SU954812A1 - Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна - Google Patents

Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна Download PDF

Info

Publication number
SU954812A1
SU954812A1 SU813245382A SU3245382A SU954812A1 SU 954812 A1 SU954812 A1 SU 954812A1 SU 813245382 A SU813245382 A SU 813245382A SU 3245382 A SU3245382 A SU 3245382A SU 954812 A1 SU954812 A1 SU 954812A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
light
beam splitter
light source
gap
branches
Prior art date
Application number
SU813245382A
Other languages
English (en)
Inventor
Арунас Ионович Аугустайтис
Лаймутис-Леонас Юргио Маченис
Юлюс Казевич Ряубунас
Original Assignee
Специальное Конструкторское Бюро Вычислительных Машин
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Специальное Конструкторское Бюро Вычислительных Машин filed Critical Специальное Конструкторское Бюро Вычислительных Машин
Priority to SU813245382A priority Critical patent/SU954812A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU954812A1 publication Critical patent/SU954812A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к контрольнонзмеритепьной технике и может €ыть использовано дл  измерени  малых зазоров между двум  поверхност ми, в частности дл  измерени  динамического неконтакта между магнитной голоыюй и поверхностью диска.
Цель изобретени  - обеспечение изме- . рени  зазоров между поверхност ми различной формы.
Указанна  цель достигаетс  тем, что устройство снабжено втйрым светоделителем , расположенным на пути отражен- ного от первого светоделител  светового потока и дел щим свеговой поток на две ветви, двум  светофильтрами дл  пропускани  световых потоков определенных частот, каждый из которых располсисен 20 в одной из этих ветвей, а в качестве осветител  использован источник света излучающий световой поток не менее двух определенных частот.
На чертеже изображена приншшиаль- , на  -схема устройства дл  измерени  малых зазоров между, двум  поверхност ми одна из которых прбзрачна .
, Устрой(ство содержит последовательно расположенные осветитель 1 - источник света, излучающий световой поток, не менее двух определенных частот, т.е. полихроматический световой поток, первый светоделитель 2, второй светоделитель 3, светофильтры 4 и 5 дл  пропускани  световых потоков определенных частот к блок регистрации интенсивности световых потоков, включающий фотодетекторы 6 и 7 и двухканальный осциллограф 8..
Устройство работает следующим образом .

Claims (1)

  1. Излучаемый источником света полихроматический световой поток проходит через первый светоделитель 2 и направл етс  на измер емый зазор, образуемый поверхност ми 9 и 10. Отраженные этими поверхност ми интерферирующие лучи первым светоделителем 2 направл ютс  на второй светоделитель 3, который направл ет их через светофильтры 4 и 5, каждый из которых пропускает свет определеннор частоты не фотодетекторы 6и 7. Сигналы от фотодетекторов 6 и 7поступают на двухканальный осциллограф 8. Зарегистрированные моментные величины световых потоков  вл ютс  исходными данными дл  определени  по известному алгоритму абсолютной момент нрй величины зазора, в точке падени  луча от источника света. Так как на измер емый зазор направл етс  вместо двух лучей одаш луч света, т ощибка из-за разной длины их оптических путей в зазоре исключаетс  полностью. Следовательно, форма поверхностей, о&разук цих зазор, не оказывает никакого вли ни  на точность измерени . 95 24 Формула изобретени  Устройство дл  измерени  малых зазоров между двум  поверхност ми, одна из которых прозрачна , содержащее последовательно расположенные осветитель, светоделитель и блок регистрации интенсивности световых потоков, отличающеес  тем, что, с целью измерю- ни  зазоров между поверхност ми различной формы, оно снаб(жено вторым светоделителем , расположенным на пути отраженного от первого светоделител  светового патока и дел щим световой пот .ок на две ветви, двум  светофшшграми лп  пропусканий световых потоков определенных частот, каждый из которых расположен в одной из этих ветвей, а в качестве осветител  использован источник света, излучающий све говой поток не менее двух определенных частот
SU813245382A 1981-02-09 1981-02-09 Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна SU954812A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813245382A SU954812A1 (ru) 1981-02-09 1981-02-09 Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813245382A SU954812A1 (ru) 1981-02-09 1981-02-09 Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU954812A1 true SU954812A1 (ru) 1982-08-30

Family

ID=20942136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813245382A SU954812A1 (ru) 1981-02-09 1981-02-09 Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU954812A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4828387A (en) Film measuring device and method with internal calibration to minimize the effect of sample movement
KR960035057A (ko) 표면간 거리의 광학적 측정방법 및 장치
US4711578A (en) Optical displacement sensors
JPS58191907A (ja) 移動量測定方法
SU954812A1 (ru) Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна
US4487503A (en) Refractometer using the limiting angle method
SU1364866A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений
JP2005274429A (ja) 形状測定装置
RU2152588C1 (ru) Способ измерения оптической толщины плоскопараллельных прозрачных объектов
JPH01143906A (ja) 不透明体表裏面の平行度測定装置
SU1303816A1 (ru) Устройство дл измерени толщины слоев многослойной движущейс полимерной пленки
SU940018A1 (ru) Двухлучевой фотометр
SU1675663A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
DE69310969D1 (de) Vorrichtung zum Messen der axialen Geschwindigkeit
SU1515106A1 (ru) Устройство дл контрол плотности трикотажного полотна
JPS6050403A (ja) 距離センサ
JP3230977B2 (ja) 光波干渉装置の被検体ポジショニング装置
JPS57190202A (en) Device for reading optical scale
SU868348A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU844995A1 (ru) Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли
SU847805A1 (ru) Способ регистрации изменений оптического пути
SU1515039A2 (ru) Фотоэлектрический автоколлиматор дл фиксации углового положени объекта
SU1254847A1 (ru) Фотометр дл измерени прозрачности материалов
SU872955A1 (ru) Способ измерени толщины сло и устройство дл его осуществлени
RU2148790C1 (ru) Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей