RU1809373C - Способ оптического контрол отражающей поверхности и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Abstract

Использование: измерительна  техника и может быть использовано в средствах контрол  в оптико-механической промышленности . Сущность изобретени : падающий и рассе нный вблизи нормального угла свет пол ризуют, фиксируют направление пол ризации , вращают отражающую поверхность в ее плоскости на 360°, регистрируют минимальную и максимальную интенсивности рассе нного от поверхности света, определ ют их отношение и соответствующие азимуты поверхности по лимбу, которые соответствуют этим экстремальным значени м интенсивности, причем на основе этого отношени  и азимутов суд т о структурной анизотропии и ориентации ее выделенной оси относительно направлени  пол ризации . В устройство введены пол роид и два отсчетных угловых лимба, в одном из которых между источником света и предметным столиком установлен пол роид (пол ризатор ), а на другом - предметный столик, с возможностью вращени  этих лимбов на 360° вокруг нормали к столику. 2 с.п.ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике, св занной с оценкой структурной анизотропии отражающих плоских поверхностей на основе рефлектометриче- ского измерени  параметров отраженного от поверхности света вблизи нормального угла падени , и может быть использовано в средствах контрол  в оптико-механической промышленности.

Целью изобретени   вл етс  обеспечение возможности определени  параметров структурной анизотропии отражающих ме таллических поверхностей.

На чертеже показана оптическа  схема устройства дл  измерени  структурной анизотропии и ее пространственной ориентации в плоскости отражающей поверхности.

Устройство содержит источник 1 света, фотоприемник 2, пол роид (пол ризатор) 3, лимб 4, предметный столик 5 дл  креплени  образца, лимб 6 и регистрирующее устройство 7. Источник 1 света и фотоприемник 2 конструктивно выполнены в виде одного блока и установлены над предметным столиком 5. Пол роид 3 закреплен на лимбе 4, а предметный столик - на лимбе 6.

Способ осуществл ют следующим образом . Исследуемый образец помещают на предметный столик 5 и фиксируют по лимбу 6 выбранное направление (ориентацию)

00

о

О

ы VJ ы

столика с закрепленным на нем образцом как нулевое. Через пол ризатор 3, установленный на лимбе 4, пропускают свет от источника 1, фиксиру  при этом направление пол ризации света по лимбу 4 в виде нулевой отметки. Попавший на исследуемый образец световой поток от источника 1 рассеиваетс  на поверхности под углом, близким к нормальному и, пройд  через пол ризатор 3 в обратном к падающему пучку направлении, попадает на фотоприемник 2, фототоки с которого регистрируют устройством 7, Враща  лимб 6 вокруг оси, по направлению совпадающей с нормалью к предметному столику с установленным в плоскости этого столика образцом на 360° фиксируют с помощью регистрирующего устройства 8 максимальный и минимальный фототоки, а также отмеча  по лимбу 6 соответствующие азимуты относительно его ну- левой отметки при этих фототоках, фиксируют направление структурной анизотропии по углу поворота лимба 6 относительно его нулевой отметки. По отношению максимального и минимального фототоков определ ют степень структурной анизотропии поверхности и ориентацию одной из осей (соответствующей максимальному фототоку) такой анизотропии по отношению к выделенному на поверхности образца направлению, которое по лимбу 6 было отмечено как нулевое.

Пример конкретного исполнени . В качестве источника света использовали стандартный светодиод АЛ-307, а в качестве фотоприемника - фртосопротивление кольцевого типа ФСК-6. Регистрацию фототоков проводили на микроамперметре типа М24, Испытуемой поверхностью была аморфна  лента сплава Ni 9Si6Bi6, продольна  ось ленты,  вл  сь характерным дл  ориентации поверхности направлением, размещалась в вертикальном направлении, выбранном на лимбе 6 как нулевое. Направление пол ризации пол роидной пленки (пол ризатора) также размещалось в вертикальном направлении и по лимбу 4 пол ризатора фиксировалось также в качестве нулевого. При вращении лимба б совместно с закрепленными на нем предметным столиком с плоской испытуемой поверхностью ленты аморфного сплава вышеуказанного состава определены азимуты по лимбу б, соответствующие максимальному и минимальному фототокам, а именно 60° и 150°. Отношение минимального значени  к максимальному значению фототока составило 0,56. Таким образом, структурна  анизотропи  аморфной ленты указанного аморфного сплава  вл етс  одноосной , причем ось выт нутости составл ет 60° по отношению к продольной оси самой ленты. Аналогичные измерени  были проведены и дл  аморфных лент других составов , например, FegoBisMns (ось выт нутости также не совпадает с осью ленты и составл ет примерно 50°, а отношение минимального фототока к максимальному - 0,85), FegiB SIsCia (здесь соответствующа  ,

0 пара величин: 70° и 0,77).

Таким образом, применение способа на конкретном примере дает возможность определить параметры структурной анизотропии отражающей поверхности, что выгодно

5 отличает этот способ и устройство дл  его осуществлени  от известных.

Claims (2)

1. Формула изобретени  1. Способ оптического контрол  отражающей поверхности, заключающийс  в том,

   0 что пучок света направл ют нормально к поверхности и регистрируют рассе нный от нее в обратном направлении вблизи нор- ,мальногоугла падени  пучок света фотоприемником кольцевой формы, отличают, и5 и с   тем, что, с целью обеспечени  возможности определени  параметров структурной анизотропии металлических поверхностей, при направлении светового пучка к поверхности фиксируют азимуталь0 ное направление отражающей поверхности , пол ризуют падающий и рассе нный световые пучки в одном и том же направлении , фиксируют азимут направлени  пол ризации , а при регистрации рассе нного от

   5 отражающей поверхности светового пучка вращают отражательную поверхность в ее плоскости на 360°, измер ют минимальную и максимальную интенсивности рассе нного от поверхности света, фиксируют соотО ветствующие этим интенсивност м азимуты отражающей поверхности по отношению к азимутальному направлению пол ризации света и по значени м отношени  минимальной и максимальной интенсивности рассе5  нного света и азимуту отражающей поверхности относительно направлени  пол ризации света суд т о параметрах структурной анизотропии поверхности и ее ориентации в плоскости поверхности.

   0
2. 2. Устройство оптического контрол  отражающей поверхности, содержащее источник света и последовательно установленные по ходу пучка света предметный столик дл  закреплени  на нем испытуемой повер5 хности и фотоприемник кольцевого типа, причем источник света и фотоприемник выполнены в виде одного блока, отличающеес  тем, что, с целью обеспечени  возможности определени  параметров структурной анизотропии металлических

   поверхностей, в него введены два соосно расположенных лимба и пол ризатор, при этом лимбы установлены последовательно

   по,ходу пучка света, при этом на первом лимбе установлен пол ризатор, на втором - предметный столик.