RU2019112654A - Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления - Google Patents
Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления Download PDFInfo
- Publication number
- RU2019112654A RU2019112654A RU2019112654A RU2019112654A RU2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- dielectric
- dielectric layer
- thickness
- layer
- metallized
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 16
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 claims 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 5
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims 3
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 claims 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims 2
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 claims 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 claims 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000001883 metal evaporation Methods 0.000 claims 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 claims 1
- 230000001012 protector Effects 0.000 claims 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 claims 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/14—Organic dielectrics
- H01G4/18—Organic dielectrics of synthetic material, e.g. derivatives of cellulose
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
- H01G4/015—Special provisions for self-healing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/14—Organic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
- H01G4/308—Stacked capacitors made by transfer techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/32—Wound capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/33—Thin- or thick-film capacitors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Claims (52)
1. Пленочный конденсатор (1) очень высокой емкости, содержащий диэлектрический слой (100), образованный по меньшей мере одной диэлектрической пленкой (100а, …, 100i), при этом каждая диэлектрическая пленка (100а, …, 100i) этого диэлектрического слоя (100) имеет следующие параметры:
- относительная диэлектрическая проницаемость [εf i], при этом εf i ≥ 10,
- толщина [ef i], при этом 0.05 мкм ≤ ef i ≤ 50 мкм,
- диэлектрическая жесткость [Ef i], при этом Ef i ≥ 50 В/мкм,
при этом в параметрах "f" обозначает «пленка», и i ≥ 1, где "i" обозначает "i-ую" диэлектрическую пленку (100i) указанного диэлектрического слоя (100),
причем этот диэлектрический слой (100) отделяет первую структуру-носитель (200) электронных зарядов от второй структуры-носителя (300) электронных зарядов, причем эти две структуры имеют противолежащую поверхность (S), отделенную диэлектрическим слоем (100),
отличающийся тем, что:
А) граница между диэлектрическим слоем (100) и первой структурой (200) отвечает следующим требованиям:
- участок противолежащей поверхности (S), где указанная первая структура (200) входит в прямой контакт с указанным диэлектрическим слоем (100), превышает 90%,
- во всех зонах границы, где диэлектрической слой (100) не входит в прямой контакт с указанной первой структурой (200), они локально разделены N толщинами (где N ≥ 1) «паразитных» диэлектриков (400), при этом каждая толщина имеет относительную диэлектрическую проницаемость [εp j] и диэлектрическую жесткость [Ep j], которые соответствуют отношению:
εp j Ep j ≥ Min(εf i Ef i),
где "p" обозначает "толщину паразитного диэлектрика", и "j" обозначает "j-ую" толщину, при этом 1 ≤ j ≤ N,
В) граница между диэлектрическим слоем (100) и второй структурой (300) отвечает следующим требованиям:
- участок противолежащей поверхности (S), где указанная вторая структура (300) входит в прямой контакт с указанным диэлектрическим слоем (100), превышает 90%,
- во всех зонах границы, где диэлектрической слой (100) не входит в прямой контакт с указанной второй структурой (300), они локально разделены толщинами М (где М ≥ 1) «паразитных» диэлектриков (500), при этом каждая толщина имеет относительную диэлектрическую проницаемость [εp k] и диэлектрическую жесткость [Ep k], которые соответствуют отношению:
εp k Ep k ≥ Min(εf i Ef i),
где "p" обозначает "толщину паразитного диэлектрика", и "k" обозначает "k-ую" толщину, при этом 1 ≤ k ≤ М,
при соблюдении следующего дополнительного условия:
С) когда указанный диэлектрический слой (100) состоит из более чем одной диэлектрической пленки (100i), то вся граница Σ между двумя диэлектрическими пленками (100i) отвечает следующим условиям:
- участок противолежащей поверхности (S), где обе диэлектрические пленки (100i) входят в прямой контакт, превышает 90%,
- во всех зонах границы Σ, где две диэлектрические пленки (100i) не входят в прямой контакт, эти пленки локально разделены PΣ толщинами (при PΣ ≥ 1) «паразитных» диэлектриков (600), при этом каждая толщина имеет относительную диэлектрическую проницаемость [εp ℓ] и диэлектрическую жесткость [Ep ℓ], которые соответствуют отношению:
εp ℓ Ep ℓ ≥ Min(εf i Ef i),
где "p" обозначает "толщину паразитного диэлектрика", и "χℓ" обозначает " ℓ-ую" толщину, при этом 1 ≤ ℓ ≤ PΣ, при этом указанный диэлектрический слой выполнен из полимерного материала или на основе полимерного материала, исключая исключительно минеральный материал.
