RU2016133983A - Устройство и способ проверки свойства поверхности - Google Patents

Устройство и способ проверки свойства поверхности Download PDF

Info

Publication number
RU2016133983A
RU2016133983A RU2016133983A RU2016133983A RU2016133983A RU 2016133983 A RU2016133983 A RU 2016133983A RU 2016133983 A RU2016133983 A RU 2016133983A RU 2016133983 A RU2016133983 A RU 2016133983A RU 2016133983 A RU2016133983 A RU 2016133983A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
test
test object
detector
bridge circuit
checking
Prior art date
Application number
RU2016133983A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2016133983A3 (ru
RU2666176C2 (ru
Inventor
Йосиясу МАКИНО
Кадзухиро ОТА
Хидеаки КАГА
Original Assignee
Синтокогио, Лтд.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Синтокогио, Лтд. filed Critical Синтокогио, Лтд.
Publication of RU2016133983A publication Critical patent/RU2016133983A/ru
Publication of RU2016133983A3 publication Critical patent/RU2016133983A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2666176C2 publication Critical patent/RU2666176C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9073Recording measured data
    • G01N27/9086Calibrating of recording device

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Claims (27)

1. Устройство для проверки свойства поверхности для осуществления проверки свойства поверхности тестового объекта, подвергнутого обработке поверхности, содержащее:
мостовую схему переменного тока;
источник питания переменного тока для подачи переменного тока в мостовую схему переменного тока; и
устройство анализа для анализа свойства поверхности тестового объекта на основе выходного сигнала мостовой схемы переменного тока,
причем мостовая схема переменного тока имеет переменный резистор, выполненный с возможностью изменения соотношения распределения между первым резистором и вторым резистором, проверочный детектор, содержащий катушку, выполненную с возможностью возбуждать магнетизм, вызванный переменным током, и изготовленный таким образом, что катушка возбуждает вихревой ток в тестовом объекте, и эталонный детектор, выполненный с возможностью возбуждения вихревого тока в эталонном тестовом объекте, имеющем ту же структуру, что и тестовый объект, для определения эталонного состояния, служащего эталоном для сравнения с выходной информацией проверочного детектора, при этом первый резистор, второй резистор, эталонный детектор и проверочный детектор образуют мостовую схему; и
причем устройство анализа анализирует свойство поверхности тестового объекта путем сравнения выходного сигнала мостовой схемы переменного тока с заранее определенным пороговым значением при подаче мощности переменного тока в мостовую схему переменного тока, проверочный детектор измеряет электромагнитное свойство тестового объекта, и эталонный детектор определяет эталонное состояние.
2. Устройство для проверки свойства поверхности по п.1, в котором проверочный детектор содержит катушку, намотанную вокруг зоны проверки свойства поверхности тестового объекта, и вихревой ток возбуждается в тестовом объекте путем подачи мощности переменного тока в катушку от источника питания переменного тока, чтобы измерить электромагнитное свойство тестового объекта.
3. Устройство для проверки свойства поверхности по п.1 или 2, в котором эталонный тестовый объект представляет собой необработанный объект, к которому не была применена обработка поверхности.
4. Устройство для проверки свойства поверхности по любому пп.1-3, причем устройство для проверки свойства поверхности включает множество проверочных детекторов и дополнительно содержит переключающее устройство, выполненное с возможностью переключения между проверочными детекторами, причем каждый из упомянутых детекторов соединен с мостовой схемой.
5. Способ проверки свойства поверхности, содержащий следующие этапы:
обеспечение устройства для проверки свойства поверхности по любому из пп.1-4;
этап установки для установки проверочного детектора в заранее определенном положении относительно тестового объекта, таким образом, что в тестовом объекте возбуждают вихревой ток во время подачи мощности переменного тока от источника питания переменного тока в мостовую схему переменного тока; и
- этап анализа для анализа свойства поверхности тестового объекта путем сравнения выходного сигнала, исходящего от мостовой схемы переменного тока, с пороговым значением при размещении эталонного тестового объекта в эталонном детекторе,
причем этап установки и этап анализа выполняют для каждого тестового объекта.
6. Способ по п.5, в котором в качестве порогового значения в начале анализа тестового объекта используют первоначальное пороговое значение Ethi, первоначальное пороговое значение Ethi определяют на основе выходного сигнала ЕА, полученного, когда необработанный объект размещен в проверочном детекторе, и на основе выходного сигнала ЕВ, полученного когда объект с обработанной поверхностью, имеющий хорошее состояние поверхности, размещен в проверочном детекторе.
7. Способ по п.6, в котором первоначальное пороговое значение Ethi определяют на основе среднего значения EAav, полученного путем усреднения выходных сигналов, когда множество необработанных объектов соответственно размещено в проверочном детекторе, и на основе среднего значения EBav, полученного путем усреднения выходных сигналов, когда множество обработанных объектов с хорошим состоянием поверхности размещено в проверочном детекторе.
8. Способ по п.7, в котором первоначальное пороговое значение Ethi вычисляют по приведенной далее формуле, где σА - стандартное отклонение выходных сигналов ЕА, и σВ - стандартное отклонение выходных сигналов ЕВ:
Ethi=(EAav ⋅ σB+EBav ⋅ σA)/( σA+σB).
9. Способ по любому из пп.5-8, в котором устройство анализа содержит запоминающее устройство для хранения каждого выходного сигнала, когда проверяют свойство поверхности каждого тестового объекта, и пороговое значение обновляют на основе сохраненных выходных сигналов.
10. Способ по любому из пп.5-9, дополнительно содержащий этап сохранения смещения для сохранения выходного сигнала в качестве первоначальных значений смещения, выходной сигнал получают, когда в проверочном детекторе не установлен тестовый объект,
причем этап установки включает этап получения выходных сигналов в качестве проверочного значения смещения до установки тестового объекта в проверочный детектор, и
причем на этапе анализа свойство поверхности тестового объекта анализируют путем коррекции выходного сигнала от мостовой схемы переменного тока, на основе первоначального значения смещения и проверочного значения смещения, в то время пока эталонный тестовый объект размещен в эталонном детекторе.
11. Способ по п.10, в котором не выполняют проверку свойства поверхности тестового объекта, когда разность напряжений, представляющая собой разность между первоначальным значением смещения и проверочным значением смещения, превышает допустимую величину, определенную на основе условий эксплуатации устройства для проверки свойства поверхности.
12. Способ по любому из пп.5-11, в котором устройство оценки содержит запоминающее устройство, и идентификационную информацию для каждого тестового объекта и данные проверки свойства поверхности для тестовых объектов коррелируют и сохраняют в запоминающем устройстве.
13. Способ по любому из пп.5-12, в котором этап анализа включает этап обнаружения установки тестового объекта в проверочный детектор на основе изменений в сигнале, исходящем от мостовой схемы переменного тока, и анализ свойства поверхности тестового объекта выполняют после того, как обнаруживают установку тестового объекта в проверочный детектор.
14. Способ по п.13, в котором устройство для проверки свойства поверхности содержит множество проверочных детекторов и переключающее устройство, и переключающее устройство переключает проверочный детектор после определения того, что тестовый объект удален из проверочного детектора, с которым соединена мостовая схема переменного тока, причем удаление тестового объекта определяют на основе изменений в выходном сигнале от мостовой схемы переменного тока.
15. Способ по любому из пп.5-14, в котором устройство для проверки свойства поверхности содержит множество проверочных детекторов и переключающее устройство, устройство анализа содержит запоминающее устройство, и запоминающее устройство коррелирует и сохраняет идентификационную информацию для проверочных детекторов, которые выполнили проверку тестового объекта, с данными проверки свойства поверхности для тестового объекта.
RU2016133983A 2014-01-20 2014-09-19 Устройство и способ проверки свойства поверхности RU2666176C2 (ru)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014007788 2014-01-20
JP2014-007788 2014-01-20
JP2014024198 2014-02-12
JP2014-024198 2014-02-12
PCT/JP2014/074845 WO2015107725A1 (ja) 2014-01-20 2014-09-19 表面特性検査装置及び表面特性検査方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2016133983A true RU2016133983A (ru) 2018-02-28
RU2016133983A3 RU2016133983A3 (ru) 2018-02-28
RU2666176C2 RU2666176C2 (ru) 2018-09-10

Family

ID=53542637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016133983A RU2666176C2 (ru) 2014-01-20 2014-09-19 Устройство и способ проверки свойства поверхности

Country Status (10)

Country Link
US (1) US9964520B2 (ru)
EP (1) EP3098600B1 (ru)
JP (2) JP6052713B2 (ru)
KR (1) KR102159779B1 (ru)
CN (1) CN106415261B (ru)
BR (1) BR112016016597B1 (ru)
MX (1) MX361605B (ru)
RU (1) RU2666176C2 (ru)
TW (1) TWI641818B (ru)
WO (1) WO2015107725A1 (ru)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015125340A1 (ja) 2014-02-21 2015-08-27 新東工業株式会社 表面特性検査選別装置、表面特性検査選別システム及び表面特性検査選別方法
CN106164666B (zh) 2014-03-24 2019-07-23 新东工业株式会社 表面特性检查方法和表面特性检查装置
CN107709982B (zh) * 2015-06-25 2021-10-22 新东工业株式会社 钢材的表面特性评价装置和表面特性评价方法
MX2018000961A (es) * 2015-08-06 2018-06-07 Sintokogio Ltd Metodo de inspeccion de caracteristicas de superficie y aparato de inspeccion de caracteristicas de superficie para producto de acero.
WO2017199959A1 (ja) * 2016-05-16 2017-11-23 新東工業株式会社 表面処理加工方法及び表面処理加工装置
BR112019003974A2 (pt) * 2016-10-06 2019-05-28 Sintokogio Ltd método e aparelho de inspeção de propriedade de superfície.
MX2019013332A (es) 2017-05-16 2020-01-15 Sintokogio Ltd Metodo de procesamiento de tratamiento de superficie y dispositivo de procesamiento de tratamiento de superficie.
WO2019003647A1 (ja) * 2017-06-30 2019-01-03 新東工業株式会社 ショット処理装置
WO2019012991A1 (ja) * 2017-07-10 2019-01-17 新東工業株式会社 表面特性評価方法、表面特性評価装置及び表面特性評価システム
KR102039927B1 (ko) * 2018-03-12 2019-11-05 두산중공업 주식회사 탐촉자 및 이를 포함하는 결함 탐지 장치
CN109084918B (zh) * 2018-08-29 2020-06-23 中国人民解放军空军工程大学 一种基于电磁超声技术的激光冲击波结合力检测方法
JP7247074B2 (ja) * 2019-10-17 2023-03-28 株式会社東芝 レーザピーニング施工装置、方法及びプログラム
DE102020206906A1 (de) * 2020-06-03 2021-12-09 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Überwachung der Druckeigenspannungen von Bauteilen eines Kugelstrahlbearbeitungsprozesses
EP4012399A1 (en) * 2020-12-10 2022-06-15 Introsys Integration for Robotics Systems, Integração de Sistemas Robóticos, S.A. A probe and a system for the non-destructive inspection of a welding
JP2023042934A (ja) * 2021-09-15 2023-03-28 新東工業株式会社 試験システム及び試験方法
CN114345747A (zh) * 2022-01-10 2022-04-15 海安县巨力磁材有限责任公司 一种用于判断磁环伤痕质量的分拣装置

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3539006A (en) * 1968-05-22 1970-11-10 Lamson & Sessions Co Method and apparatus for inspecting annular articles
JPS557630A (en) 1978-06-30 1980-01-19 Sumitomo Metal Ind Ltd Inspection method of depth for peening machined layer at internal surface of tube
JPH073408B2 (ja) * 1985-03-29 1995-01-18 日本鋼管株式会社 パイプラインの孔食検出装置
US5537037A (en) * 1993-03-16 1996-07-16 Hitachi, Ltd. Apparatus with cancel coil assembly for cancelling a field parallel to an axial direction to the plural coils and to a squid pick up coil
EP0773440B1 (en) 1995-11-10 2003-01-15 New Cosmos Electric Co., Ltd. Method of determining magnetic powder concentration and apparatus used for the method
JPH1078411A (ja) * 1996-09-04 1998-03-24 New Cosmos Electric Corp 磁性粉濃度測定方法及びその装置
US5744954A (en) * 1996-11-25 1998-04-28 Cleveland State University Magnetic field generation in ferromagnetic metal objects
AU1405199A (en) * 1997-11-14 1999-06-07 Jentek Sensors, Inc. Multiple frequency quantitative coating characterization
US5898302A (en) 1997-11-25 1999-04-27 Cleveland State University Residual stress measurements in metal objects using four coils
US6844722B2 (en) 2001-08-09 2005-01-18 Avistar, Inc. Mutual inductance bridge for detection of degradation in metallic components
TWI270662B (en) * 2002-06-28 2007-01-11 Lam Res Corp Method and apparatus of arrayed, clustered or coupled eddy current sensor configuration for measuring conductive film properties
US6995556B2 (en) * 2002-07-23 2006-02-07 Ensco, Inc. Electromagnetic gage sensing system and method for railroad track inspection
JP2005331332A (ja) * 2004-05-19 2005-12-02 Denso Corp センサ装置
GB0505089D0 (en) * 2005-03-11 2005-04-20 Glaxo Group Ltd System and methods for detecting environmental conditions
JP5004519B2 (ja) 2006-06-22 2012-08-22 株式会社不二製作所 ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置
JP2009036682A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Toyota Motor Corp 渦電流センサ、硬化層深さ検査装置及び硬化層深さ検査方法
JP2009168556A (ja) * 2008-01-15 2009-07-30 Meiwa E Tec:Kk 焼入れ検査装置および焼入れ検査方法
JP5018591B2 (ja) * 2008-03-27 2012-09-05 トヨタ自動車株式会社 判定基準データを作成する装置、方法、及びプログラム
JP4905560B2 (ja) * 2010-01-14 2012-03-28 トヨタ自動車株式会社 渦流計測用センサ、及び、渦流計測用センサによる検査方法
JP5048822B2 (ja) * 2010-10-04 2012-10-17 大和製衡株式会社 計量装置の異常検出方法及び計量装置
TWI530679B (zh) * 2011-05-10 2016-04-21 新東工業股份有限公司 表面特性檢查裝置及表面特性檢查方法
RU2492454C1 (ru) * 2012-04-03 2013-09-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный университет" Способ измерения объемной плотности горной породы в составе горной массы и система для его осуществления
JP5877505B2 (ja) * 2013-05-30 2016-03-08 新東工業株式会社 表面特性検査装置、表面特性検査システム及び表面特性検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP3098600B1 (en) 2023-11-01
KR20160111438A (ko) 2016-09-26
RU2016133983A3 (ru) 2018-02-28
JP6421808B2 (ja) 2018-11-14
JP6052713B2 (ja) 2016-12-27
EP3098600A4 (en) 2017-11-15
US9964520B2 (en) 2018-05-08
CN106415261A (zh) 2017-02-15
JP2016224073A (ja) 2016-12-28
MX2016008731A (es) 2016-10-13
MX361605B (es) 2018-12-11
TWI641818B (zh) 2018-11-21
BR112016016597B1 (pt) 2020-12-01
WO2015107725A1 (ja) 2015-07-23
CN106415261B (zh) 2019-07-23
BR112016016597A2 (pt) 2017-08-08
RU2666176C2 (ru) 2018-09-10
US20160341699A1 (en) 2016-11-24
EP3098600A1 (en) 2016-11-30
KR102159779B1 (ko) 2020-09-25
TW201530108A (zh) 2015-08-01
JPWO2015107725A1 (ja) 2017-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2016133983A (ru) Устройство и способ проверки свойства поверхности
US10444273B2 (en) Partial discharge measurement device
MX2015012708A (es) Aparatos, metodos y sistemas para medir y detectar descarga electrica.
US9989581B2 (en) Method and device for locating partial discharges in electric cables
WO2012078958A3 (en) Methods and apparatus for sensing ground leakage and automated self testing thereof
KR20170064908A (ko) 친환경 차량의 절연파괴 검출장치 및 방법
US10048227B2 (en) Surface property inspection method and apparatus
CY1123492T1 (el) Συστημα και μεθοδος ανιχνευσης απατης
RU2014152062A (ru) Распознавание неисправностей в сетях энергоснабжения
Esmail et al. Detection of partial saturation and waveform compensation of current transformers
EP2881955A1 (en) Power device including current transformer and method for compensating of current transformer
JP2020537118A (ja) 電流フローの変化に基づくアーク検出
KR101307319B1 (ko) 부분 방전 신호 검출 시스템 및 그 방법
CN110869786A (zh) Ups电池组的接地故障检测
US9851394B2 (en) Partial-discharge measurement method and high-voltage device inspected using same
RU2016122192A (ru) Система и способ испытания узла определения давления
JP6949675B2 (ja) 処理装置、検査装置および処理方法
CN105319444A (zh) 一种导电材料电导率均匀程度评估方法
CN106855615A (zh) 一种电流传感器异常检测方法及装置
US20130057311A1 (en) Screening method, screening device and program
JP6045524B2 (ja) 埋設金属体の交流腐食リスク計測評価方法及び計測評価システム
US10520560B2 (en) Magnetic field sensing apparatus and detection method thereof
KR101954924B1 (ko) 무정전 절연저항 측정 시스템 및 방법
RU2642137C2 (ru) Способ идентификации источника блуждающего тока
EP2706368B1 (en) Method for the detection of shorted turns on salient poles of rotors of electric rotating machines