RU2013114322A - Устройство и способ для калибровки термометра по месту - Google Patents
Устройство и способ для калибровки термометра по месту Download PDFInfo
- Publication number
- RU2013114322A RU2013114322A RU2013114322/28A RU2013114322A RU2013114322A RU 2013114322 A RU2013114322 A RU 2013114322A RU 2013114322/28 A RU2013114322/28 A RU 2013114322/28A RU 2013114322 A RU2013114322 A RU 2013114322A RU 2013114322 A RU2013114322 A RU 2013114322A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ferroelectric material
- phase transition
- temperature
- ferroelectric
- substrate
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K15/00—Testing or calibrating of thermometers
- G01K15/005—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K15/00—Testing or calibrating of thermometers
- G01K15/002—Calibrated temperature sources, temperature standards therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
- G01C11/04—Interpretation of pictures
- G01C11/06—Interpretation of pictures by comparison of two or more pictures of the same area
- G01C11/12—Interpretation of pictures by comparison of two or more pictures of the same area the pictures being supported in the same relative position as when they were taken
- G01C11/22—Interpretation of pictures by comparison of two or more pictures of the same area the pictures being supported in the same relative position as when they were taken with mechanical projection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C13/00—Surveying specially adapted to open water, e.g. sea, lake, river or canal
- G01C13/002—Measuring the movement of open water
- G01C13/004—Measuring the movement of open water vertical movement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/34—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using capacitative elements
- G01K7/343—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using capacitative elements the dielectric constant of which is temperature dependant
Abstract
1. Устройство для калибровки термометра по месту, содержащее датчик (S) температуры для определения температуры (Т), отличающееся тем, что предусмотрен эталонный элемент (К) для калибровки датчика (S) температуры, причем эталонный элемент (К), по меньшей мере, частично состоит из ферроэлектрического материала (D), который в актуальном для калибровки датчика (S) температуры температурном интервале претерпевает фазовый переход при, по меньшей мере, одной заданной температуре (Т).2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что под ферроэлектрическим материалом (D) является твердое вещество.3. Устройство по п.1 или 2, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) имеет кристаллическую структуру и при фазовом переходе кристаллическая структура ферроэлектрического материала (D) изменяется.4. Устройство по п.1, отличающееся тем, что при фазовом переходе объем ферроэлектрического материала (D) изменяется.5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) имеет электрические или диэлектрические свойства, которые при фазовом переходе изменяются.6. Устройство по п.1, отличающееся тем, что фазовый переход, в частности изменение электрических или диэлектрических свойств ферроэлектрического материала (D), происходит скачкообразно при, по меньшей мере, одной заданной температуре (Т).7. Устройство по п.1, отличающееся тем, что эталонный элемент (К) состоит из конденсаторного элемента с диэлектриком, причем диэлектрик конденсаторного элемента, по меньшей мере, частично состоит из ферроэлектрического материала (D).8. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) выполнен в виде подложки для дат
Claims (28)
1. Устройство для калибровки термометра по месту, содержащее датчик (S) температуры для определения температуры (Т), отличающееся тем, что предусмотрен эталонный элемент (К) для калибровки датчика (S) температуры, причем эталонный элемент (К), по меньшей мере, частично состоит из ферроэлектрического материала (D), который в актуальном для калибровки датчика (S) температуры температурном интервале претерпевает фазовый переход при, по меньшей мере, одной заданной температуре (ТPh).
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что под ферроэлектрическим материалом (D) является твердое вещество.
3. Устройство по п.1 или 2, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) имеет кристаллическую структуру и при фазовом переходе кристаллическая структура ферроэлектрического материала (D) изменяется.
4. Устройство по п.1, отличающееся тем, что при фазовом переходе объем ферроэлектрического материала (D) изменяется.
5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) имеет электрические или диэлектрические свойства, которые при фазовом переходе изменяются.
6. Устройство по п.1, отличающееся тем, что фазовый переход, в частности изменение электрических или диэлектрических свойств ферроэлектрического материала (D), происходит скачкообразно при, по меньшей мере, одной заданной температуре (ТPh).
7. Устройство по п.1, отличающееся тем, что эталонный элемент (К) состоит из конденсаторного элемента с диэлектриком, причем диэлектрик конденсаторного элемента, по меньшей мере, частично состоит из ферроэлектрического материала (D).
8. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) выполнен в виде подложки для датчика (S) температуры.
9. Устройство по п.8, отличающееся тем, что при, по меньшей мере, одной заданной температуре происходит фазовый переход ферроэлектрического материала подложки из ферроэлектрического состояния в параэлектрическое состояние, или из параэлектрического состояния в ферроэлектрическое состояние, и/или между различными кристаллическими структурами.
10. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал (D) выполнен в виде подложки для изготовленного в тонкопленочной технологии или в толстопленочной технологии резисторного элемента.
11. Устройство по п.1, отличающееся тем, что под заданной температурой понимается температура фазового перехода, причем ферроэлектрический материал легирован примесными атомами, в частности, для оказания воздействия на температуру фазового перехода и/или на образование кристаллических доменов.
12. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал, в частности, для формирования подобных кристаллических доменов, легирован двухатомными ионами щелочноземельного металла и/или ионами металлов подгруппы Периодической системы элементов.
13. Устройство по п.12, отличающееся тем, что процент легирования ферроэлектрического материала двухатомными ионами щелочноземельного металла и/или ионами металлов подгруппы периодической системы элементов составляет до 1%.
14. Устройство по п.1, отличающееся тем, что ферроэлектрический материал, в частности, для оказания воздействия на температуру фазового перехода, легирован стронцием, свинцом и/или титанатом.
15. Устройство по п.1, отличающееся тем, что процент легирования ферроэлектрического материала стронцием, свинцом и/или титанатом составляет до 80%.
16. Устройство по п.1, отличающееся тем, что служащее для поляризации ферроэлектрического материала напряжение может быть приложено к ферроэлектрическому материалу.
17. Устройство по п.1, отличающееся тем, что служащее для поляризации подложки напряжение может быть приложено, в частности, через конденсаторное устройство, которое состоит из двух электродов, между которыми расположена подложка.
18. Устройство по п.1, отличающееся тем, что датчик (S) температуры и эталонный элемент (К) расположены в одной единственной верхней части датчика.
19. Способ калибровки термометра по месту, причем для определения температуры (Т) используют датчик (S) температуры, отличающийся тем, что для калибровки используют эталонный элемент (К), причем эталонный элемент (К), по меньшей мере, частично состоит из ферроэлектрического материала (D) и, что при, по меньшей мере, одной заданной температуре (ТPh) для калибровки датчика (S) температуры используют фазовый переход ферроэлектрического материала (D).
20. Способ по п.19, отличающийся тем, что в качестве ферроэлектрического материала (D) используют твердое вещество.
21. Способ по п.19 или 20, отличающийся тем, что за счет фазового перехода, по меньшей мере, частично состоящего из ферроэлектрического материала (D) твердого вещества, кристаллическая структура, объем и/или диэлектрические или электрические свойства ферроэлектрического материала (D) изменяют и, по меньшей мере, одно из этих изменений используют для калибровки датчика (S) температуры.
22. Способ по п.19, отличающийся тем, что датчик (S) температуры и эталонный элемент (К) подвергают воздействию, в основном, одной и той же температуры окружающей среды.
23. Способ по п.19, отличающийся тем, что термометр нагревают или охлаждают для индуцирования фазового перехода ферроэлектрического материала (D) при заданной температуре (ТPh).
24. Способ по п.19, отличающийся тем, что используют легированный примесными атомами ферроэлектрический материал, в частности, для оказания воздействия на температуру фазового перехода и/или на образование кристаллических доменов.
25. Способ по п.19, отличающийся тем, что легированный двухатомными ионами щелочноземельного металла и/или ионами металлов подгруппы периодической системы элементов ферроэлектрический материал используют для образования подобных кристаллических доменов.
26. Способ по п.19, отличающийся тем, что легированный стронцием, свинцом и/или титанатом ферроэлектрический материал используют, в частности, для оказания воздействия на температуру фазового перехода.
27. Способ по п,19, отличающийся тем, что служащее для поляризации ферроэлектрического материала напряжение может быть приложено к ферроэлектрическому материалу.
28. Способ по п.19, отличающийся тем, что служащее для поляризация подложки напряжение, в частности, посредством конденсаторного устройства, состоящего из двух электродов, между которыми располагается подложка, прикладывают к подложке.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102010040039A DE102010040039A1 (de) | 2010-08-31 | 2010-08-31 | Verfahren und Vorrichtung zur in situ Kalibrierung eines Thermometers |
| DE102010040039.4 | 2010-08-31 | ||
| PCT/EP2011/062753 WO2012028387A1 (de) | 2010-08-31 | 2011-07-25 | Verfahren und vorrichtung zur in situ kalibrierung eines thermometers |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2013114322A true RU2013114322A (ru) | 2014-10-27 |
| RU2538930C2 RU2538930C2 (ru) | 2015-01-10 |
Family
ID=44629839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2013114322/28A RU2538930C2 (ru) | 2010-08-31 | 2011-07-25 | Устройство и способ для калибровки термометра по месту |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US9091601B2 (ru) |
| EP (1) | EP2612122B1 (ru) |
| CN (1) | CN103154686B (ru) |
| CA (1) | CA2807260C (ru) |
| DE (1) | DE102010040039A1 (ru) |
| ES (1) | ES2610677T3 (ru) |
| PL (1) | PL2612122T3 (ru) |
| RU (1) | RU2538930C2 (ru) |
| WO (1) | WO2012028387A1 (ru) |
Families Citing this family (49)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8267578B2 (en) | 2009-02-04 | 2012-09-18 | Schlumberger Technology Corporation | Methods and systems for temperature compensated temperature measurements |
| FR2989777B1 (fr) * | 2012-04-23 | 2014-10-24 | Snecma | Correction d'une mesure de temperature d'une sonde de temperature de type a resistance thermometrique |
| DE102012112576A1 (de) * | 2012-12-18 | 2014-06-18 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße |
| DE102012112575A1 (de) * | 2012-12-18 | 2014-07-03 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Sensorelement, Thermometer sowie Verfahren zur Bestimmung einer Temperatur |
| DE102012112574A1 (de) | 2012-12-18 | 2014-06-18 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Sensorelement, Thermometer sowie Verfahren zur Bestimmung einer Temperatur |
| DE102012112577A1 (de) * | 2012-12-18 | 2014-06-18 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße |
| DE102013100045B4 (de) | 2012-12-18 | 2022-07-14 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Prozessgröße |
| CN105593654B (zh) | 2013-09-25 | 2018-09-21 | 3M创新有限公司 | 用于电容式温度感测的组合物、设备及方法 |
| DE102014006566B4 (de) * | 2014-05-07 | 2021-06-17 | Rische + Herfurth GmbH | Kalibrationsset für eine Schweißvorrichtung, insbesondere ein Folienschweiß- und/oder Heißsiegelgerät, und Kalibrierverfahren für eine Schweißvorrichtung |
| US10786948B2 (en) | 2014-11-18 | 2020-09-29 | Sigma Labs, Inc. | Multi-sensor quality inference and control for additive manufacturing processes |
| DE102015112425A1 (de) | 2015-07-29 | 2017-02-02 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur in situ Kalibrierung eines Thermometers |
| DE102015112426A1 (de) * | 2015-07-29 | 2017-02-02 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung der Temperatur eines Mediums |
| DE102015114286A1 (de) | 2015-08-27 | 2017-03-02 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Vibronische Vorrichtung zur Bestimmung oder Überwachung einer Prozessgröße |
| DE102015115535A1 (de) | 2015-09-15 | 2017-03-16 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Verfahren zur Kalibrierung eines in einem Prozess der Automatisierungstechnik befindlichen Temperatursensors |
| US10207489B2 (en) | 2015-09-30 | 2019-02-19 | Sigma Labs, Inc. | Systems and methods for additive manufacturing operations |
| DE102015120072A1 (de) | 2015-11-19 | 2017-05-24 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Verfahren zur in-situ Kalibrierung einer analogen Messübertragungsstrecke und entsprechende Vorrichtung |
