SE515345C2 - Temperaturberoende strömalstring - Google Patents
Temperaturberoende strömalstringInfo
- Publication number
- SE515345C2 SE515345C2 SE9601748A SE9601748A SE515345C2 SE 515345 C2 SE515345 C2 SE 515345C2 SE 9601748 A SE9601748 A SE 9601748A SE 9601748 A SE9601748 A SE 9601748A SE 515345 C2 SE515345 C2 SE 515345C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- current
- currents
- temperature
- temperature coefficient
- generated
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/24—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/26—Current mirrors
- G05F3/267—Current mirrors using both bipolar and field-effect technology
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Control Of Eletrric Generators (AREA)
Description
30 35 n; II " .u m. o I ".' , , a: I ' _ . .~ u v c ' , , . u. u ' , »n 1 f I 'kJ , ,. u ...rov I n, m. - _ . . . I. = n ~ e» 0 , u SAMMANFATTNING AV UPPFINNINGEN Hos uppfinningen, sàsom ett alternativ, konstrueras referen- ser i strömomràdet, där operationsidén. är den omvända mot operationsidën hos teknikens ståndpunkt, eftersom strömmarna alstras genom användning av väldefinierade spänningar, dvs. strömmarna àstadkoms först och därefter manipuleras de. Tem- peraturberoendet hos strömmarna är känt och strömmarna bear- betas genom ett linjärt och/eller icke-linjärt förfarande för att alstra strömmar' med. förutbestämda temperaturkoefficien- ter.
Fördelen med uppfinningen kan beskrivas mer direkt, där skalning och summering (subtraktion) är mycket lättare och enklare i strömomràdet än i spänningsomrädet, och mer robust, dvs. där finns mer utrymme för manipuleringar, i den meningen att strömmen utgör utvidgningen. av spänningen för' bipolära transistorer pà grund av det logaritmiska förhållandet mellan bas-emitterspänningen och kollektorströmmen. Ett förhållande- litet fel i ett stort fel hos strömmen och ett förhållandevis stort fel hos strömmen resul- vis spänning resulterar i terar i ett ganska litet spänningsfel pä grund av det loga- ritmiska förhållandet.
FIGURBESKRIVNING Fig. l visar en krets för att alstra väldefinierade ström- mar.
Fig. 2 visar en alternativ krets för att alstra väldefini- erade strömmar.
Fig. 3 'visar en förenklad utföringsforn1 i enlighet med uppfinningen med linjär operation för att alstra en ström med en specificerad temperaturkoefficient.
Fig. 4 visar ett exempel pà en krets baserad pà utförings- formen i fig. 3. , . - . .u 10 15 20 25 30 35 . . . 4 f- = . ., .u -fl . Q | , .nu 0 III", _ nu 0:21, . a» -vø _ , , , .z v.. 1 . .. vn: .n . .~ zu; , . i. I' ' . ' u , .. n Fig. 5 visar Hspice-simuleringsresultat av kretsen i fig.
Fig. 6 visar en förenklad utföringsform i enlighet med uppfinningen med icke-linjärt förfarande för att alstra en ström med en specificerad temperaturkoefficient.
Fig. 7 visar ett exempel pà en krets baserad pà utförings- formen i fig. 6.
Fig. 8 visar Hspice-simuleringsresultat av kretsen i fig.
DETALJERAD BESKRIVNING AV FÖREDRAGNA UTFÖRINGSFORMER Vid användning av kiselteknik kan en väldefinierad ström ästadkommas genom användning av en stabiliserad spänning och ett nmtstànd.
Vw Bas-emitterspänningen Vgw termiska spänningar grind-kàllspänning Všs och tröskelspänning VU] kan använ- das. Eftersom MOS-transistorer har en större parametersprid- ning än bipolära transistorer, och VT. föredras användningen av' Vbe Alstringen av' självförspänningsreferenser Vge och \G kan läsas i "Analysis and design of analog integrated cir- cuits", P. Gray och R. Meyer, 3:e uppl., John Wiley & Sons, Inc., 1993.
I fig. 1 och 2 visas kretsar som alstrar väldefinierade strömmar (startkretsar visas inte).
I fig. 1 bildar bipolära transistorer QO, Ql och Q2 och motståndet R1 en grundläggande Widlar-strömspegel. MOS- transistorn MO adderas för att reducera effekterna av basströmmar hos bipolära transistorer. Tvà identiska MOS- transistorer M1 och M2 bildar en strömspegel, (plus Q2) tvingande kol- lektorströmmarna hos QO och Q1 till att bli lika .,, nu ß. m» 10 15 20 25 30 515 345 varandra.
