DE102019134891A1 - Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines Sensors und Messsystem - Google Patents

Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines Sensors und Messsystem Download PDF

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DE102019134891A1
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Dietmar Saecker
Pavo Vrdoljak
Marc Schalles
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01K15/005Calibration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01L27/00Testing or calibrating of apparatus for measuring fluid pressure
    • G01L27/002Calibrating, i.e. establishing true relation between transducer output value and value to be measured, zeroing, linearising or span error determination

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter (1) einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors (2), wobei das Verfahren die Schritte umfasst:A) Messen der Temperatur des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter (1) vorliegenden Stoffs (4) mit dem Temperatursensor (TS) und Speichern der gemessen Temperatur (Tmess);B) Messen des Drucks des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter (1) vorliegenden Stoffs mit dem Drucksensor (pS) und Speichern des gemessenen Drucks (pmess)C) Ermitteln einer zu dem gemessenen, gespeicherten Druck (pmess) korrespondierenden Temperatur (Tkorr) anhand der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK) und Vergleich der korrespondierenden Temperatur (Tkorr) mit der gemessenen Temperatur (Tmess)oderErmitteln eines zu der gemessen, gespeicherten Temperatur (Tmess) korrespondierenden Drucks (pkorr) anhand der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK) und Vergleich des korrespondierenden Drucks (pkorr) mit dem gemessenen Druck (pmess)D) Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors (2), basierend auf dem Vergleich.Die Erfindung betrifft ferner ein zur Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens zumindest teilweise ausgestaltetes Messsystem.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors
    wobei in dem Behälter der Prozessanlage ein als Referenzsensor dienender zweiter Sensor angeordnet ist, wobei einer der beiden Sensoren, nämlich entweder der erste Sensor oder der zweite Sensor, als ein Temperatursensor und der andere der beiden Sensoren als ein Drucksensor ausgestaltet ist. Ferner betrifft die Erfindung ein zur Ausführung des Verfahrens zumindest teilweise ausgestaltetes Messsystem.
  • Bei der Prozessanlage handelt es sich bspw. um eine Prozessanlage der Automatisierungstechnik, insb. der Prozessautomatisierungstechnik. Hier werden derartige Sensoren vielfach als Feldgeräte zur Bestimmung und/oder Überwachung von Prozessgrößen eingesetzt. Als Feldgeräte werden dabei im Prinzip alle Geräte bezeichnet, die prozessnah eingesetzt werden und prozessrelevante Informationen liefern oder verarbeiten. Dabei handelt es sich beispielsweise um Füllstandsmessgeräte, Durchflussmessgeräte, Druck- und Temperaturmessgeräte, pH-Redoxpotentialmessgeräte, Leitfähigkeitsmessgeräte, usw., welche die entsprechenden Prozessgrößen Füllstand, Durchfluss, Druck, Temperatur, pH-Wert bzw. Leitfähigkeit erfassen und von der Anmelderin hergestellt und vertrieben werden. Die Erfindung betrifft hierbei ein Messsystem einer Prozessanlage mit zumindest einem Temperatursensor und einen Drucksensor.
  • Eine Vielzahl dieser Feldgeräte bzw. Sensoren müssen von Zeit zu Zeit, bspw. in regelmäßigen Abständen, kalibriert, verifiziert und/oder justiert werden, bspw. da deren Sensorelemente einer gewissen Drift unterliegen und/oder aufgrund von hohen sicherheitsrelevanten Anforderungen, etwa in der Lebensmittel-verarbeitenden oder pharmazeutischen Industrie. Nachteilig ist, wenn zum Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren ein Ausbau eines oder mehrerer Sensoren erforderlich ist, da hierdurch in der Regel hohe Standzeiten der Prozessanlage verursacht werden.
  • Aus der DE 10 2010 040 039 A1 ist eine Vorrichtung und ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren eines Thermometers mit einem Temperatursensor und einem Referenzelement zur Kalibrierung des Temperatursensors bekannt geworden, bei
    welcher das Referenzelement wenigstens teilweise aus einem ferroelektrischen Material besteht, welches im zur Kalibrierung des Temperatursensors relevanten
    Temperaturbereich eine Phasenumwandlung bei zumindest einer vorgegebenen Temperatur erfährt. Die Kalibrierung wird also anhand des charakteristischen Temperaturpunkts eines Phasenübergangs eines ferroelektrischen Materials, also anhand einer materialspezifischen Eigenschaft vorgenommen.
  • Je nach Anzahl der verbauten Referenzelemente kann auf diese Weise sowohl eine sogenannte 1-Punkt- als auch eine Mehrpunkt- Kalibrierung, Verifizierung und/oder Justierung vorgenommen werden. Eine ähnliche, insb. für Mehrpunkt-Kalibrierungen geeignete Vorrichtung, ist ferner aus der DE 10 2015 112 425 A1 bekannt geworden. Die im Stand der Technik offenbarten Lösungen zum in-situ Kalibrieren eigenen sich aber nur zum Kalibrieren von Temperatursensoren und erfordern immer die Verwendung eines Referenzelements.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors anzugeben.
  • Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors und ein Messsystem.
  • Bezüglich des Verfahrens wird die Aufgabe gelöst durch ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors, wobei in dem Behälter der Prozessanlage ein als Referenzsensor dienender zweiter Sensor angeordnet ist,
    wobei einer der beiden Sensoren, nämlich entweder der erste Sensor oder der zweite Sensor, als ein Temperatursensor und der andere der beiden Sensoren als ein Drucksensor ausgestaltet ist, wobei in dem Behälter zumindest zeitweise ein sich in einer gesättigten Dampfphase befindlicher Stoff, dessen Siedepunktskurve hinterlegt ist, vorliegt, und wobei das Verfahren die Schritte umfasst:
    1. A) Messen der Temperatur des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter vorliegenden Stoffs mit dem Temperatursensor und Speichern der gemessen Temperatur;
    2. B) Messen des Drucks des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter vorliegenden Stoffs mit dem Drucksensor und Speichern des gemessenen Drucks
    3. C) Ermitteln einer zu dem gemessenen, gespeicherten Druck korrespondierenden Temperatur anhand der hinterlegten Siedepunktskurve und Vergleich der korrespondierenden Temperatur mit der gemessenen Temperatur oder Ermitteln eines zu der gemessenen, gespeicherten Temperatur korrespondierenden Drucks anhand der hinterlegten Siedepunktskurve und Vergleich des korrespondierenden Drucks mit dem gemessenen Druck
    4. D) Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors, basierend auf dem Vergleich.
  • Der Behälter ist bspw. ein Tank und/oder eine Rohrleitung der Prozessanlage.
  • Die Siedepunktskurve ist bekannt, bspw. aus der entsprechenden Fachliteratur entnommen und/oder durch Testreihen ermittelt und ist für das erfindungsgemäße Verfahren an einer geeigneten Stelle hinterlegt. Anhand der Siedepunktskurve wird der gemessene Druck in eine dazu korrespondiere Temperatur (oder die gemessene Temperatur in einen dazu korrespondieren Druck) umgerechnet, da für einen Stoff in der gesättigten Dampfphase der Druck mit der Temperatur über die Siedepunktskurve verknüpft ist. Unter der Annahme, dass der Stoff in der gesättigten Dampfphase vorliegt, kann der erste Sensor mittels des Referenzsensors in-situ kalibriert, verifiziert und/oder justiert werden. „In-situ“ bedeutet hierbei, dass der erste Sensor und der Referenzsensor beim Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren in der Prozessanalage in einem in den Behälter eingebauten Zustand verbleiben d.h. dabei eingebaut sind.
  • Unter dem Kalibrieren versteht man dabei üblicherweise das Feststellen einer Abweichung zwischen einem mit dem Sensor gemessenen Messwert mit einem als korrekt angenommenen Referenzwert, welcher hier mit dem Referenzsensor ermittelt wird. Das Verifizieren umfasst das Bewerten der Abweichung. Unter dem Justieren versteht man das Anpassen des Sensors in der Weise, dass dessen Messwert mit dem Referenzwert übereinstimmt.
