JP5004519B2 - ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置 - Google Patents
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Description
ショットピーニング技術協会 編;日刊工業新聞社 発行「ショットピーニングの方法と効果 金属疲労・残留応力」(1997年12月24日発行)第48〜51頁
前記検査対象と同材質で,かつ,残留応力の発生状態が判明しているサンプルのショットピーニング処理面上に検査回路に設けられたコイルを配置すると共に,該検査回路に周波数を変化させながら交流信号を入力して,前記検査回路における電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性を測定すると共に,これをサンプルデータとして取得し,
前記検査対象のショットピーニング処理面上に,前記検査回路に設けられたコイルを配置すると共に,該検査回路に周波数を変化させながら交流信号を入力して,前記検査回路における電圧と電流の位相角変化θ shot の周波数応答特性を測定すると共に,これを検査対象データとして取得し,
前記検査対象と同材質で,かつ,ショットピーニング処理がされていない基準材の表面上に前記検査回路に設けられたコイルを配置すると共に,該検査回路に周波数を変化させながら交流信号を入力して,前記検査回路における電圧と電流の位相角変化θ non-shot を基準データとして取得し,
前記基準データと前記サンプルデータの位相角差(Δθ),及び前記基準データと検査対象データの位相角差(Δθ)が,周波数の変化に対して変化のピークを示す値を極値(Δθ P )として求め,前記極値(Δθ P )及び/又は前記極値(Δθ P )が発生する周波数(f P )を比較ポイントとして前記位相角差(Δθ)を比較して,前記サンプルにおいて判明している残留応力の発生状態に基づいて,前記検査対象における残留応力の発生状態を検査することを特徴とする(請求項1)。
検査対象上に配置されるコイルを備えた検査回路と,
前記検査回路に対して周波数を変化させながら交流信号を出力する検査信号発生手段と,
前記検査回路における電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性を測定する測定手段と,
前記検査対象と同材質で,かつ,残留応力の発生状態が判明しているサンプル上に前記検査回路の前記コイルを配置して測定した前記電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性をサンプルデータとして記憶すると共に,前記検査対象と同材質で,かつ,ショットピーニング処理がされていない基準材において前記検査回路で発生した電圧と電流の位相角変化(θ non-shot )を基準データとして記憶する記憶手段と,
前記検査対象上に前記検査回路の前記コイルを配置して測定された前記検査回路の前記電圧と電流の位相角変化(θ shot )の周波数応答特性を検査対象データとし,該検査対象データを前記記憶手段に記憶された前記サンプルデータと比較する比較手段と,
前記比較手段による比較結果に基づき,前記検査対象における残留応力の発生状態を前記サンプルにおいて判明している残留応力の発生状態に基づいて判定する判定手段を備え,
前記比較手段が,前記検査対象データと前記サンプルデータの比較を,前記基準データと前記サンプルデータの位相角差(Δθ)と,前記基準データと前記検査対象データの位相角差(Δθ)の比較によって行うと共に,該位相角差の比較を,前記位相角差(Δθ)が周波数fの変化に対して変化のピークを示す値を極値(Δθ P )とし,前記極値(Δθ P )及び/又は前記極値(Δθ P )が発生する周波数(f P )を比較ポイントとして行うことを特徴とする(請求項4)。
前記判定手段が,前記比較手段による比較結果に対応して,前記対応関係に基づいて検査対象の表面に生じた残留応力発生層の形成深さbを判定するように構成しても良く(請求項5),
前記記憶手段に前記サンプルデータとして,残留応力発生層の透磁率μ1及び/又は抵抗率ρ1の変化と,この透磁率μ1及び/又は抵抗率ρ1の変化に伴って変化する前記検査回路における前記位相角差(Δθ)の周波数応答特性(f−Δθ)との対応関係を記憶すると共に,
前記判定手段が,前記比較手段による比較結果に対応して,前記対応関係に基づいて検査対象の表面に生じた残留応力発生層の透磁率μ1及び/又は抵抗率ρ1を判定するようにすることもできる(請求項6)。
1.本発明の概要
本発明の非破壊検査方法において検査の対象とするショットピーニング処理面,特に,ショットとして粒径が数十μm程度の微粒子を用いたショットピーニング処理では,被処理材の表面より数十μm程度の比較的浅い部分に残留応力が生じることから,ショットピーニング処理面における残留応力の分布状態の検査では,表面からの深さ数μm〜100μmの範囲における残留応力の発生状態を測定することができれば目的を達成できる。
鋼材における残留応力の発生状態と前記コイルを備えた検査回路におけるインピーダンスの周波数応答特性との間の関係は,以下の通りである。
(1)算出条件
被処理材上に配置したコイルのインダクタンスの解析モデルを図1に示す。
図1に示す解析モデルにおいて,インピーダンスZ及び位相角θを求めるための計算式は,以下のようにして導き出したものである。
なるベクトルポテンシャル
を定義する。
は系が回転対称であるためφ方向の成分
だけを持つ。そこで,
の添え字を省略して
と表記することにすれば,(3)式より導体試料外部の支配方程式は次式で与えられる。
を求めれば,それよりコイルのインダクタンスが求められる。このような解析は,尾上が既に解いている(尾上守夫:導体に近接した有限長ソレノイドコイルの解析,電気学会誌,vol.88,pp.1894-1902,(1968))。この解を用いればコイルのインダクタンスLは次式で与えられる。
以上で説明した解析モデル及び計算式を用いることで,被処理材の表面に形成された残留応力発生層とインピーダンスの周波数応答特性との間に以下の対応関係が存在することが確認できる。
なお,計算による対応関係を導き出すにあたり,ショットピーニング前後におけるインピーダンスの絶対値の変化Δ|Z|と,位相角の変化Δθを次式のように定義した。
Δθ= θshot - θnon-shot ……(12)
(3−2−1)対応関係一般
(a) 一般鋼材におけるΔ|Z|及びΔθの周波数応答特性
多くの鋼材では,塑性変形すると透磁率が大きく減少し,導電率が僅かに減少することが判っている。
ステンレス鋼や焼入れ後に残留オーステナイトを含む鋼材では,塑性変形するとオーステナイトがマルテンサイトに変態するためその透磁率が増加する。
図8は,残留応力発生層の透磁率が200×μ0から100×μ0に減少し,導電率が4.0×106(1/Ωm)から3.08×106(1/Ωm)に減少したものと仮定して,残留応力発生層の深さbが変化したときのf−Δθ線図を計算した結果である。
(1) 100×μ0から50×μ0に減少する場合,および,
(2) 400×μ0から200×μ0に減少する場合
の2つのパターンについて計算した結果を図9および図10に示す。
図11は透磁率の変化がf−Δθ線図に及ぼす影響を計算した結果である。
(1) 200×μ0から50×μ0に減少する場合,
(2) 200×μ0から100×μ0に減少する場合,および
(3) 200×μ0から150×μ0に減少する場合,
の3パターンを比較している。
図12は抵抗率(導電率の逆数)の変化がf−Δθ線図に及ぼす影響を計算した結果である。
(1) ρ2(=25×10-8Ωm)から1.1×ρ2 に増加する場合,
(2) ρ2(=25×10-8Ωm)から1.3×ρ2 に増加する場合,および
(3) ρ2(=25×10-8Ωm)から1.5×ρ2 に増加する場合,
の3パターンについて比較した。
以上のようにして計算によって求めた対応関係の存在は,以下に示す実験結果によっても実証される。
実施例1として,微粒子ショットピーニング処理したSKD61鋼について,残留応力の発生状態とΔθ及びfPの対応関係を確認した結果を以下に示す。
実施例2として浸炭焼入れしたSCr420鋼に微粒子ショットピーニング処理したものを試料として,残留応力の発生状態とΔθ及びfPの対応関係について実測した結果を示す。
以上,図6〜図20を参照して説明したように,検査回路におけるインピーダンスの周波数応答特性,一例としてこの周波数応答特性を表すf−Δθ線図には,ショットピーニングによって生じた残留応力の影響によって変化した被処理材表面の電磁気特性の特徴が明確に現れると共に,残留応力の発生状態に対応して特徴的な変化を示すことが確認された。
以上説明した非破壊検査方法を実施するための本発明の非破壊検査装置を一例として図3に示す。
j:虚数単位
f:正弦波交流の角周波数
ω:正弦波交流の角周波数
μ0:空気の透磁率
μ1:試料の残留応力発生層の透磁率
μ2:試料の透磁率
σ1:試料の残留応力発生層の導電率
σ2:試料の導電率
ρ1:試料の残留応力発生層の抵抗率(=1/σ1)
ρ2:試料の抵抗率(=1/σ2)
b:試料の残留応力発生層の深さ
L:試料表面に置いたコイルのインダクタンス
a:コイルの半径
n:コイルの巻き数
z1:コイル下端の座標
z2:コイル上端の座標
h:コイルと試料表面の隙間(=z1)
I:コイルの電流
J1:第一種ベッセル関数
R0:コイル素線の抵抗成分
C:ケーブルの容量成分
Re( ):複素数の実数部
Im( ):複素数の虚数部
Claims (6)
- ショットピーニングを施した鋼材を検査対象とした残留応力の検査方法において,
前記検査対象と同材質で,かつ,残留応力の発生状態が判明しているサンプルのショットピーニング処理面上に検査回路に設けられたコイルを配置すると共に,該検査回路に周波数を変化させながら交流信号を入力して,前記検査回路における電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性を測定すると共に,これをサンプルデータとして取得し,
前記検査対象のショットピーニング処理面上に,前記検査回路に設けられたコイルを配置すると共に,該検査回路に周波数を変化させながら交流信号を入力して,前記検査回路における電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性を測定すると共に,これを検査対象データとして取得し,
前記検査対象と同材質で,かつ,ショットピーニング処理がされていない基準材の表面上に前記検査回路に設けられたコイルを配置すると共に,該検査回路に周波数を変化させながら交流信号を入力して,前記検査回路における電圧と電流の位相角変化を基準データとして取得し,
前記基準データと前記サンプルデータの位相角差,及び前記基準データと検査対象データの位相角差が,周波数の変化に対して変化のピークを示す値を極値として求め,前記極値及び/又は前記極値が発生する周波数を比較ポイントとして前記位相角差を比較して,前記サンプルにおいて判明している残留応力の発生状態に基づいて,前記検査対象における残留応力の発生状態を検査することを特徴とするショットピーニング処理面の非破壊検査方法。 - 前記検査対象データと前記サンプルデータとの比較に基づき,ショットピーニングによって検査対象の表面に生じる残留応力発生層の深さを検査又は測定することを特徴とする請求項1記載のショットピーニング処理面の非破壊検査方法。
- 前記検査対象データと前記サンプルデータとの比較に基づき,ショットピーニングによる残留応力の付与によって生じる残留応力発生層の透磁率及び/又は抵抗率を検査又は測定することを特徴とする請求項1又は2記載のショットピーニング処理面の非破壊検査方法。
- ショットピーニングを施した鋼材を検査対象とした残留応力の検査装置において,
検査対象上に配置されるコイルを備えた検査回路と,
前記検査回路に対して周波数を変化させながら交流信号を出力する検査信号発生手段と,
前記検査回路における電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性を測定する測定手段と,
前記検査対象と同材質で,かつ,残留応力の発生状態が判明しているサンプル上に前記検査回路の前記コイルを配置して測定した前記電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性をサンプルデータとして記憶すると共に,前記検査対象と同材質で,かつ,ショットピーニング処理がされていない基準材において前記検査回路で発生した電圧と電流の位相角変化を基準データとして記憶する記憶手段と,
前記検査対象上に前記検査回路の前記コイルを配置して測定された前記検査回路の前記電圧と電流の位相角変化の周波数応答特性を検査対象データとし,該検査対象データを前記記憶手段に記憶された前記サンプルデータと比較する比較手段と,
前記比較手段による比較結果に基づき,前記検査対象における残留応力の発生状態を前記サンプルにおいて判明している残留応力の発生状態に基づいて判定する判定手段を備え,
前記比較手段が,前記検査対象データと前記サンプルデータの比較を,前記基準データと前記サンプルデータの位相角差と,前記基準データと前記検査対象データの位相角差の比較によって行うと共に,該位相角差の比較を,前記位相角差が周波数の変化に対して変化のピークを示す値を極値とし,前記極値及び/又は前記極値が発生する周波数を比較ポイントとして行うことを特徴とするショットピーニング処理面の非破壊検査装置。 - 前記記憶手段が前記サンプルデータとして,残留応力発生層の形成深さの変化と,この残留応力発生層の形成深さの変化に伴って変化する前記検査回路における前記位相角差の周波数応答特性との対応関係を記憶すると共に,
前記判定手段が,前記比較手段による比較結果に対応して,前記対応関係に基づいて検査対象の表面に生じた残留応力発生層の形成深さを判定することを特徴とする請求項4記載のショットピーニング処理面の非破壊検査装置。 - 前記記憶手段が前記サンプルデータとして,残留応力発生層の透磁率及び/又は抵抗率の変化と,この透磁率及び/又は抵抗率の変化に伴って変化する前記検査回路における前記位相角差の周波数応答特性との対応関係を記憶すると共に,
前記判定手段が,前記比較手段による比較結果に対応して,前記対応関係に基づいて検査対象の表面に生じた残留応力発生層の透磁率及び/又は抵抗率を判定することを特徴とする請求項4又は5記載のショットピーニング処理面の非破壊検査装置。
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