RU2007146301A - Способ и устройство для измерения яркости светоизлучаещего объекта - Google Patents

Способ и устройство для измерения яркости светоизлучаещего объекта Download PDF

Info

Publication number
RU2007146301A
RU2007146301A RU2007146301/28A RU2007146301A RU2007146301A RU 2007146301 A RU2007146301 A RU 2007146301A RU 2007146301/28 A RU2007146301/28 A RU 2007146301/28A RU 2007146301 A RU2007146301 A RU 2007146301A RU 2007146301 A RU2007146301 A RU 2007146301A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
light
brightness
emitting object
optical receiver
measuring
Prior art date
Application number
RU2007146301/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Кенитиро САЙТО (JP)
Кенитиро САЙТО
Миеко САКАИ (JP)
Миеко САКАИ
Original Assignee
Эвейлвс Корпорейшн (Jp)
Эвейлвс Корпорейшн
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Эвейлвс Корпорейшн (Jp), Эвейлвс Корпорейшн filed Critical Эвейлвс Корпорейшн (Jp)
Publication of RU2007146301A publication Critical patent/RU2007146301A/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0271Housings; Attachments or accessories for photometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Abstract

1. Способ измерения яркости светоизлучающего объекта, имеющего поверхность с определенной площадью, излучающую свет низкой интенсивности, при этом способ включает приведение светоприемной поверхности оптического приемника в непосредственный оптический контакт с поверхностью светоизлучающего объекта с целью измерения его яркости, а измерение яркости проводят в одном из рабочих режимов, выбранном из ! стандартного измерительного режима, включающего измерение яркости светоизлучающего объекта с заданными интервалами между замерами и отображение измеренных значений, ! автоматического режима измерения и записи, включающего измерение яркости светоизлучающего объекта автоматизированным и последовательным образом с произвольно выбранными интервалами между замерами и сохранение данных измерений, и ! прогнозирующего измерительного режима, включающего предварительный ввод для хранения данных о яркости множества стандартных объектов, измерение яркости светоизлучающего объекта в течение заданного периода времени с целью получения данных измерений и определение прогнозируемой величины из данных измерений на основе хранящихся данных по яркости стандартного объекта, который является таким же, что и указанный светоизлучающий объект, или подобен ему. ! 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что оптический приемник содержит панель полупроводниковых приемников. ! 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что оптический приемник содержит солнечную панель. ! 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что светоприемная поверхность оптического приемника имеет, по существу, такую же площадь, что и поверхность светоизлучающего объекта. ! 5

Claims (10)

1. Способ измерения яркости светоизлучающего объекта, имеющего поверхность с определенной площадью, излучающую свет низкой интенсивности, при этом способ включает приведение светоприемной поверхности оптического приемника в непосредственный оптический контакт с поверхностью светоизлучающего объекта с целью измерения его яркости, а измерение яркости проводят в одном из рабочих режимов, выбранном из
стандартного измерительного режима, включающего измерение яркости светоизлучающего объекта с заданными интервалами между замерами и отображение измеренных значений,
автоматического режима измерения и записи, включающего измерение яркости светоизлучающего объекта автоматизированным и последовательным образом с произвольно выбранными интервалами между замерами и сохранение данных измерений, и
прогнозирующего измерительного режима, включающего предварительный ввод для хранения данных о яркости множества стандартных объектов, измерение яркости светоизлучающего объекта в течение заданного периода времени с целью получения данных измерений и определение прогнозируемой величины из данных измерений на основе хранящихся данных по яркости стандартного объекта, который является таким же, что и указанный светоизлучающий объект, или подобен ему.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что оптический приемник содержит панель полупроводниковых приемников.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что оптический приемник содержит солнечную панель.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что светоприемная поверхность оптического приемника имеет, по существу, такую же площадь, что и поверхность светоизлучающего объекта.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что измерение яркости проводят при использовании экранирующего компонента, предотвращающего попадание рассеянного света на светоприемную поверхность оптического приемника, находящегося в непосредственном контакте с поверхностью светоизлучающего объекта.
6. Устройство для измерения яркости светоизлучающего объекта, имеющего поверхность, которая имеет определенную площадь и излучает свет низкой интенсивности, содержащее
оптический приемник, имеющий светоприемную поверхность, конфигурация которой выбрана из условия возможности ее приведения в непосредственный оптический контакт с поверхностью светоизлучающего объекта для измерения его яркости,
блок обработки для проведения обработки формируемых оптическим приемником сигналов, соотносящихся с яркостью,
блок памяти для хранения данных измерений яркости, обработанных в блоке обработки, и
дисплейный модуль для отображения измеренных значений яркости,
при этом блок обработки выполнен с возможностью задания режима измерения яркости, выбираемого из:
стандартного измерительного режима, включающего измерение яркости светоизлучающего объекта с заданными интервалами между замерами и отображение измеренных значений,
автоматического режима измерения и записи, включающего измерение яркости светоизлучающего объекта автоматизированным и последовательным образом с произвольно выбранными интервалами между замерами и сохранение данных измерений, и
прогнозирующего измерительного режима, включающего предварительный ввод для хранения данных о яркости множества стандартных объектов, измерение яркости светоизлучающего объекта в течение заданного периода времени с целью получения данных измерений и определение прогнозируемой величины из данных измерений на основе хранящихся данных по яркости стандартного объекта, который является таким же, что и указанный светоизлучающий объект, или подобен ему.
7. Устройство по п.6, отличающееся тем, что оптический приемник содержит панель полупроводниковых приемников.
8. Устройство по п.6, отличающееся тем, что оптический приемник содержит солнечную панель.
9. Устройство по п.6, отличающееся тем, что светоприемная поверхность оптического приемника имеет, по существу, такую же площадь, что и поверхность светоизлучающего объекта.
10. Устройство по п.6, отличающееся тем, что дополнительно содержит экранирующий компонент для предотвращения попадания рассеянного света на светоприемную поверхность оптического приемника, конфигурация которой выбрана с обеспечением возможности ее приведения в непосредственный контакт с поверхностью светоизлучающего объекта.
RU2007146301/28A 2005-05-23 2006-05-23 Способ и устройство для измерения яркости светоизлучаещего объекта RU2007146301A (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005150241 2005-05-23
JP2005-150241 2005-05-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2007146301A true RU2007146301A (ru) 2009-06-27

