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TWI830782B
(zh)
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厚度測量裝置
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CN101718520B
(zh)
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一种快速表面质量测量系统
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FI2817611T3
(fi)
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Kriittisen kulman optinen anturilaitteisto
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TWI677404B
(zh)
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研磨裝置
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TW202014673A
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加工裝置以及放電加工裝置
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CN109855570B
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一种基于光隙法的直线度误差测量装置及其使用方法
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CN104034272B
(zh)
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一种宽光谱光干涉法测量薄膜厚度的系统
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SU156715A1
(cg-RX-API-DMAC10.html)
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TWI821333B
(zh)
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測定感測器、溫度測定系統及測定方法
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CN110530821A
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一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法
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JP7105247B2
(ja)
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材料除去を決定する方法及びワークのビーム加工装置
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JP2011180113A
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ダイアモンド状カーボン薄膜の膜厚と屈折率の計測
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CN104897078B
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一种基于可见光反射光谱特性的超精密车削加工表面三维微观形貌的测量方法
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TW202328635A
(zh)
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KR102257311B1
(ko)
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JPH082596Y2
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JPS55101002A
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JP5574226B2
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ES2079282B1
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Dispositivo interferometrico y metodo para medir y para estabilizar la longitud de onda de diodo laser.
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RU2239158C2
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Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов
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RU2547346C1
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Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него
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