RU2157513C1 - Эллипсометрический датчик - Google Patents

Эллипсометрический датчик Download PDF

Info

Publication number
RU2157513C1
RU2157513C1 RU99104550A RU99104550A RU2157513C1 RU 2157513 C1 RU2157513 C1 RU 2157513C1 RU 99104550 A RU99104550 A RU 99104550A RU 99104550 A RU99104550 A RU 99104550A RU 2157513 C1 RU2157513 C1 RU 2157513C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
polarizer
analyzers
ellipsometric
photodetectors
radiation
Prior art date
Application number
RU99104550A
Other languages
English (en)
Inventor
В.Н. Федоринин
Original Assignee
Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники СО РАН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники СО РАН filed Critical Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники СО РАН
Priority to RU99104550A priority Critical patent/RU2157513C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2157513C1 publication Critical patent/RU2157513C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов. Эллипсометрический датчик содержит источник излучения, поляризатор, компенсатор, исследуемый объект. Падающее на поляризатор излучение разделяется по фронту световой волны на два пучка. Отраженные или прошедшие исследуемый объект пучки регистрируются двумя фотоприемниками. Перед фотоприемниками установлены два анализатора. Плоскости поляризации анализаторов развернуты на 90° относительно друг друга. Конструкция датчика позволяет уменьшить оптическую длину, применить пленочные поляризаторы и обеспечивает высокую чувствительность измерений. 3 ил.

Description

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материала и тонких пленок.
Известна схема эллипсометра, содержащая источник когерентного излучения, поляризатор, четвертьволновую пластинку, исследуемый объект, анализатор, фотоприемное устройство [Горшков М. М. Эллипсометрия. М., 1974. С. 199]. Принцип измерения основан на нулевом методе. Состояние поляризации излучения измеряется путем определения азимутов ориентации поляризатора и анализатора в момент, когда на выходе фотоприемного устройства наблюдается минимальный сигнал. Основной недостаток данной схемы состоит в том, что высокая чувствительность измерений может быть обеспечена в случае применения поляризационных элементов с высокой степенью поляризации, высокой мощностью источника когерентного излучения.
Прототипом изобретения служит схема спектроэллипсометра [Рыхлицкий C.B. и др. авт. св. N 1495648 от 22.03.1989], содержащая источник излучения, поляризатор, исследуемый объект, компенсатор, анализирующий блок. Анализирующий блок состоит из двоякопреломляющей призмы, разделяющей по амплитуде световую волну на два пучка со взаимно ортогональной поляризацией, механического модулятора, обеспечивающего модуляцию пучков в противофазе, системы линз, фокусирующих излучение на площадку фотоприемника. Применение данной схемы регистрации обеспечивает высокую чувствительность измерений при низких значениях мощности потока излучения, а также позволяет работать с объектами, имеющими низкую степень поляризации без заметного снижения чувствительности. Недостатком данной конструкции эллипсометра является применение в конструкции анализирующего устройства, системы линз, модулятора, двоякопреломляющей призмы. Использование этих узлов позволяет реализовать данное схемное решение только в виде стационарного прибора, характеризующегося значительными габаритами и энергопотреблением.
Целью изобретения являются снижение энергопотребления и массогабаритных характеристик устройства.
Указанная цель достигается тем, что в изобретении излучение, падающее на вход поляризационной части устройства фиг 1а, фиг 1б, состоящего из источника излучения 1 поляризатора 2, компенсатора 3, пространственно разделено по фронту световой волны на два пучка равной интенсивности, падающих под углом Q к исследуемой поверхности 4, но в различных плоскостях, разнесенных в пространстве на определенный угол γ. Излучение, отраженное от объекта или прошедшее через него, регистрируется с помощью двух фотоприемников 7,8, перед которыми установлены два анализатора 5,6 со взаимно ортогональной ориентацией плоскости поляризации. Применение в предлагаемом изобретении схемы измерения с пространственно разнесенными каналами по фронту световой волны позволяет применить в системе пленочные поляризационные элементы типа поляроидных пленок, уменьшить оптическую длину и в качестве излучателя применить источник с низким энергопотреблением типа светодиода без предварительной каллимации.
Автору неизвестны конструкции эллипсометров, обладающие признаками сходными с признаками, отличающими предлагаемую конструкцию от прототипа, поэтому данная конструкция эллипсометра обладает существенным отличием.
Предлагаемое изобретение иллюстрируется следующими графическими материалами:
фиг.1а - схема эллипсометрического датчика на отражение;
фиг.1б - схема эллипсометрического датчика на пропускание;
фиг. 2 - пример конкретного исполнения эллипсометрического датчика для измерения давления.
Работа устройства состоит в следующем: известно что величина потока F, падающего на фотоприемники, связана с положением азимутов ориентации элементов схемы соотношением (1) [Оптика и спектроскопия, т. 50, вып. 5, 1991, с. 1169-1176.]
F=F0(Rs2cos2(A)+Rp2sin2(A)+RsRpsin2A cos(2P-90+ Δ)), (1)
где F0 - величина начального потока излучения, P - азимут ориентации поляризатора, A - азимут анализатора, R5,Rp (Ts,Tp) - коэффициенты отражения [пропускания) взаимно ортогональных компонент поляризации, Δ - разность фаз между поляризационными компонентами, вносимая измеряемым объектом.
Измерение Δ производится при исходной ориентации анализаторов A1 = 45o, A2 = 135o, соответственно в первом и втором каналах, компенсатора C = 45o. Соотношение (1) приобретает вид
F1=F0(0,5(Rs3+Rp3)+ RsRpcos(2P-90+ Δ1 ));
F2=F0(0,5(Rs3+Rp2)- RsRpcos(2P-90+ Δ2 )). (2)
Система обработки обеспечивает измерение сигнала JΔ где
Figure 00000002
полагая, что в пределах измеряемой площади S1, S2 параметры объекта Δ12 по каналам равны или незначительно отличаются друг от друга, соотношение (3) примет вид
Figure 00000003