I MOS-transistorn M3 används för att mata ut strömmen P.
I fig. 2 bildar tvà identiska MOS-transistorer M4 och M5 en strömspegel tvingande kollektorströmmarna hos de bipolära transistorerna Q3 och Q4 att bli lika varandra. Emitterström- men hos den bipolära transistorn Q4 bestäms av motståndet R2 och spänningsfallet över detta, som är bas-emitterspänningen hos den. bipolära transistorn. Q3. MOS-transistor' M6 används för att mata ut strömmen In.
V V Enkel beräkning visar att Ip:-Lhfln) (1) och 1¿=-ï- (2), RI RZ där n är emitterareaförhällandet hos transistorerna Q1 (plus Q2) och. Q0. De fraktionerade temperaturkoefficienterna be- stäms av: 161 1aV1aR TCI=__m_&=____L_____L (3) P Q,äT IQ âT Rlâï oc ------- ---- h It? 1¿¶" 1 âßw 1 ÖRZ (4) ' Inflf Vbear Rzâr Vid rumstemperatur är den fraktionerade temperaturkoeffi- cienten för VT omkring 3300 ppm/C och den fraktionerade tempe- -2800 ppm/C, att Xge är omkring 0,7 V. Hos exempelvis värt interna förfa- raturkoefficienten för Xge är omkring förutsatt rande har multimotståndet en fraktionerad temperaturkoeffici- ent om -1700 ppm/C. Den fraktionerade temperaturkoefficienten för Ip är följaktligen omkring 5000 ppm/C och den fraktionera- de temperaturen för In är omkring -1100 ppm/C. För att åstad- komma fastställda temperaturkoefficienter erfordras vissa kretsarrangemang. , , , . .a 10 15 20 25 30 35 . ø n | .u 515 545 . . . | 1 ~ . ~ Linjära operationer kan lätt åstadkommas i strömomràdet.
Anta att I1=aIp+bIn (5), då ges den fraktionerade temperatur- koefficienten av: 1 1åI, 1 1fl TC =____,__ :__-___ ~ 161 '~ nçbfn/alp) 1,, af+1+(a1p/b1") 1" ar Av ekvation (6) förstàs följaktligen att genom att välja oli- ka strömvärden och skalningskoefficienter är det möjligt att åstadkomma en ström med en fastställd fraktionerad tempera- turkoefficient.
I fig. 3 visas ett blockschema och i fig. 4 visas ett exempel med a=4 och b=-1.
I fig. 3 multipliceras inströmmarna Ip och In med en faktor a och b i l respektive 2. Utströmmen Il i 3 alstras genom att man adderar två multiplicerade strömmar. Multiplikationen med en konstant faktor àstadkoms genom användning av strömspeglar och strömsummering àstadkoms genom att man helt enkelt kopp- lar ihop strömmarna.
I fig. 4 alstrar bipolära transistorer QO, mot- Ql och Q2, stånd Rl och MOS-transistorer Ml och M2 strömmen Ip motsvaran- de fig. 1 och bipolära transistorer Q6 och Q7, motstånd R2 och MOS-transistorer M5 och M6 alstrar strömmen In motsvarande fig. 2. MOS-transistorerna M3 och M4 används för att alstra strömmen Ip med en nmltiplikationsfaktor -2, förutsatt iden- tiska storlekar för MOS-transistorerna Ml~4. Bipolära tran- sistorer Q3~5 bildar en strömspegel och dess utström är tvà gånger större än dess inström med omkastad riktning, förut- satt Q3~5.
In med omkastad riktning. Följaktligen blir Il=4Ip-In. identisk emitterarea för de bipolära transistorerna En MOS-transistor M42 används för att mata ut strömmen Baserat pà.'parameterT1 hos det interna BiCMOS-förfarandet simuleras kretsen i fig. 4, och simuleringsresultatet visas i fig. 5. Den fraktionerade temperaturkoefficienten hos ut- . n » | n u m- 10 15 20 25 30 35 - n ~ » .n 515 345 .1.=1= strömmen Il är 13.000 ppm/C, när Ip och In har en fraktionerad temperaturkoefficient om 6400 ppm/C respektive - 340 ppm/C.
Enkla icke-linjära operationer kan också användas för att ändra den fraktionerade temperaturkoefficienten. I strömomrá- det erfordrar en enkvadrant translinjär kvadrerare/dividerare endast fyra bipolära transistorer, såsom beskrivs i "Analogue F.J.
