SE451655B - Bildavkennare - Google Patents
BildavkennareInfo
- Publication number
- SE451655B SE451655B SE8106620A SE8106620A SE451655B SE 451655 B SE451655 B SE 451655B SE 8106620 A SE8106620 A SE 8106620A SE 8106620 A SE8106620 A SE 8106620A SE 451655 B SE451655 B SE 451655B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- area
- excess
- control gate
- gate
- channel
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 claims 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
- H01L27/14887—Blooming suppression
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
- H04N25/621—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
-
- H04N5/335—
-
- H04N5/3591—
-
- H04N5/372—
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
451 655
10
“15
20
25
30
2
släckningsperiod), börjar efter det att ljusmottagnings-
perioden är avslutad.
Det antages nu, såsom visat i fig 2 på bifogade rit-
ningar, att den maximala laddning som kan hanteras i
varje bildelement 4 i bildpartiet svarar mot kapaciteten
"l0" samt att den maximala laddning som kan hanteras i
-vart och ett av bildelementen, som svarar mot ett steg
{4} och i ett kanalområde B av något skäl endast har
kapaciteten V9". Under ljusmottagningsperioden kan så-
ledes stegen {l}1 {2} och {3} i kanalen B vart och ett
lagra laddningsmängden "lO", medan enbart steget {4}
lagrar laddningsmängden "9". Eftersom under laddningsöver-
föringsperioden i steget {4} i kanalområdet B endast ladd-
ningsmängden “9“ kan hanteras oberoende av grindspänningen,
som kopplas om mellan ett högt värde V och ett lågt
H
värde V i och för åstadkommande av laddningsöverföringen
utmed kânalen, såsom visat i fig l, kommer laddnings-
mängderna i stegen {l}, {2} och {3} var och en att reduce-
ras till laddningsmängden "9" vid passering genom steget
{4}, om laddningsöverföringsriktningen antages vara den
som är angiven med en pil y i fig 2. Som följd härav blir
laddningarna efter steget {4} i kanalen B mindre än de
naturliga laddningarna, dvs de s k grå vertikallinjedefek-
terna uppträder på en bildskärmf
Ett ändamål med föreliggande uppfinning är följaktligen
att åstadkomma en bildkännare i fastämnesutförande, vilken
är fri från de defekter som erfarits i den tidigare tek-
niken.
Ett annat ändamål med uppfinningen är att åstadkomma
en bildkännare i fastämnesutförande, i vilken en normal
laddning i varje bildelement kan överföras fullständigt.
Ett ytterligare ändamål med uppfinningen är att åstad-
komma en bildkännare i fastämnesutförande utan defekter
i en âtergiven bild eller med hög bildkvalitet.
Dessa och andra ändamål med uppfinningen uppnås genom
att bildkännaren ges de särdrag som framgår av efterföljande
patentkrav.
Uppfinningen skall beskrivas närmare i det följande
lO
15
20
30
35
451 655
3
under hänvisning till medföljande ritningar. Fig l är ett
diagram, som visar grindspänningsberoendet hos potentia-
lerna i ett kanalområde och ett överskottsstyrgrindsområde
i en bildkännare i fastämnesutförande enligt tidigare
teknik. Fig 2 är ett schematiskt diagram, som visar bild-
partiet i en bildkännare i fastämnesutförande enligt tidi-
-gare teknik, vilket diagram skall användas för att för-
klara alstringen av en felbehäftad bild. Fig 3 är ett
schematiskt diagram, som visar bildpartiet i ett exempel
på bildkännaren i fastämnesutförande enligt föreliggande
uppfinning. Fig 4 är ett diagram, som visar grindspännings-
beroendet hos potentialen i kanalområdet och överskotts-
styrgrindsområdet i bildkännaren i fastämnesutförande
enligt uppfinningen. Fig 5 är en tvärsnittsvy, som visar
bildpartiet i ett exempel på uppfinningen. Fig 6 är en
potential-grindspänningskarakteristikskurva med substrat-
koncentrationerna såsom parameter. '
I det följande skall ett exempel på bildkännaren i
fastämncsutförande enligt föreliggande uppfinning beskrivas.
Defekterna med grå vertikala linjer förorsakas av
det förhållandet, att den maximala laddning som kan
hanteras i ljusmottagningsfunktionssättet är densamma
som den maximala laddning som kan hanteras vid laddnings-
överföringsfunktionssättet. Om den maximala laddning
som kan hanteras vid laddningsöverföringsfunktionssättet
väljes större än den vid ljusmottagningsfunktionssättet,
kan därför de grå vertikala linjerna omvandlas till grå
punkter, så att defekten ej göres så framträdande i en
återgiven bild. Såsom visat i fig 3 är det närmare bestämt
så utformat, att då den maximala laddning som kan hanteras
av varje bildelement 4 under det normala ljusmottagnings-
funktionssättet exempelvis är satt till "l0" så är den
maximala laddning som kan hanteras vid laddningsöver-
föringsfunktionssättet större än den förra, exempelvis
"l2".
omrâdet B av något skäl och den maximala laddning som
Även då en defekt förorsakas i steget {4} i kanal-
kan hanteras blir "9" vid ljusmottagningsfunktionssättet
samt "ll" vid laddningsöverföringsfunktionssättet, kan de
10
15
20
25
30
35
451 655
4
normala laddningsmängderna "l0" i de andra stegen {l}, {2}
och {3} överföras fullständigt. Någon defekt med grå verti-
kala linjer uppträder därför ej förrän den maximala ladd-
ning som kan hanteras blir mindre än "IO".
För att i enlighet med föreliggande uppfinning åstad-
komma ovanstående egenskap väljes i en bildkännare i
"fastämnesutförande, vilken har ett halvledarsubstrat,
som innefattar ett flertal kanalområden, vilka även tjänst-
gör som ett ljusmottagningsområde, ett överskottstömnings-
område, som absorberar och avlägsnar en överskottsladdning
i kanalområdet, samt ett överskottsstyrgrindsområde, som
är anordnat mellan kanalområdet och överskottstömnings-
omrâdet och begränsar utströmningsnivån för överskotts-
laddningen (dvs begränsar den maximala laddningsmängd som
kan hanteras), varvid samma grindspänning (inbegripet
grindspänningen vid ljusmottagningsfunktionssättet och
klockspänningen vid överföringsfunktionssättet) pålägges
kanalområdet och överskottsstyrgrindsområdet via ett
isolerande skikt, grindspänningsberoendet hos
potentialen i överskottsstyrgrindsomrâdet mindre än det
beroendet hos potentialen i kanalområdet. Såsom visat i
diagrammet i fig 4 för grindspänningskarakteristikerna
2 och 3 för potentialerna i laddningsgrindområdet och
överföringsgrindområdet hos kanalområdet är grindspän-
ningskarakteristiken 1 för potentialen i överskottsstyr-
grindsområdet så vald, att karakteristiken 1 skär åtmin-
stone karakteristiken 3 vid överföringsgrindområdet för
minskning av grindspänningsberoendet. Om i överensstäm-
melse med det ovan angivna grindspänningen vid ljusmottag-
ningsfunktionssättet antages vara Všfl, är potentialskill-
naden öcl mellan lagringsgrindområdet och Överskotts-
styrgrindomrâdet potentialenA. minus potentialenB . Om
klockspänningen vid laddningsöverföringsfunktionssättet
antages vara VVH, är spänningsskillnaden ocg vid detta
funktionssätt en potential a minus en potential b, dvs
çcl < ocz gäller. Den maximala laddning som kan hanteras
vid laddningsöverföringsfunktionssättet kan således göras
större än den som kan hanteras vid ljusmottagningsfunktions-
'ha
10
15
20
25
30
35
:och V
5
sättet. Som framgår av fig 4 är emellertid i detta fall
klockspänningen V§H vid laddningsöverföringsfunktions-
sättet så vald, att den innefattar punkterna i skärnlingen
mellan karakteristiken l för överskottsstyrgrindsområdet
och karakteristiken 3för överföringsgrindområdet samt är
högre än grindspänningen VSH. Grindspänningsvärdena VVH
V och
VL H Vi i fig l.
För att minska grindspänningsberoendet hos potentia-
svarar mot grindspänningsvärdena
len i överskottsstyrgrindsområdet i jämförelse med det
hos potentialen i andra kanaler göres substratkoncentra-
tionen invid omrâdet under överskottsstyrgrindsområdet
skild från den invid området under kanalområdet. Då kanal-
området är utformat som typen med försänkt kanal, väljes
exempelvis substratkoncentrationen under överskottstyr-
grindsområdet hög.
Fig 6 är ett diagram, som visar grindspännings-
beroendet hos potentialen vid ett halvledarskikt av N-typ
i ae: fan där halvleaarskiktet av N-typ på s-lolzcmïz
(dosmänqd) är bildat på ytan av ett kiselsubstrat av
P-typ och en grindelektrod är bildad därpå genom ett
grindoxideringsskikt med en tjocklek på ungefär 1000 Å,
varvid föroreningskoncentrationen i kiselsubstratet av
P-typ är varierad. I detta fall är absolutvärdet normerat.
I diagrammet i fig 6 visar kurvorna I, II, III och IV
de fall där substratkoncentrationen NA är vald som
l-iolsafffz, e-lolzafffz, 1-1o13cm'2 och s-ioncnfz
framgår av diagrammet i fig 6 kan genom lämpligt val av
. Såsom
substratkoncentrationen grindspänningsberoendet hos
potentialen vid halvledarskiktet av N~typ varieras.
Fig 5 visar ett exempel på en bildkännare i fastämnes-
utförande enligt föreliggande uppfinning, vilken bild-
kännare är en sådan av CCD-typen och har ett fältöver-
föringssystem, varvid dess bildparti är utfört enligt
typen med försänkt kanal. Fig 5 visar huvudsakligen bild-
partiet. I detta exempel är på en av huvudytorna av
exempelvis ett kiselsubstrat 10 av P-typ ett halvledar-
område bildat, dvs ett kanalområde ll för bildande av
försänkt kanal av N-typ. För att dela upp kanalområdet ll
10
15
20
25
30
35
451 655
6
i ett flertal vertikala linjer eller rader är överskotts-
styrgrindsområden 12 av N-typ bildade. Invid överskotts-
styrgrindsområdet 12 av N-typ är ett överskottstömnings-
område 13 av N+-typ bildat för absorbering av överskotts-
laddningen i kanalområdet ll. Ett grindisoleringsområde i
14 med nödvändig tjocklek, exempelvis framställt av Si02,
'är bildat på substratet 10, och en överföringsgrind-
elektrod 15, exempelvis framställd av polykristallint
kisel, är bildad på grindisoleringsskiktet 14 för att
användas för påläggande av en nödvändig överföringsklock-
spänning vid laddningsöverföringsfunktionssättet. I
exemplet enligt fig 5 är vidare enbart under överskotts-
styrgrindsomrâdena l2 högkoncentrationsområden 16 av P-typ
anordnade för åstadkomande av hög substratkoncentration
under överskottsstyrgrindsområdena 12.
I enlighet med exemplet på uppfinningen med ovan
angivna koncentration har koncentrationen hos substratet
under överskottsstyrgrindsområdena 12 gjorts högre än
den under kanalområdet ll, varför, såsom visat i fig 4
med karakteristiken 1,grindspänningsberoendet hos potentia-
len i överskottsstyrgrindsområdet 12 är minskat i jäm-
förelse med det i kanalområdet ll. Om grindspänningen
vid ljusmottagningsfunktionssättet exempelvis antages
vara V
SH
funktionssättet antages vara VVH, blir följaktligen den
och klockspänningen vid laddningsöverförings-
maximala laddning som kan hanteras vid laddningsöver-
föringsfunktionssättet större än den vid ljusmottagnings-
funktionssättet och därmed kan den normala laddningen i
varje bildelement överföras fullständigt. Defekterna
med grå vertikala linjer i den tidigare tekniken kan
således undvikas hos en återgiven bild.
Ovanstående beskrivning har lämnats för det fall då
uppfinningen tillämpas på en bildkännare i fastämnes-
fm!
utförande och av typen med försänkt kanal, men uppfin-
ningen kan med samma verkan tillämpas på en bildkännare
i fastämnesutförande av typen med ytkanal. *
Såsom beskrivits ovan regleras i enlighet med före-
liggande uppfinning substratkoncentrationen under över-
10
:är mindre än den för de
451 655
7
skottsstyrgrindsomrâdet för minskning av grindspännings-
beroendet hos potentialen i överskottsstyrgrindsområdet,
varigenom den maximala laddning som kan hanteras blir
större vid laddningsöverföringsfunktionssättet än vid
ljusmottagningsfunktionssättet. Även om det finns ett
bildelement, vars maximala laddningshanteringskapacitet
andra bildelementen, kan därför
de andra bildelementens normala laddningar överföras
fullständigt, så att en bildkännare i fastämnesutförande
utan defekterna med grå vertikala linjer kan åstadkommas,
dvs en hög bildkvalitet.
Claims (2)
1. Bildavkännare i fastämnesutförande, i vilken samma grindspänning påtryckes via ett grindisoleringsskikt på ett kanalområde och ett överskottsstyrgrindsområde, vilka båda är anordnade i ett halvledarsubstrat, k ä n - n e t e c k n a d därav, att substratkoncentrationen invid ett område under överskottsstyrgrindsomrâdet är skild från substratkoncentrationen invid ett område under kanalomrâdet, varigenom grindspänningsberoendet hos en potential vid överskottsstyrgrindsområdet är reducerat i jämförelse med det i kanalområdet samt den maximala laddning som kan hanteras vid ett laddningsöverförings- funktionssätt är större än den maximala laddning som kan hanteras vid ett ljusmottagningsfunktionssätt.
2. Bildavkännare enligt patentkravet 1, k ä n n e - t e c k n a d av ett flertal kanaler (11) av den för- sänkta typen utmed parallella linjer i bildavkännarens bildparti, varvid par av intilliggande kanaler är skilda åt av två överskottsstyrgrindsområden (12) och ett centralt överskottstömningsomrâde (13) för absorbering av överskottsladdningar i kanalområdet, samt områden (16) av hög föroreningskoncentration under Överskotts- styrgrindsområdena (12). f: (U
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55157831A JPS5780764A (en) | 1980-11-10 | 1980-11-10 | Solid state image pickup element |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8106620L SE8106620L (sv) | 1982-05-11 |
SE451655B true SE451655B (sv) | 1987-10-19 |
Family
ID=15658275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8106620A SE451655B (sv) | 1980-11-10 | 1981-11-09 | Bildavkennare |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4504848A (sv) |
JP (1) | JPS5780764A (sv) |
CA (1) | CA1171947A (sv) |
DE (1) | DE3144163A1 (sv) |
FR (1) | FR2494043A1 (sv) |
GB (1) | GB2087152B (sv) |
NL (1) | NL8105064A (sv) |
SE (1) | SE451655B (sv) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5831670A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像装置 |
JPS5847378A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-19 | Canon Inc | 撮像素子 |
JPS58210663A (ja) * | 1982-06-01 | 1983-12-07 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像装置 |
JPS5931056A (ja) * | 1982-08-13 | 1984-02-18 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像素子 |
US4603342A (en) * | 1983-01-03 | 1986-07-29 | Rca Corporation | Imaging array having higher sensitivity and a method of making the same |
GB2132818B (en) * | 1983-01-03 | 1987-08-19 | Rca Corp | Imaging array |
US4658497A (en) * | 1983-01-03 | 1987-04-21 | Rca Corporation | Method of making an imaging array having a higher sensitivity |
JPS60119182A (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-26 | Mitsubishi Electric Corp | 固体撮像素子 |
JPS61144874A (ja) * | 1984-12-19 | 1986-07-02 | Toshiba Corp | 電荷転送装置 |
US4870495A (en) * | 1985-02-22 | 1989-09-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing element and image sensing apparatus for recording a still image |
JP2727584B2 (ja) * | 1988-09-20 | 1998-03-11 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
US5702971A (en) * | 1995-03-31 | 1997-12-30 | Eastman Kodak Company | Self-aligned LOD antiblooming structure for solid-state imagers |
KR100332949B1 (ko) * | 2000-05-23 | 2002-04-20 | 윤종용 | 전자 줌 기능에 적합한 고체 촬상 소자 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3789267A (en) * | 1971-06-28 | 1974-01-29 | Bell Telephone Labor Inc | Charge coupled devices employing nonuniform concentrations of immobile charge along the information channel |
US4032952A (en) * | 1972-04-03 | 1977-06-28 | Hitachi, Ltd. | Bulk charge transfer semiconductor device |
US3863065A (en) * | 1972-10-02 | 1975-01-28 | Rca Corp | Dynamic control of blooming in charge coupled, image-sensing arrays |
NL7311600A (nl) * | 1973-08-23 | 1975-02-25 | Philips Nv | Ladingsgekoppelde inrichting. |
US3896474A (en) * | 1973-09-10 | 1975-07-22 | Fairchild Camera Instr Co | Charge coupled area imaging device with column anti-blooming control |
US4365261A (en) * | 1977-08-26 | 1982-12-21 | Texas Instruments Incorporated | Co-planar barrier-type charge coupled device with enhanced storage capacity and decreased leakage current |
US4151539A (en) * | 1977-12-23 | 1979-04-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Junction-storage JFET bucket-brigade structure |
US4229752A (en) * | 1978-05-16 | 1980-10-21 | Texas Instruments Incorporated | Virtual phase charge transfer device |
US4362575A (en) * | 1981-08-27 | 1982-12-07 | Rca Corporation | Method of making buried channel charge coupled device with means for controlling excess charge |
-
1980
- 1980-11-10 JP JP55157831A patent/JPS5780764A/ja active Granted
-
1981
- 1981-10-13 FR FR8119270A patent/FR2494043A1/fr active Granted
- 1981-11-06 DE DE19813144163 patent/DE3144163A1/de active Granted
- 1981-11-09 CA CA000389696A patent/CA1171947A/en not_active Expired
- 1981-11-09 NL NL8105064A patent/NL8105064A/nl not_active Application Discontinuation
- 1981-11-09 SE SE8106620A patent/SE451655B/sv not_active IP Right Cessation
- 1981-11-09 GB GB8133745A patent/GB2087152B/en not_active Expired
-
1984
- 1984-06-05 US US06/616,800 patent/US4504848A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0319711B2 (sv) | 1991-03-15 |
GB2087152B (en) | 1984-07-04 |
SE8106620L (sv) | 1982-05-11 |
FR2494043B1 (sv) | 1985-05-10 |
JPS5780764A (en) | 1982-05-20 |
FR2494043A1 (fr) | 1982-05-14 |
DE3144163C2 (sv) | 1991-03-07 |
GB2087152A (en) | 1982-05-19 |
DE3144163A1 (de) | 1982-06-16 |
CA1171947A (en) | 1984-07-31 |
US4504848A (en) | 1985-03-12 |
NL8105064A (nl) | 1982-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE451655B (sv) | Bildavkennare | |
CN101924886A (zh) | 固态成像装置、制造以及驱动该装置的方法以及电子设备 | |
KR960004467B1 (ko) | 고체촬상장치 | |
US5057926A (en) | Driving method for discharging overflow charges in a solid state imaging device | |
EP0174133A2 (en) | A solid-state image sensor | |
US4616249A (en) | Solid state image pick-up element of static induction transistor type | |
JP2845216B2 (ja) | 固体撮像装置およびその製造方法 | |
US7750376B2 (en) | Solid-state imaging device and imaging apparatus | |
US4381517A (en) | Solid state image sensor | |
JPH0511472B2 (sv) | ||
GB2101400A (en) | Charge coupled devices | |
JPS6337994B2 (sv) | ||
JP3033524B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JPH09307094A (ja) | 固体撮像装置 | |
KR101293586B1 (ko) | 고체촬상장치 및 고체촬상장치의 구동방법 | |
CN107431772A (zh) | 固态成像装置和用于驱动固态成像装置的方法 | |
US7075128B2 (en) | Charge transfer element having high output sensitivity | |
JP3191793B2 (ja) | 電荷検出装置 | |
EP0055530B1 (en) | Solid-state image sensor | |
JP2001358326A (ja) | 固体撮像素子及びその形成方法 | |
JP2820019B2 (ja) | 固体撮像素子 | |
JP2870046B2 (ja) | 電荷結合素子 | |
JPH10189937A (ja) | 固体撮像装置とその駆動方法および製造方法 | |
JP2642927B2 (ja) | 電荷転送装置 | |
JPS6276764A (ja) | 固体撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 8106620-1 Effective date: 19940610 Format of ref document f/p: F |