| CN105606259B (zh) * | 2015-12-10 | 2018-03-02 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | 一种高温检定炉用铜电极 |
| DE102016206447B3 (de) * | 2016-04-15 | 2017-08-10 | Sirona Dental Systems Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung eines Temperaturmessgeräts eines Dentalofens und Kalibrierkörper |
| DE102016123856A1 (de) * | 2016-12-08 | 2018-06-14 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Verfahren zur in situ Kalibrierung eines Thermometers |
| DE102017100266A1 (de) | 2017-01-09 | 2018-07-12 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Temperatur-Grenzwertgeber |
| DE102017100263A1 (de) | 2017-01-09 | 2018-07-12 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur in situ Kalibrierung eines Thermometers bei tiefen Temperaturen |
| DE102017100264A1 (de) | 2017-01-09 | 2018-07-12 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur in situ Kalibrierung eines Thermometers |
| DE102017100267A1 (de) | 2017-01-09 | 2018-07-12 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Thermometer |
| DE102017100268A1 (de) | 2017-01-09 | 2018-07-12 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur in situ Kalibrierung eines Thermometers |
| IL256108B (en) | 2017-12-04 | 2021-02-28 | Elbit Systems Ltd | A system and method for identifying the state of use and originality of a product |
| CN108572037B (zh) * | 2017-12-27 | 2019-06-28 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种规避自热效应的热敏电阻器稳态标定方法 |
| DE102018116309A1 (de) * | 2018-07-05 | 2020-01-09 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Thermometer mit Diagnosefunktion |
| DE102018121494A1 (de) * | 2018-09-04 | 2020-03-05 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Messeinsatz mit Zustandsüberwachung |
| CN110044518A (zh) * | 2018-12-11 | 2019-07-23 | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 | 一种用于数字温度计校准的小固定点容器及制作方法 |
| RU2696826C1 (ru) * | 2018-12-25 | 2019-08-06 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт земного магнетизма, ионосферы и распространения радиоволн им. Н.В. Пушкова Российской академии наук (ИЗМИРАН) | Способ определения температуры аморфных ферромагнитных микропроводов при токовом нагреве |
| DE102019103077A1 (de) * | 2019-02-07 | 2020-08-13 | Endress+Hauser SE+Co. KG | Selbstkalibrierendes Thermometer |
| CN111855026A (zh) * | 2019-04-30 | 2020-10-30 | 中国科学技术大学 | 测温仪标定装置及使用该装置对测温仪标定的方法 |
| US11408779B2 (en) | 2019-06-03 | 2022-08-09 | Daily Thermetrics Corporation | Temperature sensor and methods of use |
| DE202019005954U1 (de) | 2019-09-12 | 2023-09-01 | Biometra GmbH | Temperiervorrichtung |
| DE102019124588A1 (de) | 2019-09-12 | 2021-03-18 | Biometra GmbH | Temperiervorrichtung |
| DE102019124605A1 (de) | 2019-09-12 | 2021-03-18 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Nicht invasives Thermometer |
| DE102019124604A1 (de) | 2019-09-12 | 2021-03-18 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Nicht invasives Thermometer |
| DE102019129475A1 (de) | 2019-10-31 | 2021-05-06 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Nicht invasives Thermometer |
| DE102019133388A1 (de) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Überwachung der Temperatur einer Temperier-Einrichtung |
| DE102019134019A1 (de) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | In situ Kalibrierung eines Thermometers |
| DE102019134440A1 (de) * | 2019-12-16 | 2021-06-17 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Messgerät |
| DE102019134891A1 (de) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines Sensors und Messsystem |
| RU2727564C1 (ru) * | 2019-12-25 | 2020-07-22 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева" | Самокалибрующийся датчик температуры |
| TWI800813B (zh) * | 2020-04-08 | 2023-05-01 | 美商瓦特洛威電子製造公司 | 熱偶、電阻式加熱器及校準電阻式元件之溫度的方法 |
| DE102021109410A1 (de) | 2021-04-14 | 2022-10-20 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Nicht invasives Thermometer |
| DE102021113198A1 (de) | 2021-05-20 | 2022-11-24 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | In situ Temperatur Kalibration |
| CN113405683A (zh) * | 2021-05-20 | 2021-09-17 | 长江存储科技有限责任公司 | 晶片温度测量方法 |
| DE102021117715A1 (de) | 2021-07-08 | 2023-01-12 | Endress+Hauser Wetzer Gmbh+Co. Kg | Thermometer mit verbesserter Messgenauigkeit |
| DE102021119770A1 (de) | 2021-07-29 | 2023-02-02 | Endress+Hauser Wetzer Gmbh+Co. Kg | Diagnose eines Thermometers |
Family Cites Families (46)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2949594A (en) * | 1956-10-01 | 1960-08-16 | Sperry Rand Corp | Electric temperature detector |
| US3059229A (en) * | 1956-10-01 | 1962-10-16 | Sperry Rand Corp | Temperature responsive indicating system |
| US3257607A (en) * | 1961-03-27 | 1966-06-21 | Intron Int Inc | Thermally sensitive capacitive circuit element |
| US3250126A (en) * | 1963-11-29 | 1966-05-10 | Highland Res Corp | Clinical thermometer |
| US3345874A (en) * | 1964-01-17 | 1967-10-10 | Tesla Np | Circuit arrangement for accurate measurement of temperatures or small temperature changes |
| US3644864A (en) * | 1969-12-05 | 1972-02-22 | Texas Instruments Inc | Composite thermistor temperature sensor having step-function response |
| US3759104A (en) * | 1972-03-09 | 1973-09-18 | M Robinson | Capacitance thermometer |
| CA1098615A (en) * | 1975-12-29 | 1981-03-31 | George S. Hopper | Ferroelectric imaging system |
| JPS5479085A (en) * | 1977-12-05 | 1979-06-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Temperature measuring apparatus |
| DE2758084A1 (de) * | 1977-12-24 | 1979-06-28 | Inst Fuer Kerntechnik & Energ | Temperaturmessfuehler |
| US4348611A (en) * | 1978-03-02 | 1982-09-07 | Wolfgang Ruppel | Ferroelectric or pyroelectric sensor utilizing a sodium nitrite layer |
| US4332081A (en) * | 1978-06-22 | 1982-06-01 | North American Philips Corporation | Temperature sensor |
| DE3031339A1 (de) * | 1980-08-20 | 1982-04-01 | Emschermann, Hans Heinrich, Prof. Dr.-Ing., 3300 Braunschweig | Beruehrungstemperaturaufnehmer mit fixpunkt |
| SU1275232A1 (ru) * | 1983-07-22 | 1986-12-07 | Физико-технический институт низких температур АН УССР | Способ градуировки термопреобразовател |
| US4545254A (en) * | 1984-06-01 | 1985-10-08 | Ceramphysics, Inc. | Materials and methods for pressure and temperature sensors at cryogenic temperatures |
| CN85205068U (zh) * | 1985-11-13 | 1986-08-20 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 热管型玻璃温度计标定/检定恒温槽 |
| DE4006885C2 (de) * | 1989-04-05 | 1995-04-13 | Siemens Ag | Auswerteverfahren für einen Sensor zur Messung der Temperatur eines bewegten, vorzugsweise rotierenden Körpers, insbesondere einer rotierenden Bremsscheibe |
| GB9013056D0 (en) | 1990-06-12 | 1990-08-01 | Stc Plc | Temperature sensor |
| DE4032092C2 (de) | 1990-10-10 | 1994-06-09 | Ind Tech Res Inst | DSC-Thermoanalysator und Verfahren zur Bestimmung der Curie-Temperatur eines ferromagnetischen Werkstoffs |
| DE4035952C1 (en) | 1990-11-09 | 1992-06-17 | Abb Patent Gmbh, 6800 Mannheim, De | Method of measuring temperature of electrical conductors - has electrode forming condenser with capacitance compared to calibration graph |
| US5818043A (en) * | 1993-04-09 | 1998-10-06 | Thomson-Csf | Bolometric thermal detector |
| US5728603A (en) * | 1994-11-28 | 1998-03-17 | Northern Telecom Limited | Method of forming a crystalline ferroelectric dielectric material for an integrated circuit |
| US5746511A (en) * | 1996-01-03 | 1998-05-05 | Rosemount Inc. | Temperature transmitter with on-line calibration using johnson noise |
| GB9623139D0 (en) * | 1996-11-06 | 1997-01-08 | Euratom | A temperature sensor |
| DE19702140C2 (de) | 1997-01-22 | 1998-12-03 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Temperatur eines rotierenden Trägers |
| DE19805184A1 (de) | 1998-02-10 | 1999-08-12 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Temperatur eines piezoelektrischen Elements |
| GB9818885D0 (en) * | 1998-08-28 | 1998-10-21 | New Royal Holloway & Bedford | Current sensing noise thermometer |
| US6411192B1 (en) * | 1998-12-28 | 2002-06-25 | Lansense, Llc | Method and apparatus for sensing and measuring plural physical properties, including temperature |
| DK1247268T4 (da) | 1999-07-01 | 2009-11-16 | Rosemount Inc | Selvvaliderende totråd-temperaturtransmitter med lav effekt |
| DE19941731A1 (de) | 1999-09-01 | 2001-03-08 | Univ Ilmenau Tech | Miniatur-Fixpunktzelle zur automatisierbaren Mehrpunkt-in-situ-Kalibration von Temperatursensoren |
| DE19954164B4 (de) | 1999-11-10 | 2008-08-21 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Sensor zur Zustandsbestimmung von Kenngrößen an mechanischen Komponenten unter Verwendung von amorphen Kohlenstoffschichten mit piezoresistiven Eigenschaften |
| AU4737501A (en) * | 2000-03-10 | 2001-09-24 | Univ North Carolina State | Method and system for conservative evaluation, validation and monitoring of thermal processing |
| US6824307B2 (en) * | 2000-12-12 | 2004-11-30 | Harris Corporation | Temperature sensor and related methods |
| DE102004003853B4 (de) | 2004-01-26 | 2009-12-17 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Kompensation von Piezo-Einflüssen auf eine integrierte Schaltungsanordnung |
| KR20070027627A (ko) * | 2004-05-27 | 2007-03-09 | 코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 온도-기록 방법, 온도-기록 장치 및 온도 기록 데이터 저장매체의 사용 |
| DE102004027072B3 (de) | 2004-06-02 | 2006-02-23 | Bundesrepublik Deutschland, vertr. d. d. Bundesministerium für Wirtschaft und Arbeit, dieses vertr. d. d. Präsidenten der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt | Fixpunktzelle zur Kalibrierung von Temperaturmessgeräten |
| DE102004051409B4 (de) * | 2004-10-21 | 2010-01-07 | Ivoclar Vivadent Ag | Brennofen |
| DE112006000370T5 (de) * | 2005-02-07 | 2008-03-06 | Hochiki Corp. | Wärmedetektor und Verfahren zum Herstellen eines Wärmeerfassungselements |
| DE102005015691A1 (de) | 2005-04-05 | 2006-10-12 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Vorrichtung zur Temperaturmessung |
| DE102005029464B4 (de) | 2005-06-24 | 2009-11-26 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Ermitteln eines Kompensationssignals zum Kompensieren von Piezo-Einflüssen auf eine integrierte Halbleiterschaltung |
| US20070268952A1 (en) * | 2006-05-19 | 2007-11-22 | Sherwood Services Ag | Thermometer calibration by immersion in non-electrically conductive liquid |
| KR100817437B1 (ko) * | 2006-07-13 | 2008-03-27 | 한국표준과학연구원 | 온도 보정용 다중 셀 및 이를 이용한 온도계 교정장치 |
| US7553077B2 (en) * | 2007-06-11 | 2009-06-30 | Delphi Technologies, Inc. | Systems and methods for determining a temperature of a ferroelectric sensor |
| RU91426U1 (ru) * | 2009-11-05 | 2010-02-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Уральский государственный университет" (ГОУ ВПО "ЮУрГУ") | Контактный измеритель температуры с самостоятельной градуировкой |
| DE102015112425A1 (de) * | 2015-07-29 | 2017-02-02 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur in situ Kalibrierung eines Thermometers |
| DE102015115535A1 (de) * | 2015-09-15 | 2017-03-16 | Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg | Verfahren zur Kalibrierung eines in einem Prozess der Automatisierungstechnik befindlichen Temperatursensors |
