SU1449876A1 - Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени - Google Patents

Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени Download PDF

Info

Publication number
SU1449876A1
SU1449876A1 SU874236871A SU4236871A SU1449876A1 SU 1449876 A1 SU1449876 A1 SU 1449876A1 SU 874236871 A SU874236871 A SU 874236871A SU 4236871 A SU4236871 A SU 4236871A SU 1449876 A1 SU1449876 A1 SU 1449876A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
reflector
photodetector
radiation
cone
sample holder
Prior art date
Application number
SU874236871A
Other languages
English (en)
Inventor
Эугениюс Витаутович Гураускас
Ричардас-Адольфас Албинович Буляускас
Original Assignee
Институт физики полупроводников АН ЛитССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт физики полупроводников АН ЛитССР filed Critical Институт физики полупроводников АН ЛитССР
Priority to SU874236871A priority Critical patent/SU1449876A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1449876A1 publication Critical patent/SU1449876A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области оптического приборостроени , к устройству дл  измерени  коэффициента зеркального отражени . Цель изобретени  - увеличение быстродействи  и точности измерений. Устройство содержит источник излучени  1, отражатель 2, держатель 3 образца, конденсор 4 и фотоприемник 5. Отражатель вьшолен в виде полого конуса, а конденсор установлен перед фотоприемником , причем держатель образца расположен в отражателе таким образом, что ось вращени  держател  совпадает с главной осью конического отражател , а источник излучени  установлен с возможностью введени  излучени  через отверстие 6 в отражательной а поверхности конуса. 1 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров материалов с помощью оптических методов .
Цель изобретения - повышение быст· родействия и точности измерения коэффициента отражения.
На чертеже представлена схема устройства.
Устройство содержит источник 1 излучения, полый конический отражатель 2, держатель 3 образца, конденсор 4 и фотоприемник 5. В коническом отражателе выполнено отверстие 6.
Излучение от источника 1 через отверстие 6 с прямоугольном коническом отражателе 2 падает на образец, прикрепленный к держателю 3, который можно поворачивать вокруг вертикальной оси 00· для измерения отраженного при различных углах падения излучения и перемещать вверх для измерения падающего на образец излучения 1О. Благодаря конденсору 4 потоки 1^ и 1о попадают на фотоприемник 5 под одинаковым углом и равномерно распределяются по всему чувствительному слою. Коэффициент отражения исследуемого образца при угле падения излучения οί, определяется по формуле
где 1^ - отраженное излучение;
10 - падающее излучение.
5 Исключение механического перемещения отражателя повышает быстродействие устройства и обеспечивает стабильность местоположения светового пятна на чувствительной поверхности фотоприемника при изменении угла падения, что увеличивает точность измерений.

Claims (1)

15 Формула изобретения
Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения, содержащее источник излучения, установлен2Q ные по ходу излучения держатель образца, отражатель и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия и точности измерения, отражатель вы25 полнен в виде полого конуса с углом при вершине 90 и отверстием на боковой поверхности для ввода излучения, держатель образца установлен внутри конуса с возможностью враще30 ния и перемещения вдоль его оси, фотоприемник установлен на оси конуса, а между конусом и фотоприемником расположен конденсор.
SU874236871A 1987-03-11 1987-03-11 Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени SU1449876A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874236871A SU1449876A1 (ru) 1987-03-11 1987-03-11 Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874236871A SU1449876A1 (ru) 1987-03-11 1987-03-11 Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1449876A1 true SU1449876A1 (ru) 1989-01-07

Family

ID=21301054

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874236871A SU1449876A1 (ru) 1987-03-11 1987-03-11 Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1449876A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002082062A1 (en) * 2001-04-04 2002-10-17 Varian Australia Pty Ltd Measuring specular reflectance of a sample

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 141658, кл. G 01 N 21/55, 1961. Авторское свидетельство СССР № 411356, кл. G 01 N 21/55, 1974. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002082062A1 (en) * 2001-04-04 2002-10-17 Varian Australia Pty Ltd Measuring specular reflectance of a sample

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4360275A (en) Device for measurement of optical scattering
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US1949619A (en) Glossimeter
SU1449876A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени
US4332090A (en) Directional two axis optical inclinometer
Sharpe Dynamic strain measurement with the interferometric strain gage: Paper presents the details of optical measurement of dynamic strain over short gage lengths by use of the interferometric strain gage
US3471936A (en) Apparatus for measuring the spherical coordinates of a luminous point
JPS5483853A (en) Measuring device
US3238373A (en) Photometric gage for finding perpendiculars to surfaces
RU2025656C1 (ru) Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в фиксированной точке
SU1453183A1 (ru) Люксметр
SU1270566A1 (ru) Измерительна головка гидростатического нивелира
SU1139990A1 (ru) Устройство дл контрол пр молинейности оси и величины диаметров отверстий
SU1150525A1 (ru) Устройство дл регистрации зависимости интенсивности отраженного излучени от угла падени на исследуемый объект
SU1157364A1 (ru) Установка дл измерени распределени лучистой энергии в фокальном п тне галиоконцентратора
SU1601563A1 (ru) Устройство дл измерени угловой зависимости коэффициента отражени материала
SU1723316A1 (ru) Датчик угла наклона буровой скважины
SU1384938A1 (ru) Способ измерени геометрических размеров прозрачных трубок
RU2102702C1 (ru) Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок
SU1393131A1 (ru) Градиентометр
SU1511593A1 (ru) Прибор дл контрол шероховатости поверхности
SU872959A1 (ru) Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности прозрачных образцов
SU1260693A1 (ru) Устройство дл измерени индикатрисы рассто ни света
RU2073898C1 (ru) Гравитационный вариометр
SU1390513A1 (ru) Фотометрическое устройство