SU1511593A1 - Прибор дл контрол шероховатости поверхности - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике. Цель изобретени  - повышение технологичности конструкции, повышение точности контрол  и уменьшение продольных габаритов прибора за счет упрощени  юстировки прибора, совмещени  оптических систем приемного и осветительного каналов в одном компоненте и увеличени  жесткости оптической системы. Прибор содержит оптическую систему в виде положительной линзы 1, центральна  зона которой представл ет собой эллипсоид вращени  с зеркальным покрытием 2, источник 3 излучени  и регистратор 4. Эллипсоид вращени  строит на контролируемой поверхности 5 изображение излучающей площадки источника 3 излучени , который расположен в одном из его фокусов. При отражении излучени  от поверхности 5 часть лучей, попадающа  на поверхность, свободную от микродефектов, отражаетс  зеркально, а часть рассеиваетс  на микродефектах и попадает на периферийную зону линзы 1, котора  формирует в плоскости регистратора 4 изображение светлых микродефектов на темном фоне. Зеркально отраженные лучи возвращаютс  на эллипсоид вращени , который собирает их на источнике 3 излучени , и на регистратор 4 не попадают. 1 ил.

Description

ел

со

с

3151

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в частности, дл  контрол  шероховатости поверхности.

Цель изобретени  - повышение технологичности конструкции, повышение точности контрол  и уменьшение продольных габаритов прибора за счет упрощени  юстировки прибора, совмеще- ни  оптических систем приемного и осветительного каналов в одном компоненте и увеличени  несткости оптической системы.

.На чертеже изображена принципиаль- на  схема прибора дл  контрол  шероховатости поверхности.

Прибор содержит расположенные на оптической оси однокомпонентную оптическую систему, выполненную в виде положительной линзы 1 , центральна  зона которой представл ет собой эллипсоид вращени  с зеркальным покры- гием 2, в одном из фокусов которого установлен источник 3 излучени  и ре- гистратор. Источник 3 излучени  с совместно с центральной зоной положительной линзы 1 образует осветительный канал, а регистратор k совместно с периферийной зоной положительной линзы 1 - приемный канал, апертура которого в пространстве предметов пре вышает апертуру осветительного канала . В другом фокусе эллипсоида вращени  устанавливают контролируемую поверхность 5.

Линза 1 может быть плосковыпуклой, дво ковыпуклой, либо положительным мениском. В качестве источника 3 излучени  может использоватьс  миниа- тюрна  лампа накаливани , но лучшие результаты дает светодиод с узкой индикатрисой излучени . Регистратором Ц может быть фотоприемник, позвол ющий регистрировать и оценивать величИ ну отраженной от контролируемой поверхности .5 рассе нной составл ющей лучистого потока, либо обычный микроскоп , если целесообразно определение величины шероховатости по геометрическим характеристикам визуально наблюдаемых микродефектов контролируемой поверхности 5. Дл  обеспечени  минимальных потерь энергии и максимального контраста изобранени  контролируемую поверхность 5 целесообразно расположить во втором фокусе эллипсоида вращени , источник 3 излучени  в первом фокусе,

а регистратор 4 лучше установить в плоскости изображени  контролируемой поверхности 5 оптической системой приемного канйла.

Прибор дл  контрол  шероховатости поверхности работает следующим образом .

Расход щий.с  пучок лучей от источника 3 излучени  попадает на центральную зону положительной линзы 1, представл ющую собой вогнутый эллипсоид вращени , отража сь от которой, преобразуетс  в сход щийс  пучок с центром на контролируемой поверхности 5, расположенной во втором фокусе эллипсоида и строит на этой поверхности . изображение излучающей площадки источника 3 излучени , который расположен в первом фокусе эллипсоида. При отражении излучени  от контролируемой поверхности 5 часть лучей, попадающа  на поверхность , свободную от микродефектов, отражаетс  зеркально, а часть рассеиваетс  на микродефектах шероховатой поверхности 5. Зеркальна  составл юща  отраженного потока возвращаетс  в осветительный канал и в дальнейшем не используетс . Лучи, рассе нные на микродефектах, попадают на периферийную зону положительной линзы 1 , котора  формирует в плоскости регистратора k изображение микродефектов контролируемой поверхности 5. Так как в регистраторе 4 попадают только те лучи, которые отражаютс  от микродефектов, а лучи, отраженные от остальной поверхности 5 5, возвращаютс  в осветительный канал , то микродефекты наблюдаютс  в регистраторе как светлые объекты на темном фоне. Измер   величину рассе нной составл ющей отраженного потока фотоприемника или определ   геометрические параметры микродефектов при визуальном наблюдении, можно, судить о классе шероховатости поверхности 5.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Прибор дл  контрол  шероховатости поверхности, содержащий установленные на одной оси источник излучени , оптическую систему и регистратор, отличающийс  тем, что, с целью повышени  технологичности конструкции , повышени  точности контрол  и уменьшени  продольных габаритов

   51311593 , 6

   прибора, оптическа  система располо выполнена в виде вогнутого эллипсои- жена между источником излучени  и да вращени  с зеркальным покрытием, регистратором и содержит положитель- а источник излучени  установлен в од- ную линзу, центральна  зона которой ном из фокусов эллипсоида.