SE451655B - Bildavkennare - Google Patents

Bildavkennare

Info

Publication number
SE451655B
SE451655B SE8106620A SE8106620A SE451655B SE 451655 B SE451655 B SE 451655B SE 8106620 A SE8106620 A SE 8106620A SE 8106620 A SE8106620 A SE 8106620A SE 451655 B SE451655 B SE 451655B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
area
excess
control gate
gate
channel
Prior art date
Application number
SE8106620A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8106620L (sv
Inventor
H Matsumoto
T Kato
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of SE8106620L publication Critical patent/SE8106620L/sv
Publication of SE451655B publication Critical patent/SE451655B/sv

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14887Blooming suppression
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/621Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N5/335
    • H04N5/3591
    • H04N5/372

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

451 655 10 “15 20 25 30 2 släckningsperiod), börjar efter det att ljusmottagnings- perioden är avslutad.
Det antages nu, såsom visat i fig 2 på bifogade rit- ningar, att den maximala laddning som kan hanteras i varje bildelement 4 i bildpartiet svarar mot kapaciteten "l0" samt att den maximala laddning som kan hanteras i -vart och ett av bildelementen, som svarar mot ett steg {4} och i ett kanalområde B av något skäl endast har kapaciteten V9". Under ljusmottagningsperioden kan så- ledes stegen {l}1 {2} och {3} i kanalen B vart och ett lagra laddningsmängden "lO", medan enbart steget {4} lagrar laddningsmängden "9". Eftersom under laddningsöver- föringsperioden i steget {4} i kanalområdet B endast ladd- ningsmängden “9“ kan hanteras oberoende av grindspänningen, som kopplas om mellan ett högt värde V och ett lågt H värde V i och för åstadkommande av laddningsöverföringen utmed kânalen, såsom visat i fig l, kommer laddnings- mängderna i stegen {l}, {2} och {3} var och en att reduce- ras till laddningsmängden "9" vid passering genom steget {4}, om laddningsöverföringsriktningen antages vara den som är angiven med en pil y i fig 2. Som följd härav blir laddningarna efter steget {4} i kanalen B mindre än de naturliga laddningarna, dvs de s k grå vertikallinjedefek- terna uppträder på en bildskärmf Ett ändamål med föreliggande uppfinning är följaktligen att åstadkomma en bildkännare i fastämnesutförande, vilken är fri från de defekter som erfarits i den tidigare tek- niken.
Ett annat ändamål med uppfinningen är att åstadkomma en bildkännare i fastämnesutförande, i vilken en normal laddning i varje bildelement kan överföras fullständigt.
Ett ytterligare ändamål med uppfinningen är att åstad- komma en bildkännare i fastämnesutförande utan defekter i en âtergiven bild eller med hög bildkvalitet.
Dessa och andra ändamål med uppfinningen uppnås genom att bildkännaren ges de särdrag som framgår av efterföljande patentkrav.
Uppfinningen skall beskrivas närmare i det följande lO 15 20 30 35 451 655 3 under hänvisning till medföljande ritningar. Fig l är ett diagram, som visar grindspänningsberoendet hos potentia- lerna i ett kanalområde och ett överskottsstyrgrindsområde i en bildkännare i fastämnesutförande enligt tidigare teknik. Fig 2 är ett schematiskt diagram, som visar bild- partiet i en bildkännare i fastämnesutförande enligt tidi- -gare teknik, vilket diagram skall användas för att för- klara alstringen av en felbehäftad bild. Fig 3 är ett schematiskt diagram, som visar bildpartiet i ett exempel på bildkännaren i fastämnesutförande enligt föreliggande uppfinning. Fig 4 är ett diagram, som visar grindspännings- beroendet hos potentialen i kanalområdet och överskotts- styrgrindsområdet i bildkännaren i fastämnesutförande enligt uppfinningen. Fig 5 är en tvärsnittsvy, som visar bildpartiet i ett exempel på uppfinningen. Fig 6 är en potential-grindspänningskarakteristikskurva med substrat- koncentrationerna såsom parameter. ' I det följande skall ett exempel på bildkännaren i fastämncsutförande enligt föreliggande uppfinning beskrivas.
Defekterna med grå vertikala linjer förorsakas av det förhållandet, att den maximala laddning som kan hanteras i ljusmottagningsfunktionssättet är densamma som den maximala laddning som kan hanteras vid laddnings- överföringsfunktionssättet. Om den maximala laddning som kan hanteras vid laddningsöverföringsfunktionssättet väljes större än den vid ljusmottagningsfunktionssättet, kan därför de grå vertikala linjerna omvandlas till grå punkter, så att defekten ej göres så framträdande i en återgiven bild. Såsom visat i fig 3 är det närmare bestämt så utformat, att då den maximala laddning som kan hanteras av varje bildelement 4 under det normala ljusmottagnings- funktionssättet exempelvis är satt till "l0" så är den maximala laddning som kan hanteras vid laddningsöver- föringsfunktionssättet större än den förra, exempelvis "l2". omrâdet B av något skäl och den maximala laddning som Även då en defekt förorsakas i steget {4} i kanal- kan hanteras blir "9" vid ljusmottagningsfunktionssättet samt "ll" vid laddningsöverföringsfunktionssättet, kan de 10 15 20 25 30 35 451 655 4 normala laddningsmängderna "l0" i de andra stegen {l}, {2} och {3} överföras fullständigt. Någon defekt med grå verti- kala linjer uppträder därför ej förrän den maximala ladd- ning som kan hanteras blir mindre än "IO".
För att i enlighet med föreliggande uppfinning åstad- komma ovanstående egenskap väljes i en bildkännare i "fastämnesutförande, vilken har ett halvledarsubstrat, som innefattar ett flertal kanalområden, vilka även tjänst- gör som ett ljusmottagningsområde, ett överskottstömnings- område, som absorberar och avlägsnar en överskottsladdning i kanalområdet, samt ett överskottsstyrgrindsområde, som är anordnat mellan kanalområdet och överskottstömnings- omrâdet och begränsar utströmningsnivån för överskotts- laddningen (dvs begränsar den maximala laddningsmängd som kan hanteras), varvid samma grindspänning (inbegripet grindspänningen vid ljusmottagningsfunktionssättet och klockspänningen vid överföringsfunktionssättet) pålägges kanalområdet och överskottsstyrgrindsområdet via ett isolerande skikt, grindspänningsberoendet hos potentialen i överskottsstyrgrindsomrâdet mindre än det beroendet hos potentialen i kanalområdet. Såsom visat i diagrammet i fig 4 för grindspänningskarakteristikerna 2 och 3 för potentialerna i laddningsgrindområdet och överföringsgrindområdet hos kanalområdet är grindspän- ningskarakteristiken 1 för potentialen i överskottsstyr- grindsområdet så vald, att karakteristiken 1 skär åtmin- stone karakteristiken 3 vid överföringsgrindområdet för minskning av grindspänningsberoendet. Om i överensstäm- melse med det ovan angivna grindspänningen vid ljusmottag- ningsfunktionssättet antages vara Všfl, är potentialskill- naden öcl mellan lagringsgrindområdet och Överskotts- styrgrindomrâdet potentialenA. minus potentialenB . Om klockspänningen vid laddningsöverföringsfunktionssättet antages vara VVH, är spänningsskillnaden ocg vid detta funktionssätt en potential a minus en potential b, dvs çcl < ocz gäller. Den maximala laddning som kan hanteras vid laddningsöverföringsfunktionssättet kan således göras större än den som kan hanteras vid ljusmottagningsfunktions- 'ha 10 15 20 25 30 35 :och V 5 sättet. Som framgår av fig 4 är emellertid i detta fall klockspänningen V§H vid laddningsöverföringsfunktions- sättet så vald, att den innefattar punkterna i skärnlingen mellan karakteristiken l för överskottsstyrgrindsområdet och karakteristiken 3för överföringsgrindområdet samt är högre än grindspänningen VSH. Grindspänningsvärdena VVH V och VL H Vi i fig l.
För att minska grindspänningsberoendet hos potentia- svarar mot grindspänningsvärdena len i överskottsstyrgrindsområdet i jämförelse med det hos potentialen i andra kanaler göres substratkoncentra- tionen invid omrâdet under överskottsstyrgrindsområdet skild från den invid området under kanalområdet. Då kanal- området är utformat som typen med försänkt kanal, väljes exempelvis substratkoncentrationen under överskottstyr- grindsområdet hög.
