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キャパシタンス温度センサ及び温度測定装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 酸素16の所定重量%を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶を誘電体として用いて平板コンデンサを作製し、低温で高い誘電率を有し、残留分極特性がなく、かつ高い温度感度S=ΔC/ΔT、高い絶対感度Sd=(T/C)ΔC/ΔTを実現した、温度分解能の優れたキャパシタンス温度センサを提供すること。
【解決手段】 酸素16のうち所定重量%を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる誘電体を有する平行平板コンデンサのキャパシタンスを検出して温度測定を行うことを特徴とするキャパシタンス温度センサである。
【選択図】 図1

Description

本発明は、チタン酸ストロンチウム単結晶からなる誘電体を有する平行平板コンデンサのキャパシタンスを検出して温度測定を行うキャパシタンス温度センサに関する。
バルク単結晶のチタン酸ストロンチウム(以下「STO」という。)は、量子常誘電体として知られ、その比誘電率は、4.2Kで20,000以上の値を示す。また、その誘電率は、バイアス依存性、ストレス依存性を持ち、それらによって低下する特長を持っている。
米国特許第3649891号には、強誘電体材料をキャパシタンス温度センサとして用いることが記載されている。
米国特許第3649891号
上述したように、バルク単結晶STOは、低温で高い誘電率を示すため、超伝導デバイスや低温で使用される半導体デバイスで使用した場合は、極めて有用な誘電体である。
一方、従来技術に示すように、強誘電体材料をキャパシタンス温度センサとして用いると、温度変化によって残留分極が生じ、その結果、ヒシテリシス特性が現れるため、温度と測定されたキャパシタンス値との間に1対1の相対関係を有するキャパシタンス温度センサが得られなかった。
また、従来技術に示すように、強誘電体材料をキャパシタンス温度センサとするものは商品化されているが、その感度は20pF/K、およびその絶対感度は0.02と小さく、そのため、キャパシタンス温度センサとしては測定温度精度が低いことが問題となっていた。
本発明の第1の目的は、酸素16を重量30%以下の同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる量子常誘電性を有する平板コンデンサを作製し、低温で高い誘電率を有し、残留分極特性がなく、かつ高い温度感度S=ΔC/ΔT、高い絶対感度Sd=(T/C)ΔC/ΔTを実現した、温度分解能の優れたキャパシタンス温度センサを提供することにある。
本発明の第2の目的は、酸素16を重量35%以上50%以下の同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる強誘電性を有する平板コンデンサを作製し、低温で高い誘電率を有し、高い温度感度S=ΔC/ΔT、高い絶対感度Sd=(T/C)ΔC/ΔTを実現した、温度分解能の優れたキャパシタンス温度センサを提供することにある。
本発明は上記の課題を解決するために以下のような手段を採用した。
第1の手段は、酸素16のうち重量30%以下を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる誘電体を有する平行平板コンデンサのキャパシタンスを検出して温度測定を行うことを特徴とするキャパシタンス温度センサである。
第2の手段は、酸素16のうち重量35%以上50%以下を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる誘電体を有する平行平板コンデンサのキャパシタンスを検出して温度測定を行うことを特徴とするキャパシタンス温度センサである。
第3の手段は、第1の手段又は第2の手段に記載のキャパシタンス温度センサと、前記キャパシタンス温度センサのキャパシタンスを測定する測定器と、前記測定されたキャパシタンスから温度を求める測定器とからなることを特徴とする温度測定装置である。
第4の手段は、第3の手段において、前記キャパシタンス温度センサのキャパシタンスを測定する測定器が、キャパシタンスブリッジであることを特徴とする温度測定装置である。
第5の手段は、第3の手段または第4の手段において、温度を測定温度を測定する場が磁場中であることを特徴とする温度測定装置である。
本発明によれば、酸素16のうち重量30%以下を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶では、低温で高い誘電率を示し、特に、同位体酸素18の置換重量26%では、温度4.2Kにおいて50,000以上の比誘電率を有し、量子常誘電性を有するため、残留分極がなく、測定したキャパシタンスと温度との間に1対1の相対関係特性を有するキャパシタンス温度センサを得ることができる。
