RU93058418A - Устройство для измерения положения, и/или поверхности, и/или текстуры (варианты), устройство дифракционного интерферометра (варианты), устройство для обработки сигналов, полученных из выхода интерферометра - Google Patents

Устройство для измерения положения, и/или поверхности, и/или текстуры (варианты), устройство дифракционного интерферометра (варианты), устройство для обработки сигналов, полученных из выхода интерферометра

Info

Publication number
RU93058418A
RU93058418A RU93058418/28A RU93058418A RU93058418A RU 93058418 A RU93058418 A RU 93058418A RU 93058418/28 A RU93058418/28 A RU 93058418/28A RU 93058418 A RU93058418 A RU 93058418A RU 93058418 A RU93058418 A RU 93058418A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
output
options
interpolator
pair
interference band
Prior art date
Application number
RU93058418/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2124701C1 (ru
Inventor
Карл Буэринг Ян
Мэнсфилд Дэниэл
Original Assignee
Рэнк Тейлор Хобсон Лимитед
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from GB9111657A external-priority patent/GB2256476B/en
Application filed by Рэнк Тейлор Хобсон Лимитед filed Critical Рэнк Тейлор Хобсон Лимитед
Publication of RU93058418A publication Critical patent/RU93058418A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2124701C1 publication Critical patent/RU2124701C1/ru

Links

Claims (1)

  1. Устройство для измерения поверхностей, или профилей, или текстур содержит дифракционный интерферометр, содержащий изогнутую дифракционную решетку, которую несет шарнирный опорный рычаг, несущий на своем другом конце щуп для контактирования с поверхностью, понуждаемый для контактирования с ней с помощью электромагнитной катушки, действующей на якорь, или парой таких прижимных средств. Лазерный диод освещает дифракционную решетку для получения пары дифрагированных пучков первого порядка противоположного знака, которые отражаются от внутренних поверхностей призмы и объединяются с помощью ее центрального дихроичного слоя и пары светоделителей. Выходные сигналы из светоделителей подаются в схему обработки сигнала, содержащую счетчик интерференционных полос и интерполятор, причем счетчик интерференционных полос определяет пересечения нулевого уровня сигналов, а интерполятор поддерживает цифровую оценку фазы сигналов и обновляет оценку, когда фазовое различие между расчетным и входным сигналами превышает заданный порог. Интерполятор содержит цифровой счетчик, выход которого содержит разряды низкого порядка цифровых выходных сигналов, для которых выход счетчика интерференционных полос содержит разряды высокого порядка.
RU93058418A 1991-05-30 1992-05-29 Устройство для измерения поверхностных характеристик RU2124701C1 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9111657.4 1991-05-30
GB9111657A GB2256476B (en) 1991-05-30 1991-05-30 Positional measurement

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU93058418A true RU93058418A (ru) 1996-12-20
RU2124701C1 RU2124701C1 (ru) 1999-01-10

Family

ID=10695821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU93058418A RU2124701C1 (ru) 1991-05-30 1992-05-29 Устройство для измерения поверхностных характеристик

Country Status (10)

Country Link
US (1) US5517307A (ru)
EP (2) EP0729007A3 (ru)
JP (1) JP3254453B2 (ru)
CN (2) CN1030796C (ru)
AT (1) ATE145474T1 (ru)
DE (1) DE69215369T2 (ru)
GB (1) GB2256476B (ru)
IN (1) IN185545B (ru)
RU (1) RU2124701C1 (ru)
WO (1) WO1992021934A1 (ru)

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2077520B1 (es) * 1993-11-08 1998-02-16 Fagor S Coop Ltda Interferometro con red de difraccion para la medida de longitudes.
GB2294325B (en) * 1994-10-20 1998-07-22 Rank Taylor Hobson Ltd Stylus attachment for a metrological instrument
GB2339287B (en) * 1998-07-09 2002-12-24 Taylor Hobson Ltd Transducer circuit
US6509575B1 (en) 1999-05-07 2003-01-21 Impact Imaging, Inc. Method and apparatus for polarization filtered x-ray film scanning recording
GB2350429B (en) 1999-05-28 2003-11-12 Taylor Hobson Ltd A metrological instrument
DE10025461A1 (de) * 2000-05-23 2001-12-06 Mahr Gmbh Messeinrichtung nach dem Interferenzprinzip
WO2003025634A2 (en) * 2001-08-27 2003-03-27 Rensselaer Polytechnic Institute Terahertz time-domain differentiator
US20060139755A1 (en) * 2001-08-27 2006-06-29 Roland Kersting Terahertz time-domain differentiator
JP4062008B2 (ja) * 2002-08-07 2008-03-19 株式会社東京精密 デジタル測定ヘッド
US7218697B2 (en) * 2003-11-25 2007-05-15 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Digital phase detector for periodically alternating signals
JP4722474B2 (ja) * 2004-12-24 2011-07-13 株式会社ミツトヨ 変位検出装置
GB2422015B (en) * 2005-02-01 2007-02-28 Taylor Hobson Ltd A metrological instrument
US7549916B2 (en) * 2005-07-08 2009-06-23 Honeywell International Inc. Cabin pressure control system and method that implements high-speed sampling and averaging techniques to compute cabin pressure rate of change
GB2429291B (en) 2005-08-18 2008-08-20 Taylor Hobson Ltd A metrological apparatus
CN100424467C (zh) * 2006-12-08 2008-10-08 华中科技大学 一种大量程直线型相位光栅轮廓测量位移传感器
US7990542B2 (en) 2007-10-25 2011-08-02 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Memory-based high-speed interferometer
US7864336B2 (en) * 2008-04-28 2011-01-04 Agilent Technologies, Inc. Compact Littrow encoder
JP5331645B2 (ja) * 2009-10-13 2013-10-30 株式会社ミツトヨ 検出器、及び測定機
JP5697323B2 (ja) * 2009-10-22 2015-04-08 キヤノン株式会社 ヘテロダイン干渉計測装置
GB2474893A (en) 2009-10-30 2011-05-04 Taylor Hobson Ltd Surface measurement instrument and method
CN102183217B (zh) * 2011-03-17 2012-09-05 西安交通大学 一种圆弧式轮廓仪测头及其测量方法
US8701301B2 (en) * 2011-04-19 2014-04-22 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring instrument
CN104040288B (zh) * 2012-01-04 2016-12-14 株式会社东京精密 轮廓形状表面粗糙度测定装置以及轮廓形状表面粗糙度测定方法
GB2499660B (en) 2012-02-27 2018-10-03 Taylor Hobson Ltd Surface measurement apparatus and method
WO2014023430A1 (de) * 2012-08-10 2014-02-13 Sms Meer Gmbh Verfahren und vorrichtung zur optischen innen-vermessung eines rohres
DE102013206693A1 (de) 2013-04-15 2014-10-16 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Vorrichtung zur interferentiellen Abstandsmessung
JP5756582B2 (ja) * 2013-04-26 2015-07-29 株式会社東京精密 形状測定機
JP6133678B2 (ja) * 2013-05-01 2017-05-24 株式会社ミツトヨ 表面性状測定装置およびその制御方法
CN104181939B (zh) * 2014-08-14 2016-08-31 上海交通大学 基于虚拟光栅尺的主动型超精密位移定位检测方法
CN104165595B (zh) * 2014-08-14 2017-01-11 上海交通大学 条纹相移与条纹细分联合控制的超精密位移定位检测方法
CN106289090B (zh) * 2016-08-24 2018-10-09 广东工业大学 一种牙科树脂内应变场的测量装置
JP2018066629A (ja) * 2016-10-19 2018-04-26 太陽誘電株式会社 ロードセル
JP6859098B2 (ja) * 2016-12-28 2021-04-14 株式会社キーエンス 光走査高さ測定装置
US10955668B2 (en) * 2017-02-14 2021-03-23 Optecks, Llc Optical display system for augmented reality and virtual reality
RU2650740C1 (ru) * 2017-03-10 2018-04-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тюменский индустриальный университет" (ТИУ) Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре
RU2650742C1 (ru) * 2017-03-10 2018-04-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тюменский индустриальный университет" (ТИУ) Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре
RU2655949C1 (ru) * 2017-03-10 2018-05-30 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тюменский индустриальный университет" (ТИУ) Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре
CN106979834B (zh) * 2017-04-14 2023-03-14 贵阳新天光电科技有限公司 一种测长机的阿贝头测力系统及其控制系统
EP3435032B1 (de) * 2017-07-26 2020-11-11 Hexagon Technology Center GmbH Optischer rauheitssensor für eine koordinatenmessmaschine
CN108981623B (zh) * 2018-07-23 2020-04-28 浙江大学 一种基于微波信号的远距离微小位移探测方法
CN109990713B (zh) * 2019-04-04 2020-08-18 清华大学 一种基于平面光栅激光干涉仪的高分辨率相位检测方法
JP7430457B2 (ja) * 2020-07-22 2024-02-13 株式会社ミツトヨ てこ型光学式変位センサ
CN115808118B (zh) * 2023-02-07 2023-04-18 山东中科普锐检测技术有限公司 粗糙度和轮廓度两用结合协调测量装置及测量方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3419330A (en) * 1965-04-06 1968-12-31 Sperry Rand Corp Diffraction grating angular rate sensor
US3726595A (en) * 1970-01-07 1973-04-10 Canon Kk Method for optical detection and/or measurement of movement of a diffraction grating
DE2003492A1 (de) * 1970-01-27 1971-08-12 Leitz Ernst Gmbh Messverfahren fuer Schrittgeber zum Messen von Laengen oder Winkeln sowie Anordnungen zur Durchfuehrung dieses Messverfahrens
DE2242355C2 (de) 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
NL8005259A (nl) * 1980-09-22 1982-04-16 Philips Nv Inrichting voor het meten aan het oppervlak van een voorwerp.
US4629886A (en) 1983-03-23 1986-12-16 Yokogawa Hokushin Electric Corporation High resolution digital diffraction grating scale encoder
US4669300A (en) 1984-03-30 1987-06-02 Sloan Technology Corporation Electromagnetic stylus force adjustment mechanism
US4699300A (en) * 1985-10-25 1987-10-13 Blake William S Two piece dispensing closure with positive shutoff
DE3630887A1 (de) * 1986-03-26 1987-10-08 Hommelwerke Gmbh Vorrichtung zur messung kleiner laengen
EP0242407A2 (de) * 1986-03-26 1987-10-28 Hommelwerke GmbH Vorrichtung zur Messung kleiner Längen
JPS63115012A (ja) * 1986-10-31 1988-05-19 Canon Inc 変位測定装置
FR2615280B1 (fr) * 1987-05-11 1996-07-19 Canon Kk Dispositif de mesure de la distance en mouvement relatif de deux objets mobiles l'un par rapport a l'autre
FR2615281B1 (fr) * 1987-05-11 1996-08-23 Canon Kk Dispositif de mesure d'une distance en mouvement relatif de deux objets mobiles l'un par rapport a l'autre
JP2567036B2 (ja) * 1988-05-10 1996-12-25 キヤノン株式会社 光学式エンコーダ
GB8914417D0 (en) * 1989-06-23 1989-08-09 Rank Taylor Hobson Ltd Interpolator
GB2239088B (en) * 1989-11-24 1994-05-25 Ricoh Kk Optical movement measuring method and apparatus
JPH04229702A (ja) * 1990-06-20 1992-08-19 Canon Inc 信号処理方法及び装置、並びにこれを用いた変位検出装置等のシステム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU93058418A (ru) Устройство для измерения положения, и/или поверхности, и/или текстуры (варианты), устройство дифракционного интерферометра (варианты), устройство для обработки сигналов, полученных из выхода интерферометра
GB2256476B (en) Positional measurement
US5949546A (en) Interference apparatus for measuring absolute and differential motions of same or different testing surface
EP0311144A2 (en) Optical instrument for measuring displacement
JP2023539144A (ja) Ｌｉｄａｒシステムにおけるノイズ校正およびターゲット検出
US4660978A (en) Direct slope measurement shearing interferometer
ES2014165A6 (es) Procedimiento para la medicion de recorridos y de angulos.
JPH03115921A (ja) 信号内挿回路及び該回路を備えた変位測定装置
US7126695B2 (en) Heterodyne frequency modulated signal demodulator and method of operating the same
US20230062525A1 (en) Heterodyne light source for use in metrology system
JP2649912B2 (ja) 光デジタルスペクトルアナライザ
JP3350093B2 (ja) 測長装置
SU1620828A2 (ru) Устройство дл измерени угловых перемещений объекта
US20230069087A1 (en) Digital holography metrology system
GB2248498A (en) Variable gain optical sensing system
RU1770739C (ru) Устройство дл измерени угловых перемещений объекта
JPH0416896Y2 (ru)
SU1716314A1 (ru) Квазиоптический двухлучевой интерферометр Латышева
SU1043486A1 (ru) Устройство дл измерени углового перемещени объекта
JPH0585851B2 (ru)
RU1809301C (ru) Способ интерполировани интерференционных сигналов
JPS6139290Y2 (ru)
SU1497453A1 (ru) Устройство дл измерени толщины и показател преломлени пленки
RU1824594C (ru) Устройство оптического спектрального анализа двумерных сигналов
JPS5937791B2 (ja) ドツプラ速度測定装置