SU1504505A1 - Способ определени параметров шероховатости поверхности издели - Google Patents

Способ определени параметров шероховатости поверхности издели Download PDF

Info

Publication number
SU1504505A1
SU1504505A1 SU884363019A SU4363019A SU1504505A1 SU 1504505 A1 SU1504505 A1 SU 1504505A1 SU 884363019 A SU884363019 A SU 884363019A SU 4363019 A SU4363019 A SU 4363019A SU 1504505 A1 SU1504505 A1 SU 1504505A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
normal
intensity
reflected
illuminated
roughness
Prior art date
Application number
SU884363019A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Константинович Смирнов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1439
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1439 filed Critical Предприятие П/Я А-1439
Priority to SU884363019A priority Critical patent/SU1504505A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1504505A1 publication Critical patent/SU1504505A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  определени  шероховатости поверхности изделий. Цель изобретени  - повышение точности определени  параметров шероховатости полированных поверхностей путем исключени  погрешности, св занной с измерением интенсивности света, отраженного контролдироуемой полированной поверхностью в зеркальном направлении. Контролируемую поверхность 13 освещают параллельным монохроматическим световым пучком попеременно в направлении нормали к ней и под острым углом Q1 к этой нормали. При освещении под острым углом Q1 измер ют интенсивность I3 зеркально отраженного светового потока, а при освещении в направлении нормали - интенсивности I1 и I2 отраженных световых потоков, распростран ющихс  внутри одинаковых телесных углов Δω в двух разных направлени х под углами соответственно Q1 и Q2 *98 Q1 к нормали, а также полную интенсивность IN светового потока, отраженного контролируемой поверхностью 13 внутри телесного угла Ω*98Δω по всем направлени м за исключением направлени  нормали к ней. По этим данным суд т о параметрах шероховатости поверхности - среднем квадратичном отклонении и периоде коррел ции высот неровностей. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в оптической промьппленности и машиностроении дл  контрол  шероховатости поверхности изделий.
Цель изобретени  - повышение точности определени  параметров шероховатости полированных поверхностей путем исключени  погрешности, св занной с измерением интенсивности света, отраженного контролируемой полированной поверхностью в зеркальном направлении„
На чертеже приведена принципиальна  схема устройства, реализующего предлагаемый способ„
Устройство содержит источник 1 параллельного монохроматического пучка света - лазер, вращающеес  секторное зеркало 2, закрепленное на оси электродвигател  3, неподвижное зеркало 4, сферический рефлектор 5 с отверсти ми 6-9
Отверсти  7 и 8 предназначены дл  пропускани  световых потоков соответственно от источника 1, паралСП
2
ел
О СП
лельиого монохроматического пучка света н зеркала 4, к поверхности 13 при освещении этой поверхности соответственно в направлении нормали к ней и под острым углом Q, к этой пормали Отверсти  6 и 9 предназначены дл  пропускани  к фотодатчикам соответственно 11 и 10 световых потоков, отраженных поверхностью 13 под углами соответственно Q, и Qj к нормали. Диаметры отверстий 6-9 выбираютс  такими, чтобы они были больше диаметра светового пучка, а телесные углы ЬСО с вершинами в точке О, опирающиес  на эти отверсти , были одинаковыми и удовлетвор ли условию ьсо «Qo Причем 0 Q выбираютс  меньшими дес ти градусов. При этом условии можно считать что sin 9 0 и cos . Тогда выражени  дл  Т и 0 применительно к обозначени м на чертеже принимают вид
(2)
где А - длина световой волны;
R, ,/1оИ R 1/lf, причем Qj не зависит от О,. I
В то врем , когда световой поток от источника 1, параллельиого монохроматического света, проходит между лопаст ми зеркала 2, поверхность 13 освещаетс  через отверстие 7 в рефлекторе 5 в направлении нормали к ней и с помощью фотодатчиков 11, 10 и 12 измер ютс  интенсивности световых потоков соответственно 1, - и 1„ I, + I, + ll. В то
2 п L 1. врем , когда световой поток перекры
лопастью зеркала 2, поверхность 13 освещаетс  от зеркала 4 через отверстие 8 в рефлекторе 5 под углом 0( к ее нормали и с помощью фото
датчика 11 измер етс  интенсивность светового потока 1. Определ ют величину ,и наход т коэф- фициенты отражени  R4 I, R , а по формулам (1) и (2) определ ют параметры шероховатости
иа
Использование предлагаемого способа позволит существенно повысить точность определени  параметров шероховатости полированных поверхностей , не  вл ющихс  сверхгладкими.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ определени  параметров шероховатости поверхности издели , заключающийс  в том, что освещают параллельным монохроматическим пучком света поверхность издели  попеременно в направлении нормали к ней и под острым углом 9, к этой нормали , измер ют при освещении в направлении нормали интенсивности I, и 1 световых потоков, отраженных поверхностью внутри одинаковых телесных углов йсО в двух разных направлени х, составл ющих с нормалью углы S, и б2 9| , меньшие Ю , измер ют при освещении под острым углом 9, к нормали интенсивность Tj светового потока , отраженного в зеркальном направлении , наход т козффицненты R| и
    R 5. г суд т о параметрах шероховатости - среднем квадратичном отклонении j и периоде 2- коррел ции высот неровностей, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точностн определени  параметров шероховатости полированных поверхностей, измер ют при освещении поверхности по ноомали к ней полную интенсивность 1, светового
    потока, отраженного этой поверхностью внутри телесного угла Q по всем направлени м, кроме направлени  по нормали, а коэффициент R, отражени  определ ют по формуле I.
    R
    1п Ь
SU884363019A 1988-01-13 1988-01-13 Способ определени параметров шероховатости поверхности издели SU1504505A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884363019A SU1504505A1 (ru) 1988-01-13 1988-01-13 Способ определени параметров шероховатости поверхности издели