Lidgey och D.G. Haigh, Peter Peregrinus Ltd., 1990. Anta att: IC design: the current-mode approach" av (2. Toumazou, så ges den fraktionerade temperaturkoefficienten av: än (s) 1 al", 1 ål, 1 TC, =-_=2.---- I", år 1,, ar 1,, är Man kan se från exempelvis (8) att genom att använda en enkel icke-linjär operation så kan den fraktionerade temperaturko- efficienten också ändras.
I fig. 6 visas ett blockschema som alstrar en ström Im ge- nom att använda en icke-linjär operation pà de tvà inström- marna Ip och In, och den icke-linjära operationen kan vara den som definieras av ekvation (7). En krets visas i fig. 7, Ql och Q2, uwtstàndet R1 och MOS-transistorerna M1 och M2 alstrar strömmen Ip motsvarande där de bipolära transistorerna Q0, fig.
R2, l och de bipolära transistorerna Q6 och Q7, motståndet och MOS-transistorerna M5 och M6 alstrar strömmen In mot- svarande fig. 2. MOS-transistorn M3 används för att mata ut strömmen Ip (förutsatt att Ml~3 är lika stora), och den bipo- för att mata ut (förutsatt att Q3 och Q5 är lika stora).
Q6~9 re/dividerare. lära transistorn Q5 används strömmen In Bipolära transisto- rer åstadkommer enkvadrant translinjära kvadrera- | a A » :n H n. 10 515 345 . . . . f» n Baserat pà parametern hos det interna BiCMOS-förfarandet simuleras kretsen i fig. 7 och simuleringsresultatet visas i fig. 8. Den fraktionerade temperaturkoefficienten för' ut- strömmen Im är 13.500 ppm/C, när Ip och In har en fraktionerad temperaturkoefficient om 6300 ppm/C respektive -143 ppm/C.
Trots att föregående beskrivning innefattar ett stort an- tal detaljer och egenskaper bör det observeras att dessa en- dast är illustrativa för uppfinningen och de är inte avsedda att vara begränsande. Mànga nwdifieringar inses lätt av en fackman inom området, vilka inte avviker fràn uppfinningens ram och anda, sàsom den definieras av de bifogade kraven och deras rättsliga motsvarigheter. . . . « 1 I .x n.
Claims (6)
1. Förfarande för en temperaturberoende generering av ström, kännetecknat av att en stöm alstras med en godtycklig temperaturko- efficient från åtminstone en inström med en väldefinierad tempera- turkoefficient, varvid de genererade strömmarna bildas i ett strömområde genom att härleda dem från en temperaturberoende spän- ning och ett temperaturberoende motstånd.
2. Förfarande enligt patentkrav l, kännetecknat av att linjära operationer används.
3. Förfarande enligt patentkrav l, kännetecknat av att icke lin- jära oprationer används
4. Förfarande enligt patentkrav 3, kännetecknat av att en utstöm Inl genereras av en enkvadrant translinjär kvadrerare/dividerare.
5. Anordning för en temperaturberoende generering av ström, kän- netecknad av att medel är anordnade för att generera en ström med en godtycklig temperaturkoefficient, varvid de genererade stömmarna är anordnade att bildas i strömomràdet genom att härleda dem från en temperaturberoende spänning och ett temperaturberoende motstånd, där en inström Ip och en inström In är anordnade att multipliceras respektive med en faktor a och b (1, 2) och en utström Il (3) är anordnad att genereras genom att addera de två multiplicerade strömmarna.
6. Anordning för en temperaturberoende generering av ström, kän- netecknad av att medel är anordnade för att generera en ström med en godtycklig temperaturkoefficient, där en inström Ip och en in- stöm In är anordnade till en enkvadrant translinjär kvadrera- re/dividerare.
Priority Applications (13)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9601748A SE515345C2 (sv) | 1996-05-07 | 1996-05-07 | Temperaturberoende strömalstring |
TW086105517A TW342546B (en) | 1996-05-07 | 1997-04-28 | A method and device for temperature dependent current generation |
PCT/SE1997/000725 WO1997042556A1 (en) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | A method and device for temperature dependent current generation |
CN97194466A CN1113282C (zh) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | 随温度变化的电流产生的方法和装置 |
ES97922255T ES2163153T3 (es) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | Generador electrico termodependiente y procedimiento correspondiente. |
AU27972/97A AU2797297A (en) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | A method and device for temperature dependent current generation |
DE69706671T DE69706671T2 (de) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | Verfahren und vorrichtung zur temperaturabhängigen stromerzeugung |
US08/848,247 US5942888A (en) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | Method and device for temperature dependent current generation |
EP97922255A EP0900419B1 (en) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | A method and device for temperature dependent current generation |
CA002253508A CA2253508C (en) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | A method and device for temperature dependent current generation |
KR10-1998-0708820A KR100446088B1 (ko) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | 온도계수를갖는전류발생방법및시스템 |
JP53983897A JP3828938B2 (ja) | 1996-05-07 | 1997-04-29 | 温度依存電流生成の方法および装置 |
HK99105421A HK1020292A1 (en) | 1996-05-07 | 1999-11-23 | A method and device for temperature dependent current generation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9601748A SE515345C2 (sv) | 1996-05-07 | 1996-05-07 | Temperaturberoende strömalstring |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE9601748D0 SE9601748D0 (sv) | 1996-05-07 |
SE9601748L SE9601748L (sv) | 1997-11-08 |
SE515345C2 true SE515345C2 (sv) | 2001-07-16 |
Family
ID=20402493
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE9601748A SE515345C2 (sv) | 1996-05-07 | 1996-05-07 | Temperaturberoende strömalstring |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5942888A (sv) |
EP (1) | EP0900419B1 (sv) |
JP (1) | JP3828938B2 (sv) |
KR (1) | KR100446088B1 (sv) |
CN (1) | CN1113282C (sv) |
AU (1) | AU2797297A (sv) |
CA (1) | CA2253508C (sv) |
DE (1) | DE69706671T2 (sv) |
ES (1) | ES2163153T3 (sv) |
HK (1) | HK1020292A1 (sv) |
SE (1) | SE515345C2 (sv) |
TW (1) | TW342546B (sv) |
WO (1) | WO1997042556A1 (sv) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10332494A (ja) * | 1997-06-03 | 1998-12-18 | Oki Data:Kk | 温度検出回路、駆動装置及びプリンタ |
US6326836B1 (en) * | 1999-09-29 | 2001-12-04 | Agilent Technologies, Inc. | Isolated reference bias generator with reduced error due to parasitics |
JP3638530B2 (ja) | 2001-02-13 | 2005-04-13 | Necエレクトロニクス株式会社 | 基準電流回路及び基準電圧回路 |
JP3751966B2 (ja) * | 2003-11-21 | 2006-03-08 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | サーマルシャットダウン回路 |
US7119527B2 (en) * | 2004-06-30 | 2006-10-10 | Silicon Labs Cp, Inc. | Voltage reference circuit using PTAT voltage |
KR100771884B1 (ko) * | 2006-09-11 | 2007-11-01 | 삼성전자주식회사 | 온도 변화에 따른 비선형 특성을 제거할 수 있는 온도 센싱회로 |
US20080164567A1 (en) * | 2007-01-09 | 2008-07-10 | Motorola, Inc. | Band gap reference supply using nanotubes |
JP4340308B2 (ja) * | 2007-08-21 | 2009-10-07 | 株式会社沖データ | 基準電圧回路、駆動回路、プリントヘッドおよび画像形成装置 |
US8415940B2 (en) | 2008-06-18 | 2013-04-09 | Freescale Semiconductor, Inc. | Temperature compensation circuit and method for generating a voltage reference with a well-defined temperature behavior |
US7951678B2 (en) * | 2008-08-12 | 2011-05-31 | International Business Machines Corporation | Metal-gate high-k reference structure |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4473793A (en) * | 1981-03-26 | 1984-09-25 | Dbx, Inc. | Bias generator |
US4645948A (en) * | 1984-10-01 | 1987-02-24 | At&T Bell Laboratories | Field effect transistor current source |
US5068595A (en) * | 1990-09-20 | 1991-11-26 | Delco Electronics Corporation | Adjustable temperature dependent current generator |
IT1245237B (it) * | 1991-03-18 | 1994-09-13 | Sgs Thomson Microelectronics | Generatore di tensione di riferimento variabile con la temperatura con deriva termica prestabilita e funzione lineare della tensione di alimentazione |