Fig 6 är ett diagram, som visar grindspännings- beroendet hos potentialen vid ett halvledarskikt av N-typ i ae: fan där halvleaarskiktet av N-typ på s-lolzcmïz (dosmänqd) är bildat på ytan av ett kiselsubstrat av P-typ och en grindelektrod är bildad därpå genom ett grindoxideringsskikt med en tjocklek på ungefär 1000 Å, varvid föroreningskoncentrationen i kiselsubstratet av P-typ är varierad. I detta fall är absolutvärdet normerat.
I diagrammet i fig 6 visar kurvorna I, II, III och IV de fall där substratkoncentrationen NA är vald som l-iolsafffz, e-lolzafffz, 1-1o13cm'2 och s-ioncnfz framgår av diagrammet i fig 6 kan genom lämpligt val av . Såsom substratkoncentrationen grindspänningsberoendet hos potentialen vid halvledarskiktet av N~typ varieras.
Fig 5 visar ett exempel på en bildkännare i fastämnes- utförande enligt föreliggande uppfinning, vilken bild- kännare är en sådan av CCD-typen och har ett fältöver- föringssystem, varvid dess bildparti är utfört enligt typen med försänkt kanal. Fig 5 visar huvudsakligen bild- partiet. I detta exempel är på en av huvudytorna av exempelvis ett kiselsubstrat 10 av P-typ ett halvledar- område bildat, dvs ett kanalområde ll för bildande av försänkt kanal av N-typ. För att dela upp kanalområdet ll 10 15 20 25 30 35 451 655 6 i ett flertal vertikala linjer eller rader är överskotts- styrgrindsområden 12 av N-typ bildade. Invid överskotts- styrgrindsområdet 12 av N-typ är ett överskottstömnings- område 13 av N+-typ bildat för absorbering av överskotts- laddningen i kanalområdet ll. Ett grindisoleringsområde i 14 med nödvändig tjocklek, exempelvis framställt av Si02, 'är bildat på substratet 10, och en överföringsgrind- elektrod 15, exempelvis framställd av polykristallint kisel, är bildad på grindisoleringsskiktet 14 för att användas för påläggande av en nödvändig överföringsklock- spänning vid laddningsöverföringsfunktionssättet. I exemplet enligt fig 5 är vidare enbart under överskotts- styrgrindsomrâdena l2 högkoncentrationsområden 16 av P-typ anordnade för åstadkomande av hög substratkoncentration under överskottsstyrgrindsområdena 12.
I enlighet med exemplet på uppfinningen med ovan angivna koncentration har koncentrationen hos substratet under överskottsstyrgrindsområdena 12 gjorts högre än den under kanalområdet ll, varför, såsom visat i fig 4 med karakteristiken 1,grindspänningsberoendet hos potentia- len i överskottsstyrgrindsområdet 12 är minskat i jäm- förelse med det i kanalområdet ll. Om grindspänningen vid ljusmottagningsfunktionssättet exempelvis antages vara V SH funktionssättet antages vara VVH, blir följaktligen den och klockspänningen vid laddningsöverförings- maximala laddning som kan hanteras vid laddningsöver- föringsfunktionssättet större än den vid ljusmottagnings- funktionssättet och därmed kan den normala laddningen i varje bildelement överföras fullständigt. Defekterna med grå vertikala linjer i den tidigare tekniken kan således undvikas hos en återgiven bild.
Ovanstående beskrivning har lämnats för det fall då uppfinningen tillämpas på en bildkännare i fastämnes- fm! utförande och av typen med försänkt kanal, men uppfin- ningen kan med samma verkan tillämpas på en bildkännare i fastämnesutförande av typen med ytkanal. * Såsom beskrivits ovan regleras i enlighet med före- liggande uppfinning substratkoncentrationen under över- 10 :är mindre än den för de 451 655 7 skottsstyrgrindsomrâdet för minskning av grindspännings- beroendet hos potentialen i överskottsstyrgrindsområdet, varigenom den maximala laddning som kan hanteras blir större vid laddningsöverföringsfunktionssättet än vid ljusmottagningsfunktionssättet. Även om det finns ett bildelement, vars maximala laddningshanteringskapacitet andra bildelementen, kan därför de andra bildelementens normala laddningar överföras fullständigt, så att en bildkännare i fastämnesutförande utan defekterna med grå vertikala linjer kan åstadkommas, dvs en hög bildkvalitet.

Claims (2)

10 15 20 451 655 PATENTKRAV
1. Bildavkännare i fastämnesutförande, i vilken samma grindspänning påtryckes via ett grindisoleringsskikt på ett kanalområde och ett överskottsstyrgrindsområde, vilka båda är anordnade i ett halvledarsubstrat, k ä n - n e t e c k n a d därav, att substratkoncentrationen invid ett område under överskottsstyrgrindsomrâdet är skild från substratkoncentrationen invid ett område under kanalomrâdet, varigenom grindspänningsberoendet hos en potential vid överskottsstyrgrindsområdet är reducerat i jämförelse med det i kanalområdet samt den maximala laddning som kan hanteras vid ett laddningsöverförings- funktionssätt är större än den maximala laddning som kan hanteras vid ett ljusmottagningsfunktionssätt.
2. Bildavkännare enligt patentkravet 1, k ä n n e - t e c k n a d av ett flertal kanaler (11) av den för- sänkta typen utmed parallella linjer i bildavkännarens bildparti, varvid par av intilliggande kanaler är skilda åt av två överskottsstyrgrindsområden (12) och ett centralt överskottstömningsomrâde (13) för absorbering av överskottsladdningar i kanalområdet, samt områden (16) av hög föroreningskoncentration under Överskotts- styrgrindsområdena (12). f: (U
SE8106620A 1980-11-10 1981-11-09 Bildavkennare SE451655B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55157831A JPS5780764A (en) 1980-11-10 1980-11-10 Solid state image pickup element

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE8106620L SE8106620L (sv) 1982-05-11
SE451655B true SE451655B (sv) 1987-10-19

Family

ID=15658275

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8106620A SE451655B (sv) 1980-11-10 1981-11-09 Bildavkennare

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4504848A (sv)
JP (1) JPS5780764A (sv)
CA (1) CA1171947A (sv)
DE (1) DE3144163A1 (sv)
FR (1) FR2494043A1 (sv)
GB (1) GB2087152B (sv)
NL (1) NL8105064A (sv)
SE (1) SE451655B (sv)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5831670A (ja) * 1981-08-20 1983-02-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置
JPS5847378A (ja) * 1981-09-17 1983-03-19 Canon Inc 撮像素子
JPS58210663A (ja) * 1982-06-01 1983-12-07 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像装置
JPS5931056A (ja) * 1982-08-13 1984-02-18 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像素子
US4603342A (en) * 1983-01-03 1986-07-29 Rca Corporation Imaging array having higher sensitivity and a method of making the same
GB2132818B (en) * 1983-01-03 1987-08-19 Rca Corp Imaging array
US4658497A (en) * 1983-01-03 1987-04-21 Rca Corporation Method of making an imaging array having a higher sensitivity
JPS60119182A (ja) * 1983-11-30 1985-06-26 Mitsubishi Electric Corp 固体撮像素子
JPS61144874A (ja) * 1984-12-19 1986-07-02 Toshiba Corp 電荷転送装置
US4870495A (en) * 1985-02-22 1989-09-26 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing element and image sensing apparatus for recording a still image
JP2727584B2 (ja) * 1988-09-20 1998-03-11 ソニー株式会社 固体撮像装置
US5702971A (en) * 1995-03-31 1997-12-30 Eastman Kodak Company Self-aligned LOD antiblooming structure for solid-state imagers
KR100332949B1 (ko) * 2000-05-23 2002-04-20 윤종용 전자 줌 기능에 적합한 고체 촬상 소자