2. Пленочный конденсатор по п. 1, отличающийся тем, что указанный диэлектрический слой (100) не является самонесущим.
3. Способ изготовления пленочного конденсатора по п. 2, отличающийся тем, что содержит следующие последовательные этапы:
а) используют второй диэлектрический слой (101), называемый «опорным слоем», с относительной диэлектрической проницаемостью [εf'] и толщиной [ef'], который металлизирован на одной из своих двух противоположных сторон и который имеет диэлектрическую жесткость [Ef'],
b) указанный диэлектрический слой (100) укладывают на указанный опорный слой (101) таким образом, чтобы он входил в контакт с металлизированной стороной этого опорного слоя,
с) производят металлизацию стороны указанного диэлектрического слоя (100), которая осталась открытой после этапа b),
d) производят намотку в рулон комплекса, полученного в результате этапа с), или укладывают в стопу несколько комплексов, полученных в результате этапа с),
при этом указанные диэлектрический слой (100) и опорный слой (101) удовлетворяют следующему отношению:
ef' Ef' ≥ ef Ef, в котором выражения ef и Ef определены в пункте 1.
4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что используют опорную пленку (101), металлизированную на своих двух сторонах, причем на этапе d) совмещают, то есть зеркально располагают металлизированную поверхность указанного диэлектрического слоя (100) с металлизированной поверхностью одной из сторон указанного опорного слоя (101).
5. Способ по п. 3, отличающийся тем, что используют опорную пленку (101), металлизированную на одной из своих сторон, при этом на этапе d) совмещают, то есть зеркально располагают металлизированную поверхность указанного диэлектрического слоя (100) с металлизированной поверхностью указанного опорного слоя (101).
6. Способ по п. 5, отличающийся тем, что используют опорный слой (101), относительная диэлектрическая проницаемость [εf'] которого меньше или равна 10.
7. Способ по одному из пп. 3-6, отличающийся тем, что этап d) осуществляют в вакууме или при давлении, меньшем или равном 10 миллибар.
8. Способ по одному из пп. 3-7, отличающийся тем, что на этапе d) новый комплекс прижимают к предыдущему, прикладывая давление, в частности, при помощи нажимного катка или за счет регулирования угла укладки.
9. Способ по п. 3, отличающийся тем, что содержит следующие этапы, на которых:
а) указанный диэлектрический слой (100) укладывают на опорную пленку (300), образованную металлическим листом;
b) укладывают комплекс, полученный в результате этапа а), на опорный диэлектрический слой (101);
с) укладывают комплекс, полученный в результате этапа b), на вторую опорную пленку (400), образованную металлическим листом;
d) наматывают в рулон комплекс, полученный в результате этапа с), или укладывают в стопу несколько комплексов, полученных в результате этапа с).
10. Способ по п. 9, отличающийся тем, что указанные диэлектрические слои (100, 101) являются идентичными.
11. Способ по п. 9 или 10, отличающийся тем, что указанные опорные пленки (300, 400) являются идентичными металлическими листами.
12. Способ по одному из пп. 9-11, отличающийся тем, что между указанными этапами а) и b) подвергают металлизации оставшуюся открытой сторону указанного диэлектрического слоя (100).
13. Способ по п. 12, отличающийся тем, что между указанными этапами b) и с) подвергают металлизации оставшуюся открытой сторону указанного диэлектрического слоя (100).
14. Способ по одному из пп. 9-13, отличающийся тем, что этап d) осуществляют в вакууме или при давлении, меньшем или равном 10 миллибар.
