RU2009120502A - Комплект зондов для микроскопа со сканирующим зондом - Google Patents
Комплект зондов для микроскопа со сканирующим зондом Download PDFInfo
- Publication number
- RU2009120502A RU2009120502A RU2009120502/28A RU2009120502A RU2009120502A RU 2009120502 A RU2009120502 A RU 2009120502A RU 2009120502/28 A RU2009120502/28 A RU 2009120502/28A RU 2009120502 A RU2009120502 A RU 2009120502A RU 2009120502 A RU2009120502 A RU 2009120502A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- probes
- probe
- probes according
- group
- sample
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
- G01Q60/38—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q10/00—Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
- G01Q10/04—Fine scanning or positioning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
- G01Q70/06—Probe tip arrays
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
1. Комплект зондов для использования в сканирующем зондовом микроскопе, причем комплект зондов содержит носитель, имеющий первое множество из по меньшей мере трех зондов, причем каждый зонд имеет головку, которая расположена на плоскости, которая является общей для множества головок зондов, и которая является подвижной относительно плоскости, отличающийся тем, что зонды, по существу, идентичны друг другу, и что комплект также включает в себя средство адресации, выполненное с возможностью выбора одного из множества зондов для относительного перемещения по отношению к большинству остальных зондов. ! 2. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что носитель включает в себя средство для прикрепления к креплению на микроскопе. ! 3. Комплект зондов по п.1 или 2, отличающийся тем, что каждый зонд включает в себя упругую опорную балку, а средство адресации содержит по меньшей мере один дополнительный слой, нанесенный на опорную балку, причем дополнительный слой создан из материала, отличного от материала опорной балки, с образованием таким образом многослойной структуры, содержащей по меньшей мере два слоя с различным термическим расширением. ! 4. Комплект зондов по п.3, отличающийся тем, что многослойный материал нагревают посредством удаленного источника света. ! 5. Комплект зондов по п.1 или 2, отличающийся тем, что средство адресации включает в себя мультиплексор, в результате чего электрические соединения с носителем могут быть уменьшены. ! 6. Комплект зондов по п.3, отличающийся тем, что средство адресации включает в себя мультиплексор, в результате чего электрические соединения с носителем могут быть уменьшены. ! 7. Ко�
Claims (37)
1. Комплект зондов для использования в сканирующем зондовом микроскопе, причем комплект зондов содержит носитель, имеющий первое множество из по меньшей мере трех зондов, причем каждый зонд имеет головку, которая расположена на плоскости, которая является общей для множества головок зондов, и которая является подвижной относительно плоскости, отличающийся тем, что зонды, по существу, идентичны друг другу, и что комплект также включает в себя средство адресации, выполненное с возможностью выбора одного из множества зондов для относительного перемещения по отношению к большинству остальных зондов.
2. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что носитель включает в себя средство для прикрепления к креплению на микроскопе.
3. Комплект зондов по п.1 или 2, отличающийся тем, что каждый зонд включает в себя упругую опорную балку, а средство адресации содержит по меньшей мере один дополнительный слой, нанесенный на опорную балку, причем дополнительный слой создан из материала, отличного от материала опорной балки, с образованием таким образом многослойной структуры, содержащей по меньшей мере два слоя с различным термическим расширением.
4. Комплект зондов по п.3, отличающийся тем, что многослойный материал нагревают посредством удаленного источника света.
5. Комплект зондов по п.1 или 2, отличающийся тем, что средство адресации включает в себя мультиплексор, в результате чего электрические соединения с носителем могут быть уменьшены.
6. Комплект зондов по п.3, отличающийся тем, что средство адресации включает в себя мультиплексор, в результате чего электрические соединения с носителем могут быть уменьшены.
7. Комплект зондов по п.6, отличающийся тем, что многослойный материал нагревают посредством резистивных нагревателей.
8. Комплект зондов по п.1 или 2, отличающийся тем, что носитель также включает в себя второе множество, состоящее из по меньшей мере трех, по существу, идентичных зондов, которое может быть такого же или отличного от первого множества зондов типа.
9. Комплект зондов по п.8, отличающийся тем, что средство адресации скомпоновано для выбора одного зонда из первого множества и/или одного зонда из второго множества.
10. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что носитель имеет внутренние кромки, образующие по меньшей мере один паз, простирающийся через носитель, и в котором зонды крепятся вдоль одной или более внутренних кромок.
11. Комплект зондов по п.10, отличающийся тем, что по меньшей мере один первый зонд и по меньшей мере один второй зонд обеспечены на соответствующих противоположных друг другу внутренних кромках опоры для зондов.
12. Комплект зондов по п.11, отличающийся тем, что упомянутые по меньшей мере один первый зонд и по меньшей мере один второй зонд перекрывают друг друга таким образом, что их головки располагаются в линию.
13. Комплект зондов по п.2, отличающийся тем, что средство для прикрепления содержит средство для хранения информации для каждого зонда.
14. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что средство адресации содержит соответствующие электрические соединения с каждым зондом.
15. Комплект зондов по п.14, отличающийся тем, что соответствующие электрические соединения включают в себя средство для приложения электрического потенциала между зондом и удаленным электродом.
16. Комплект зондов по п.15, отличающийся тем, что каждый зонд включает в себя упругую опорную балку, а средство адресации дополнительно включает в себя пьезоэлектрический материал, соединенный с соответствующим электрическим соединением для изгиба опорной балки.
17. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что дополнительно содержит сплошную подложку, на которой обеспечены упомянутые зонды, причем сплошная подложка крепится на носителе.
18. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что каждый из упомянутых зондов имеет соответствующую подложку, посредством которой зонд крепится на носителе.
19. Комплект зондов по п.1, отличающийся тем, что множество, состоящее из по меньшей мере трех зондов, включает в себя зонды типа, выбранного из следующих типов зондов: зонд для контактного режима; зонд для динамического режима; зонд для нанолитографии; зонд, выполненный с возможностью измерения емкости; зонд, чувствительный к локальным магнитным и/или электрическим полям; зонд, выполненный с возможностью оптической микроскопии ближнего поля; зонд со стандартным аспектным соотношением; зонд с высоким аспектным соотношением; зонды, обладающие различными радиусами головки.
20. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что по меньшей мере один из зондов имеет головку с радиусом кривизны 100 нм или менее.
21. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что по меньшей мере один из зондов имеет коэффициент жесткости менее 2 Н·м-1.
22. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что зонды скомпонованы, по существу, параллельно друг другу.
23. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что головки зондов распределены по общей плоскости, по существу, равномерно.
24. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что по меньшей мере два зонда размещены по общей плоскости на расстоянии друг от друга, отличном от расстояний между остальными зондами.
25. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что по меньшей мере два зонда имеют разделительный зазор, который регулируется по общей плоскости.
26. Комплект зондов по п.23, отличающийся тем, что зонд обеспечен на опоре для первого зонда, а второй зонд обеспечен на опоре для второго зонда, и в котором разделительный зазор между головками первого и второго зонда является фиксированным.
27. Комплект зондов по п.25, отличающийся тем, что первая группа зондов обеспечена на первой опоре для зондов, а вторая группа зондов обеспечена на второй опоре для зондов, и в котором разделительный зазор между головками зондов первой и второй групп регулируется.
28. Комплект зондов по п.27, отличающийся тем, что, по меньшей мере одна первая группа и по меньшей мере одна вторая группа обеспечены на соответствующих противоположных кромках, соответствующих первой и второй опор для зондов.
29. Комплект зондов по п.28, отличающийся тем, что упомянутые первая и вторая группы перекрывают друг друга таким образом, что головки зондов расположены в линию.
30. Комплект зондов по п.29, отличающийся тем, что каждая группа расположена на плоскости, которая является общей для других групп, и каждая головка зондов в упомянутой группе расположена на общей плоскости с другими головками зондов в упомянутой группе, причем каждая группа имеет соответствующее средство адресации.
31. Комплект зондов по п.30, отличающийся тем, что средство адресации выполнено с возможностью выбора по меньшей мере одной группы для относительного перемещения по отношению к большинству остальных зондов, не входящих в выбранную группу, и дополнительно выполнено с возможностью выбора одного из зондов из выбранной группы для относительного перемещения по отношению к большинству остальных зондов в группе, причем выбранный зонд представляет собой зонд в выбранной группе, который перемещают дальше всего от упомянутого большинства остальных зондов, не входящих в выбранную группу.
32. Комплект зондов по п.5, отличающийся тем, что общая плоскость, по существу, параллельна предметному столику.
33. Устройство для сканирующей зондовой микроскопии, содержащее предметный столик, комплект зондов по п.1, прикрепленный к креплению, и систему обнаружения для обнаружения положения зонда, выбранного из комплекта зондов, когда он сканируется относительно образца.
34. Устройство для сканирующей зондовой микроскопии по п.33, отличающееся тем, что микроскоп дополнительно включает в себя средство для настраивания выбранного зонда с системой обнаружения.
35. Способ исследования поверхности образца с использованием сканирующего зондового микроскопа, имеющего предметную пластину и систему обнаружения, причем способ включает в себя этапы:
крепления образца на предметной пластине сканирующего зондового микроскопа;
крепления комплекта зондов по п.1 в сканирующем зондовом микроскопе;
адресации одного или нескольких зондов для приведения головок адресованных зондов в движение от общей плоскости относительно остальных зондов и, следовательно, выбора одного или нескольких зондов для сканирования поверхности образца;
размещения выбранных зондов над поверхностью образца;
настраивания системы обнаружения сканирующего зондового микроскопа с одним или несколькими выбранными зондами;
формирования относительного перемещения между одним или несколькими выбранными зондами и поверхностью образца; и
мониторинга отклика одного или нескольких зондов на их взаимодействие с образцом с использованием системы обнаружения.
36. Способ по п.35, дополнительно включающий в себя этапы:
адресации второго набора одного или нескольких зондов для приведения головок адресованных зондов в движение от общей плоскости относительно остальных зондов, и таким образом выбора одного или нескольких зондов для сканирования поверхности образца;
размещения второго набора выбранных зондов над поверхностью образца;
настраивания системы обнаружения сканирующего зондового микроскопа со вторым набором выбранных зондов;
формирования относительного перемещения между вторым набором выбранных зондов и поверхностью образца; и
мониторинга отклика одного или нескольких зондов на их взаимодействие с образцом с использованием системы обнаружения.
37. Способ по п.36, отличающийся тем, что этап настраивания системы обнаружения осуществляют автоматически.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0621560.2 | 2006-10-31 | ||
GBGB0621560.2A GB0621560D0 (en) | 2006-10-31 | 2006-10-31 | Probe assembly for a scanning probe microscope |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2009120502A true RU2009120502A (ru) | 2010-12-10 |
RU2459214C2 RU2459214C2 (ru) | 2012-08-20 |
Family
ID=37546206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2009120502/28A RU2459214C2 (ru) | 2006-10-31 | 2007-10-31 | Комплект зондов для микроскопа со сканирующим зондом |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8910311B2 (ru) |
EP (1) | EP2084712B1 (ru) |
JP (1) | JP5248515B2 (ru) |
KR (1) | KR101474576B1 (ru) |
CN (1) | CN101601100B (ru) |
CA (1) | CA2667917A1 (ru) |
GB (1) | GB0621560D0 (ru) |
IL (1) | IL198394A (ru) |
RU (1) | RU2459214C2 (ru) |
SG (1) | SG176431A1 (ru) |
WO (1) | WO2008053217A1 (ru) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101142390B1 (ko) * | 2010-02-04 | 2012-05-18 | 주식회사 마린디지텍 | 다족 탐침을 이용한 에너지 전달 장치 |
GB201005252D0 (ru) | 2010-03-29 | 2010-05-12 | Infinitesima Ltd | |
CN102621351B (zh) * | 2012-04-20 | 2015-03-11 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 一种扫描近场光学显微镜 |