  • Die Annahme, dass die gesättigte Dampfphase tatsächlich vorliegt, ergibt sich bspw. zwangsläufig aus einer entsprechenden, bekannten Prozesssteuerung der Prozessanlage, bei der bspw. gesättigter Dampf zu bekannten Zeitpunkten eingeleitet wird. Diese Annahme kann aber auch zusätzlich mit dafür geeigneten Mitteln überprüft werden, bspw. über das Vorliegen von Kondensat, welches bspw. mittels eines Kondensatableiters oder -abscheiders festgestellt wird. Andere Möglichkeiten umfassen bspw. den Einsatz eines Leitfähigkeitssensors und/oder Feuchtesensors zum Feststellen einer Benetzung einer sich unter gesättigtem Dampf betauenden Oberfläche oder ähnliche derartige Maßnahmen zum Feststellen einer Betauung bzw. einer Flüssigkeitsabscheidung.
  • Der zweite Sensor dient als Referenzsensor: es wird für ihn angenommen, dass er kalibriert ist - entweder da er kurz vor dem Einbau kalibriert wurde und eine merkliche Drift des Referenzsensors ausgeschlossen werden kann, oder, da er selber durch ein weiteres Verfahren in-situ kalibriert werden kann und ein dafür geeignetes Mittel vorgesehen ist (siehe bspw. nachstehende Ausgestaltung umfassend das Referenzelement).
  • Der erste Sensor kann vermöge des erfindungsgemäßen Verfahrens mittels dem bereits kalibrierten, zweiten Sensor in-situ kalibriert, verifiziert und/oder justiert werden. Beide Sensoren bleiben vorteilhaft in der Prozessanlage beim Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren („in-situ“). Dadurch ergeben sich minimale Standzeiten in der Prozessanlage beim Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors.
  • Dies gilt insbesondere für den Fall, dass das Vorliegen des Stoffs in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter ein Prozessschritt ist, welcher im Rahmen der Prozesssteuerung der Prozessanlage aus anderen Gründen, bspw. der nachstehend genannten vor-Ort-Sterilisierung (SIP), sowieso durchgeführt werden muss. Bevorzugt nutzt das erfindungsgemäße Verfahren das Vorliegen der gesättigten Dampfphase also zusätzlich dazu aus, um den ersten Sensor mit dem zweiten Sensor (dem Referenzsensor) zu kalibrieren, verifizieren und/oder justieren.
  • Bezüglich des Verfahrens wird die Aufgabe auch gelöst durch ein Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors, wobei in dem Behälter der Prozessanlage ein als Referenzsensor dienender zweiter Sensor angeordnet ist,
    wobei einer der beiden Sensoren, nämlich entweder der erste Sensor oder der zweite Sensor, als ein Temperatursensor und der andere der beiden Sensoren als ein Drucksensor ausgestaltet ist, wobei in dem Behälter zumindest zeitweise ein sich in einer gesättigten Dampfphase befindlicher Stoff, dessen Siedepunktskurve hinterlegt ist, vorliegt, und wobei das Verfahren die Schritte umfasst:
    1. A) Messen der Temperatur des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter vorliegenden Stoffs mit dem Temperatursensor und Speichern der gemessen Temperatur;
    2. B) Messen des Drucks des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter vorliegenden Stoffs mit dem Drucksensor und Speichern des gemessenen Drucks
    3. C) Ermitteln einer Mess-Siedepunktskurve, welche durch zu im Wesentlichen gleichen Zeitpunkten erfassten Wertepaare von gemessenen Drücken und gemessenen Temperatuten gebildet wird und Vergleich der Mess-Siedepunktskurve mit der hinterlegten Siedepunktskurve;
    4. D) Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors, basierend auf dem Vergleich.
  • Diese Variante der Erfindung unterscheidet sich von der ersten Variante Im Wesentlichen durch den Schritt C. Sie eignet sich insbesondere für den Fall, dass die Ansprechzeiten des Temperatursensors und des Drucksensors im Wesentlichen übereinstimmen.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird als der in der gesättigten Dampfphase vorliegende Stoff ein Reinstoff oder ein azeotropes Stoffgemisch verwendet wird.
  • Ggf. kann auch nicht-azeotropes Stoffgemisch verwendet werden. In diesem Fall können verschiedene Siedepunktskurven vorliegen, wobei die tatsächlich angenommene davon bestimmt wird, von welcher Richtung (d.h. ob von höheren oder niedrigen Temperaturen bzw. Drücken her) man sich der gesättigten Dampfphase annähert. In der Regel ist dies aber aufgrund der Prozesssteuerung bekannt, so dass in diesem Fall dann die zu verwendende Siedepunktskurve aus mehreren derartigen hinterlegten Siedepunktskurven entsprechend ausgewählt werden kann.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird als der in der gesättigten Dampfphase vorliegende Stoff gesättigter Wasserdampf verwendet, der, insb. im Rahmen einer Vor-Ort-Sterilisation (SIP), in den Behälter eingeleitet wird. Die (zyklische) Vor-Ort-Sterilisation (SIP) ist oftmals ein ohnehin notwendiger Schritt in den vorstehend genannten Industrien, aufgrund deren hoher hygienischer Anforderungen.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird der Stoff wiederkehrend, insb. zumindest zehn Mal, in der gesättigten Dampfphase in den Behälter eingeleitet.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung werden die Schritte A) und B) wiederkehrend für mehrere Zeitpunkte, in denen jeweils der Stoff in der gesättigten Dampfphase vorliegt, durchgeführt, wobei Schritt C) mit einer Vielzahl, insb. zumindest 10, von gemessenen Drücken und gemessenen Temperaturen durchgeführt wird.
  • Bevorzugt werden Schritt A) und B) zu im Wesentlichen gleichen Zeitpunkten durchgeführt.
  • Bei den mehreren Zeitpunkten handelt es sich nicht unbedingt um unmittelbar aufeinanderfolgende Zeitpunkte, bspw. für den Fall, dass der Stoff nur von Zeit zu Zeit in der gesättigten Dampfphase (bspw. periodisch) vorliegt.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird der Vergleich nur für Zeitpunkte vorgenommen, zu welchen Zeitpunkten der gemessene Druck im Wesentlichen konstant ist und die sich an ein vorgegebenes Zeitintervall anschließen, in welchem vorgegebenen Zeitintervall der gemessene Druck im Wesentlichen konstant ist.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung ist das vorgegebene Zeitintervall derart an eine Ansprechzeit des Temperatursensors angepasst, dass das vorgegebene Zeitintervall größer als die T90 Ansprechzeit des Temperatursensors, insb. größer als die T95 Ansprechzeit des Temperatursensors, ist.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird mittels eines Algorithmus ein mathematisches Glättungsverfahren auf die Vielzahl der gemessenen Drücke oder korrespondierenden Temperaturen und auf die Vielzahl der gemessenen Temperaturen oder korrespondierenden Drücke angewandt.
  • Der Vergleich zwischen den gemessen Temperaturen und den korrespondieren Temperaturen bzw. den gemessenen Drücken und den korrespondierenden Drücken umfasst bspw.
    • - die Bestimmung einer betragsmäßigen Differenz zwischen der Temperatur und der korrespondierenden Temperatur (oder: Druck und korrespondierender Druck).
    • - Für den Fall der Auswertung einer Vielzahl von Zeitpunkten an denen der gemessene Druck und/oder die gemessene Temperatur im Wesentlichen konstant ist, umfasst der Vergleich bspw.: Für die Vielzahl der Temperaturen und der korrespondierenden Temperaturen (oder die Vielzahl der Drücke und der korrespondierenden Drücke): die Bildung eines Mittelwerts- und/oder Medians der betragsmäßigen Differenzen der Vielzahl der Temperaturen und der korrespondierenden Temperaturen (oder der Vielzahl der Drücke und der korrespondierenden Drücke).