また、本発明によれば、酸素16のうち重量35%以上50%以下を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶では、低温で高い誘電率を示し、特に、同位体酸素18の置換重量38%では、誘電体温度4.2Kにおいて100,000以上の比誘電率を有する、強誘電性からなる、感度が500pF/K、絶対感度が0.09以上のキャパシタンス温度センサを得ることができる。
本発明の第1の実施形態を図1乃至図5を用いて説明する。
図1は本実施形態の発明に係るキャパシタンス温度センサの作製工程を示す図である。
チタン酸ストロンチウム単結晶は、切断や形状処理、また成長段階にできる格子欠陥によってその表面に低誘電体層が生じる。このため、例えば、厚さ200μmを有するチタン酸ストロンチウム単結晶をリン酸によるエッチング処理を行ったり、また切り出し作業等によって生じたストレスを受けた層を除去するためにケミカルエッチング処理を行い、厚さ100μmまで薄くして低誘電率層を除去する。その後、チタン酸ストロンチウム単結晶の酸素16を同位体酸素18で重量30%以下、例えば、重量26%置換する。置換の方法は、同位体酸素18とチタン酸ストロンチウム単結晶を密閉した容器中に封入し、600℃から1000℃の高温で熱処理を行う。同位体酸素18の置換重量はこの熱処理時間に依存する。その後、試料中の同位体酸素18を拡散させるため、真空中で長時間熱処理を行う。その後、蒸着によって銅を成膜し、その後金を蒸着して電極を形成し、量子常誘電性を有する平行平板コンデンサからなるキャパシタンス温度センサを得る。
図2は、チタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの誘電率の置換効果を説明する図である。
図2(a)は、同位体酸素18の置換重量0%のときの誘電率の温度依存性を示す図であり、図2(b)は、同位体酸素18の置換重量26%のときの誘電率の温度依存性を示す図である。
これらの図から明らかなように、両特性図とも量子常誘電性を示している。
図2(a)における誘電率の温度依存性は、温度2.2Kで比誘電率は約20000であり、極低温領域で誘電率が飽和する量子常誘電性を示していることが分る。
それに対して、チタン酸ストロンチウム単結晶の酸素16を同位体酸素18で重量26%置換したときの、図2(b)における誘電率の温度依存性は、2.2Kで比誘電率は50000を超え、量子常誘電性を維持していることが分る。なお、平行平板キャパシタンスCは誘電率ereと電極面積A、厚みtで計算されC=ereA/tで示される。ここでeは真空の誘電率である。
通常、キャパシタンス温度センサの性能は、その素子の任意温度での1K当りのキャパシタンス変化分(感度)S=ΔC/ΔTと、その感度をキャパシタンスで除算し温度を乗じた値(絶対温度)Sd=(T/C)ΔC/ΔTで評価される。
図3は、チタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの感度Sの向上を説明する図である。
図3(a)は、同位体酸素18の置換重量0%のときの感度Sを示す図であり、図3(b)は、同位体酸素18の置換重量26%のときの感度Sを示す図である。
これらの図から明らかなように、図3(a)における同位体酸素18の置換重量0%のときの感度Sは、2.2Kで3.1pF/Kであるのに対して、図3(b)に示すように同位体酸素18の置換重量26%のときの感度Sは32pF/Kとなり、感度が向上していることが分る。
図4は、チタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの絶対感度Sdの向上を説明する図である。
図4(a)は、同位体酸素18の置換重量0%のときの絶対感度Sdを示す図であり、図4(b)は、同位体酸素18の置換重量26%のときの絶対感度Sdを示す図である。
これらの図から明らかなように、図4(a)における同位体酸素18の置換重量0%のときの絶対感度Sdは、2.2Kで0.007であるのに対して、図4(b)に示すように同位体酸素18の置換重量26%のときの絶対感度Sdは0.022となり、約3倍以上絶対感度が向上し、高精度で温度計測できることが分る。この結果、量子常誘電体で高い感度が得られ、残留分極によるによる影響がないことから絶対温度計として利用できることが分る。
図5は、本実施形態の発明に係るキャパシタンス温度センサを用いた温度測定装置の構成を示す図である。
同図において、1は低温容器、2は低温容器1に設けられ、図示していない被測定物に設けられる平行平板コンデンサからなるキャパシタンス温度センサ、3は低温プローブ、4はキャパシタンス温度センサ2のキャパシタンスを測定する、例えば、LCRメーターやキャパシタンスブリッジ等からなる測定器、5は、例えば、パソコン等からなる測定されたキャパシタンス値から温度値を求める測定器である。
なお、一般にキャパシタンスの測定は、磁場の影響を受けないので、磁場中での温度計測に適している。
次に、本発明の第2の実施形態を図6乃至図9を用いて説明する。
図6は本実施形態の発明に係るキャパシタンス温度センサの作製工程を示す図である。