-
2010
- 2010-08-31 DE DE102010040039A patent/DE102010040039A1/de not_active Withdrawn
-
2011
- 2011-07-25 WO PCT/EP2011/062753 patent/WO2012028387A1/de active Application Filing
- 2011-07-25 CN CN201180042118.5A patent/CN103154686B/zh active Active
- 2011-07-25 EP EP11741169.4A patent/EP2612122B1/de active Active
- 2011-07-25 RU RU2013114322/28A patent/RU2538930C2/ru active
- 2011-07-25 CA CA2807260A patent/CA2807260C/en active Active
- 2011-07-25 PL PL11741169T patent/PL2612122T3/pl unknown
- 2011-07-25 ES ES11741169.4T patent/ES2610677T3/es active Active
- 2011-08-25 US US13/217,330 patent/US9091601B2/en active Active
-
2015
- 2015-06-19 US US14/744,555 patent/US10495526B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2807260C (en) | 2017-08-22 |
| CN103154686A (zh) | 2013-06-12 |
| US20120051389A1 (en) | 2012-03-01 |
| CA2807260A1 (en) | 2012-03-08 |
| WO2012028387A1 (de) | 2012-03-08 |
| EP2612122B1 (de) | 2016-10-19 |
| US10495526B2 (en) | 2019-12-03 |
| RU2538930C2 (ru) | 2015-01-10 |
| EP2612122A1 (de) | 2013-07-10 |
| US9091601B2 (en) | 2015-07-28 |
| PL2612122T3 (pl) | 2017-04-28 |
| DE102010040039A1 (de) | 2012-03-01 |
| US20150285693A1 (en) | 2015-10-08 |
| CN103154686B (zh) | 2015-11-25 |
| ES2610677T3 (es) | 2017-04-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2013114322A (ru) | Устройство и способ для калибровки термометра по месту | |
| CN108027286B (zh) | 用于温度计现场校准的方法和装置 | |
| CA3049707C (en) | Device and method for the in-situ calibration of a thermometer | |
| Guggilla et al. | Pyroelectric ceramics for infrared detection applications | |
| Davis et al. | Piezoelectric glass-ceramic for high-temperature applications | |
| Takahashi et al. | Estimation of ionic and hole conductivity in bismuth titanate polycrystals at high temperatures | |
| Lei et al. | Ferroelectric and flexible barrier resistive switching of epitaxial BiFeO 3 films studied by temperature-dependent current and capacitance spectroscopy | |
| Jebli et al. | Frequency and thermal studies of dielectric permittivity and Raman analysis of Ba 0.97 La 0.02 Ti 0.98 Nb 0.016 O 3 | |
| Delimova et al. | Investigation of the polarization dependence of the transient current in polycrystalline and epitaxial Pb (Zr, Ti) O 3 thin films | |
| Kamenshchikov et al. | Dielectric response of capacitor structures based on PZT annealed at different temperatures | |
| JP2005315661A (ja) | キャパシタンス温度センサ及び温度測定装置 | |
| Kamenshchikov et al. | Conductivity and current-voltage characteristics of PZT thin-film heterostructures | |
| JP2006234574A (ja) | キャパシタンス温度計 | |
| Delimova et al. | Electrophysical properties of integrated ferroelectric capacitors based on sol-gel PZT films | |
| US20160274057A1 (en) | Ion-sensitive structure and method for producing the same | |
| Cima et al. | Ferroelectric active sensors | |
| Neumann et al. | Application of PMN-PT in pyroelectric detectors | |
| Ooe et al. | Low drift MEMS humidity sensor by intermittent heating | |
| Schalles et al. | Investigation on the Curie temperature of a ferroelectric material as a temperature fixed-point | |
| Batra et al. | Effects of O+ irradiation on infrared sensing characteristics of modified PZT ceramic | |
| JP4686759B2 (ja) | キャパシタンス温度計 | |
| Kao et al. | BaxSr1− xTiO3 sensing membrane in electrolyte-insulator-semiconductor structure with rapid thermal annealing in N2 ambient | |
| Gao et al. | Leakage behaviors of ferroelectric (Bi 3.15 Nd 0.85) Ti 3 O 12 thin film derived from RF sputtering | |
| RU1566883C (ru) | Емкостный датчик температуры труднодоступных объектов | |
| Gaffar et al. | The non-isotropic character of electric and dielectric properties of ammonium zinc chloride crystal |