GB201215546D0 (en) * | 2012-08-31 | 2012-10-17 | Infinitesima Ltd | Multiple probe detection and actuation |
CN104251935B (zh) * | 2013-06-26 | 2018-03-06 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 测量晶圆电阻率的装置及方法 |
RU2592048C2 (ru) * | 2013-09-24 | 2016-07-20 | Закрытое Акционерное Общество "Нанотехнология Мдт" | Многозондовый датчик контурного типа для сканирующего зондового микроскопа |
EP2913681A1 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-02 | Infinitesima Limited | Probe system with multiple actuation locations |
EP2913682A1 (en) * | 2014-02-28 | 2015-09-02 | Infinitesima Limited | Probe actuation system with feedback controller |
KR101587342B1 (ko) * | 2014-03-21 | 2016-01-21 | 한국표준과학연구원 | 검출기의 좌표보정이 가능한 탐침현미경, 검출기의 좌표보정방법, 탐침현미경 초기화 방법 및 기록매체 |
KR102609862B1 (ko) * | 2014-04-17 | 2023-12-04 | 펨토매트릭스, 인코포레이티드. | 웨이퍼 계측 기술들 |
US9372203B1 (en) * | 2014-07-23 | 2016-06-21 | James Massie Design, Inc. | Actuators for securing probes in a scanning probe microscope |
CN104297147B (zh) * | 2014-09-24 | 2016-08-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 基板划伤程度的检测装置及其检测方法、检测系统 |
JP6766351B2 (ja) * | 2014-12-26 | 2020-10-14 | 株式会社リコー | 微小物特性計測装置 |
US9857216B2 (en) * | 2014-12-26 | 2018-01-02 | Ricoh Company, Ltd. | Minute object characteristics measuring apparatus |
EP3262425A1 (en) * | 2015-02-26 | 2018-01-03 | Xallent, LLC | Systems and methods for manufacturing nano-electro-mechanical-system probes |
DE102015210159B4 (de) | 2015-06-02 | 2018-09-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Sondensystem und Verfahren zum Aufnehmen einer Sonde eines Rastersondenmikroskops |
EP3118631A1 (en) | 2015-07-15 | 2017-01-18 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Scanning probe microscopy system for mapping high aspect ratio nanostructures on a surface of a sample |
CN104965323A (zh) * | 2015-07-21 | 2015-10-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种测试治具 |
KR102407818B1 (ko) * | 2016-01-26 | 2022-06-10 | 삼성전자주식회사 | 원자힘 현미경용 캔틸레버 세트, 이를 포함하는 기판 표면 검사 장치, 이를 이용한 반도체 기판의 표면 분석 방법 및 이를 이용한 미세 패턴 형성 방법 |
CN105891549A (zh) * | 2016-04-08 | 2016-08-24 | 西南交通大学 | 一种基于原子力显微镜的多功能组合探针系统 |
GB201610128D0 (en) | 2016-06-10 | 2016-07-27 | Infinitesima Ltd | Scanning probe system with multiple probes |
US10254105B2 (en) | 2016-12-05 | 2019-04-09 | Quality Vision International, Inc. | Exchangeable lens module system for probes of optical measuring machines |
CN107825115A (zh) * | 2017-11-27 | 2018-03-23 | 苏州索力旺新能源科技有限公司 | 一种光伏接线盒装配检测装置 |
CN111830295B (zh) * | 2019-04-18 | 2023-04-21 | 成都辰显光电有限公司 | 一种测试微元件电气性能的装置 |
WO2021086841A1 (en) | 2019-10-28 | 2021-05-06 | Trustees Of Boston University | Cantilever-free scanning probe microscopy |
DE102022202657A1 (de) | 2022-03-17 | 2023-09-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Wechseln von Sonden für Rastersondenmikroskope |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5705814A (en) * | 1995-08-30 | 1998-01-06 | Digital Instruments, Inc. | Scanning probe microscope having automatic probe exchange and alignment |
US5908981A (en) * | 1996-09-05 | 1999-06-01 | Board Of Trustees Of The Leland Stanford, Jr. University | Interdigital deflection sensor for microcantilevers |
DE19701701A1 (de) * | 1997-01-21 | 1998-07-23 | Zeiss Carl Fa | Sondenarray für ein Rastersondenmikroskop |
DE69721986T2 (de) * | 1997-08-27 | 2004-02-12 | Imec Vzw | Taststift-Konfiguration sowie Herstellungsverfahren und Verwendung von Taststiften |
US6196061B1 (en) * | 1998-11-05 | 2001-03-06 | Nanodevices, Inc. | AFM with referenced or differential height measurement |
RU2145055C1 (ru) | 1999-02-08 | 2000-01-27 | Ао "Автэкс" | Способ сбора и обработки информации о поверхности образца |
US6330824B1 (en) * | 1999-02-19 | 2001-12-18 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Photothermal modulation for oscillating mode atomic force microscopy in solution |
JP2000266657A (ja) | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Seiko Instruments Inc | 自己励振型カンチレバー |
US6672144B2 (en) * | 1999-03-29 | 2004-01-06 | Veeco Instruments Inc. | Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof |
JP2001027596A (ja) | 1999-05-13 | 2001-01-30 | Canon Inc | 走査型プローブによる表面特性・電気的特性の検出装置と検出方法、およびこれらにより構成されたマルチプローブによる表面特性・電気的特性の検出装置と検出方法、並びに観察装置と観察方法 |
WO2000075627A1 (en) * | 1999-06-05 | 2000-12-14 | Daewoo Electronics Co., Ltd. | Atomic force microscope and driving method therefor |
JP3785018B2 (ja) * | 2000-03-13 | 2006-06-14 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | マイクロプローブおよびそれを用いた走査型プローブ装置 |
KR20020054111A (ko) * | 2000-12-27 | 2002-07-06 | 오길록 | 1차원 다기능/다중 탐침 열을 이용한 고속/고밀도 광정보저장장치 |
CN2465175Y (zh) * | 2001-02-26 | 2001-12-12 | 中国科学院长春应用化学研究所 | 原子力显微镜多探针针座 |
US7253407B1 (en) * | 2001-03-08 | 2007-08-07 | General Nanotechnology Llc | Active cantilever for nanomachining and metrology |
JP4076792B2 (ja) * | 2001-06-19 | 2008-04-16 | 独立行政法人科学技術振興機構 | カンチレバーアレイ、その製造方法及びその装置 |
US6642129B2 (en) * | 2001-07-26 | 2003-11-04 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Parallel, individually addressable probes for nanolithography |
US6779387B2 (en) * | 2001-08-21 | 2004-08-24 | Georgia Tech Research Corporation | Method and apparatus for the ultrasonic actuation of the cantilever of a probe-based instrument |
US6668628B2 (en) * | 2002-03-29 | 2003-12-30 | Xerox Corporation | Scanning probe system with spring probe |
US7473887B2 (en) * | 2002-07-04 | 2009-01-06 | University Of Bristol Of Senate House | Resonant scanning probe microscope |
US8524488B2 (en) * | 2002-09-10 | 2013-09-03 | The Regents Of The University Of California | Methods and devices for determining a cell characteristic, and applications employing the same |
US7022976B1 (en) * | 2003-04-02 | 2006-04-04 | Advanced Micro Devices, Inc. | Dynamically adjustable probe tips |
JP2004306197A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Kansai Tlo Kk | マルチプローブ及びこれを用いた微細加工方法 |
CN1314954C (zh) * | 2003-12-23 | 2007-05-09 | 华中师范大学 | 多功能纳米研究开发平台 |
JP2005300177A (ja) | 2004-04-06 | 2005-10-27 | Canon Inc | 走査型プローブ顕微鏡および描画装置 |
JP2005300501A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-10-27 | Ritsumeikan | マルチプローブの製造方法 |
JP2005331509A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-12-02 | Japan Science & Technology Agency | 固有振動可変型のカンチレバーによる測定対象物の計測方法および装置 |
JP2006125984A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Japan Science & Technology Agency | デイジー型カンチレバーホイールを有する計測装置 |
JP4140598B2 (ja) | 2004-11-01 | 2008-08-27 | 株式会社日立製作所 | 記録再生装置 |
JP4979229B2 (ja) * | 2005-01-13 | 2012-07-18 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 基板に亘って走査するプローブ |
US7571638B1 (en) * | 2005-05-10 | 2009-08-11 | Kley Victor B | Tool tips with scanning probe microscopy and/or atomic force microscopy applications |
EP1898204B1 (en) * | 2005-05-31 | 2018-09-12 | National University Corporation Kanazawa University | Scanning probe microscope and cantilever drive device |
US7748260B2 (en) * | 2006-07-12 | 2010-07-06 | Veeco Instruments Inc. | Thermal mechanical drive actuator, thermal probe and method of thermally driving a probe |