チタン酸ストロンチウム単結晶は、切断や形状処理、また成長段階にできる格子欠陥によってその表面に低誘電体層が生じるので、例えば、厚さ200μmを有するチタン酸ストロンチウム単結晶をリン酸によるエッチング処理を行ったり、また切り出し作業等によって生じたストレスを受けた層を除去するためにケミカルエッチング処理を行い、厚さ100μmまで薄くして低誘電率層を除去する。その後、チタン酸ストロンチウム単結晶の酸素16を同位体酸素18で重量35%以上50%以下、例えば、重量38%置換する。置換の方法は、同位体酸素18とチタン酸ストロンチウム単結晶を密閉した容器中に封入し、600℃から1000℃の高温で熱処理を行う。同位体酸素18の置換重量はこの熱処理時間に依存する。その後、試料中の同位体酸素18を拡散させるため、真空中で長時間熱処理を行う。その後、蒸着によって銅を成膜し、その後金を蒸着して電極を形成し、強誘電性を有する平行平板コンデンサからなるキャパシタンス温度センサを得る。
図7は、チタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの誘電率の置換効果を説明する図である。
図7(a)は、同位体酸素18の置換重量0%のときの誘電率の温度依存性を示す図であり、図7(b)は、同位体酸素18の置換重量38%のときの誘電率の温度依存性を示す図である。
これらの図から明らかなように、図7(a)では量子常誘電性を示すが、図7(b)では強誘電性を示している。
図7(a)における誘電率の温度依存性は、温度2.2Kで比誘電率は約20000以上であり、極低温領域で誘電率が飽和する量子常誘電性を示していることが分る。
それに対して、チタン酸ストロンチウム単結晶の酸素16を同位体酸素18で重量38%置換したときの、図7(b)における誘電率の温度依存性は、2.2Kで比誘電率は100000を超え、強誘電性を示していることが分る。
図8は、チタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの感度Sの向上を説明する図である。
図8(a)は、同位体酸素18の置換重量0%のときの感度Sを示す図であり、図8(b)は、同位体酸素18の置換重量38%のときの感度Sを示す図である。
これらの図から明らかなように、図8(a)における同位体酸素18の置換重量0%のときの感度Sは、2.2Kで3.1pF/Kであるのに対して、図3(b)における同位体酸素18の置換重量38%のときの感度Sは500pF/Kにもなり、感度が大幅に向上していることが分る。
図9は、チタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの絶対感度Sdの向上を説明する図である。
図9(a)は、同位体酸素18の置換重量0%のときの絶対感度Sdを示す図であり、図9(b)は、同位体酸素18の置換重量38%のときの絶対感度Sdを示す図である。
これらの図から明らかなように、図9(a)における同位体酸素18の置換重量0%のときの絶対感度Sdは、2.2Kで0.007であるのに対して、図9(b)に示すように同位体酸素18の置換重量38%のときの絶対感度Sdは0.095となり、約10倍以上絶対感度が向上し、高精度で温度計測できることが分る。この結果、強誘電性を有するため、残留分極を呈するものの、極めて高感度のキャパシタンス温度センサが得られる。
なお、本実施形態の発明に係るキャパシタンス温度センサを用いた温度測定装置の構成は、図5に示したものと同様であるので、説明を省略する。
本発明の第1の実施形態に係るキャパシタンス温度センサの作製工程を示す図である。 本発明の第1の実施形態に係るチタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの誘電率の置換効果を説明する図である。 本発明の第1の実施形態に係るチタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの感度Sの向上を説明する図である。 本発明の第1の実施形態に係るチタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの絶対感度Sdの向上を説明する図である。 本発明の第1の実施形態に係るキャパシタンス温度センサを用いた温度測定装置の構成を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係るキャパシタンス温度センサの作製工程を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係るチタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの誘電率の置換効果を説明する図である。 本発明の第2の実施形態に係るチタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの感度Sの向上を説明する図である。 本発明の第2の実施形態に係るチタン酸ストロンチウ単結晶の酸素16を同位体酸素18で置換したときのキャパシタンス温度センサの絶対感度Sdの向上を説明する図である。
符号の説明
1 低温容器
2 キャパシタンス温度センサ
3 低温プローブ
4 キャパシタンスを測定する測定器
5 温度を測定する測定器

Claims (5)

  1. 酸素16のうち重量30%以下を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる誘電体を有する平行平板コンデンサのキャパシタンスを検出して温度測定を行うことを特徴とするキャパシタンス温度センサ。
  2. 酸素16のうち重量35%以上50%以下を同位体酸素18で置換したチタン酸ストロンチウ単結晶からなる誘電体を有する平行平板コンデンサのキャパシタンスを検出して温度測定を行うことを特徴とするキャパシタンス温度センサ。
  3. 請求項1又は請求項2に記載のキャパシタンス温度センサと、前記キャパシタンス温度センサのキャパシタンスを測定する測定器と、前記測定されたキャパシタンスから温度を求める測定器とからなることを特徴とする温度測定装置。
  4. 前記キャパシタンス温度センサのキャパシタンスを測定する測定器が、キャパシタンスブリッジであることを特徴とする請求項3に記載の温度測定装置。
  5. 温度を測定する場が磁場中であることを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の温度測定装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010260776A (ja) * 2009-05-11 2010-11-18 Hitachi Ltd 誘電体材料、誘電体素子、および誘電体素子作成方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8636407B2 (en) 2010-02-17 2014-01-28 United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Wireless temperature sensor having no electrical connections and sensing method for use therewith
FR2985309B1 (fr) * 2012-01-02 2014-01-24 Commissariat Energie Atomique Capteur de temperature capacitif comprenant deux condensateurs en pont diviseur de tension
US9329153B2 (en) 2013-01-02 2016-05-03 United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of mapping anomalies in homogenous material
US10139288B2 (en) * 2013-09-25 2018-11-27 3M Innovative Properties Company Compositions, apparatus and methods for capacitive temperature sensing
US9515243B2 (en) 2014-12-22 2016-12-06 Infineon Technologies Ag Temperature sensor
US10254177B2 (en) 2016-09-14 2019-04-09 Nxp B.V. Temperature-to-digital converter
KR102521613B1 (ko) * 2018-05-04 2023-04-13 엘지이노텍 주식회사 액체 렌즈 제어 회로, 카메라 모듈 및 액체 렌즈 제어 방법
TWI776371B (zh) * 2020-01-30 2022-09-01 漢辰科技股份有限公司 用於在具有離子佈植機和處理站的離子佈植系統中控制晶圓溫度的方法、儲存一或多個程式的非暫態電腦可讀取儲存媒體以及離子佈植系統

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55159506A (en) * 1979-05-30 1980-12-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Temperature sensor and method of manufacturing same
JPH02290520A (ja) * 1988-12-22 1990-11-30 Univ North Carolina 物体の熱履歴の測定方法、熱記憶セル、熱履歴記録装置、熱記憶セルのセット、熱履歴の測定装置
JP2002090228A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Japan Atom Energy Res Inst 温度勾配の変化を検出するセンサー及び測定装置
JP2003209266A (ja) * 2001-08-31 2003-07-25 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 誘電率変化方法、その方法を利用した光可変容量コンデンサ、紫外線センサ及び磁気センサ

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3649891A (en) * 1970-06-18 1972-03-14 Corning Glass Works Capacitive cryogenic thermometer
JPS5685818A (en) * 1979-12-17 1981-07-13 Seiko Instr & Electronics Monocrsytalline condenser
US4545254A (en) * 1984-06-01 1985-10-08 Ceramphysics, Inc. Materials and methods for pressure and temperature sensors at cryogenic temperatures
US5434742A (en) * 1991-12-25 1995-07-18 Hitachi, Ltd. Capacitor for semiconductor integrated circuit and method of manufacturing the same
FI92441C (fi) * 1992-04-01 1994-11-10 Vaisala Oy Sähköinen impedanssianturi fysikaalisten suureiden, etenkin lämpötilan mittaamiseksi ja menetelmä kyseisen anturin valmistamiseksi
GB9217436D0 (en) * 1992-08-17 1992-09-30 De Beers Ind Diamond Diamond temperature sensor
US6954235B1 (en) * 1993-06-30 2005-10-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Silicon-on-sapphire display apparatus and method of fabricating same
US6297527B1 (en) * 1999-05-12 2001-10-02 Micron Technology, Inc. Multilayer electrode for ferroelectric and high dielectric constant capacitors
US20040047910A1 (en) * 2000-07-07 2004-03-11 Christian Beckett Suppository and composition comprising at least one polyethylene glycol
CA2360312A1 (en) * 2000-10-30 2002-04-30 National Research Council Of Canada Novel gate dielectric
JP3661850B2 (ja) * 2001-04-25 2005-06-22 富士通株式会社 半導体装置およびその製造方法
US7042230B1 (en) * 2005-02-28 2006-05-09 Alain Izadnegahdar Multi-parameter sensing system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55159506A (en) * 1979-05-30 1980-12-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Temperature sensor and method of manufacturing same
JPH02290520A (ja) * 1988-12-22 1990-11-30 Univ North Carolina 物体の熱履歴の測定方法、熱記憶セル、熱履歴記録装置、熱記憶セルのセット、熱履歴の測定装置
JP2002090228A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Japan Atom Energy Res Inst 温度勾配の変化を検出するセンサー及び測定装置
JP2003209266A (ja) * 2001-08-31 2003-07-25 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 誘電率変化方法、その方法を利用した光可変容量コンデンサ、紫外線センサ及び磁気センサ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010260776A (ja) * 2009-05-11 2010-11-18 Hitachi Ltd 誘電体材料、誘電体素子、および誘電体素子作成方法

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