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3789267A (en) * 1971-06-28 1974-01-29 Bell Telephone Labor Inc Charge coupled devices employing nonuniform concentrations of immobile charge along the information channel
US4032952A (en) * 1972-04-03 1977-06-28 Hitachi, Ltd. Bulk charge transfer semiconductor device
US3863065A (en) * 1972-10-02 1975-01-28 Rca Corp Dynamic control of blooming in charge coupled, image-sensing arrays
NL7311600A (nl) * 1973-08-23 1975-02-25 Philips Nv Ladingsgekoppelde inrichting.
US3896474A (en) * 1973-09-10 1975-07-22 Fairchild Camera Instr Co Charge coupled area imaging device with column anti-blooming control
US4365261A (en) * 1977-08-26 1982-12-21 Texas Instruments Incorporated Co-planar barrier-type charge coupled device with enhanced storage capacity and decreased leakage current
US4151539A (en) * 1977-12-23 1979-04-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Junction-storage JFET bucket-brigade structure
US4229752A (en) * 1978-05-16 1980-10-21 Texas Instruments Incorporated Virtual phase charge transfer device
US4362575A (en) * 1981-08-27 1982-12-07 Rca Corporation Method of making buried channel charge coupled device with means for controlling excess charge

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0319711B2 (sv) 1991-03-15
GB2087152B (en) 1984-07-04
SE8106620L (sv) 1982-05-11
FR2494043B1 (sv) 1985-05-10
JPS5780764A (en) 1982-05-20
FR2494043A1 (fr) 1982-05-14
DE3144163C2 (sv) 1991-03-07
GB2087152A (en) 1982-05-19
DE3144163A1 (de) 1982-06-16
CA1171947A (en) 1984-07-31
US4504848A (en) 1985-03-12
NL8105064A (nl) 1982-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE451655B (sv) Bildavkennare
CN101924886A (zh) 固态成像装置、制造以及驱动该装置的方法以及电子设备
KR960004467B1 (ko) 고체촬상장치
US5057926A (en) Driving method for discharging overflow charges in a solid state imaging device
EP0174133A2 (en) A solid-state image sensor
US4616249A (en) Solid state image pick-up element of static induction transistor type
JP2845216B2 (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
US7750376B2 (en) Solid-state imaging device and imaging apparatus
US4381517A (en) Solid state image sensor
JPH0511472B2 (sv)
GB2101400A (en) Charge coupled devices
JPS6337994B2 (sv)
JP3033524B2 (ja) 固体撮像装置
JPH09307094A (ja) 固体撮像装置
KR101293586B1 (ko) 고체촬상장치 및 고체촬상장치의 구동방법
CN107431772A (zh) 固态成像装置和用于驱动固态成像装置的方法
US7075128B2 (en) Charge transfer element having high output sensitivity
JP3191793B2 (ja) 電荷検出装置
EP0055530B1 (en) Solid-state image sensor
JP2001358326A (ja) 固体撮像素子及びその形成方法
JP2820019B2 (ja) 固体撮像素子
JP2870046B2 (ja) 電荷結合素子
JPH10189937A (ja) 固体撮像装置とその駆動方法および製造方法
JP2642927B2 (ja) 電荷転送装置
JPS6276764A (ja) 固体撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8106620-1

Effective date: 19940610

Format of ref document f/p: F