    • - Das Bilden eines Korrelationskoeffizienten und/oder das Bilden eines - ggf. gewichteten - linear gleitenden Durchschnitts zwischen der betragsmäßigen Differenz der Vielzahl der Temperaturen und der korrespondierenden Temperaturen (oder der Vielzahl der Drücke und der korrespondierenden Drücke).
    • - In der Ausgestaltung, welche umfasst: Ermitteln einer Mess-Siedepunktskurve anhand der Vielzahl von im Wesentlichen gleichzeitig gemessenen Temperaturen und/oder Drücke und Vergleich der ermittelten Mess-Siedepunktskurve mit der hinterlegten Siedepunktskurve, kann der Vergleich zwischen den beiden Siedepunktskurven auch mit einem entsprechenden Auswertealgorithmus zur Bestimmung einer Abweichung zwischen den beiden Siedepunktskurven durchgeführt werden. Hierbei werden aus dem Stand der Technik bekannte mathematische Verfahren zur Bestimmung einer Abweichung zwischen zwei Kurven verwendet. Ein Maß für eine Abweichung stellt bspw. ein Korrelationskoeffizient dar.
  • Die betragsmäßige Differenz, der Mittelwert, der Median, der Korrelationskoeffizient und/oder der gleitende Durchschnitt dient/dienen als Kenngröße für eine Abweichung zwischen den Temperaturen und der korrespondierenden Temperaturen (bzw. zwischen den Drücken und den korrespondierenden Drücke). Es wird bspw. überprüft, ob die Kenngröße eine vorgebbare kritische Kenngröße für die Abweichung über- oder unterschreitet. Mittels dieser Kenngröße kann eine Bewertung erfolgen, ob eine systematische Abweichung zwischen dem ersten Sensor und dem zweiten Sensor vorliegt. Es wird bspw. im Rahmen einer Verifizierung des ersten Sensors eine Warnungsmeldung für den ersten Sensor generiert, wenn die vorgebbare kritische Kenngröße für die Abweichung über- oder unterschritten wird. Dadurch kann der erste Sensor mittels des als Referenzsensor dienenden zweiten Sensors kalibriert, verifiziert und/oder justiert werden.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird/werden anhand der Vielzahl der ermittelten korrespondieren Temperaturen oder korrespondieren Drücke zumindest ein Kalibrierpunkt, nämlich zumindest eine Kalibriertemperatur oder zumindest ein Kalibrierdruck ermittelt, vorzugsweise zumindest zwei unterschiedliche Kalibrierpunkte, nämlich entweder zumindest zwei Kalibriertemperaturen oder zumindest zwei Kalibrierdrücke, mittels welcher/welchem Kalibrierpunkte/n der erste Sensor kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  • Aus der Vielzahl der ermittelten korrespondieren Temperaturen oder korrespondieren Drücken wird zumindest ein Kalibrierpunkt ausgewählt, an welchem der erste Sensor mittels des zweiten Sensors kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird zumindest ein in dem Behälter angeordnetes Referenzelement bereitgestellt, welches Referenzelement zumindest teilweise aus einem Material besteht, für welches Material bei einer als Referenz-Kalibriertemperatur dienenden Phasenübergangstemperatur zumindest ein Phasenübergang auftritt, für welchen Phasenübergang das Material in der festen Phase verbleibt, wobei der Stoff oder ein weiterer Stoff, welcher weitere Stoff zumindest zeitweise in dem Behälter alternativ zum Stoff vorliegt, in dem Behälter zumindest zeitweise auf die Phasenübergangstemperatur gebracht wird und wobei das Auftreten des Phasenübergangs anhand einer, insbesondere sprunghaften, Änderung zumindest einer für das Referenzelement charakteristischen physikalischen oder chemischen Kenngröße detektiert wird und dadurch das Vorliegen der Referenz-Kalibriertemperatur in dem Behälter detektiert wird.
  • In dieser vorteilhaften Ausgestaltung wird mittels des Referenzelements bzw. seiner Phasenübergangstemperatur ein in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des Temperatursensors ermöglicht. Die Anmelderin verweist hierbei auf die Offenbarung der eingangs genannten DE 10 2010 040 039 A1 , die DE 10 2014 112 425A1 und die DE 10 2017 100 266 A1 für die Ausgestaltung des Referenzelements und/oder der Detektionseinheit, auf welche vollumfänglich Bezug genommen wird.
  • Bevorzugt wird der Stoff in dem Behälter, der zumindest zeitweise in der gesättigten Dampfphase vorliegt, auch zumindest zeitweise auf die Phasenübergangstemperatur gebracht. Dabei kann die Phasenübergangstemperatur in der gesättigten Dampfphase erreicht werden- dies muss aber nicht der Fall sein. Es kann bspw. der Stoff, welcher nur zeitweise in der gesättigten Dampfphase vorliegt, die Phasenübergangstemperatur auch zu Zeitpunkten durchlaufen, an denen gerade keine gesättigte Dampfphase vorliegt.
  • Alternativ dazu kann aber auch derjenige Stoff (=ein erster Stoff), in dessen gesättigter Dampfphase der erste Sensor mittels des zweiten Sensors kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird, sich von einem weiteren Stoff (=ein zweiter Stoff) unterscheiden, welcher zweite Stoff zumindest zeitweise in dem Behälter alternativ zu dem ersten Stoff vorliegt, wobei der zweite Stoff die Phasenübergangstemperatur zumindest zeitweise aufweist. Beispielsweise ist bei der Verwendung von Alkohol als ersten Stoff die Temperatur in der gesättigten Dampfphase wesentlich niedriger im Vgl. zu bspw. gesättigtem Wasserdampf bei vergleichbaren Drücken, so dass bei typischen Referenzelementen (bspw. das in der DE 10 2010 040 039 A1 beschriebene Referenzelement) deren Phasenübergangstemperatur durch den gesättigten Dampf nicht unbedingt erreicht werden kann. In diesem Fall wird die Phasenübergangstemperatur des Referenzelements mittels eines weiteren Stoffs durchlaufen, welcher auch zeitweise in dem Behälter vorliegt. Dieser zweite Stoff kann (aber muss nicht unbedingt= in seiner gesättigten Dampfphase vorliegen, da dessen gesättigte Dampfphase nicht zum Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors verwendet wird. Bevorzugt liegt in diesem Fall die Referenz-Kalibriertemperatur dabei immer oberhalb der gesättigten Dampfphasentemperatur des ersten Stoffs über den gesamten Druckbereich.
  • In einer vorteilhaften Weiterbildung dieser Ausgestaltung wird als der erste Sensor der Drucksensor und als der zweite Sensor der Temperatursensor verwendet, wobei der Drucksensor mittels der Detektion des Vorliegens der Referenz-Kalibriertemperatur zumindest an einem Referenz-Kalibrierdruck, welcher Referenz-Kalibrierdruck anhand der hinterlegten Siedepunktskurve aus der Referenz-Kalibriertemperatur bestimmt wird, kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird und/oder wobei der Drucksensor anhand zumindest einer aus einer hinterlegten Kennlinie des Temperatursensors und der Referenz-Kalibriertemperatur abgeleiteten Kalibiertemperatur bei Vorliegen der zumindest einen abgeleiteten Kalibriertemperatur zumindest an einem abgeleiteten Kalibrierdruck, welcher abgeleitete Kalibrierdruck anhand der hinterlegten Siedepunktskurve aus der abgeleiteten Kalibriertemperatur bestimmt wird, kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  • Dadurch wird über das Referenzelement also nicht nur ein in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des Temperatursensors ermöglicht, sondern über die Korrelation von Temperatur und Druck an der Siedepunktskurve kann das Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des Temperatursensors auf den Drucksensor weitergeführt werden.