-
2006
- 2006-10-31 GB GBGB0621560.2A patent/GB0621560D0/en not_active Ceased
-
2007
- 2007-10-31 CA CA002667917A patent/CA2667917A1/en not_active Abandoned
- 2007-10-31 US US12/447,876 patent/US8910311B2/en active Active
- 2007-10-31 SG SG2011079365A patent/SG176431A1/en unknown
- 2007-10-31 RU RU2009120502/28A patent/RU2459214C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2007-10-31 CN CN2007800451945A patent/CN101601100B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-10-31 JP JP2009533955A patent/JP5248515B2/ja active Active
- 2007-10-31 WO PCT/GB2007/004160 patent/WO2008053217A1/en active Application Filing
- 2007-10-31 KR KR1020097009048A patent/KR101474576B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-10-31 EP EP07858761.5A patent/EP2084712B1/en active Active
-
2009
- 2009-04-26 IL IL198394A patent/IL198394A/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IL198394A0 (en) | 2010-02-17 |
WO2008053217A1 (en) | 2008-05-08 |
EP2084712A1 (en) | 2009-08-05 |
CA2667917A1 (en) | 2008-05-08 |
SG176431A1 (en) | 2011-12-29 |
KR20090087876A (ko) | 2009-08-18 |
EP2084712B1 (en) | 2017-08-02 |
US8910311B2 (en) | 2014-12-09 |
CN101601100A (zh) | 2009-12-09 |
RU2459214C2 (ru) | 2012-08-20 |
US20100186132A1 (en) | 2010-07-22 |
CN101601100B (zh) | 2013-06-12 |
KR101474576B1 (ko) | 2014-12-18 |
JP2010508502A (ja) | 2010-03-18 |
GB0621560D0 (en) | 2006-12-06 |
IL198394A (en) | 2013-10-31 |
JP5248515B2 (ja) | 2013-07-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2009120502A (ru) | Комплект зондов для микроскопа со сканирующим зондом | |
Fukuda et al. | High-speed atomic force microscope combined with single-molecule fluorescence microscope | |
JP2010508502A5 (ru) | ||
US7372025B2 (en) | Scanning probe microscope using a surface drive actuator to position the scanning tip | |
US20100180356A1 (en) | Nanoindenter | |
US20060060778A1 (en) | Probe microscope system suitable for observing sample of long body | |
EP2867682B1 (en) | High throughput scanning probe microscopy device | |
US8381311B2 (en) | Method for examining a test sample using a scanning probe microscope, measurement system and a measuring probe system | |
JPH04369418A (ja) | カンチレバー型プローブ及び原子間力顕微鏡、情報記録再生装置 | |
US20040129063A1 (en) | Method for performing nanoscale dynamics imaging by atomic force microscopy | |
WO2006090594A1 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用微動機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 | |
US20030202456A1 (en) | Apparatus and method for reproducing data using capacitance variation | |
Holz et al. | Parallel active cantilever AFM tool for high-throughput inspection and metrology | |
JP2016520216A (ja) | 評価システムおよび基板を評価する方法 | |
JP4914580B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 | |
JP2006078219A (ja) | 走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 | |
Sugisaki et al. | Artifacts in adhesion force images obtained by force curve mapping | |
Wakiyama | Three-dimensional morphology measurements of ultra-small regions with the AFM5500M probe microscope | |
Abeygunasekara | Developing a system to investigate the effects of external electric fields on neuronal Z-projections using atomic force microscopy | |
Lin | Development of a versatile high speed nanometer level scanning multi-probe microscope | |
JPH06118742A (ja) | 静電潜像読み取り方法及び装置 | |
JPH05322554A (ja) | 微細表面形状計測評価装置 | |
JP2007198815A (ja) | プローブユニットおよび原子間力顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20151101 |