715 A1 SU156715 A1 SU 156715A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
standard
interferometer
test
glass
interference pattern
Prior art date
Application number
SU781733A
Other languages
Russian (ru)
Publication of SU156715A1 publication Critical patent/SU156715A1/ru

Links

Description

При контроле плоскости путем пр мого положени  пробного стекла на исследуемую поверхность на эталоне и провер емой детали по вл ютс  царапины.When inspecting the plane by direct positioning of the test glass, scratches appear on the test surface on the reference and the part being inspected.

Предлагаемый переносный интерферометр отличаетс  от известных тем, что он исключает опасность по влени  царапин при наложении эталона на контролируемую деталь, позвол ет вести контроль непосредственно на шпинделе оптического станка и дает повыгненную контрастность интерференционной картины.The proposed portable interferometer differs from the known ones in that it eliminates the risk of scratches when the reference is applied to a test piece, allows control to be carried out directly on the spindle of the optical machine, and gives a traceable contrast of the interference pattern.

Это достигаетс  тем, что между эталоном и контролируемой деталью по.мещены прокладки, наклеенные на эталон, а дл  освещени  применен монохроматический источник света.This is achieved by laying spacers glued to the standard between the standard and the test piece, and a monochromatic light source is used for the illumination.

На чертеже изображена оптическа  с.хема интерферометра, котора  содержит монохроматический источник света 1, матовое стекло 2, пластинку-отражатель 3 и эталон 4.The drawing shows an optical s.chem of an interferometer that contains a monochromatic light source 1, frosted glass 2, a reflector plate 3 and a standard 4.

В качестве эталона вз то рабочее стекло заданного диаметра, рабоча  поверхность которого обработана с точностью до 1 интерференционной полосы (в линейной мере не более 0,03 мк. На поверхности эталона приклеены три пластинки 5 заданной толщины (около 5 мк.).As a reference, a working glass of a given diameter was taken, the working surface of which was processed with an accuracy of 1 interference band (linearly no more than 0.03 microns. Three plates 5 of a given thickness (about 5 microns) are glued on the surface of the standard.

Производственные испытани  интерферометра показали, что он удобен в работе и дает четкую, контрастную интерференционную картину .Production tests of the interferometer showed that it is easy to use and gives a clear, contrasting interference pattern.

Предмет изобретени Subject invention

Переносный интерферометр дл  контрол  плоскостей, работающий по принципу пробного стекла, отличающийс  тем, что, с цельюA portable interferometer for controlling planes, operating on the principle of a test glass, characterized in that

предохранени  от повреждени  эталонной и исследземой поверхностей и повышени  контрастности интерференционной картины при осуществлении контрол  непосредственно на шпинделе оптического станка; между эталоном и контролируемой деталью помещены прокладки, наклеенные на эталон, а дл  освещени  применен монохроматический -источник света.protection from damage to the reference and surface-tested surfaces and increasing the contrast of the interference pattern when monitoring directly on the spindle of the optical machine; between the standard and the test piece, there are spacers glued to the standard, and a monochromatic source of light is used for illumination.

SU781733A SU156715A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU156715A1 true SU156715A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI2817611T3 (en) Critical angle optical sensor apparatus
JP2006522934A (en) Inspection of transparent substrates for defects
RU2011105013A (en) PHOTOACOUSTIC MEASURING DEVICE
TWI677404B (en) Polishing apparatus
CN109855570B (en) Straightness error measuring device based on optical gap method and using method thereof
KR20170117878A (en) Surface polishing apparatus
TW202013358A (en) Thickness measuring apparatus
SU156715A1 (en)
JP7105247B2 (en) Method for determining material removal and workpiece beam processing apparatus
TWI821333B (en) Measurement sensor, temperature measurement system and measurement method
CN110530821B (en) Measuring device and measuring method for refractive index of optical material
JP2011180113A (en) Measurement of film thickness, and measurement of refractive index of diamond-like carbon thin film
KR102257311B1 (en) Apparatus for aligning measuring head of spectroscope
JPH082596Y2 (en) Thin Sample Polishing Holder with Polarized Illumination for Polarizing Microscope Sample Maker
JPS55101002A (en) Inspecting method for mirror face body
JP5574226B2 (en) Interference objective lens and microscope apparatus having the same
CN114234828B (en) High-temperature strain measuring device
ES2079282B1 (en) INTERFEROMETRIC DEVICE AND METHOD FOR MEASURING AND STABILIZING THE WAVE LENGTH OF DIODE LASER.
JP6378213B2 (en) Eccentricity acquisition method and eccentricity acquisition device
SU1283521A1 (en) Interferometer for checking shape of surface of optical members
TWM567357U (en) Probe of raman spectrometer
CN212989161U (en) Low-range gas chamber and case
SU844995A1 (en) Interferometer for inspection of article surface
CN213337338U (en) Single return gas chamber and case
SU345352A1 (en) PORTABLE INTERFEROMETER FOR CONTROL OF SURFACE FORM DETAILS