RU2371807C1 - Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок - Google Patents
Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок Download PDFInfo
- Publication number
- RU2371807C1 RU2371807C1 RU2008129476/28A RU2008129476A RU2371807C1 RU 2371807 C1 RU2371807 C1 RU 2371807C1 RU 2008129476/28 A RU2008129476/28 A RU 2008129476/28A RU 2008129476 A RU2008129476 A RU 2008129476A RU 2371807 C1 RU2371807 C1 RU 2371807C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- phosphorous
- nitrogen
- phosphorus
- diffusing
- oxygen
- Prior art date
Links
Landscapes
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов и интегральных схем (ИС), в частности к способам диффузии фосфора. Сущность изобретения: в способе диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок, включающем процесс образования фосфоросиликатного стекла на поверхности кремниевой пластины из газовой фазы, в качестве источника диффузанта используют жидкий источник оксихлорид фосфора (POCl3) при следующем соотношении компонентов: кислород - O2=38 л/ч азот - N2=700 л/ч, азот через питатель - N2=36,7 л/ч при температуре процесса 1000°С, время проведения загонки фосфора -40 минут, при этом поверхностное сопротивление равно RS=160±10 Ом/см. Техническим результатом изобретения является уменьшение разброса значений поверхностной концентрации по всей поверхности кремниевой пластины, уменьшение длительности и температуры процесса.
Description
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов и интегральных схем (ИС), в частности к способам получения фосфорно-силикатных стекол для формирования активной эмиттерной области.
Известны способы диффузии фосфора: твердый планарный источник - ТПИ; жидкие источники диффузии фосфора - PCl3; газообразные источники диффузии в потоке газа - PH3 [1].
Недостатками этих способов является неравномерное распределение концентрации по поверхности кремниевой пластины, высокие температуры и длительность процессов.
Образующиеся в процессе диффузии фосфора пленки фосфоросиликатного стекла (ФСС) являются хорошим средством геттерирования примесей в полупроводниковой технологии. При температуре осаждения ФСС создаются индуцированные диффузионные напряжения впереди фронта диффузии. Эта область является стоком для металлических примесей.
Целью изобретения является уменьшение разброса значений поверхностной концентрации по всей поверхности кремниевой пластины, уменьшение длительности и температуры процесса.
Поставленная цель достигается проведением процесса диффузии фосфора с применением диффузанта - оксихлорид фосфора (POCl3), при следующем расходе газов: кислород - O2=37,8±0,5 л/ч, азот - N2=740±10 л/ч, азот через питатель - N2=36,7 л/ч. Температура процесса 1000°С и время проведения процесса равно 40 минут. На стадии загонки используется окисляющая смесь, в результате образуется P2O5 в определенной точке системы перед зоной диффузии. Присутствие кислорода на стадии загонки предотвращает подтравливание поверхности галогеном, особенно при высоких концентрациях POCl3 в смеси.
Сущность способа диффузии из жидкого источника заключается в том, что пластины кремния помещают в кварцевую трубу, находящуюся внутри нагретой однозонной печи. Через трубу пропускается поток газа носителя - азот N2, к которому добавляется примесь источника диффузанта, находящегося при обычных условиях в жидком состоянии. При этом в газовую смесь на все время добавляется кислород - O2=37,8±0,5 л/ч.
Технологический процесс проводят при следующем расходе газов: кислород - O2=37,8±0,5 л/ч, азот - N2=740±10 л/ч, азот через питатель - N2=36,7 л/ч. Температура процесса 1000°С и время проведения процесса загонки 40 минут.
Сущность изобретения подтверждается следующими примерами.
ПРИМЕР 1. Технологический процесс диффузия фосфора проводят в однозонных диффузионных печах типа на установке СДОМ-3/100. Кремниевые пластины размещаются на кварцевых лодочках, расстояние между пластинами 2,4 мм. Через трубу пропускается поток газа носителя - азот N2, к которому добавляется примесь источника диффузанта, находящегося при обычных условиях в жидком состоянии. При этом в газовую смесь на все время добавляется кислород - O2=37,8±0,5 л/ч.
Технологический процесс проводят при следующем расходе газов: кислород - O2=40±0,5 л/ч, азот - N2=500±10 л/ч, азот через питатель - N2=36,7 л/ч. Температура процесса 1100°С и время проведения процесса загонки 60 минут.
Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление равно RS=120±10 Ом/см.
ПРИМЕР 2. Способ осуществляют аналогично условию примера 1.
Технологический процесс проводят при следующем расходе газов: кислород - O2=38±0,5 л/ч, азот - N2=600±10 л/ч, азот через питатель - N2=36,7 л/ч. Температура процесса 1000±50°С и время проведения процесса загонки 50 минут.
Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление равно RS=140±10 Ом/см.