15. Способ по одному из пп. 9-14, отличающийся тем, что на этапе d) новый комплекс прижимают к предыдущему, прикладывая давление, в частности, при помощи нажимного катка или за счет регулирования угла укладки.
16. Способ по одному из пп. 9-15, отличающийся тем, что используют пористые листы.
17. Способ по одному из пп. 9-16, отличающийся тем, что используют листы, которые включают в себя предохранители.
18. Способ по п. 17, отличающийся тем, что выполнение указанных предохранителей осуществляют, применяя одну или другую из следующих технологий:
- удаление материала из указанного листа таким образом, чтобы оставшийся материал образовал указанные предохранители, при этом удаление производят при помощи такой технологии, как испарение металла, пробивка или механическое сверление металла, растворение или химическое травление металла;
- добавление материала к указанному листу таким образом, чтобы добавленный материал образовал указанные предохранители, при этом добавление производят при помощи такой технологии, как сварка, пайка, клепание или штамповка.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1659489A FR3057100A1 (fr) | 2016-10-03 | 2016-10-03 | Condensateur film a tres haute capacite et un procede de fabrication |
FR1659489 | 2016-10-03 | ||
PCT/EP2017/074619 WO2018065289A1 (fr) | 2016-10-03 | 2017-09-28 | Condensateur film a tres haute capacite et son procede de fabrication |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2019112654A true RU2019112654A (ru) | 2020-11-06 |
Family
ID=57539459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2019112654A RU2019112654A (ru) | 2016-10-03 | 2017-09-28 | Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190287721A1 (ru) |
EP (1) | EP3520127A1 (ru) |
JP (1) | JP2019534580A (ru) |
KR (1) | KR20190057382A (ru) |
CN (1) | CN109844881A (ru) |
BR (1) | BR112019006024A2 (ru) |
CA (1) | CA3036330A1 (ru) |
FR (1) | FR3057100A1 (ru) |
IL (1) | IL265704A (ru) |
RU (1) | RU2019112654A (ru) |
WO (1) | WO2018065289A1 (ru) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2595244B (en) * | 2020-05-18 | 2022-05-25 | Inductive Power Projection Ltd | Wireless power transfer |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2175590B1 (ru) * | 1972-03-15 | 1975-10-24 | Materiel Telephonique | |
EP0038890A3 (en) * | 1980-04-29 | 1983-11-02 | Cornell-Dubilier Electronics Inc. | Self-healing capacitors |
JPH02138721A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 金属化フィルムコンデンサ |
JPH02138721U (ru) * | 1989-04-25 | 1990-11-20 | ||
US5610796A (en) * | 1993-02-19 | 1997-03-11 | Electronic Concepts, Inc. | Metallized capacitor having increased dielectric breakdown voltage and method for making the same |
JP2006521224A (ja) * | 2003-02-20 | 2006-09-21 | ナムローゼ・フェンノートシャップ・ベーカート・ソシエテ・アノニム | 積層構造体の製造方法 |
WO2004079793A2 (en) * | 2003-03-05 | 2004-09-16 | Duff William B Jr | Electrical charge storage device having enhanced power characteristics |
JP2006104369A (ja) * | 2004-10-07 | 2006-04-20 | Toray Ind Inc | 二軸配向ポリフェニレンサルファイドフィルムおよびコンデンサ |
CN1897178A (zh) * | 2005-07-15 | 2007-01-17 | 上海紫东薄膜材料股份有限公司 | 一种电容器用的双向拉伸聚酯薄膜及其生产方法 |
US20090047541A1 (en) * | 2007-08-15 | 2009-02-19 | Lithium Power Technologies, Inc. | Methods and Systems of Dielectric Film Materials For Use in Capacitors |
CN103797552B (zh) * | 2011-06-03 | 2017-08-29 | W.L.戈尔及同仁股份有限公司 | 聚四氟乙烯薄膜电容器 |
JP2016086114A (ja) * | 2014-10-28 | 2016-05-19 | トヨタ自動車株式会社 | フィルムコンデンサ |
MX2017005427A (es) | 2014-11-04 | 2017-06-21 | Capacitor Sciences Inc | Dispositivos de almacenamiento de energia y metodos de produccion de los mismos. |
RU2017128756A (ru) | 2015-02-26 | 2019-03-27 | Кэпэситор Сайенсиз Инкорпорейтед | Самовосстанавливающийся конденсатор и способы его получения |
-
2016
- 2016-10-03 FR FR1659489A patent/FR3057100A1/fr active Pending
-
2017
- 2017-09-28 BR BR112019006024A patent/BR112019006024A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2017-09-28 CN CN201780061154.3A patent/CN109844881A/zh active Pending
- 2017-09-28 WO PCT/EP2017/074619 patent/WO2018065289A1/fr active Application Filing
- 2017-09-28 KR KR1020197012955A patent/KR20190057382A/ko not_active Application Discontinuation
- 2017-09-28 JP JP2019538715A patent/JP2019534580A/ja active Pending
- 2017-09-28 US US16/338,978 patent/US20190287721A1/en not_active Abandoned
- 2017-09-28 EP EP17771785.7A patent/EP3520127A1/fr not_active Withdrawn
- 2017-09-28 CA CA3036330A patent/CA3036330A1/fr not_active Abandoned
- 2017-09-28 RU RU2019112654A patent/RU2019112654A/ru unknown
-
2019
- 2019-03-28 IL IL265704A patent/IL265704A/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20190057382A (ko) | 2019-05-28 |
CN109844881A (zh) | 2019-06-04 |
BR112019006024A2 (pt) | 2019-06-18 |
CA3036330A1 (fr) | 2018-04-12 |
US20190287721A1 (en) | 2019-09-19 |
WO2018065289A1 (fr) | 2018-04-12 |
FR3057100A1 (fr) | 2018-04-06 |
JP2019534580A (ja) | 2019-11-28 |
EP3520127A1 (fr) | 2019-08-07 |
IL265704A (en) | 2019-05-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4992523B2 (ja) | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 | |
US11050046B2 (en) | Electrode slurry coating apparatus and method | |
CN107068401A (zh) | 多层陶瓷电容器及其制造方法 | |
US10079107B2 (en) | Metallized film capacitor, manufacturing method of metallized film capacitor, and metallized film laminate | |
KR102412702B1 (ko) | 적층 세라믹 콘덴서, 및 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법 | |
US20110247186A1 (en) | Method of manufacturing multilayer ceramic capacitor | |
RU2019112654A (ru) | Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления | |
KR20150050422A (ko) | 적층 세라믹 전자부품 및 머더 세라믹 적층체 | |
KR101087357B1 (ko) | 도전체-피복 적층체, 배선 회로판 및 이의 제조 프로세스 | |
RU2012139479A (ru) | Многослойный материал и способ его изготовления | |
DE112018000594T5 (de) | Verfahren zur herstellung eines mehrschichtigen magnetodielektrischen materials | |
US20150235766A1 (en) | Stacked Film Capacitor and Manufacturing Method of Stacked Film Capacitor | |
CN107571433B (zh) | 半导体封装的制造方法 | |
CN108140483A (zh) | 金属化膜的制造方法 | |
KR101783112B1 (ko) | 적층 커패시터 및 이의 제조방법 | |
US20040028888A1 (en) | Three dimensional multilayer RF module having air cavities and method fabricating same | |
CN112004592A (zh) | 微孔膜、电池隔板以及制造和使用它们的方法 | |
JP2007318056A (ja) | 積層型固体電解コンデンサ及び積層型固体電解コンデンサ用積層体チップの製造方法 | |
CN102496455A (zh) | 一种中留边单层金属化膜电容器 | |
WO2021049380A1 (ja) | フィルムコンデンサ素子 | |
KR20210146730A (ko) | 광대역 커패시터 | |
JPH02222129A (ja) | フィルムコンデンサおよびその製造方法 | |
JP2016046291A (ja) | フィルムコンデンサ素子及びその製造方法 | |
US9887258B2 (en) | Method for fabricating capacitor | |
DE102005013125A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von elektronischen Einheiten in einer mehrlagigen Ausgangsstruktur |