SU1449876A1 - Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени - Google Patents
Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1449876A1 SU1449876A1 SU874236871A SU4236871A SU1449876A1 SU 1449876 A1 SU1449876 A1 SU 1449876A1 SU 874236871 A SU874236871 A SU 874236871A SU 4236871 A SU4236871 A SU 4236871A SU 1449876 A1 SU1449876 A1 SU 1449876A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- reflector
- photodetector
- radiation
- cone
- sample holder
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области оптического приборостроени , к устройству дл измерени коэффициента зеркального отражени . Цель изобретени - увеличение быстродействи и точности измерений. Устройство содержит источник излучени 1, отражатель 2, держатель 3 образца, конденсор 4 и фотоприемник 5. Отражатель вьшолен в виде полого конуса, а конденсор установлен перед фотоприемником , причем держатель образца расположен в отражателе таким образом, что ось вращени держател совпадает с главной осью конического отражател , а источник излучени установлен с возможностью введени излучени через отверстие 6 в отражательной а поверхности конуса. 1 ил.
Description
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров материалов с помощью оптических методов .
Цель изобретения - повышение быст· родействия и точности измерения коэффициента отражения.
На чертеже представлена схема устройства.
Устройство содержит источник 1 излучения, полый конический отражатель 2, держатель 3 образца, конденсор 4 и фотоприемник 5. В коническом отражателе выполнено отверстие 6.
Излучение от источника 1 через отверстие 6 с прямоугольном коническом отражателе 2 падает на образец, прикрепленный к держателю 3, который можно поворачивать вокруг вертикальной оси 00· для измерения отраженного при различных углах падения излучения и перемещать вверх для измерения падающего на образец излучения 1О. Благодаря конденсору 4 потоки 1^ и 1о попадают на фотоприемник 5 под одинаковым углом и равномерно распределяются по всему чувствительному слою. Коэффициент отражения исследуемого образца при угле падения излучения οί, определяется по формуле
где 1^ - отраженное излучение;
10 - падающее излучение.
5 Исключение механического перемещения отражателя повышает быстродействие устройства и обеспечивает стабильность местоположения светового пятна на чувствительной поверхности фотоприемника при изменении угла падения, что увеличивает точность измерений.
Claims (1)
15 Формула изобретения
Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения, содержащее источник излучения, установлен2Q ные по ходу излучения держатель образца, отражатель и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия и точности измерения, отражатель вы25 полнен в виде полого конуса с углом при вершине 90 и отверстием на боковой поверхности для ввода излучения, держатель образца установлен внутри конуса с возможностью враще30 ния и перемещения вдоль его оси, фотоприемник установлен на оси конуса, а между конусом и фотоприемником расположен конденсор.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874236871A SU1449876A1 (ru) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874236871A SU1449876A1 (ru) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1449876A1 true SU1449876A1 (ru) | 1989-01-07 |
Family
ID=21301054
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874236871A SU1449876A1 (ru) | 1987-03-11 | 1987-03-11 | Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1449876A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002082062A1 (en) * | 2001-04-04 | 2002-10-17 | Varian Australia Pty Ltd | Measuring specular reflectance of a sample |
-
1987
- 1987-03-11 SU SU874236871A patent/SU1449876A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 141658, кл. G 01 N 21/55, 1961. Авторское свидетельство СССР № 411356, кл. G 01 N 21/55, 1974. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002082062A1 (en) * | 2001-04-04 | 2002-10-17 | Varian Australia Pty Ltd | Measuring specular reflectance of a sample |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4360275A (en) | Device for measurement of optical scattering | |
FI78355B (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
US1949619A (en) | Glossimeter | |
SU1449876A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени | |
US4332090A (en) | Directional two axis optical inclinometer | |
Sharpe | Dynamic strain measurement with the interferometric strain gage: Paper presents the details of optical measurement of dynamic strain over short gage lengths by use of the interferometric strain gage | |
US3471936A (en) | Apparatus for measuring the spherical coordinates of a luminous point | |
JPS5483853A (en) | Measuring device | |
US3238373A (en) | Photometric gage for finding perpendiculars to surfaces | |
RU2025656C1 (ru) | Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в фиксированной точке | |
SU1453183A1 (ru) | Люксметр | |
SU1270566A1 (ru) | Измерительна головка гидростатического нивелира | |
SU1139990A1 (ru) | Устройство дл контрол пр молинейности оси и величины диаметров отверстий | |
SU1150525A1 (ru) | Устройство дл регистрации зависимости интенсивности отраженного излучени от угла падени на исследуемый объект | |
SU1157364A1 (ru) | Установка дл измерени распределени лучистой энергии в фокальном п тне галиоконцентратора | |
SU1601563A1 (ru) | Устройство дл измерени угловой зависимости коэффициента отражени материала | |
SU1723316A1 (ru) | Датчик угла наклона буровой скважины | |
SU1384938A1 (ru) | Способ измерени геометрических размеров прозрачных трубок | |
RU2102702C1 (ru) | Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок | |
SU1393131A1 (ru) | Градиентометр | |
SU1511593A1 (ru) | Прибор дл контрол шероховатости поверхности | |
SU872959A1 (ru) | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности прозрачных образцов | |
SU1260693A1 (ru) | Устройство дл измерени индикатрисы рассто ни света | |
RU2073898C1 (ru) | Гравитационный вариометр | |
SU1390513A1 (ru) | Фотометрическое устройство |