EP0504983A1 (en) * | 1991-03-20 | 1992-09-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Reference circuit for supplying a reference current with a predetermined temperature coefficient |
US5334929A (en) * | 1992-08-26 | 1994-08-02 | Harris Corporation | Circuit for providing a current proportional to absolute temperature |
US5391980A (en) * | 1993-06-16 | 1995-02-21 | Texas Instruments Incorporated | Second order low temperature coefficient bandgap voltage supply |
JPH08509312A (ja) * | 1994-02-14 | 1996-10-01 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 温度依存性が制御される基準回路 |
US5627456A (en) * | 1995-06-07 | 1997-05-06 | International Business Machines Corporation | All FET fully integrated current reference circuit |
JP3780030B2 (ja) * | 1995-06-12 | 2006-05-31 | 株式会社ルネサステクノロジ | 発振回路およびdram |
-
1996
- 1996-05-07 SE SE9601748A patent/SE515345C2/sv not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-04-28 TW TW086105517A patent/TW342546B/zh active
- 1997-04-29 WO PCT/SE1997/000725 patent/WO1997042556A1/en active IP Right Grant
- 1997-04-29 EP EP97922255A patent/EP0900419B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-29 ES ES97922255T patent/ES2163153T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-29 US US08/848,247 patent/US5942888A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-29 JP JP53983897A patent/JP3828938B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-29 CA CA002253508A patent/CA2253508C/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-29 KR KR10-1998-0708820A patent/KR100446088B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-04-29 DE DE69706671T patent/DE69706671T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-29 CN CN97194466A patent/CN1113282C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1997-04-29 AU AU27972/97A patent/AU2797297A/en not_active Abandoned
-
1999
- 1999-11-23 HK HK99105421A patent/HK1020292A1/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1997042556A1 (en) | 1997-11-13 |
CA2253508A1 (en) | 1997-11-13 |
HK1020292A1 (en) | 2000-04-07 |
DE69706671T2 (de) | 2002-06-20 |
TW342546B (en) | 1998-10-11 |
SE9601748L (sv) | 1997-11-08 |
KR20000010718A (ko) | 2000-02-25 |
EP0900419A1 (en) | 1999-03-10 |
CA2253508C (en) | 2005-10-18 |
JP3828938B2 (ja) | 2006-10-04 |
JP2000509856A (ja) | 2000-08-02 |
KR100446088B1 (ko) | 2004-12-08 |
CN1113282C (zh) | 2003-07-02 |
DE69706671D1 (de) | 2001-10-18 |
SE9601748D0 (sv) | 1996-05-07 |
CN1218560A (zh) | 1999-06-02 |
US5942888A (en) | 1999-08-24 |
EP0900419B1 (en) | 2001-09-12 |
ES2163153T3 (es) | 2002-01-16 |
AU2797297A (en) | 1997-11-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20140362887A1 (en) | Differential Temperature Sensor with Sensitivity Set by Current-Mirror and Resistor Ratios without Limiting DC Bias | |
SE515345C2 (sv) | Temperaturberoende strömalstring | |
Srisakultiew et al. | A synthesis of electronically controllable current-mode PI, PD and PID controllers employing CCCDBAs | |
EP0490016B1 (en) | Integrated circuit for generating a temperature independent current proportional to the voltage difference between a signal and a reference voltage | |
US5130577A (en) | Computational circuit for transforming an analog input voltage into attenuated output current proportional to a selected transfer function | |
EP1079519B1 (en) | A power rising electronic device | |
US5500618A (en) | Operational function generator | |
JP3955596B2 (ja) | 可変利得増幅器 | |
NL8400018A (nl) | Logaritmische schakeling met temperatuurcompensatie. | |
JP2010277479A (ja) | 電源回路 | |
JPH0369205A (ja) | 電流リミット回路 | |
US5391947A (en) | Voltage ratio to current circuit | |
JPH05324108A (ja) | 定電流出力回路 | |
US4596961A (en) | Amplifier for modifying a signal as a function of temperature | |
US10355649B2 (en) | Voltage/current generator having a configurable temperature coefficient | |
JPS63258109A (ja) | 基準電流源 | |
KR970707632A (ko) | 집적회로의 웨이퍼단계 온도보상(Wafer-Stage Temperature Compensation for IC Components) | |
JPH08237036A (ja) | 温度補償回路 | |
KR920017366A (ko) | 계조보정회로 | |
JP2994558B2 (ja) | Ttl回路 | |
JPH08204477A (ja) | リミッタ回路 | |
US3104328A (en) | Expansion circuit utilizing transistor biased near cut-off | |
JP3391293B2 (ja) | n乗回路 | |
JP2875698B2 (ja) | 電子ボリューム | |
Corner et al. | A new amplifier circuit with both practical and tutorial value |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |