RU2567405C2 - Способ получения истоковой области силового транзистора - Google Patents

Способ получения истоковой области силового транзистора Download PDF

Info

Publication number
RU2567405C2
RU2567405C2 RU2014103406/28A RU2014103406A RU2567405C2 RU 2567405 C2 RU2567405 C2 RU 2567405C2 RU 2014103406/28 A RU2014103406/28 A RU 2014103406/28A RU 2014103406 A RU2014103406 A RU 2014103406A RU 2567405 C2 RU2567405 C2 RU 2567405C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
phosphorus
carried out
temperature
diffusion
stage
Prior art date
Application number
RU2014103406/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2014103406A (ru
Inventor
Тагир Абдурашидович Исмаилов
Айшат Расуловна Шахмаева
Патимат Расуловна Захарова
Original Assignee
Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) filed Critical Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту)
Priority to RU2014103406/28A priority Critical patent/RU2567405C2/ru
Publication of RU2014103406A publication Critical patent/RU2014103406A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2567405C2 publication Critical patent/RU2567405C2/ru

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

Изобретение относится к технологии полупроводниковых приборов и мощных кремниевых транзисторов, в частности к способу формирования истоковой области силового транзистора. Техническим результатом изобретения является оптимизация процесса формирования истоковой области кремниевой транзисторной структуры, уменьшение температуры и времени проведения процесса, обеспечение точного регулирования глубины легируемого слоя и повышение процента выхода годных изделий. В способе формирования истоковой области силового транзистора диффузию проводят с использованием твердого планарного источника фосфора на этапе загонки фосфора при температуре T 1125°C и времени 40 мин при следующем соотношении компонентов: O2 40±0,5 л/ч, N2 750 л/ч, H2 8 л/ч, и на этапе разгонки фосфора при температуре 1250°C при расходах кислорода O2 40±0,5 л/ч и азота N2 750 л/ч и времени 72 ч.

Description

Изобретение относится к технологии полупроводниковых приборов, в частности к способу формирования истоковой области силового транзистора, включающему глубокую диффузию фосфора при формировании диффузионных кремниевых структур. Способ получения истоковой области силового транзистора включает формирование диффузионных кремниевых структур с использованием твердого планарного источника фосфора. Процесс проводят при температуре 1125°C на этапе загонки при следующем соотношении компонентов: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч; Н2=8 л/ч, и времени, равном 40 минут; на этапе разгонки процесс проводят при температуре 1250°C при следующем расходе газов: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч. и времени разгонки, равном 72 ч. Техническим результатом изобретения является уменьшение температуры и времени проведения процесса, обеспечение точного регулирования глубины диффузионного слоя, получение глубины 180±10 мкм и повышение процента выхода годных изделий.
Известны способы диффузии фосфора из жидких источников: оксихлорид фосфора (POCL3) и трихлорид фосфора (PCL3), при которых глубина диффузии фосфора незначительна при длительностях процесса 150-170 ч. [1].
Известен способ диффузии фосфора из твердого планарного источника, включающий формирование диффузионных кремниевых структур с использованием твердого планарного источника фосфора, процесс проводят при температуре 1000°C на этапе загонки при следующем соотношении компонентов: О2=37,8±0,5 л/ч; N2=740 л/ч; Н2=7,5 л/ч и времени, равном 60 мин; на этапе разгонки процесс проводят при температуре 1150°C при следующем расходе газов: О2=37,8±0,5 л/ч; N2=740 л/ч и времени разгонки, равном 160 ч. [2]
Недостатком этих способов являются высокие температуры, свыше 1000°C (на этапе разгонки), и длительные временные режимы, при которых нарушается поверхность пластин, не обеспечивается точное регулирование глубины диффузии, появляются различные примеси, влияющие на качество процесса.
Техническим результатом изобретения является уменьшение температуры и времени проведения процесса, обеспечение точного регулирования глубины диффузионного слоя и повышение процента выхода годных изделий.
Технический результат достигается проведением процесса с использованием твердого планарного источника фосфора (ТПДФ) при следующем соотношении компонентов: N2-750 л/ч, O2-40±0,5 л/ч, Н2-8 л/ч, при температуре процесса 1125°C на этапе загонки, при расходах кислорода О2=40±0,5 л/ч и азота N2=750 л/ч, при температуре Т=1250°C на этапе разгонки фосфора.
Сущность способа заключается в том, что на поверхности кремниевой подложки образуется слой фосфоросиликатного стекла при температуре 1125°C за счет реакций между твердым планарным источником фосфора с кислородом и азотом, далее проводят процесс разгонки в карбидкремниевой трубе при температуре 1250°C, при расходах кислорода О2=40±0,5 л/ч и азота N2=750 л/ч. Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления на установке FPP-5000 и определения глубины диффузионного слоя методом косого шлифа [1]. Поверхностное сопротивление для диффузионных кремниевых структур должно быть равным RS=0,6 Ом/см.
Сущность изобретения подтверждается следующими примерами.
ПРИМЕР 1: Способ осуществляют аналогично условию примера 1.
Процесс проводят при следующем расходе газов на этапе загонки: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч; Н2=8 л/ч, и с твердого планарного источника, времени загонки фосфора - 30 минут при температуре 900°C, поверхностное сопротивление RS=0,3±0,1 Ом/см.
На этапе разгонки фосфора процесс проводят при температуре Т=1050°C, при расходах газов: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч, и времени разгонки 50 ч.
Контроль проводят на установке FPP-5000 и глубину диффузионного шлифа определяют методом косого шлифа:
- поверхностное сопротивление RS=0,105±0,05 Ом/см;
- глубина диффузии XJ=144 мкм.
ПРИМЕР 2: Способ осуществляют аналогично условию примера 1.
Процесс проводят при следующем расходе газов на этапе загонки: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч; Н2=8 л/ч, и с твердого планарного источника. Время загонки фосфора 30 мин при температуре 925°C, поверхностное сопротивления RS=0,41±0,1 Ом/см.
На этапе разгонки фосфора процесс проводят при температуре 1000°C при расходах газов: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч, и времени разгонки 60 ч.
Контроль проводят на установке FPP-5000, а глубину диффузионного шлифа определяют методом косого шлифа:
- поверхностное сопротивление RS=0,18±0,05 Ом/см;
- глубина диффузии - 153 мкм.
ПРИМЕР 3: Способ осуществляют аналогично условию примера 1.
Процесс проводят при следующем расходе газов на этапе загонки стадии: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч; Н2=8 л/ч, и с твердого планарного источника (ТПДФ-100). Время загонки фосфора 50 мин при температуре 980°C, поверхностное сопротивление RS=0,48±0,1 Ом/см.
На этапе разгонки фосфора процесс проводят при температуре 1100°C при расходах газов: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч, и времени разгонки 70 ч.
Контроль проводят на установке FPP-5000 и глубину диффузионного шлифа определяют методом косого шлифа:
- поверхностное сопротивление RS=0,20±0,05 Ом/см;
- глубина диффузии - 168 мкм.
ПРИМЕР 4: Способ осуществляют аналогично условию примера 1.
Процесс проводят при следующем расходе газов на этапе загонки: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч; Н2=8 л/ч, и с твердого планарного источника (ТПДФ-100). Время загонки фосфора 40 мин при температуре 1125°C, поверхностное сопротивления RS=0,6±0,1 Ом/см.
На этапе разгонки фосфора процесс проводят при температуре 1250°C при расходах газов: О2=40±0,5 л/ч; N2=750 л/ч, и времени разгонки 72 ч.
Контроль проводят на установке FPP-5000 и глубину диффузионного шлифа определяют методом косого шлифа:
- поверхностное сопротивление RS=0,25±0,05 Ом/см;
- глубина диффузии - 185 мкм.
Оптимальное расстояние между твердым планарным источником и кремниевыми структурами равно 4 мм.
Таким образом, предлагаемый способ по сравнению с прототипом позволяет проводить процесс разгонки при температуре 1250°C, при этом не нарушается поверхность пластин, практически отсутствуют примеси, обеспечивается точное регулирование глубины диффузионного слоя и получение глубины 180±10 мкм за меньшее время - 72 ч.
Литература
1. З.Ю. Готра. Технология микроэлектронных устройств. М., «Радио и связь, 1991 г., стр. 128.
2. Патент №2359355, H01L 21/225, 20.06.2009.

Claims (1)

  1. Способ получения истоковой области силового транзистора, включающий формирование диффузионных кремниевых структур с использованием твердого планарного источника фосфора, отличающийся тем, что процесс проводят при температуре 1125°C на этапе загонки при следующем соотношении компонентов: О2 40±0,5 л/ч; N2 750 л/ч; Н2 8 л/ч, и времени, равном 40 мин; на этапе разгонки процесс проводят при температуре 1250°C при следующем расходе газов: О2 40±0,5 л/ч; N2 750 л/ч и времени разгонки, равном 72 ч.
RU2014103406/28A 2014-01-31 2014-01-31 Способ получения истоковой области силового транзистора RU2567405C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014103406/28A RU2567405C2 (ru) 2014-01-31 2014-01-31 Способ получения истоковой области силового транзистора

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014103406/28A RU2567405C2 (ru) 2014-01-31 2014-01-31 Способ получения истоковой области силового транзистора

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2014103406A RU2014103406A (ru) 2015-08-10
RU2567405C2 true RU2567405C2 (ru) 2015-11-10

Family

ID=53795739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014103406/28A RU2567405C2 (ru) 2014-01-31 2014-01-31 Способ получения истоковой области силового транзистора

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2567405C2 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3931056A (en) * 1974-08-26 1976-01-06 The Carborundum Company Solid diffusion sources for phosphorus doping containing silicon and zirconium pyrophosphates
RU1563507C (ru) * 1988-02-22 1995-03-20 Денисюк Владимир Антонович Твердый планарный источник диффузии фосфора
RU2094901C1 (ru) * 1990-08-08 1997-10-27 Владимир Антонович Денисюк Способ диффузии примеси из твердого источника при изготовлении полупроводниковых приборов
US6461948B1 (en) * 2000-03-29 2002-10-08 Techneglas, Inc. Method of doping silicon with phosphorus and growing oxide on silicon in the presence of steam
RU2005120614A (ru) * 2005-07-04 2007-01-10 Общество с ограниченной ответственностью "Кристалл" (RU) Способ диффузии фосфора в кремниевую подложку
RU2359355C1 (ru) * 2008-03-12 2009-06-20 Дагестанский государственный технический университет (ДГТУ) Способ диффузии фосфора из твердого планарного источника

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3931056A (en) * 1974-08-26 1976-01-06 The Carborundum Company Solid diffusion sources for phosphorus doping containing silicon and zirconium pyrophosphates
RU1563507C (ru) * 1988-02-22 1995-03-20 Денисюк Владимир Антонович Твердый планарный источник диффузии фосфора
RU2094901C1 (ru) * 1990-08-08 1997-10-27 Владимир Антонович Денисюк Способ диффузии примеси из твердого источника при изготовлении полупроводниковых приборов
US6461948B1 (en) * 2000-03-29 2002-10-08 Techneglas, Inc. Method of doping silicon with phosphorus and growing oxide on silicon in the presence of steam
RU2005120614A (ru) * 2005-07-04 2007-01-10 Общество с ограниченной ответственностью "Кристалл" (RU) Способ диффузии фосфора в кремниевую подложку
RU2359355C1 (ru) * 2008-03-12 2009-06-20 Дагестанский государственный технический университет (ДГТУ) Способ диффузии фосфора из твердого планарного источника

Also Published As

Publication number Publication date
RU2014103406A (ru) 2015-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8956927B2 (en) Method of manufacturing epitaxial silicon wafer and epitaxial silicon wafer manufactured by the method
WO2012102809A3 (en) Polysilicon films by hdp-cvd
TW201720974A (zh) 含貫通孔之玻璃基板之製造方法、具備貫通電極之玻璃基板之製造方法及中介物之製造方法
RU2359355C1 (ru) Способ диффузии фосфора из твердого планарного источника
RU2567405C2 (ru) Способ получения истоковой области силового транзистора
RU2542591C1 (ru) Способ формирования эмиттерной области транзистора
CN104465399A (zh) 一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法
RU2594652C1 (ru) Способ формирования затворной области силового транзистора
ATE541065T1 (de) Verfahren zur herstellung von dünnschichten und vorrichtungen
JP2013258188A5 (ru)
JP2017024951A (ja) エピタキシャルウェーハの製造方法
CN105470297B (zh) 一种vdmos器件及其制作方法
RU2586267C2 (ru) Способ формирования активной n-области солнечных элементов
RU2361316C2 (ru) Способ диффузии бора
CN104716044B (zh) 半导体器件及其形成方法
RU2586265C2 (ru) Способ осаждения тонких пленок на поверхности подложек для изготовления солнечных элементов
WO2013102731A3 (fr) Procédé de production à basse température de nanostructures semi-conductrices à jonction radiale, dispositif a jonction radiale et cellule solaire comprenant des nanostructures à jonction radiale
RU2371807C1 (ru) Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок
RU2524151C1 (ru) Способ диффузии бора для формирования р-области
RU2534386C2 (ru) Способ формирования p-области
CN107337174B (zh) 一种多晶硅振膜结构的制作方法
CN102383197B (zh) 用工艺气体处理基底的方法
CN104795440B (zh) 一种vdmos及其制作方法
RU2524140C1 (ru) Диффузия фосфора из нитрида фосфора (p2n5)
RU2524149C1 (ru) Способ получения стекла из пятиокиси фосфора

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20160201