RU2019112654A - Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления - Google Patents

Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления Download PDF

Info

Publication number
RU2019112654A
RU2019112654A RU2019112654A RU2019112654A RU2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A RU 2019112654 A RU2019112654 A RU 2019112654A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
dielectric
dielectric layer
thickness
layer
metallized
Prior art date
Application number
RU2019112654A
Other languages
English (en)
Inventor
Жан-Мишель ДЕПОН
Original Assignee
Блю Солюшнз
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Блю Солюшнз filed Critical Блю Солюшнз
Publication of RU2019112654A publication Critical patent/RU2019112654A/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • H01G4/14Organic dielectrics
    • H01G4/18Organic dielectrics of synthetic material, e.g. derivatives of cellulose
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/005Electrodes
    • H01G4/015Special provisions for self-healing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • H01G4/14Organic dielectrics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30Stacked capacitors
    • H01G4/308Stacked capacitors made by transfer techniques
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/32Wound capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/33Thin- or thick-film capacitors 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Claims (52)

1. Пленочный конденсатор (1) очень высокой емкости, содержащий диэлектрический слой (100), образованный по меньшей мере одной диэлектрической пленкой (100а, …, 100i), при этом каждая диэлектрическая пленка (100а, …, 100i) этого диэлектрического слоя (100) имеет следующие параметры:
- относительная диэлектрическая проницаемость [εf i], при этом εf i ≥ 10,
- толщина [ef i], при этом 0.05 мкм ≤ ef i ≤ 50 мкм,
- диэлектрическая жесткость [Ef i], при этом Ef i ≥ 50 В/мкм,
при этом в параметрах "f" обозначает «пленка», и i ≥ 1, где "i" обозначает "i-ую" диэлектрическую пленку (100i) указанного диэлектрического слоя (100),
причем этот диэлектрический слой (100) отделяет первую структуру-носитель (200) электронных зарядов от второй структуры-носителя (300) электронных зарядов, причем эти две структуры имеют противолежащую поверхность (S), отделенную диэлектрическим слоем (100),
отличающийся тем, что:
А) граница между диэлектрическим слоем (100) и первой структурой (200) отвечает следующим требованиям:
- участок противолежащей поверхности (S), где указанная первая структура (200) входит в прямой контакт с указанным диэлектрическим слоем (100), превышает 90%,
- во всех зонах границы, где диэлектрической слой (100) не входит в прямой контакт с указанной первой структурой (200), они локально разделены N толщинами (где N ≥ 1) «паразитных» диэлектриков (400), при этом каждая толщина имеет относительную диэлектрическую проницаемость [εp j] и диэлектрическую жесткость [Ep j], которые соответствуют отношению:
εp j Ep j ≥ Min(εf i Ef i),
где "p" обозначает "толщину паразитного диэлектрика", и "j" обозначает "j-ую" толщину, при этом 1 ≤ j ≤ N,
В) граница между диэлектрическим слоем (100) и второй структурой (300) отвечает следующим требованиям:
- участок противолежащей поверхности (S), где указанная вторая структура (300) входит в прямой контакт с указанным диэлектрическим слоем (100), превышает 90%,
- во всех зонах границы, где диэлектрической слой (100) не входит в прямой контакт с указанной второй структурой (300), они локально разделены толщинами М (где М ≥ 1) «паразитных» диэлектриков (500), при этом каждая толщина имеет относительную диэлектрическую проницаемость [εp k] и диэлектрическую жесткость [Ep k], которые соответствуют отношению:
εp k Ep k ≥ Min(εf i Ef i),
где "p" обозначает "толщину паразитного диэлектрика", и "k" обозначает "k-ую" толщину, при этом 1 ≤ k ≤ М,
при соблюдении следующего дополнительного условия:
С) когда указанный диэлектрический слой (100) состоит из более чем одной диэлектрической пленки (100i), то вся граница Σ между двумя диэлектрическими пленками (100i) отвечает следующим условиям:
- участок противолежащей поверхности (S), где обе диэлектрические пленки (100i) входят в прямой контакт, превышает 90%,
- во всех зонах границы Σ, где две диэлектрические пленки (100i) не входят в прямой контакт, эти пленки локально разделены PΣ толщинами (при PΣ ≥ 1) «паразитных» диэлектриков (600), при этом каждая толщина имеет относительную диэлектрическую проницаемость [εp ] и диэлектрическую жесткость [Ep ], которые соответствуют отношению:
εp Ep ≥ Min(εf i Ef i),
где "p" обозначает "толщину паразитного диэлектрика", и "χℓ" обозначает " ℓ-ую" толщину, при этом 1 ≤ ℓ ≤ PΣ, при этом указанный диэлектрический слой выполнен из полимерного материала или на основе полимерного материала, исключая исключительно минеральный материал.
2. Пленочный конденсатор по п. 1, отличающийся тем, что указанный диэлектрический слой (100) не является самонесущим.
3. Способ изготовления пленочного конденсатора по п. 2, отличающийся тем, что содержит следующие последовательные этапы:
а) используют второй диэлектрический слой (101), называемый «опорным слоем», с относительной диэлектрической проницаемостью [εf'] и толщиной [ef'], который металлизирован на одной из своих двух противоположных сторон и который имеет диэлектрическую жесткость [Ef'],
b) указанный диэлектрический слой (100) укладывают на указанный опорный слой (101) таким образом, чтобы он входил в контакт с металлизированной стороной этого опорного слоя,
с) производят металлизацию стороны указанного диэлектрического слоя (100), которая осталась открытой после этапа b),
d) производят намотку в рулон комплекса, полученного в результате этапа с), или укладывают в стопу несколько комплексов, полученных в результате этапа с),
при этом указанные диэлектрический слой (100) и опорный слой (101) удовлетворяют следующему отношению:
ef' Ef' ≥ ef Ef, в котором выражения ef и Ef определены в пункте 1.
4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что используют опорную пленку (101), металлизированную на своих двух сторонах, причем на этапе d) совмещают, то есть зеркально располагают металлизированную поверхность указанного диэлектрического слоя (100) с металлизированной поверхностью одной из сторон указанного опорного слоя (101).
5. Способ по п. 3, отличающийся тем, что используют опорную пленку (101), металлизированную на одной из своих сторон, при этом на этапе d) совмещают, то есть зеркально располагают металлизированную поверхность указанного диэлектрического слоя (100) с металлизированной поверхностью указанного опорного слоя (101).
6. Способ по п. 5, отличающийся тем, что используют опорный слой (101), относительная диэлектрическая проницаемость [εf'] которого меньше или равна 10.
7. Способ по одному из пп. 3-6, отличающийся тем, что этап d) осуществляют в вакууме или при давлении, меньшем или равном 10 миллибар.
8. Способ по одному из пп. 3-7, отличающийся тем, что на этапе d) новый комплекс прижимают к предыдущему, прикладывая давление, в частности, при помощи нажимного катка или за счет регулирования угла укладки.
9. Способ по п. 3, отличающийся тем, что содержит следующие этапы, на которых:
а) указанный диэлектрический слой (100) укладывают на опорную пленку (300), образованную металлическим листом;
b) укладывают комплекс, полученный в результате этапа а), на опорный диэлектрический слой (101);
с) укладывают комплекс, полученный в результате этапа b), на вторую опорную пленку (400), образованную металлическим листом;
d) наматывают в рулон комплекс, полученный в результате этапа с), или укладывают в стопу несколько комплексов, полученных в результате этапа с).
10. Способ по п. 9, отличающийся тем, что указанные диэлектрические слои (100, 101) являются идентичными.
11. Способ по п. 9 или 10, отличающийся тем, что указанные опорные пленки (300, 400) являются идентичными металлическими листами.
12. Способ по одному из пп. 9-11, отличающийся тем, что между указанными этапами а) и b) подвергают металлизации оставшуюся открытой сторону указанного диэлектрического слоя (100).
13. Способ по п. 12, отличающийся тем, что между указанными этапами b) и с) подвергают металлизации оставшуюся открытой сторону указанного диэлектрического слоя (100).
14. Способ по одному из пп. 9-13, отличающийся тем, что этап d) осуществляют в вакууме или при давлении, меньшем или равном 10 миллибар.
15. Способ по одному из пп. 9-14, отличающийся тем, что на этапе d) новый комплекс прижимают к предыдущему, прикладывая давление, в частности, при помощи нажимного катка или за счет регулирования угла укладки.
16. Способ по одному из пп. 9-15, отличающийся тем, что используют пористые листы.
17. Способ по одному из пп. 9-16, отличающийся тем, что используют листы, которые включают в себя предохранители.
18. Способ по п. 17, отличающийся тем, что выполнение указанных предохранителей осуществляют, применяя одну или другую из следующих технологий:
- удаление материала из указанного листа таким образом, чтобы оставшийся материал образовал указанные предохранители, при этом удаление производят при помощи такой технологии, как испарение металла, пробивка или механическое сверление металла, растворение или химическое травление металла;
- добавление материала к указанному листу таким образом, чтобы добавленный материал образовал указанные предохранители, при этом добавление производят при помощи такой технологии, как сварка, пайка, клепание или штамповка.
RU2019112654A 2016-10-03 2017-09-28 Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления RU2019112654A (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1659489A FR3057100A1 (fr) 2016-10-03 2016-10-03 Condensateur film a tres haute capacite et un procede de fabrication
FR1659489 2016-10-03
PCT/EP2017/074619 WO2018065289A1 (fr) 2016-10-03 2017-09-28 Condensateur film a tres haute capacite et son procede de fabrication

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2019112654A true RU2019112654A (ru) 2020-11-06

Family

ID=57539459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019112654A RU2019112654A (ru) 2016-10-03 2017-09-28 Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления

Country Status (11)

