JPH082596Y2 - 偏光顕微鏡試料作製機用偏光照明付き薄片試料研磨ホルダー - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、偏光顕微鏡試料作製機において研磨するた
めの薄片試料を保持する偏光透過型薄片試料研磨ホルダ
ーに関するものである。

［従来の技術］ 偏光顕微鏡試料作製機には、従来、光透過治具が用い
られており、研磨中に試料を透過する光の濃淡によって
試料の厚さを大まかに推定している。しかしながら、こ
の方法では試料の厚さを正確に測定することはできな
い。

一方、偏光方向が直交する２枚の偏光板の間に試料を
入れると、試料の厚さと試料中の物質固有の複屈折の値
によって決まる干渉色が観察される。したがって、複屈
折の値の決まっている鉱物の干渉色を基準とすることに
より、薄片試料の厚さを比較的正確に求めることが可能
になる。

従来は、偏光顕微鏡を用いてこのような干渉色を観察
し、試料の仕上げの厚さを求めていた。そのため、研磨
作業中にたびたび試料を取り出し偏光顕微鏡の下で仕上
がりを見る必要があった。

［考案が解決しようとする課題］ 本考案の技術的課題は、偏光顕微鏡試料作製機で試料
を研磨するに際し、試料の厚さ測定のために取り出すこ
となく、その試料作製機に取り付けたまま、あるいは研
磨中に、上記干渉色を観察可能とし、それによって試料
の仕上げ研磨の完了を知ることにある。

［課題を解決するための手段］ 上記課題を解決するため、本考案の偏光照明付き試料
研磨ホルダーは、偏光顕微鏡試料作製機に装着するため
のホルダー本体上に、薄片試料を載せる試料支持台を設
け、ホルダー本体の一側面に、その内部の導光路に設け
られた反射鏡を介して薄片試料を下方から照明する光源
部を着脱可能に取り付け、上記導光路における上記光源
部からの熱放射を直接受けない位置に偏光板を配設する
とともに、上記薄片試料を観察するための観察用偏光板
を別途備えることにより構成される。

［作用］ 上記偏光照明付き研磨ホルダーを偏光顕微鏡試料作製
機に装着し、試料支持台に薄片試料を載せて研磨を行う
に際し、光源部からの光は反射鏡において反射し、偏光
板を通して薄片試料を下方から照明し、その際、偏光板
がその光源部からの熱放射を直接受けることはないの
で、偏光板の熱による劣化を防止できる。このような照
明を行い、薄片試料を観察用の偏光板を通して見ると、
試料の厚さと試料中の物質固有の複屈折の値によって決
まる干渉色が観察される。したがって、複屈折の値の決
まっている鉱物の干渉色を基準とし、この色の変化をも
って薄片研磨作業の完了時点を知ることができる。

このようにして研磨ホルダー自体に偏光透過機能をも
たせると、薄片試料の研磨時にそれを作製機より取り外
すことなく厚さを観察し、研磨作業の完了時点を確認で
きる。

［実施例］ 以下に、本考案に係る偏光顕微鏡試料作製機用の偏光
透過型薄片試料研磨ホルダーの実施態様を、図面に基づ
いて説明する。

第１図及び第２図に示す偏光照明付き薄片試料研磨ホ
ルダーは、偏光顕微鏡試料作製機に装着して、それに保
持した試料を研磨するためのもので、ステンレス鋼製の
ホルダー本体１上に、透明アクリル製の試料支持台２に
載せた薄片試料ａを嵌め込むようにした保持枠３を取り
付けている。上記薄片試料ａは、スライドガラス上に試
料を固定することにより構成したものである。

このホルダー本体１の一側面には、光源部５を設けて
いる。この光源部５は、ステンレス製のケース６に放熱
板7,7,・・を取り付け、ケース６内のソケット８に電球
９を取り付けたもので、ホルダー本体１にビス10,10に
より着脱可能に固定されている。そのため、電球９の交
換はビス10,10により光源部５のみを取り外して行えば
よく、ホルダー本体１のセッティングを変えることなし
に容易に行うことができる。