  • Anhand der bekannten Kennlinie des Temperatursensors kann dies einerseits an der Referenz-Kalibriertemperatur oder an einer über die Kennlinie abgeleiteten Kalibriertemperatur erfolgen bzw. entsprechend bei dem daraus und der Siedepunktskurve bestimmten Referenz-Kalibrierdruck oder abgeleiteten Kalibrierdruck.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird als der erste Sensor der Temperatursensor und als der zweite Sensor der Drucksensor verwendet, wobei der Temperatursensor mittels der Detektion des Vorliegens der Referenz-Kalibriertemperatur an der Referenz-Kalibriertemperatur und/oder der abgeleiteten Kalibriertemperatur und anhand der zumindest einen Kalibriertemperatur, insb. den zumindest zwei Kalibriertemperaturen, kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  • Die zumindest zwei Kalibriertemperaturen unterscheiden sich beide beispielsweise zumindest um ein Vielfaches einer Messunsicherheit der Temperaturmessung von der Referenz-Kalibriertemperatur, bezogen auf eine Angabe der Messunsicherheit in °C. Dies heißt, dass die zumindest zwei Kalibriertemperaturen zumindest um einen Faktor der Messunsicherheit kleiner und/oder größer als die Referenz-Kalibriertemperatur sind, wobei der Faktor zumindest größer eins ist. Bspw. beträgt der Unterschied zumindest die fünffache Messunsicherheit, bevorzugt zumindest die zehnfache Messunsicherheit. Dadurch sind die zumindest zwei Kalibriertemperaturen ausreichend weit von der Referenz-Kalibriertemperatur entfernt, bezogen auf die Messunsicherheit der Temperaturmessung.
  • Bspw. ist die Referenz-Kalibriertemperatur kleiner als eine Sterilisierungstemperatur der vorstehend genannten Vor-Ort-Sterilisierung (SIP) und die zumindest zwei Kalibrierungstemperaturen sind beide jeweils zumindest um die zehnfache Messunsicherheit der Temperaturmessung größer als die Sterilisierungstemperatur.
  • Bezüglich des Messsystems wird die Aufgabe gelöst durch ein Messsystem einer Prozessanlage, umfassend:
    • - einen ersten Sensor und einen als Referenzsensor dienenden zweiten Sensor, welcher erste Sensor und zweite Sensor in einem Behälter einer Prozessanlage angeordnet sind, wobei einer der beiden Sensoren, nämlich entweder der erste Sensor oder der zweite Sensor, als ein Temperatursensor und der andere der beiden Sensoren als ein Drucksensor ausgestaltet ist;
    • - eine übergeordnete Steuerungseinheit, an die der erste Sensor und der zweite Sensor mittels einer Kommunikationsverbindung angeschlossen sind; und
    • - einen Einlass, über den ein Stoff in den Behälter zumindest zeitweise einleitbar ist;
    wobei das Messsystem dazu ausgestaltet ist, das erfindungsgemäße Verfahren durchzuführen, alleine oder in Kombination mit einer mit der übergeordneten Steuerungseinheit verbundenen weiteren Einheit.
  • Die Kommunikationsverbindung ist insb. Teil eines drahtgebundenen oder drahtlosen Kommunikationsnetzwerks.
  • Für den Fall, dass das Kommunikationsnetzwerk als ein drahtgebundenes Kommunikationsnetzwerk ausgestaltet ist, kann es sich zum Beispiel um einen drahtgebundenen Feldbus der Automatisierungstechnik, beispielsweise Foundation Fieldbus, Profibus PA, Profibus DP, HART, CANBus, etc. handeln. Es kann aber auch um ein modernes industrielles Kommunikationsnetzwerk, beispielsweise um einen „Industrial Ethernet“-Feldbus, insbesondere Profinet, HART-IP oder Ethernet/IP oder um ein aus dem Kommunikationsbereich bekanntes Kommunikationsnetzwerk, beispielsweise Ethernet nach dem TCP/IP-Protokoll, handeln.
  • Für den Fall, dass das Kommunikationsnetzwerk als ein drahtloses Kommunikationsnetzwerk ausgestaltet ist, kann es sich zum Beispiel um ein Bluetooth, ZigBee-, WLAN-, GSM-, LTE-, UMTS-Kommunikationsnetzwerk oder aber auch eine drahtlose Version eines Feldbusses, insbesondere 802.15.4 basierte Standards wie WirelessHART handeln.
  • Bei der übergeordneten Steuerungseinheit handelt es sich bspw. um eine speicherprogrammierte Steuerungseinheit (SPS) mit bspw. einen PC in einer Leitwarte.
  • Bei der mit der übergeordneten Steuerungseinheit verbundenen weiteren Einheit handelt es sich insb. um einen PC, ein mobiles Endgerät und/oder eine Cloud. Bei dem mobilen Endgerät handelt es sich bspw. um ein Laptop, Tablet, Smartphone, eine Datenbrille oder ein für die Prozessautomatisierung spezifisches mobiles Endgerät, etwa das von der Anmelderin unter dem Namen „Field Xpert“ vertriebene mobile Endgerät.
  • Zur Ausführung des Verfahrens, bspw. des vorstehend genannten Algorithmus, kann die übergeordnete Steuerungseinheit oder die damit verbundene Einheit ein entsprechendes Computerprogrammprodukt aufweisen.
  • In einer Ausgestaltung des Messsystem weist dieses auf:
    • - zumindest ein in dem Behälter angeordnetes Referenzelement, welches Referenzelement zumindest teilweise aus einem Material besteht, für welches Material bei einer als Referenz-Kalibriertemperatur dienenden Phasenübergangstemperatur zumindest ein Phasenübergang auftritt, für welchen Phasenübergang das Material in der festen Phase verbleibt, wobei der Stoff oder ein weiterer Stoff, welcher weitere Stoff zumindest zeitweise in dem Behälter alternativ zum Stoff vorliegt, in dem Behälter zumindest zeitweise die Phasenübergangstemperatur aufweist, und
    • -eine Detektionseinheit, welche dazu ausgestaltet ist, das Auftreten des Phasenübergangs anhand einer, insb. sprunghaften, Änderung zumindest
    • einer für das Referenzelement charakteristischen physikalischen oder chemischen Kenngröße zu detektieren.
  • In einer Ausgestaltung des Messsystem sind das Referenzelement und die Detektionseinheit dem Temperatursensor zugeordnet. Dies ist ähnlich der in der DE 10 2010 040 039 A1 offenbarten Lösung.
  • In einer Ausgestaltung des Messsystems ist der Drucksensor als ein Absolutdrucksensor ausgestaltet.
  • Alternativ ist der Drucksensor als ein Differenzdrucksensor ausgestaltet. In diesem Fall ist entweder der Umgebungsdruck bekannt und/oder wird mittels eines weiteren Drucksensors, der von dem Messsystem umfasst wird, ermittelt, wobei der weitere Drucksensor als ein Absolutdrucksensor ausgestaltet ist, der derart angeordnet ist, dass der weitere Drucksensor einen Umgebungsdruck ermittelt. In beiden Fällen kann mittels des bekannten und/oder gemessenen Umgebungsdrucks und des gemessenen Differenzdrucks der in dem Behälter vorliegende Absolutdruck ermittelt werden.
  • In einer Ausgestaltung des Messsystems sind der erste Sensor und der zweite Sensor an zueinander angrenzenden Bereichen in dem Behälter angeordnet.
  • Die Erfindung sowie weitere vorteilhafte Ausgestaltungen werden nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. Gleiche Teile sind in allen Figuren mit denselben Bezugszeichen versehen; wenn es die Übersichtlichkeit erfordert oder es anderweitig sinnvoll erscheint, wird auf bereits erwähnte Bezugszeichen in nachfolgenden Figuren verzichtet.
  • Es zeigt:
    • 1. Eine erste Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Messsystems;
    • 2. Eine exemplarische Siedepunktskurve, die in dem erfindungsgemäßen Verfahren hinterlegt ist;
    • 3a. Einen gemessenen zeitlichen Temperaturverlauf und Druckverlauf bei einem wiederholten Einleiten eines Stoffs in einer gesättigten Dampfphase;
    • 3a: Eine Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens;
    • 4: Eine zweite Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Messsystems;
    • 5a: Eine schematische Darstellung des zeitlichen Verlaufs einer charakteristischen Kenngröße;
    • 5b: Eine schematische Darstellung einer Kennlinie eines Temperatursensors und der Bestimmung abgeleiteter Kalibrierpunkte;
    • 6: Eine dritte Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Messsystems; und
    • 7: Eine schematische Darstellung einer Mehrpunkt-Kalibrierung mit dem erfindungsgemäßen Verfahren.
  • In 1 ist ein Behälter 1 einer Prozessanlage dargestellt, über den mittels eines Einlasses 8 des Behälters 1 zumindest zeitweise ein Stoff 4 eingeleitet wird, der sich in der gesättigten Dampfphase befindet. Der Behälter 1 kann selbstverständlich noch weitere Ein- und/oder Auslässe (hier nicht gezeigt) aufweisen, bspw. zum Einleiten eines weiteren Stoffs 5 und/oder eines Prozessmediums.
  • Der Behälter 1 kann bspw. ein System von miteinander verbundenen Rohrleitungen umfassen und/oder als ein Tank ausgebildet sein. Die Prozessanlage umfasst zumindest zwei Sensoren 2; 3, von denen ein erster Sensor 2 als ein zu kalibrierender, verifizierender und/oder zu justierender Sensor 2 ausgebildet ist und ein zweiter Sensor 3 als ein Referenzsensor dient. Genau einer der Sensoren 2;3 ist als Drucksensor pS ausgestaltet - in dem hier gezeigten Bsp. der zweite Sensor 3 - und der andere der Sensoren als ein Temperatursensor TS - in dem hier gezeigten Bsp. der erste Sensor 2. Die Sensoren 2;3 sind dazu ausgestaltet jeweils die Temperatur oder den Druck in dem Behälter 1 zu messen. Da der Drucksensor pS in diesem Bsp. als der zweite Sensor 3 d.h. als Referenz dient, liegt dieser als kalibriert vor. Bevorzugt sind die beiden Sensoren 2;3 an zueinander angrenzenden Bereichen in dem Behälter 1 angeordnet.
  • Beide Sensoren 2,3 sind mittels einer Kommunikationsverbindung KV an eine übergeordnete Steuerungseinheit 14 angeschlossen, über welche die Sensoren 2,3 die ermittelten Messsignale oder -werte an die übergeordnete Steuerungseinheit 14 übermitteln. Bevorzugt handelt es sich bei der Kommunikationsverbindung KV um einen drahtgebundenen bzw. zumindest teilweise drahtlosen Feldbus der Automatisierungstechnik.
  • Bei der übergeordneten Steuerungseinheit 14 handelt es sich bspw. um eine SPS oder eine PLC. Die übergeordnete Steuerungseinheit 14 kann wie hier gezeigt mit einer weiteren Einheit 15, bspw. einer Cloud, verbunden sein. In der übergeordneten Steuerungseinheit 14 und ggf. der weiteren Einheit 15 ist/sind entsprechende Computerprogrammprodukte zur Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens hinterlegt.
  • Ferner ist eine in 2 gezeigte Siedepunktskurve SPK, welche für einen jeweiligen Stoff 4 bekannt ist, in der übergeordneten Steuerungseinheit 14 oder der weiteren Einheit 15 hinterlegt. Die Siedepunktskurve SPK entspricht dem Grenzfall zwischen einem Stoff 4 in der flüssigen Phase FI und der Dampfphase in dem PT-Zustandsdiagramm, welche für einen gesättigte Dampfphase gerade vorliegt. Für einen Stoff 4, der gesättigten Dampfphase in dem Behälter 1 vorliegt, korrelieren die Temperatur und der Druck in dem Behälter 1 daher über die Siedepunktskurve SPK.
  • Ggf. kann auch eine Vielzahl von Siedepunktskurven SPK hinterlegt sein, so dass ein Anwender das Verfahren auf den jeweiligen Stoff 4 unter Auswahl der dafür bekannten Siedepunktskurve SPK abstimmen kann.
  • Erfindungsgemäß wird nun der erste Sensor 2 mittels des zweiten Sensors 3 und der Siedepunktskurve SPK in-situ kalibriert, verifiziert und/oder justiert.
  • Hierfür wird zu im Wesentlichen gleichen Zeitpunkten mit dem Drucksensor pS der Druck und mit dem Temperatursensor TS die Temperatur wiederholt gemessen. Es werden aus den gemessen Temperaturen Tmess und den gemessenen Drücken pmess diejenigen Zeitpunkte ausgewählt, bei denen der Stoff 4 in der gesättigten Dampfphase vorliegt. Dies ist aus der Prozesssteuerung bekannt und kann ggf. noch mit den eingangs beschriebenen Mitteln zusätzlich überprüft werden.
  • In 3a ist ein typischer gemessener Temperaturverlauf Tmess (durchgezogene Linie) und ein typischer gemessener Druckverlauf pmess (gestrichelte Linie) dargestellt, welche eine Vielzahl von gemessenen Temperaturen bzw. gemessenen Drücken umfassen. Der gemessene Druck pmess wird über die hinterlegte Siedepunktskurve SPK in eine korrespondiere Temperatur Tkorr umgerechnet, welche bei Vorliegen der gesättigten Dampfphase in dem Behälter 1 herrschen muss. Die gemessene Temperatur Tmess wird nun für aus der Vielzahl der Messwerte ausgewählten Zeitpunkte ZP mit der korrespondierenden Temperatur Tkorr verglichen (oder andersherum der gemessene Druck pmess mit einem aus der gemessenen Temperatur Tmess über die Siedepunktskurve SPK berechneten korrespondierenden Druck pkorr).
  • Bevorzugt werden Zeitpunkte ZP ausgewählt, bei denen der gemessene Druck pmess im Wesentlichen konstant ist und auch für zumindest ein vorgegebenes Zeitintervall ZI bereits konstant war, wobei das vorgegebene Zeitintervall ZI vorteilhaft an eine Ansprechzeit des jeweiligen Temperatursensors TS angepasst ist. Diese ist üblicherweise für den verwendeten Temperatursensor TS spezifiziert.
  • Zum Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors 2 werden für die derart ausgewählten Messzeitpunkte die gemessenen Temperaturen Tmess mit den korrespondierenden Temperaturen Tkorr verglichen.
  • Hierzu kann eine Vielzahl statistischer Vergleichsverfahren verwendet werden, wobei in 3b beispielhaft die Verwendung eines sog. gleitenden Durchschnitt Av(Tmess, Tkorr) dargestellt ist, welcher im Wesentlichen einem digitalen Tiefpassfilter zur Bewertung der Messwerte Tmess, pmess umfasst. Die aktuelle gemessene Temperatur Tmess geht dabei immer mit der gleichen Gewichtung in das Rechenergebnis ein (z.B. 5%), während sich der überwiegende Teil (95%) aus dem vorangegangenen Ergebnis speist. So kann gewährleistet werden, dass eine hochfrequente Streuung geglättet wird, während eine systematische Abweichung sich nach einiger Zeit durchsetzt und dadurch mit dem erfindungsgemäßen Verfahren sicher erkannt wird. Der gleitende Durchschnitt Av(Tmess, Tkorr) dient als Kenngröße für eine systematische Abweichung bei dem Kalibrieren und/oder Verifizieren des ersten Sensors 2. Es wir bspw. überprüft, ob der gleitende Durchschnitt eine kritische Abweichung Max überschreitet und bspw. eine Warnmeldung generiert, sobald die erkannte Abweichung Av(Tmess,Tkorr) mehr als die kritische Abweichung Max beträgt.
  • Aus der Vielzahl der ausgewählten Temperaturen bzw. Drücke kann ferner zumindest ein Kalibrierpunkt KP1, d.h. bspw. eine erste Kalibriertemperatur KT1 oder ein erster Kalibrierdruck Kp1 bestimmt werden.
  • Alternativ zu dem Vergleich zwischen gemessenen Temperaturen und korrespondieren Temperaturen (oder: gemessenen Drücken und korrespondieren Drücken) kann das erfindungsgemäße Verfahren auch einen Vergleich zwischen der hinterlegten Siedepunktskurve SPK und einer gemessenen Siedepunktskurve SPKmess umfassen ermittelt. Die gemessene Siedepunktskurve SPKmess wird dadurch ermittelt, dass zu im Wesentlichen gleichzeitigen Zeitpunkten gemessene Temperaturen Tmess und gemessene Drücke als Wertepaare in ein PT-Zustandsdiagramm eingetragen werden (Siehe 2, wobei die gemessene Siedepunktskurve SPKmess hier nicht dargestellt ist). Der Vergleich der hinterlegten Siedepunktskurve SPK mit der derart ermittelten gemessenen Siedepunktskurve SPKmess kann übliche mathematischen Verfahren umfassen, welche eine Bewertung hinsichtlich einer Abweichung zwischen zweier Kurven ermöglichen.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich insb. für Prozessanlagen, bei denen das zeitweise Einleiten eines Stoffs 4 in der gesättigten Dampfphase aus anderen Gründen ohnehin erforderlich ist, wie bspw. das zyklische Einleiten von gesättigtem Wasserdampf bei Vor-Ort-Sterilisierungen (SIP), welches in den vorstehend genannten Industrien mit hohen Hygieneanforderungen üblich ist.
  • In 4 ist eine weitere Ausgestaltung gezeigt, bei der anders als in dem in 1 gezeigten Fall jetzt der Drucksensor pS den zu kalibrierenden, verifizierenden und/oder justierenden ersten Sensor 2 bildet und der Temperatursensor TS als der zweite Sensor 3 d.h. als Referenzsensor dient.
  • Als weitere Besonderheit umfasst das Messsystem nun zusätzlich ein Referenzelement 6, das zumindest teilweise aus einem Material 10 besteht, für welches Material 10 bei einer als Referenz-Kalibriertemperatur RKT dienenden Phasenübergangstemperatur Tph zumindest ein Phasenübergang auftritt. Für diesen Phasenübergang verbleibt das Material 10 in der festen Phase. Der Stoff 4 (d.h der Stoff, dessen gesättigte Dampfphase zum Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren verwendet wird) oder wie hier gezeigt ein weiterer Stoff 5, welcher zumindest zeitweise in dem Behälter 1 alternativ zum Stoff 4 vorliegt, wird in dem Behälter 1 zumindest zeitweise auf die Phasenübergangstemperatur Tph gebracht.
  • Das Auftreten zumindest einen Phasenübergangs wird anhand einer insbesondere sprunghaften, Änderung zumindest einer für das Referenzelement 6 charakteristischen physikalischen oder chemischen Kenngröße G detektiert, wie in 5a illustriert ist. Sie zeigt den zeitlichen Verlauf einer zur Detektion des Phasenübergangs verwendeten charakteristischen physikalischen oder chemischen Kenngröße G. Findet in dem Referenzelement 6 ein Phasenübergang statt, so erfolgt in dem gezeigten Beispiel eine sprunghafte Änderung der Kenngröße G. Der Zeitpunkt, zu welchem die sprunghafte Änderung der Kenngröße G detektiert wird, ist der Phasenübergangszeitpunkt tph, zu welchem das Referenzelement 6 die Phasenübergangstemperatur Tph erreicht. Für die Detektion der sprunghaften Änderung der Kenngröße G wird eine mit dafür geeigneten Mitteln ausgestatte Detektionseinheit 7 verwendet, wobei hierbei wieder auf die Offenbarung der DE 10 2017 100 266 A1 verwiesen sei.
  • Dadurch kann der Temperatursensor 2 an der Phasenübergangstemperatur Tph in-situ kalibriert werden und dient wie in 4 gezeigt anschließend als der als Referenz dienende zweite Sensor. Vorteilhaft wird in dieser Ausgestaltung die bekannte in-situ Kalibrierung des Temperatursensors 2 über die Siedepunktskurve SPK also auf eine in-situ Kalibrierung des Drucksensors pS weitergeführt.
  • Für die in den 4 und auch der nachfolgenden 6 gezeigten Ausgestaltungen können ein oder mehrere Referenzelemente 6 integriert werden, wobei jedes Referenzelement 6 einen oder mehrere Phasenübergänge aufweisen kann. Da ein bestimmter Phasenübergang grundsätzlich bei einer bestimmten charakteristischen fixen und langzeitstabilen Phasenübergangstemperatur Tph stattfindet, müssen vorteilhaft im Prinzip keine Drift und/oder keine Alterungseffekte berücksichtigt werden.
  • Es handelt es sich bei dem Material 10 bspw. um ein ferroelektrisches Material 10, um ein ferromagnetisches Material 10, oder um einen Supraleiter, insbesondere einen HochtemperaturSupraleiter. Bei dem zumindest einen Phasenübergang handelt es sich entsprechend um einen Phasenübergang vom ferroelektrischen in den paraelektrischen Zustand oder umgekehrt, vom ferromagnetischen in den paramagnetischen Zustand oder vom supraleitenden Zustand in den normalleitenden Zustand oder umgekehrt.
  • Im Falle eines ferroelektrischen Materials eignet sich beispielsweise eine Ausgestaltung des Referenzelements 6 in Form eines Kondensatorelements. Das Material 10, für welches der Phasenübergang auftritt, bildet in diesem Fall das Dielektrikum. Das Referenzelement 6 umfasst bspw. Elektroden, welche mittels zwei Anschlussleitungen elektrisch kontaktiert sind, um beispielsweise die Kapazität des Referenzelements 6 zu messen und anhand einer insbesondere sprunghaften Änderung der Kapazität die Phasenübergangstemperatur Tph zu detektieren. Für weitere Details zu dieser Ausgestaltung des Referenzelements 6 in Form eines Kondensatorelements sei auf die Offenlegungsschrift DE 10 2010 040 039 A1 verwiesen.
  • Das Auftreten eines Phasenübergangs geht grundsätzlich mit der Änderung einer spezifischen Materialeigenschaft einher. Im Falle der vorliegenden Erfindung sind die materialspezifischen Änderungen für das Material 10, aus welchem das jeweilige Referenzelement 6 zumindest teilweise besteht, bekannt.
  • Die charakteristische physikalische oder chemische Kenngröße ist bspw. gegeben durch eine dielektrische, elektrische, oder magnetische Eigenschaft des Materials 10, beispielsweise durch eine magnetische oder elektrische Polarisation oder Remanenz, durch eine Kapazität oder eine Induktivität, oder durch eine Kristallstruktur oder ein Volumen.
  • Eine Detektionseinheit 7 umfasst bspw. Mittel zur Detektion der Änderung eines von dem Referenzelement 6 ausgehenden Feldes, insbesondere ein elektrisches oder magnetisches Feld, wobei die Detektionseinheit 7 dazu ausgestaltet ist, das Erreichen der Phasenübergangstemperatur Tph anhand einer Änderung des Feldes zu erkennen. Während des Phasenübergangs kann sich bspw. die Polarisation des jeweiligen Materials 10, welches den Phasenübergang durchläuft, ändern. Dies ist insb. bei ferroelektrischen und ferromagnetischen Materialien 10 der Fall.
