SE450485B - Kontrollanordning for arktillforsel - Google Patents

Description

450 485 Av nackdel är härvid att effekten av denna störnings- undertryckning försämras när den arkbearbetande maskinen drivs med en annan arbetsfrekvens än den som bestämts med hjälp av det analoga minnet, och detta är oundvikligt vid det stora hastighetsområde i vilket exempelvis falsmaskiner drivs. Dess- utom kan även störande mätvärdesvaríationer uppträda i maski- nens arbetsfrekvens och dessa framkallas exempelvis vid kartong vid vilket arkens mittdel eller kanter trycks upp något, eller genom mekaniska vibrationer.

Uppfinningen syftar till att vid en anordning av ovan beskrivet slag öka säkerheten för upptäckt av dubbelark och detta i synnerhet vid mycket tunna ark såväl som vid ark med deformerade kanter och med gradvis ändrande tjocklek, Detta syfte uppnås med hjälp av de i kravets 1 känne- tecknande del angivna särdragen.

-Denna ökning av identifieringssäkerheten uppnås genom ' att en mångfald mätningar genomföres utmed arkets längd.

Denna mångfald mätningar, resp. ett därur bildat medelvärde, läggs till grund för avgörandet om ett dubbelark föreligger eller ej. Lägre krav kan ställas på mätvärdesgivarens noggrann- het vilket inverkar mycket gynnsamt för en sänkning av kost- naderna. _ Vidare har endast lokalt förekommande tjockleksavvikel- ser ett motsvarande litet inflytande på det utslag som er- hålles. Tjockleksavvikelser av detta slag utgöres av veck i det material som man skall trycka på och av uppvikta kanter.

Vidare undertrycks stokastiskt uppträdande störningar i mät- systemet, såsom elektriska störspänningar etc.

Periodiskt återkommande störningar, såsom böjningar i kartong, kan däremot inverka till nackdel eftersom de in- verkar på medelvärdesbildandet på samma sätt som på bildandet av referensvärdet.

Vid en speciell utformning av uppfinningen används en míkrodator för utvärderingen av mätvärdena. Därigenom ges en möjlighet att lagra mätvärdena,att bearbeta dessa och att åter ta fram dem. I synnerhet är det på ett enkelt sätt möjligt med en division av mätvärdena. De löpande resp. med korta avstånd uppmätta och meddelade värdena kan dock även lagras och löpan- 45Û 485 de jämföras med förväntade börvärden. Sålunda är det exempelvis möjligt att vid inkörning av ett delvis överlappande arkband kontrollera den på grund av överlappningen förväntade procentu- ella tjockleksökningen och att lagra slutvärdet för arktjock- leken som referensvärde. Därigenom möjliggöres en själv- justering. Detta referensvärde kan löpande anpassas i överens- stämmelse med nyare mätningar. Detta möjliggör en kompensation för smygande avvikelser.

En utföringsform av uppfinningen beskrivs närmare nedan i anslutning till bifogade schematiska ritning på vilken, fig. 1 visar en tryckmaskin 12 med en iläggare 6, fig. 2 visar mätanordningen bestående av sträckgivare 15 och transportrulle 13 och, fig. 3 visar ett blockschema över elektroniken.

Anläggningen enligt fig. 1 uppvisar en iläggare 6 med en iläggarstapel 7 från vilken arken tas bort med hjälp av en sugapparat 8 och via ett iläggarbord 9 och inriktningsanord- ningar 10, 11 tillförs tryckmaskinen 12.

Framför iläggarbordet 9 är en transportrulle 13 anord- nad vilken med hjälp av en motsvarande styrning är upphöjbar så att hela tiden ett nytt ark kan införas. Denna transport- rulle 13 är fjädrande tryckt mot en nedre rulle 14. Avståndet mellan dessa rullar 13, 14 motsvarar tjockleken på det där- emellan liggande arket och uppmäts med hjälp av en sträck- givare 15. Mätvärdet från sträckgivaren 15 tillförs via en analog-digitalomvandlare (A/D) till en mikrodator 4 och ut- värderas med hjälp därav. Transportrullen 13 och sträckgivaren 15 visas i fig. 2 i en förstorad skala. Dataflödet framgår av blockschemat i fig. 3.

Anordningen enligt uppfinningen består av en elektronik 16 till vilken en vid iläggarens 6 transportrulle 13 anordnad sträckgivare 15 meddelar tjockleken på det just transporterade arklagret.

Vid pâvisande av dubbelark och/eller makulatur utlöses via tvâ till maskinstyrningon anslutna rcläutgångar 17, 17' bortkopplingen av iläggaren med hjälp av en magnetkoppling 18 eller bortkopplingen av sugluften med hjälp av en magnetventil 19. En säkerhet vid ovannämnda pävisande eller upptäckt upp- 450 485 nås genom att under en över två maskintakter utsträckt, med hjälp av en impulsgivare 1 bestämd tid, under vilken tjockleken på ett ark avkännes med hjälp av transportrullen 13, uppmäts och lagras denna tjocklek kontinuerligt med cirka 100 mätningar per avkänningsperiod. Varje gång transportrullen 13 höjs be- räknas, utlöst genom en slutimpuls från impulsgivaren 1, med hjälp av elektroniken 16 medelvärdet för dessa mätningar och jämförs detta med ett inmatat referensvärde, varvid dubbelark och makulatur upptäcks.

Efter inkopplingen av elektroniken 16 blockeras sug- luften till iläggaren med hjälp av magnetventilen 19 ända tills en självtest hos elektroniken 16 och väggivaren 15 varit fram- gångsrik, vilket visas med hjälp av en indikator, exempelvis en lysdiod 20. När det första arket kommit under transport- rullen 13 börjar en fyra arbetstakter lång startfas under vil- ken den vid en korrekt uppbyggnad av arköverlappningen upp- trädande tjockleksökning hos arklagret kontrolleras och sam- tidigt det för den anslutande driftsfasen nödvändiga referens- värdet fastställes. Därigenom blir det överflödigt med en manuell kontrollering av anordningens inställning.

Om under startfasen den förväntade tjockleksökningen överskrídes med mer än ett föregivet övre toleransvärde eller underskrides med mer än ett föregivet nedre toleransvärde ut- löses ett dubbelarkslarm och koppling och sugluft frånskiljes.

Om under driftsfasen referensvärdet överskrides med mer än det föregivna övre toleransvärdet utlöses likaledes ett dubbelarks- larm. Om referensvärdet underskrides utlöses ett makulaturlarm varvid endast sugluften frànkopplas. 11.9

Claims (7)

450 485 PATENTKRAV

1. Anordning för påvisande av oregelbundenheter vid arktill- förseln till en arkbearbetande maskin med en mätanordning (5) för registrering av en med antalet på varandra liggande- ark stigande storhet och med ett börvärdesminne (2) och en utvär- deringsanordning med hjälp av vilken mätvärdet är jämförbart med börvärdet och vilken vid en under en bestämd toleransgräns gående avvikelse för de bägge mätvärdena avger en elektrisk signal, varvid en i takt med arktillförseln arbetande impuls- givare (1) avger en startimpuls och en slutimpuls, k ä n n e - t e c k n a d av att ett ytterligare minne är anordnat i form av en mikrodator (4), att startimpulsen nollställer detta och inleder hopsummeringen av de av mätanordningen (5) avgivna, på varandra följande momentanvärdena och att en jämförelse av de på basis av summan av momentanvärdena och ett i minnet (2) föreliggande referensvärde inleds med hjälp av slutimpulsen.

2. Anordning enligt krav 1, k ä n n e t e c k n_a d av att startimpulsen är utlösbar ungefär vid början av passerings- tiden för ett ark vid mätstället (3) och att slutimpulsen är utlösbar ungefär vid slutet av denna arkpasseringstid.

3. Anordning enligt krav 1 eller 2, k ä n n e t e c k n a d av att start- och slutimpulsen är överförbar till den med impulsgivare (1) och mätanordning (5) förbundna mikrodatorn (4) i vilken antalet och summan av mätvärdena är lagringsbara och med hjälp av vilken mätmedelvärdet kan beräknas, varvid en dubbelarksignal är utlösbar vid överskridande av referens- värdet med mer än ett föregivet övre toleransvärde och en makulatursignal är utlösbar vid underskridande av referens- värdet med mer än ett föregivet undre toleransvärde.

4. Anordning enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a d av att för identifiering av dubbelark och makulatur vid tillförda och genomsnittligt n-falt överlagrade ark dessutom n över ett adressregister adresserbara minnesord används, och av att det 450 485 vid inträffande av en slutímpuls bildade mätmedelvärdet lagras i det just adresserade minnesordet och att det cykliskt näst- kommande av de n minnesordadresserna laddas i adressregistret samt att summan av innehållen i alla n minnesord bildas och på beskrivet sätt jämföres med ett referensvärde.

5. Anordning enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a d av att vid idrifttagandet avges en arktillförseln hindrande makula- tursignal ända tills en inkörning av mätanordningen (SL impulsgivaren (1) och mikrodatorn (4) ägt rum genom jämförande av ett utan ark bestämt mätmedelvärde med ett fast ingivet övre toleransvärde och ett undre toleransvärde.

6. Anordning enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a d av att en elektronisk mätanordning (5) används vilken antingen direkt eller indirekt eller genom omräkning med mikrodatorn (4) avger ett mätvärde som så gott som logaritmiskt stiger med antalet på varandra liggande ark.

7. Anordning enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att den vid inkörning av ett delvis överlappande arkband, på grund av överlappningen förväntade procentuella tjockleksökningen kontrolleras ooh att slutvärdet för arktjockleken lagras som referensvärde.