ホルダー本体１内には、上記光源部５からの光を薄片
試料ａの下方に導く導光路12を設け、薄片試料ａの下方
にその光を上方に向ける反射鏡13を配設している。ま
た、ホルダー本体１と前記試料支持台２との間には、光
源部５から反射鏡13を経て試料ａを照射する光を偏光に
する偏光板14を設けている。

一般に偏光板は熱に弱く、そのため、例えば従来の光
透過治具上に偏光板を載せるなど、光源部５の直上にお
いてその熱の影響を直接的に受けるような位置に配置す
ると、すぐに劣化する。しかるに、上述したように光源
部５をホルダー本体１の一側に配置して放熱を良好にす
るとともに、導光路12に設けられた偏光板14を光源部５
からの熱放射を直接受けない位置に配置すれば、光源部
５の熱による偏光板14の劣化を有効に防止することが可
能になる。

さらに、上記薄片試料ａを上方から観察するための観
察用偏光板16が、拡大レンズ17と重ねて試料ａの上方に
別途配設される。これらの偏光板16及び拡大レンズ17
は、試料作製機の一部に自在アーム等を介して取り付け
ることができ、その場合に偏光板16は回転可能に取り付
けられる。

上記構成を有する偏光照明付き薄片試料研磨ホルダー
は、偏光顕微鏡試料作製機に装着し、試料支持台２に薄
片試料ａを載せて研磨を行うもので、その研磨に際し、
電球９からの光は反射鏡13において反射し、偏光板14を
通して薄片試料ａを下方から照明する。このような照明
を行うと、例えば、岩石薄片はその厚さが100μｍより
薄くなると光を透過するようになり、それを観察用の偏
光板16を通して見ると、試料の厚さと試料中の物質固有
の複屈折の値によって決まる干渉色が観察される。そし
て、例えば、偏光下では石英の色が約30μｍで淡黄色か
ら無色に変わる。したがって、複屈折の値の決まってい
る鉱物の干渉色を基準とすることにより、薄片試料の厚
さを比較的正確に求めることが可能になり、この色の変
化をもって薄片研磨作業の完了時点を知ることができ
る。

このように、上記研磨ホルダーは、それ自体が偏光透
過機能を備え、試料研磨時に試料を透過する偏光により
薄片試料ａの厚さを観察することが可能であり、そのた
め試料を作製機より取り出して、偏光顕微鏡下で観察し
たりすることなく、研磨作業の完了を確認することがで
きる。また、偏光板は熱によって劣化し易いが、上述の
ように光源からの熱の影響が及ばないようにして偏光板
を配置することにより、その劣化を防止することができ
る。

［考案の効果］ このような本考案の偏光透過型薄片試料研磨ホルダー
によれば、次のような利点がある。

（１） 薄片試料作製の仕上げ完了時点を、薄片試料を
作製機より取り外さずに確認できる。

（２） 研磨作業中に薄片試料の厚さを比較的正確に目
視することができるので、研磨し過ぎ等の失敗が避けら
れる。

（３） 熱に弱い偏光板を用いているが、光源をその偏
光板から離間し位置で、しかも、偏光板に対し光源から
の熱放射が直接及ばない位置に配置しているので、光源
の熱により偏光板が劣化するのを防止することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の偏光照明付き薄片試料研磨ホルダーの
縦断側面図、第２図はその平面図である。 １……ホルダー本体、２……試料支持台、５……光源
部、12……導光路、14,16……偏光板、ａ……薄片試
料。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】偏光顕微鏡試料作製機に装着するためのホ
   ルダー本体上に、薄片試料を載せる試料支持台を設け、
   ホルダー本体の一側面に、その内部の導光路に設けられ
   た反射鏡を介して薄片試料を下方から照明する光源部を
   着脱可能に取り付け、上記導光路における上記光源部か
   らの熱放射を直接受けない位置に偏光板を配設するとと
   もに、上記薄片試料を観察するための観察用偏光板を別
   途備えたことを特徴とする偏光顕微鏡試料作製機用偏光
   照明付き薄片試料研磨ホルダー。