SU1330463A1 - Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности - Google Patents
Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1330463A1 SU1330463A1 SU864045614A SU4045614A SU1330463A1 SU 1330463 A1 SU1330463 A1 SU 1330463A1 SU 864045614 A SU864045614 A SU 864045614A SU 4045614 A SU4045614 A SU 4045614A SU 1330463 A1 SU1330463 A1 SU 1330463A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- height
- dependence
- maximum
- brewster
- surface roughness
- Prior art date
Links
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл контрол качества обработки поверхности , измерени размеров частиц запыленных поверхностей, измерени высоты шероховатости. Цель изобретени расширение класса исследуемых объектов - достигаетс благодар использоЛ ванию тарировочной зависимости cpejo;- ней высо ты шероховатости поверхности от отношени Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации, возникающей при отражении света от исследуемой поверхности к дополнительному максимуму на фазовых углах, больших Брюстеровского. Исследуемую поверхность 2 освещают с помощью осветител 1 под различными углами падени i в отраженном излучении вьщел ют па- раллельную и перпендикул рную компоненты пол ризации дл различных зна чений угла падени , определ ют зави- симость коэффициента пол ризации от угла между падающим и отраженным пучками и по тарировочной, зависимости средней высоты шероховатости от отношени Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации к дополнительному мakcимyмy определ ют высоту шероховатости исследуемой поверхности. ,3 ил. (Л с фиг{
Description
1
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол качества обра ботки поверхности, измерени разме- ров частиц запыленных поверхностей ,и измерени средней высоты шероховатости .
Цель изобретени - расширение класса исследуемых объектов измере- .ни - достигаетс благодар использованию тарированной зависимости средней в 1соты шероховатости поверх ности от отношени Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации Р , возникающей при отражении света от исследуемой поверхности к дополнительному максимуму Р, .
I . . . .
На фиг, 1 изображена схема устройства , дл осуществлени предлагаемого способа; на фиг. 2 - фазова зависимость коэффициента Р пол ризации дл шероховатой поверхности; на фиг. 3 - пример тарировочной зависимости отношени Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации к дополнительному .
Способ осуществл ют следующим образом .
Исследуемую поверхность (фиг,1) освещают с помощью осветител 1. Отраженный от поверхности 2 свет пропускают через вращающийс анализатор 3, получа в зависимости от его положени перпендикул рную либо параллельную компоненты отраженного света, и с помощью фоторегис-Ератора 4, который расположен под малым углом oi к поверхности, регистрируют интенсивности перпендикул рной Р, и параллельной Р„ компонент, получа затем
30463 . 2
по известной формуле коэффициент пол ризации отраженного света;
.РИ
Р +р
5
Измен положение осветител 1,
подобным образом получают значени коэффициента пол ризации Р во всем диапазоне фазовых углов if, вычисл ют
1Q- отношение , а затем по тарировочной зависимости определ ют среднюю высоту шероховатости.
Предлагаемый способ пригоден дл измерени шероховатости поверхности
-15 как прозрачных, так и непрозрачных объектов и. не накладывает ограничений на размеры поверхностей измер ,е- мых объектов.
ормула изобретени.
30
20
Бесконтактный оп тический способ определени высоты шероховатости поверхности , заключающийс в том, что 25 на контролируемую поверхность объекта направл ют пучок света, регистрируют отраженное излучение и определ ют высоту шероховатости поверхности, о т л ичающийс тем, что, с целью расширени класса объектов измерени , пучок света направл ют под различными углами падени к поверхности , в отраженном излучении выдел ют параллельную и перпендикул рную компоненты пол ризации дл различных значений угла падени , определ ют зависимость коэффициента пол ризации от угла между падающим и отраженным пучками, а высоту шероховатости поверхности определ ют по тарировочной зависимости средней высоты шероховатости от отношени Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации к дополнительному максимуму.
35
40
Л ff
во raff 1М т Уеа/f jv/, ejffafycif Фиг.г
QN
вь/сото u/e/yey Gfffafrroc rytj ФигЪ
Claims (1)
- 2Q Формула изобретенияБесконтактный оптический способ определения высоты шероховатости поверхности, заключающийся в том, что 25 на контролируемую поверхность объекта направляют пучок света, регистрируют отраженное излучение и определяют высоту шероховатости поверхности, о т л ичающийся тем, что, 30 с целью расширения класса объектов измерения, пучок света направляют под различными углами падения к поверхности, в отраженном излучении выделяют параллельную и перпендикулярную компоненты поляризации для раз35 личных значений угла падения, определяют зависимость коэффициента поляризации от угла между падающим и отраженным пучками, а высоту шероховатости поверхности определяют по тарировочной зависимости средней высоты шероховатости от отношения Брюстеровского максимума коэффициента поляризации к дополнительному максимуму.О/тюшеяие мамсималышх коэффициент^ /эаиюризации P2/Pf фиг.З
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864045614A SU1330463A1 (ru) | 1986-04-03 | 1986-04-03 | Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864045614A SU1330463A1 (ru) | 1986-04-03 | 1986-04-03 | Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1330463A1 true SU1330463A1 (ru) | 1987-08-15 |
Family
ID=21229606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864045614A SU1330463A1 (ru) | 1986-04-03 | 1986-04-03 | Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1330463A1 (ru) |
-
1986
- 1986-04-03 SU SU864045614A patent/SU1330463A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 654853, кл. G 01 В 11/30, 1977. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5074669A (en) | Method and apparatus for evaluating ion implant dosage levels in semiconductors | |
JP3955329B2 (ja) | サンプルの異常を検出するためのシングルレーザ明視野及び暗視野装置 | |
EP0622624B1 (en) | A method for observing film thickness and/or refractive index | |
CA2136886A1 (en) | Apparatus, system and method for real-time wafer temperature measurement based on light scattering | |
WO2000029807A3 (en) | Detection system for nanometer scale topographic measurements of reflective surfaces | |
EP0397388A3 (en) | Method and apparatus for measuring thickness of thin films | |
EP0078411A3 (en) | Non-contact sensor with particular utility for measurement of road profile | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
SU1330463A1 (ru) | Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности | |
DE69126918T2 (de) | Messverfahren des Einfallwinkels eines Lichtstrahls, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie deren Verwendung zur Entfernungsmessung | |
Detrio | Light scattering surface roughness characterization | |
JPS6352004A (ja) | 測定装置 | |
SU1647242A1 (ru) | Бесконтактный оптический способ определени среднеквадратичной высоты шероховатости поверхности | |
JPS6418071A (en) | Detecting apparatus for voltage | |
SU1272108A1 (ru) | Рефлектометрический способ измерени параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел | |
SU1657950A1 (ru) | Способ измерени шероховатости поверхности детали | |
SU1670394A1 (ru) | Рефлектометр дл измерени пол ризационных параметров поверхности объекта | |
SU1627937A1 (ru) | Способ определени толщины и показател преломлени материала трещин в полимерах | |
RU1770850C (ru) | Способ определени спектральных направленно-полусферических коэффициентов отражени образцов | |
SU1642326A1 (ru) | Способ исследовани распределени параметров рассеивающих частиц | |
RU1781537C (ru) | Способ измерени шероховатости поверхности издели и устройство дл его осуществлени | |
RU1809373C (ru) | Способ оптического контрол отражающей поверхности и устройство дл его осуществлени | |
RU2060487C1 (ru) | Устройство для измерения параметров оптико-электронных приборов | |
RU2157513C1 (ru) | Эллипсометрический датчик | |
Hirvi et al. | Economical device for measuring thickness of a thin polymer film |