SU1330463A1 - Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности - Google Patents

Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности Download PDF

Info

Publication number
SU1330463A1
SU1330463A1 SU864045614A SU4045614A SU1330463A1 SU 1330463 A1 SU1330463 A1 SU 1330463A1 SU 864045614 A SU864045614 A SU 864045614A SU 4045614 A SU4045614 A SU 4045614A SU 1330463 A1 SU1330463 A1 SU 1330463A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
height
dependence
maximum
brewster
surface roughness
Prior art date
Application number
SU864045614A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Григорьевич Шкуратов
Людмила Яковлевна Мелкумова
Original Assignee
Харьковский государственный университет им.А.М.Горького
Институт радиофизики и электроники АН УССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Харьковский государственный университет им.А.М.Горького, Институт радиофизики и электроники АН УССР filed Critical Харьковский государственный университет им.А.М.Горького
Priority to SU864045614A priority Critical patent/SU1330463A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1330463A1 publication Critical patent/SU1330463A1/ru

Links

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и предназначено дл  контрол  качества обработки поверхности , измерени  размеров частиц запыленных поверхностей, измерени  высоты шероховатости. Цель изобретени  расширение класса исследуемых объектов - достигаетс  благодар  использоЛ ванию тарировочной зависимости cpejo;- ней высо ты шероховатости поверхности от отношени  Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации, возникающей при отражении света от исследуемой поверхности к дополнительному максимуму на фазовых углах, больших Брюстеровского. Исследуемую поверхность 2 освещают с помощью осветител  1 под различными углами падени i в отраженном излучении вьщел ют па- раллельную и перпендикул рную компоненты пол ризации дл  различных зна чений угла падени , определ ют зави- симость коэффициента пол ризации от угла между падающим и отраженным пучками и по тарировочной, зависимости средней высоты шероховатости от отношени  Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации к дополнительному мakcимyмy определ ют высоту шероховатости исследуемой поверхности. ,3 ил. (Л с фиг{

Description

1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  качества обра ботки поверхности, измерени  разме- ров частиц запыленных поверхностей ,и измерени  средней высоты шероховатости .
Цель изобретени  - расширение класса исследуемых объектов измере- .ни  - достигаетс  благодар  использованию тарированной зависимости средней в 1соты шероховатости поверх ности от отношени  Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации Р , возникающей при отражении света от исследуемой поверхности к дополнительному максимуму Р, .
I . . . .
На фиг, 1 изображена схема устройства , дл  осуществлени  предлагаемого способа; на фиг. 2 - фазова  зависимость коэффициента Р пол ризации дл  шероховатой поверхности; на фиг. 3 - пример тарировочной зависимости отношени  Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации к дополнительному .
Способ осуществл ют следующим образом .
Исследуемую поверхность (фиг,1) освещают с помощью осветител  1. Отраженный от поверхности 2 свет пропускают через вращающийс  анализатор 3, получа  в зависимости от его положени  перпендикул рную либо параллельную компоненты отраженного света, и с помощью фоторегис-Ератора 4, который расположен под малым углом oi к поверхности, регистрируют интенсивности перпендикул рной Р, и параллельной Р„ компонент, получа  затем
30463 . 2
по известной формуле коэффициент пол ризации отраженного света;
.РИ
Р +р
5
Измен   положение осветител  1,
подобным образом получают значени  коэффициента пол ризации Р во всем диапазоне фазовых углов if, вычисл ют
1Q- отношение , а затем по тарировочной зависимости определ ют среднюю высоту шероховатости.
Предлагаемый способ пригоден дл  измерени  шероховатости поверхности
-15 как прозрачных, так и непрозрачных объектов и. не накладывает ограничений на размеры поверхностей измер ,е- мых объектов.
ормула изобретени. 
30
20
Бесконтактный оп тический способ определени  высоты шероховатости поверхности , заключающийс  в том, что 25 на контролируемую поверхность объекта направл ют пучок света, регистрируют отраженное излучение и определ ют высоту шероховатости поверхности, о т л ичающийс  тем, что, с целью расширени  класса объектов измерени , пучок света направл ют под различными углами падени  к поверхности , в отраженном излучении выдел ют параллельную и перпендикул рную компоненты пол ризации дл  различных значений угла падени , определ ют зависимость коэффициента пол ризации от угла между падающим и отраженным пучками, а высоту шероховатости поверхности определ ют по тарировочной зависимости средней высоты шероховатости от отношени  Брюстеровского максимума коэффициента пол ризации к дополнительному максимуму.
35
40
Л ff
во raff 1М т Уеа/f jv/, ejffafycif Фиг.г
QN
вь/сото u/e/yey Gfffafrroc rytj ФигЪ