Country Link
US (1) US20190287721A1 (ru)
EP (1) EP3520127A1 (ru)
JP (1) JP2019534580A (ru)
KR (1) KR20190057382A (ru)
CN (1) CN109844881A (ru)
BR (1) BR112019006024A2 (ru)
CA (1) CA3036330A1 (ru)
FR (1) FR3057100A1 (ru)
IL (1) IL265704A (ru)
RU (1) RU2019112654A (ru)
WO (1) WO2018065289A1 (ru)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2595244B (en) * 2020-05-18 2022-05-25 Inductive Power Projection Ltd Wireless power transfer

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2175590B1 (ru) * 1972-03-15 1975-10-24 Materiel Telephonique
EP0038890A3 (en) * 1980-04-29 1983-11-02 Cornell-Dubilier Electronics Inc. Self-healing capacitors
JPH02138721A (ja) * 1988-11-18 1990-05-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 金属化フィルムコンデンサ
JPH02138721U (ru) * 1989-04-25 1990-11-20
US5610796A (en) * 1993-02-19 1997-03-11 Electronic Concepts, Inc. Metallized capacitor having increased dielectric breakdown voltage and method for making the same
JP2006521224A (ja) * 2003-02-20 2006-09-21 ナムローゼ・フェンノートシャップ・ベーカート・ソシエテ・アノニム 積層構造体の製造方法
WO2004079793A2 (en) * 2003-03-05 2004-09-16 Duff William B Jr Electrical charge storage device having enhanced power characteristics
JP2006104369A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Toray Ind Inc 二軸配向ポリフェニレンサルファイドフィルムおよびコンデンサ
CN1897178A (zh) * 2005-07-15 2007-01-17 上海紫东薄膜材料股份有限公司 一种电容器用的双向拉伸聚酯薄膜及其生产方法
US20090047541A1 (en) * 2007-08-15 2009-02-19 Lithium Power Technologies, Inc. Methods and Systems of Dielectric Film Materials For Use in Capacitors
CN103797552B (zh) * 2011-06-03 2017-08-29 W.L.戈尔及同仁股份有限公司 聚四氟乙烯薄膜电容器
JP2016086114A (ja) * 2014-10-28 2016-05-19 トヨタ自動車株式会社 フィルムコンデンサ
MX2017005427A (es) 2014-11-04 2017-06-21 Capacitor Sciences Inc Dispositivos de almacenamiento de energia y metodos de produccion de los mismos.
RU2017128756A (ru) 2015-02-26 2019-03-27 Кэпэситор Сайенсиз Инкорпорейтед Самовосстанавливающийся конденсатор и способы его получения

Also Published As

Publication number Publication date
KR20190057382A (ko) 2019-05-28
CN109844881A (zh) 2019-06-04
BR112019006024A2 (pt) 2019-06-18
CA3036330A1 (fr) 2018-04-12
US20190287721A1 (en) 2019-09-19
WO2018065289A1 (fr) 2018-04-12
FR3057100A1 (fr) 2018-04-06
JP2019534580A (ja) 2019-11-28
EP3520127A1 (fr) 2019-08-07
IL265704A (en) 2019-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4992523B2 (ja) 積層セラミック電子部品およびその製造方法
US11050046B2 (en) Electrode slurry coating apparatus and method
CN107068401A (zh) 多层陶瓷电容器及其制造方法
US10079107B2 (en) Metallized film capacitor, manufacturing method of metallized film capacitor, and metallized film laminate
KR102412702B1 (ko) 적층 세라믹 콘덴서, 및 적층 세라믹 콘덴서의 제조 방법
US20110247186A1 (en) Method of manufacturing multilayer ceramic capacitor
RU2019112654A (ru) Пленочный конденсатор очень высокой емкости и способ его изготовления
KR20150050422A (ko) 적층 세라믹 전자부품 및 머더 세라믹 적층체
KR101087357B1 (ko) 도전체-피복 적층체, 배선 회로판 및 이의 제조 프로세스
RU2012139479A (ru) Многослойный материал и способ его изготовления
DE112018000594T5 (de) Verfahren zur herstellung eines mehrschichtigen magnetodielektrischen materials
US20150235766A1 (en) Stacked Film Capacitor and Manufacturing Method of Stacked Film Capacitor
CN107571433B (zh) 半导体封装的制造方法
CN108140483A (zh) 金属化膜的制造方法
KR101783112B1 (ko) 적층 커패시터 및 이의 제조방법
US20040028888A1 (en) Three dimensional multilayer RF module having air cavities and method fabricating same
CN112004592A (zh) 微孔膜、电池隔板以及制造和使用它们的方法
JP2007318056A (ja) 積層型固体電解コンデンサ及び積層型固体電解コンデンサ用積層体チップの製造方法
CN102496455A (zh) 一种中留边单层金属化膜电容器
WO2021049380A1 (ja) フィルムコンデンサ素子
KR20210146730A (ko) 광대역 커패시터
JPH02222129A (ja) フィルムコンデンサおよびその製造方法
JP2016046291A (ja) フィルムコンデンサ素子及びその製造方法
US9887258B2 (en) Method for fabricating capacitor
DE102005013125A1 (de) Verfahren zur Herstellung von elektronischen Einheiten in einer mehrlagigen Ausgangsstruktur