ПРИМЕР 3. Способ осуществляют аналогично условию примера 1.
Технологический процесс проводят при следующем расходе газов: кислород - O2=37,8±0,5 л/ч, азот - N2=700±10 л/ч, азот через питатель - N2=36,7 л/ч. Температура процесса 1000°С и время проведения процесса загонки 40 минут.
Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление равно RS=160±10 Ом/см.
Таким образом, предлагаемый способ, по сравнению с прототипами, позволяет проводить процесс диффузии фосфора при температуре, равной 1000°С, и получить RS=160±10 Ом/см, при котором обеспечивается уменьшение разброса значений поверхностной концентрации по кремниевой пластине, снижение длительности и температуры процесса.
Источники информации
1. Готра З.Ю. Технология микроэлектронных устройств. М.: Радио и связь. 1991, с.179-180.
Claims (1)
- Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок, включающий процесс образования фосфоросиликатного стекла на поверхности кремниевой пластины из газовой фазы, отличающийся тем, что в качестве источника диффузанта используется жидкий источник оксихлорид фосфора (POCl3) при следующем соотношении компонентов: кислород O2=38 л/ч, азот N2=700 л/ч, азот через питатель N2=36,7 л/ч при температуре процесса 1000°С, время проведения загонки фосфора 40 мин, поверхностное сопротивление равно RS=160±10 Ом/см.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2008129476/28A RU2371807C1 (ru) | 2008-07-17 | 2008-07-17 | Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2008129476/28A RU2371807C1 (ru) | 2008-07-17 | 2008-07-17 | Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2371807C1 true RU2371807C1 (ru) | 2009-10-27 |
Family
ID=41353272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2008129476/28A RU2371807C1 (ru) | 2008-07-17 | 2008-07-17 | Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2371807C1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2524149C1 (ru) * | 2013-01-09 | 2014-07-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) | Способ получения стекла из пятиокиси фосфора |
RU2524140C1 (ru) * | 2013-01-10 | 2014-07-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) | Диффузия фосфора из нитрида фосфора (p2n5) |
-
2008
- 2008-07-17 RU RU2008129476/28A patent/RU2371807C1/ru not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2524149C1 (ru) * | 2013-01-09 | 2014-07-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) | Способ получения стекла из пятиокиси фосфора |
RU2524140C1 (ru) * | 2013-01-10 | 2014-07-27 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) | Диффузия фосфора из нитрида фосфора (p2n5) |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10714333B2 (en) | Apparatus and method for selective oxidation at lower temperature using remote plasma source | |
US20100041212A1 (en) | Film forming method and film forming apparatus | |
TW201331997A (zh) | 在基板上沉積矽鍺錫層的方法 | |
JP2000138168A (ja) | 半導体ウェーハ及び気相成長装置 | |
TW200415729A (en) | Manufacturing method for semiconductor integrated circuit device | |
RU2371807C1 (ru) | Способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок | |
US6806144B2 (en) | Method and apparatus for improved gate oxide uniformity with reducing system contaminants | |
RU2361316C2 (ru) | Способ диффузии бора | |
RU2786376C2 (ru) | Способ получения боросиликатных слоев в производстве изготовления мощных транзисторов | |
RU2372688C2 (ru) | СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПЛЕНКИ ОКИСЛА КРЕМНИЯ SiO2 | |
JPH1116903A (ja) | 湿式酸化を用いた薄膜酸化膜の形成方法 | |
CN103715067A (zh) | 一种提高成膜均匀性的方法 | |
RU2407105C2 (ru) | Способ получения фосфоросиликатных пленок | |
CN103443910A (zh) | 硅晶片的原子级平坦化表面处理方法及热处理装置 | |
RU2524149C1 (ru) | Способ получения стекла из пятиокиси фосфора | |
CN102383197B (zh) | 用工艺气体处理基底的方法 | |
RU2524140C1 (ru) | Диффузия фосфора из нитрида фосфора (p2n5) | |
US5881090A (en) | Quartz used in semiconductor manufacturing device, apparatus for manufacturing the quartz, and method for manufacturing the same | |
US8158495B2 (en) | Process for forming a silicon-based single-crystal portion | |
RU2586267C2 (ru) | Способ формирования активной n-области солнечных элементов | |
JP4779519B2 (ja) | エピタキシャルウェーハの製造方法 | |
JP3706811B2 (ja) | 半導体装置の製造方法、基板処理方法、及び半導体製造装置 | |
RU2575613C2 (ru) | СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ АКТИВНОЙ p+- ОБЛАСТИ СОЛНЕЧНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ | |
KR20230133191A (ko) | 에칭 방법, 및 에칭 장치 | |
US20070254450A1 (en) | Process for forming a silicon-based single-crystal portion |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20100718 |