Измерение ψ проводится при ориентации анализаторов A1=0o, A2=90o соответственно по каналам и C = 0. Соотношение (3) примет вид
Figure 00000004

где Jψ измеряемый сигнал.
Figure 00000005

При установке азимута поляризатора в положение P, близкое к ψ. изменение сигнала ∂Jψ связано с изменением ∂ψ соотношением (6)
Figure 00000006

Сопоставительный анализ с прототипом, где излучение, отраженное от исследуемого объекта, направляется на поляризационную призму и после прохождения ее делится по амплитуде световой волны на два пучка со взаимно ортогональной поляризацией, отличается тем, что в заявленном устройстве деление излучения происходит по фронту падающей волны до падения его на исследуемую поверхность и регистрируется с помощью двух фотоприемников, перед которыми установлены анализаторы с азимутами поляризаций, развернутыми на 90o относительно друг друга, показывает, что такое схемное решения позволяет использовать в качестве поляризатора и анализатора пленочные элементы типа поляроидных пленок и тем самым уменьшить оптический путь и габариты устройства, применить источники излучения с низким энергопотреблением. На фиг.2 приведена конкретная схема исполнения эллипсометрического датчика, предназначенного для измерения величины давления. Принцип работы устройства основан на фотоупругом эффекте кварцевой пластины, в которой под действием приложенной нагрузки возникает двулучепреломление, характеризующееся величиной Δ. Соотношение между величиной нагрузки и значением Δ определяется выражением
Figure 00000007

где δxy - - величина нагрузки в двух взаимно перпендикулярных направлениях, λ - длина волны излучения, θ - постоянная материала.
Использование данного схемного решения в конструкции эллипсометрического датчика позволило получить следующие технические характеристики:
Линейный диапазон измерений Δ - ±10o
Чувствительность к изменению Δ - 0,005o
Масса датчика - 40 г
Габариты оптического блока - 10 х 30 мм
Энергопотребление датчика - 20 мВт
Литература
1. Горшков М.М. Эллипсометрия. М., 1974, с.199.
2. Рыхлицкий C.B. и др., авт. св. N 1495648 от 22.03.1989.
3. Оптика и спектроскопия, т. 50, вып. 5, 1991, с. 1169-1176.

Claims (1)

  1. Эллипсометрический датчик, содержащий источник излучения, поляризатор, компенсатор, исследуемый объект, фотоприемник, отличающийся тем, что излучение, прошедшее или отраженное от исследуемого объекта, разделено на два пучка, регистрируемых двумя фотоприемниками, перед которыми установлены два анализатора, плоскости поляризации которых развернуты на 90o относительно друг друга.
RU99104550A 1999-03-05 1999-03-05 Эллипсометрический датчик RU2157513C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99104550A RU2157513C1 (ru) 1999-03-05 1999-03-05 Эллипсометрический датчик

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU99104550A RU2157513C1 (ru) 1999-03-05 1999-03-05 Эллипсометрический датчик

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2157513C1 true RU2157513C1 (ru) 2000-10-10

Family

ID=20216774

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99104550A RU2157513C1 (ru) 1999-03-05 1999-03-05 Эллипсометрический датчик

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2157513C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2799977C1 (ru) * 2022-11-15 2023-07-14 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Удмуртский государственный университет" Эллипсометрический датчик

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2799977C1 (ru) * 2022-11-15 2023-07-14 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Удмуртский государственный университет" Эллипсометрический датчик

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4647207A (en) Ellipsometric method and apparatus
CN1841030B (zh) 分光偏振测定法
US7889339B1 (en) Complementary waveplate rotating compensator ellipsometer
US4589776A (en) Method and apparatus for measuring optical properties of materials
US4309110A (en) Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances
US6927853B2 (en) Method and arrangement for optical stress analysis of solids
CA1264959A (en) Static interferometric ellipsometer
US6483584B1 (en) Device for measuring the complex refractive index and thin film thickness of a sample
Oakberg Measurement of low-level strain birefringence in optical elements using a photoelastic modulator
CN102620907B (zh) 一种测量光学器件相位延迟角度的方法
EP0075689A1 (en) Optical instruments for viewing a sample surface
KR100336696B1 (ko) 편광 분석장치 및 편광 분석방법
JP3131242B2 (ja) 光ビーム入射角の測定方法、測定装置及び該装置を距離測定に使用する方法
US3481671A (en) Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements
EP0080540A1 (en) Method and apparatus for measuring quantities which characterize the optical properties of substances
JPH0131131B2 (ru)
RU2157513C1 (ru) Эллипсометрический датчик
CN102519712B (zh) 八分之一波片相位延迟量测量装置和测量方法
Oakberg Measurement of waveplate retardation using a photoelastic modulator
Stein A procedure for the accurate measurement of infrared dichroism of oriented film
RU2384835C1 (ru) Эллипсометр
RU2102700C1 (ru) Двухлучевой интерферометр для измерения показателя преломления изотропных и анизотропных материалов
RU2046315C1 (ru) Способ измерения величины двулучепреломления зарецкого
SU1141315A1 (ru) Способ измерени величины двойного лучепреломлени полимерных материалов
RU1818545C (ru) Способ измерени двойного лучепреломлени веществ