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FI2817611T3
(fi)
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Kriittisen kulman optinen anturilaitteisto
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JP2006522934A
(ja)
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欠陥に関する透明な基板の検査
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RU2011105013A
(ru)
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Фотоакустическое измерительное устройство
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TWI677404B
(zh)
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研磨裝置
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CN109855570B
(zh)
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一种基于光隙法的直线度误差测量装置及其使用方法
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KR20170117878A
(ko)
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평면 연마 장치
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TW202013358A
(zh)
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厚度測量裝置
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SU156715A1
(ja)
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JP7105247B2
(ja)
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材料除去を決定する方法及びワークのビーム加工装置
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TWI821333B
(zh)
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測定感測器、溫度測定系統及測定方法
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CN110530821B
(zh)
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一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法
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JP2011180113A
(ja)
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ダイアモンド状カーボン薄膜の膜厚と屈折率の計測
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KR102257311B1
(ko)
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분광 측정 장치의 측정 헤드 정렬 장치
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JPH082596Y2
(ja)
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偏光顕微鏡試料作製機用偏光照明付き薄片試料研磨ホルダー
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JPS55101002A
(en)
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Inspecting method for mirror face body
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JP5574226B2
(ja)
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干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置
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CN114234828B
(zh)
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一种高温应变测量装置
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ES2079282B1
(es)
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Dispositivo interferometrico y metodo para medir y para estabilizar la longitud de onda de diodo laser.
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JP6378213B2
(ja)
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偏心量取得方法、及び、偏心量取得装置
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SU1283521A1
(ru)
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Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов
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TWM567357U
(zh)
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拉曼光譜儀探頭
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CN212989161U
(zh)
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一种低量程气体室和机箱
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SU844995A1
(ru)
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Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли
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CN213337338U
(zh)
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一种单次回返气体室和机箱
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SU345352A1
(ru)
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Переносной интерферометр для контроля формы поверхности детали
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