  • 5b zeigt ferner eine bekannte Kennlinie K des Temperatursensors TS. Die Kennlinie K des Temperatursensors TS bezeichnet eine Abhängigkeit der Temperatur von einem von dem Temperatursensor TS erzeugten Messsignal MS. Wie hier illustriert, kann mittels der Kennlinie K eine Kalibrierung an der Referenz-Kalibriertemperatur RKT (bzw. an dem über die Siedepunktskurve SPK damit verknüpften Referenz-Kalibrierdruck RKp) auf einen anhand der Kennlinie K ermittelte abgeleitete Kalibriertemperatur aKT (bzw. abgeleiteten Kalibrierdruck aKp) rückgeführt werden. Diese Rückführung ist insb. von Vorteil, wenn die Phasenübergangstemperatur Tph nicht in dem Temperaturbereich liegt, welcher durch den Stoff 4 in der gesättigten Dampfphase angenommen wird oder die Phasenübergangstemperatur Tph nur durch das Einleiten des weiteren Stoffs 5 erreicht wird.
  • 6 zeigt eine weitere Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Messsystems. In dieser Ausgestaltung ist wie bereits in 1 wieder der Drucksensor pS der zweite Sensor 3 d.h. als ein als bereits kalibrierter Referenzsensor ausgestaltet und der Temperatursensor TS ist nun wieder als der der zu kalibrierende, verifizierende und/oder justierende erste Sensor 2.
  • Das Messsystem weist wie schon in 4 gezeigt das Referenzelement 6 und die Detektionseinheit 7 auf. Diese können wie in 4 als von dem Temperatursensor TS separate Einheiten ausgebildet sein, oder wie in 6 als in den Temperatursensor TS integrierte Einheiten ausgebildet sein, wobei selbstverständlich diese Integration auch mit der vorstehend in 4 erläuterten Ausgestaltung mutatis mutandis kombinierbar ist. Durch das Referenzelement 6 ist der Temperatursensor TS an der Referenz-Kalibriertemperatur RKT (bzw. ggf. zumindest einer abgeleiteten Kalibriertemperatur aKT, welche hier nicht weiter gezeigt ist) bereits kalibriert.
  • In dieser Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens steht mit dem bereits kalibrierten Drucksensor pS über die Siedepunktskurve SPK nun zumindest eine weitere, davon unabhängige Kalibriertemperatur KT1 zur Verfügung. Dies ist in 7 dargestellt, wobei mehrere miteinander zu vergleichende gemessene Temperaturen Tmess und korrespondierenden Temperaturen Tkorr zu drei unterschiedlichen Kalibriertemperaturen KT1,KT2,KT3 zusammengefasst werden. In dieser Ausgestaltung ist damit die Anzahl der Kalibriertemperaturen RKT, aKT, KT1 ,KT2,KT3 im Vgl. zu den Lösungen im Stand der Technik erhöht.
  • Bezugszeichenliste
  • 1
    Behälter
    2
    erster Sensor
    3
    zweiter Sensor
    4
    Stoff
    5
    weiterer Stoff
    6
    Referenzelement
    7
    Detektionseinheit
    8
    Einlass
    10
    Material
    14
    übergeordnete Steuerungseinheit
    15
    weitere Einheit
    TS
    Temperatursensor TS
    pS
    Drucksensor
    pmess, Tmess
    gemessene/r Druck, Temperatur
    pkorr, Tkorr
    korrespondierende/r Druck, Temperatur
    SPK
    hinterlegte Siedepunktskurve
    SPKmess
    ermittelte Siedepunktskurve
    ZP
    Zeitpunkte ZP
    ZI
    Zeitintervall ZI
    K1, K2
    Kalibrierpunkte
    Kp1, Kp2
    erster, zweiter Kalibrierdruck
    KT1, KT2
    erste, zweite Kalibriertemperatur
    Tph
    Phasenübergangstemperatur
    G
    Kenngröße
    K
    Kennlinie
    RKT, RKp
    Referenz-Kalibriertemperatur, Referenz-Kalibrierdruck
    aKT, aKp
    abgeleitete/r Kalibriertemperatur, Kalibrierdruck
    KV
    Kommunikationsverbindung
    MS
    Messsignal
    Av
    gleitender Durchschnitt
    Max
    kritische Abweichung
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • DE 102010040039 A1 [0004, 0033, 0035, 0050, 0077]
    • DE 102015112425 A1 [0005]
    • DE 102014112425 A1 [0033]
    • DE 102017100266 A1 [0033, 0073]

Claims (18)

  1. Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter (1) einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors (2) wobei in dem Behälter (1) der Prozessanlage ein als Referenzsensor dienender zweiter Sensor (3) angeordnet ist, wobei einer der beiden Sensoren (2;3), nämlich entweder der erste Sensor (2) oder der zweite Sensor (3), als ein Temperatursensor (TS) und der andere der beiden Sensoren (3;2) als ein Drucksensor ausgestaltet ist, wobei in dem Behälter (1) zumindest zeitweise ein sich in einer gesättigten Dampfphase befindlicher Stoff (4), dessen Siedepunktskurve (SPK) hinterlegt ist, vorliegt, und wobei das Verfahren die Schritte umfasst: A) Messen der Temperatur des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter (1) vorliegenden Stoffs (4) mit dem Temperatursensor (TS) und Speichern der gemessen Temperatur (Tmess); B) Messen des Drucks des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter (1) vorliegenden Stoffs mit dem Drucksensor (pS) und Speichern des gemessenen Drucks (pmess); C) Ermitteln einer zu dem gemessenen, gespeicherten Druck (pmess) korrespondierenden Temperatur (Tkorr) anhand der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK) und Vergleich der korrespondierenden Temperatur (Tkorr) mit der gemessenen Temperatur (Tmess) oder Ermitteln eines zu der gemessen, gespeicherten Temperatur (Tmess) korrespondierenden Drucks (pkorr) anhand der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK) und Vergleich des korrespondierenden Drucks (pkorr) mit dem gemessenen Druck (pmess); D) Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors (2), basierend auf dem Vergleich.
  2. Verfahren zum in-situ Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren eines in einem Behälter (1) einer Prozessanlage angeordneten, ersten Sensors (2) wobei in dem Behälter (1) der Prozessanlage ein als Referenzsensor dienender zweiter Sensor (3) angeordnet ist, wobei einer der beiden Sensoren (2;3), nämlich entweder der erste Sensor (2) oder der zweite Sensor (3), als ein Temperatursensor (TS) und der andere der beiden Sensoren (3;2) als ein Drucksensor ausgestaltet ist, wobei in dem Behälter (1) zumindest zeitweise ein sich in einer gesättigten Dampfphase befindlicher Stoff (4), dessen Siedepunktskurve (SPK) hinterlegt ist, vorliegt, und wobei das Verfahren die Schritte umfasst: A) Messen der Temperatur des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter (1) vorliegenden Stoffs (4) mit dem Temperatursensor (TS) und Speichern der gemessen Temperatur (Tmess); B) Messen des Drucks des in der gesättigten Dampfphase in dem Behälter (1) vorliegenden Stoffs mit dem Drucksensor (pS) und Speichern des gemessenen Drucks (pmess) C) Ermitteln einer Mess-Siedepunktskurve (SPKmess), welche durch zu im Wesentlichen gleichen Zeitpunkten erfassten Wertepaare von gemessenen Drücken (pmess) und gemessenen Temperatuten (Tmess) gebildet wird und Vergleich der Mess-Siedepunktskurve (SPKmess) mit der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK); D) Kalibrieren, Verifizieren und/oder Justieren des ersten Sensors (2), basierend auf dem Vergleich.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei als der in der gesättigten Dampfphase vorliegende Stoff (4) ein Reinstoff oder ein azeotropes Stoffgemisch verwendet wird.
  4. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei als der in der gesättigten Dampfphase vorliegende Stoff (4) gesättigter Wasserdampf verwendet wird, der, insb. im Rahmen einer Vor-Ort-Sterilisation (SIP), in den Behälter (1) eingeleitet wird.
