SU1283521A1 - Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов - Google Patents
Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1283521A1 SU1283521A1 SU853870494A SU3870494A SU1283521A1 SU 1283521 A1 SU1283521 A1 SU 1283521A1 SU 853870494 A SU853870494 A SU 853870494A SU 3870494 A SU3870494 A SU 3870494A SU 1283521 A1 SU1283521 A1 SU 1283521A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- elements
- working
- mirror
- mirrors
- shape
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано , в частности, до непре- рьшного контрол измерений оптических параметров полимерных материалов в процессе изготовлени из них фоторе гистрирующих сред. Цель изобретени - возможность контрол изменени формы и одновременно толщины полимерных оптических элементов с отражающими поверхност ми в процессе насьпдени их газом, фотоэкспони- ровани , газоотделени после фотоэкспонировани . Пучок лучей от монохроматического источника 1 света преобразуетс коллиматором 2 в параллельный пучок, делитс на рабочий и эталонный пучки светоделителем 3, рабочий пучок отражаетс от отражающих поверхностей элементов 4, 5, зеркала 6, а эталонный - от зеркал 7, 8, 9. Далее на светоделителе 3 они совмещаютс , интерферируют пары пучков, отражеюн,1Х от оптически сопр женных зеркальных пар 6-9, 5-8, 4-7. Интерференционные картины рассматриваютс с помощью наблюдательной системы 10. 1 ил. (О W
Description
ю
00
со ел
fO
15
20
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано , в частности, дл непрерывного контрол изменений оптических параметров полимерных материалов в процессе изготовлени из них фото- ре гистрирующих сред.
Цель изобретени - возможность контрол изменени формы и одновременно толщины полимерных оптических элементов с отражающими поверхност ми в процессе насьпцени их газом, фотоэкспонировани , газоотделени после фотоэкспонировани .
На чертеже изображена принципиальна схема предлагаемого интерферометра .
Интерферометр содер сит последовательно установленные монохроматический источник 1 света, коллиматор 2 и светоделитель 3, дел щий световой поток на две ветви - рабочую и эталонную, два полимерных оптических элемента 4 и 5 с зеркалый ми поверхност ми и плоское зеркало 6, уставов- ходит относительное ленные в рабочей ветви, два образцовых зеркала 7 и 8 и плоское зеркало 9, установленные в эталонной ветви, наблюдательную систему 10. Зеркало 6 выполнено с возможностью размещени на нем двух полимерных элементов 4 и 5. Зеркала 7 и 8 оптически сопр жены с элементами 4 и 5 через светоделитель 3. I
Интерферометр работает следующим
образом.
Пучок лучей от монохроматического источника 1 счета преобразуетс коллиматором 2 в параллельный пучок, делитс на рабочий и эталонный пучки светоделителем 3, рабочий пучок отражаетс от отражающих поверхностей элементов 4 и 5, зеркала 6, а эталонный - от зеркал 7-9. Далее на светоделителе 3 они совмещаютс , интерферируют пары пучков, отраженных от оптически сопр женных зеркальных пар, образованных зеркалами 6 и 9, элементом 5 и зеркалом 8, элементом 4 и зеркалом 7, Интерференционные картины рассматриваютс с помощью наблюдательной: системы 10.
Перед началом работы необходимо произвести следующее: к оптической поверхности зеркала 6 в центральной его зоне приклеиваютс элементы 4 и 5 в виде двух полукругов плоско- параллельной пластинки полимерного
материала, изготавли одной пластинки путе на две части, а прик образом, чтобы полу зором примерно I мм ми. Диаметр разрезае го круга равен приме диаметра зеркала 6. 9-7, оптически сопр ственно с зеркалом 6 4 и имеющие независи юстируютс таким обр выходе наблюдательно лучилось три интерфе тины с нулевым цвето элементы 4 и 5 насыщ газом. После заверш с помощью специальн ( не показан) на элем дliтc фоторегистраци информации путем фот В процессе этих опер изменение формы и ра тов 4 и 50 в резуль
ческих поверхностей зеркала 6, элемент элементов 5 и 4.
Так как зеркало риала. Который не н либо газом, то его танетс неизменной. ни насыщени элем начнет выходить из
По тому, как буд терференционна кар ности элемента 4 от ференционной картин зеркала 6, можно оп мен етс толщина и ти элемента 4 в про
По тому, как буд интерференционна к ности элемента 5 от терференционной кар ности зеркала 6, мо как мен етс толщин ности элемента 5 в ни его каким-либо 50 цессе экспонировани . некоторое врем пос
По тому, как буд интерференционна к ности элемента 5 от ференционной картин элемента 4, можно о измен етс толщин ности элементов 4 и
30
35
40
O
15
0
ходит относительное
материала, изготавливаютс они из одной пластинки путем ее разрезани на две части, а приклеиваютс таким образом, чтобы получилс круг с зазором примерно I мм между половинками . Диаметр разрезаемого полимерного круга равен примерно половине диаметра зеркала 6. Далее зеркала 9-7, оптически сопр женные соответственно с зеркалом 6 и элементами 5, 4 и имеющие независимые подвижки, юстируютс таким образом, чтобы на выходе наблюдательной системы 10 получилось три интерференционные картины с нулевым цветом. После чего элементы 4 и 5 насыщшот каким-либо газом. После завершени насыщени с помощью специального устройства (не показан) на элемент 5 произво- дliтc фоторегистраци какой-либо информации путем фотоэкспонировани . В процессе этих операций происходит изменение формы и размеров элементов 4 и 50 в результате чего происсмещение оптических поверхностей элемента 5 и зеркала 6, элемента 4 и зеркала 6, элементов 5 и 4.