Claims (1)

  1. 2Q Формула изобретения
    Бесконтактный оптический способ определения высоты шероховатости поверхности, заключающийся в том, что 25 на контролируемую поверхность объекта направляют пучок света, регистрируют отраженное излучение и определяют высоту шероховатости поверхности, о т л ичающийся тем, что, 30 с целью расширения класса объектов измерения, пучок света направляют под различными углами падения к поверхности, в отраженном излучении выделяют параллельную и перпендикулярную компоненты поляризации для раз35 личных значений угла падения, определяют зависимость коэффициента поляризации от угла между падающим и отраженным пучками, а высоту шероховатости поверхности определяют по тарировочной зависимости средней высоты шероховатости от отношения Брюстеровского максимума коэффициента поляризации к дополнительному максимуму.
    О/тюшеяие мамсималышх коэффициент^ /эаиюризации P2/Pf фиг.З
SU864045614A 1986-04-03 1986-04-03 Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности SU1330463A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864045614A SU1330463A1 (ru) 1986-04-03 1986-04-03 Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864045614A SU1330463A1 (ru) 1986-04-03 1986-04-03 Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1330463A1 true SU1330463A1 (ru) 1987-08-15

Family

ID=21229606

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864045614A SU1330463A1 (ru) 1986-04-03 1986-04-03 Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1330463A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 654853, кл. G 01 В 11/30, 1977. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5074669A (en) Method and apparatus for evaluating ion implant dosage levels in semiconductors
JP3955329B2 (ja) サンプルの異常を検出するためのシングルレーザ明視野及び暗視野装置
EP0622624B1 (en) A method for observing film thickness and/or refractive index
CA2136886A1 (en) Apparatus, system and method for real-time wafer temperature measurement based on light scattering
WO2000029807A3 (en) Detection system for nanometer scale topographic measurements of reflective surfaces
EP0397388A3 (en) Method and apparatus for measuring thickness of thin films
EP0078411A3 (en) Non-contact sensor with particular utility for measurement of road profile
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
SU1330463A1 (ru) Бесконтактный оптический способ определени высоты шероховатости поверхности
DE69126918T2 (de) Messverfahren des Einfallwinkels eines Lichtstrahls, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie deren Verwendung zur Entfernungsmessung
Detrio Light scattering surface roughness characterization
JPS6352004A (ja) 測定装置
SU1647242A1 (ru) Бесконтактный оптический способ определени среднеквадратичной высоты шероховатости поверхности
JPS6418071A (en) Detecting apparatus for voltage
SU1272108A1 (ru) Рефлектометрический способ измерени параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел
SU1657950A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности детали
SU1670394A1 (ru) Рефлектометр дл измерени пол ризационных параметров поверхности объекта
SU1627937A1 (ru) Способ определени толщины и показател преломлени материала трещин в полимерах
RU1770850C (ru) Способ определени спектральных направленно-полусферических коэффициентов отражени образцов
SU1642326A1 (ru) Способ исследовани распределени параметров рассеивающих частиц
RU1781537C (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели и устройство дл его осуществлени
RU1809373C (ru) Способ оптического контрол отражающей поверхности и устройство дл его осуществлени
RU2060487C1 (ru) Устройство для измерения параметров оптико-электронных приборов
RU2157513C1 (ru) Эллипсометрический датчик
Hirvi et al. Economical device for measuring thickness of a thin polymer film