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884363019A SU1504505A1 (ru) 1988-01-13 1988-01-13 Способ определени параметров шероховатости поверхности издели

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1504505A1 true SU1504505A1 (ru) 1989-08-30

Family

ID=21349456

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884363019A SU1504505A1 (ru) 1988-01-13 1988-01-13 Способ определени параметров шероховатости поверхности издели

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1504505A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 815492, кл. G 01 В 11/30, 03.04.79о *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5849819B2 (ja) ソウサシキケンサソウチ
SU1504505A1 (ru) Способ определени параметров шероховатости поверхности издели
JPH0783828A (ja) 角度可変絶対反射率測定装置
JPS60142204A (ja) 物体の寸法計測方法
SU654853A1 (ru) Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов
RU2156437C2 (ru) Устройство для определения шероховатости поверхности
RU2054620C1 (ru) Способ измерения углов двугранных отражателей
SU1647242A1 (ru) Бесконтактный оптический способ определени среднеквадратичной высоты шероховатости поверхности
RU2107903C1 (ru) Способ контроля формы оптической поверхности
SU1384942A1 (ru) Способ контрол плоскостности зеркальной поверхности издели
SU1627830A1 (ru) Фотометрический способ определени качества полировки оптических прозрачных деталей
SU1272108A1 (ru) Рефлектометрический способ измерени параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел
SU1455234A1 (ru) Способ определени шероховатости
SU1569565A1 (ru) Устройство дл контрол недослива нефтепродуктов в железнодорожных цистернах
SU1449876A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени
SU1260693A1 (ru) Устройство дл измерени индикатрисы рассто ни света
JPH09189545A (ja) 距離測定装置
SU1442824A1 (ru) Способ контрол фотоэлектрических автоколлиматоров
RU1778518C (ru) Устройство дл контрол двугранных отражателей
SU1425440A2 (ru) Фотоэлектрическое измерительное устройство
SU1320658A1 (ru) Способ измерени линейных размеров объектов с отражающей поверхностью
JPH0120641Y2 (ru)
SU1330463A1 (ru) Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности
JP2640892B2 (ja) 磁気ヘッドの浮上量測定方法
SU1534300A1 (ru) Устройство контрол оптических световозвращателей