Так как зеркало б сделано из материала . Который не насыщаетс каким- либо газом, то его поверхность останетс неизменной. После завершени насыщени элементов 4 и 5 газ начнет выходить из них.
По тому, как будет мен тьс интерференционна картина от поверхности элемента 4 относительно интерференционной картины от поверхности зеркала 6, можно определить, как измен етс толщина и форма поверхности элемента 4 в процессе насыщени .
По тому, как будет мен тьс интерференционна картина от поверхности элемента 5 относительно ин- терференционной картины от поверхности зеркала 6, можно определить как мен етс толщина и форма поверхности элемента 5 в процессе насыщени его каким-либо газом и в про- 50 цессе экспонировани , а также через .некоторое врем после экспонировани .
По тому, как будет измен тьс интерференционна картина от поверхности элемента 5 относительно интерференционной картины от поверхности элемента 4, можно определить как измен етс толщина и форма поверхности элементов 4 и 5 в процессе
30
35
40
фотоэкспонировани . В данном случае вли ние выхода газа из элемента 5 не помешает определить абсолютное вли ние, фотоэкспонировани на толщину и форму поверхности элемента 5.
Claims (1)
- Формула изобретениИнтерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов, содержащий последовательно установленные источник света, коллиматор и светоделитель, дел щий световой поток на две ветки - рабочую и эталоннук}, плоское зеркало в эталонной ветви, плоское зеркало в рабочей ветви и наблюдательнуюсистему, отличающийс тем, что, с целью возможности контрол изменени формы и одновременно толщины полимерных оптических элементов с отражающими поверхност ми в процессе насыщени их газом, фотоэкспонировани , газоотделени после фотозкспрнировани , он снабжен двум образцовыми зеркалами, установленными перед плоским зеркалом эталонной ветви в плоскости, параллельной его отражающей поверхности, плоское зеркало рабочей ветв выполнено с возможностью размещени на нем даух полимерных элементов, оптически сопр женных с образцовыми зеркалами через светоделитель.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853870494A SU1283521A1 (ru) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853870494A SU1283521A1 (ru) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1283521A1 true SU1283521A1 (ru) | 1987-01-15 |
Family
ID=21168163
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853870494A SU1283521A1 (ru) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1283521A1 (ru) |
-
1985
- 1985-03-19 SU SU853870494A patent/SU1283521A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Захарьевский А.Н. Интерферометры. М.: Оборонгиз, 1952, с. 161. Ландсберг Т.е. Оптика. Общий курс физики, т.З. М., Л., 1947, с. 75. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4311389A (en) | Method for the optical alignment of designs in two near planes and alignment apparatus for performing this method | |
US4718765A (en) | Interferometric gas detector | |
SU1283521A1 (ru) | Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов | |
GB1176427A (en) | Correlators | |
JPS5821527A (ja) | フ−リエ変換型赤外分光光度計 | |
ES2079282A2 (es) | Dispositivo interferometrico y metodo para medir y para estabilizar la longitud de onda de diodo laser. | |
RU2152588C1 (ru) | Способ измерения оптической толщины плоскопараллельных прозрачных объектов | |
JPS5744823A (en) | Fourier spectroscope device | |
JPS5887447A (ja) | 群屈折率の高精度測定法 | |
JPH02167411A (ja) | 平行平面間距離の測定方法 | |
JPS56118609A (en) | Measuring method for azimuth angle of magnetic head | |
JPS56111405A (en) | Method and device for measuring thickness of transparent film | |
SU531023A1 (ru) | Способ контрол центрировани линз в патроне | |
SU1425437A1 (ru) | Интерферометр дл контрол выпуклых параболоидов | |
SU838325A1 (ru) | Интерференционный датчик линейногопЕРЕМЕщЕНи Об'ЕКТА | |
SU844995A1 (ru) | Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли | |
GB1094297A (en) | Measurement of small dimensions | |
SU1413415A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий | |
RU2008615C1 (ru) | Устройство для контроля отклонений от прямолинейности | |
SU911144A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы выпуклых сферических поверхностей | |
SU954812A1 (ru) | Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна | |
SU1516768A1 (ru) | Интерферометр дл контрол параметров оптических криволинейных вогнутых поверхностей | |
SU1627829A1 (ru) | Интерферометр дл контрол асферических поверхностей второго пор дка | |
JPS56130606A (en) | Optical measuring device for thickness of transparent material | |
SU1100497A2 (ru) | Устройство дл измерени геометрических параметров зеркальных оптических элементов |