  5. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei der Stoff (4) wiederkehrend, insb. zumindest zehn Mal, in der gesättigten Dampfphase in den Behälter (1) eingeleitet wird.
  6. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei die Schritte A) und B) wiederkehrend für mehrere Zeitpunkte (ZP), in denen jeweils der Stoff (4) in der gesättigten Dampfphase vorliegt, durchgeführt werden, und wobei Schritt C) mit einer Vielzahl, insb. zumindest 10, von gemessenen Drücken (pmess) und gemessenen Temperaturen (Tmess) durchgeführt wird.
  7. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei der Vergleich nur für Zeitpunkte (ZP) vorgenommen wird, zu welchen Zeitpunkten (ZP) der gemessene Druck (pmess) im Wesentlichen konstant ist und die sich an ein vorgegebenes Zeitintervall (ZI) anschließen, in welchem vorgegebenen Zeitintervall (ZI) der gemessene Druck (pmess) im Wesentlichen konstant ist.
  8. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei das vorgegebene Zeitintervall (ZI) derart an eine Ansprechzeit des Temperatursensors (TS) angepasst ist, dass das vorgegebene Zeitintervall (ZI) größer als die T90 Ansprechzeit des Temperatursensors (TS), insb. größer als die T95 Ansprechzeit des Temperatursensors (TS), ist.
  9. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche 6 bis 8, wobei mittels eines Algorithmus ein mathematisches Glättungsverfahren auf die Vielzahl der gemessenen Drücke (pmess) oder korrespondierenden Temperaturen (Tkorr) und auf die Vielzahl der gemessenen Temperaturen (Tmess) oder korrespondierenden Drücke (pkorr) angewandt wird.
  10. Verfahren nach zumindest einem der Ansprüche 6 bis 9, wobei anhand der Vielzahl der ermittelten korrespondieren Temperaturen (Tkorr) oder korrespondieren Drücke (pkorr) zumindest ein Kalibrierpunkt (K1,...), nämlich zumindest eine Kalibriertemperatur (KT1,...) oder zumindest ein Kalibrierdruck (Kp1,...) ermittelt wird/werden, vorzugsweise zumindest zwei unterschiedliche Kalibrierpunkte (K1,K2,...) , nämlich entweder zumindest zwei Kalibriertemperaturen (KT1,KT2...) oder zumindest zwei Kalibrierdrücke (Kp1,Kp2,...), ermittelt werden, mittels welcher/welchem Kalibrierpunkte/n (K1,...) der erste Sensor (2) kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  11. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei zumindest ein in dem Behälter angeordnetes Referenzelement (6) bereitgestellt wird, welches Referenzelement (6) zumindest teilweise aus einem Material (10) besteht, für welches Material (10) bei einer als Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) dienenden Phasenübergangstemperatur (Tph), zumindest ein Phasenübergang auftritt, für welchen Phasenübergang das Material (10) in der festen Phase verbleibt, wobei der Stoff (4) oder ein weiterer Stoff (5), welcher weitere Stoff (5) zumindest zeitweise in dem Behälter (1) alternativ zum Stoff (4) vorliegt, in dem Behälter zumindest zeitweise auf die Phasenübergangstemperatur (Tph) gebracht wird, und wobei das Auftreten des Phasenübergangs anhand einer, insbesondere sprunghaften, Änderung zumindest einer für das Referenzelement (3) charakteristischen physikalischen oder chemischen Kenngröße (G) detektiert wird und dadurch das Vorliegen der Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) in dem Behälter (1) detektiert wird.
  12. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche 1 bis 11, wobei als der erste Sensor (2) der Drucksensor (pS) und als der zweite Sensor (3) der Temperatursensor (TS) verwendet wird, und wobei der Drucksensor (pS) mittels der Detektion des Vorliegens der Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) an einem Referenz-Kalibrierdruck (RKp), welcher Referenz-Kalibrierdruck (RKp) anhand der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK) aus der Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) bestimmt wird, kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird und/oder wobei der Drucksensor (pS) anhand zumindest einer aus einer hinterlegten Kennlinie (K) des Temperatursensors (TS) und der Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) abgeleiteten Kalibiertemperatur (aKT) bei Vorliegen der zumindest einen abgeleiteten Kalibriertemperatur (aKT) zumindest an einem abgeleiteten Kalibrierdruck (aKp), welcher abgeleitete Kalibrierdruck (aKp) anhand der hinterlegten Siedepunktskurve (SPK) aus der abgeleiteten Kalibriertemperatur (aKT) bestimmt wird, kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  13. Verfahren nach zumindest einem der vorherigen Ansprüche, wobei als der erste Sensor (2) der Temperatursensor (TS) und als der zweite Sensor (3) der Drucksensor (pS) verwendet wird, und wobei der Temperatursensor (TS) mittels der Detektion des Vorliegens der Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) an der Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) und/oder der abgeleiteten Kalibriertemperatur (aKT) und anhand der zumindest einen Kalibriertemperatur (KT1,...), insb. den zumindest zwei Kalibriertemperaturen (KT1,KT2,...), kalibriert, verifiziert und/oder justiert wird.
  14. Messsystem einer Prozessanlage, umfassend - einen ersten Sensor (2) und einen als Referenzsensor dienenden zweiten Sensor (3), welcher erste Sensor (2) und zweite Sensor (3) in einem Behälter (1) einer Prozessanlage angeordnet sind, wobei einer der beiden Sensoren (2;3), nämlich entweder der erste Sensor (2) oder der zweite Sensor (3), als ein Temperatursensor (TS) und der andere der beiden Sensoren (3;2) als ein Drucksensor (pS) ausgestaltet ist; - eine übergeordnete Steuerungseinheit (14), an die der erste Sensor (2) und der zweite Sensor (3) mittels einer Kommunikationsverbindung (KV) angeschlossen sind; und - einen Einlass (8), über den ein Stoff (4) in den Behälter (1) zumindest zeitweise einleitbar ist; wobei das Messsystem dazu ausgestaltet ist, das Verfahren nach zumindest einem der Ansprüche 1 bis 13 durchzuführen, alleine oder in Kombination mit einer mit der übergeordneten Steuerungseinheit (14) verbundenen weiteren Einheit (15).
  15. Messsystem nach Anspruch 14, aufweisend: - ein in dem Behälter angeordnetes Referenzelement (6), welches Referenzelement (6) zumindest teilweise aus einem Material (10) besteht, für welches Material (10) bei einer als Referenz-Kalibriertemperatur (RKT) dienenden Phasenübergangstemperatur (Tph), zumindest ein Phasenübergang auftritt, für welchen Phasenübergang das Material (10) in der festen Phase verbleibt, wobei der Stoff (4) oder ein weiterer Stoff (5), welcher weitere Stoff (5) zumindest zeitweise in dem Behälter (1) alternativ zum Stoff (4) vorliegt, in dem Behälter (1) zumindest zeitweise die Phasenübergangstemperatur (Tph) aufweist, -eine Detektionseinheit (7), welche dazu ausgestaltet ist, das Auftreten des Phasenübergangs anhand einer, insb. sprunghaften, Änderung zumindest einer für das Referenzelement (3) charakteristischen physikalischen oder chemischen Kenngröße (G) zu detektieren.
  16. Messsystem nach Anspruch 15, wobei das Referenzelement (3) und die Detektionseinheit (7) dem Temperatursensor (TS) zugeordnet sind.
  17. Messsystem nach einem der Ansprüche 14 bis 16, wobei der Drucksensor (pS) als ein Absolutdrucksensor ausgestaltet ist.
  18. Messsystem nach einem der Ansprüche 14 bis 17, wobei der erste Sensor (2) und der zweite Sensor (3) an zueinander angrenzenden Bereichen in dem Behälter (1) angeordnet sind.
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