Family

ID=37451969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007146301/28A RU2007146301A (ru) 2005-05-23 2006-05-23 Способ и устройство для измерения яркости светоизлучаещего объекта

Country Status (12)

Country Link
US (1) US20090231575A1 (ru)
EP (1) EP1892507A1 (ru)
JP (1) JPWO2006126544A1 (ru)
KR (1) KR20080009291A (ru)
CN (1) CN101180522A (ru)
AU (1) AU2006250478A1 (ru)
CA (1) CA2609386A1 (ru)
NO (1) NO20076532L (ru)
RU (1) RU2007146301A (ru)
TW (1) TW200743788A (ru)
WO (1) WO2006126544A1 (ru)
ZA (1) ZA200710391B (ru)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4153021B1 (ja) * 2007-10-22 2008-09-17 日清紡績株式会社 太陽電池の検査装置
CN101504328B (zh) * 2008-02-05 2013-08-28 中茂电子(深圳)有限公司 太阳能电池光接收装置及具有该装置的全光通量检测系统
CN101685034B (zh) * 2008-09-23 2012-02-01 中茂电子(深圳)有限公司 发光元件发光亮度检测方法、装置及检测机台
CN101726404B (zh) * 2008-10-15 2012-10-10 中茂电子(深圳)有限公司 具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法
JP5310372B2 (ja) * 2009-08-12 2013-10-09 ソニー株式会社 表示装置、輝度劣化補正方法および電子機器
JP5515989B2 (ja) * 2010-04-06 2014-06-11 コニカミノルタ株式会社 残留輝度測定装置および残留輝度測定システム
CN102507150A (zh) * 2011-10-20 2012-06-20 上海太阳能电池研究与发展中心 Led灯具光、色、电参数在线实时检测装置
CN105588710B (zh) * 2016-03-07 2019-01-18 京东方科技集团股份有限公司 背光源监测装置及点灯机
CN110146962A (zh) * 2018-02-13 2019-08-20 宇瞻科技股份有限公司 用于辉度测量装置的接物镜头
WO2023012464A1 (en) * 2021-08-06 2023-02-09 Bae Systems Plc Improvements in and relating to laser designator pods (ldp)
EP4130642A1 (en) * 2021-08-06 2023-02-08 BAE SYSTEMS plc Improvements in and relating to laser designator pods (ldp)

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01312440A (ja) * 1988-06-10 1989-12-18 Mitsubishi Electric Corp 自動輝度測定システム
JPH04110619A (ja) * 1990-08-30 1992-04-13 Topcon Corp 測光用の装置
JPH0640877U (ja) * 1992-10-30 1994-05-31 日本ケミコン株式会社 Lcd表示パネルの検査装置
JPH072933U (ja) * 1993-06-11 1995-01-17 住友電気工業株式会社 半導体レ−ザ信頼性試験装置
ATE233521T1 (de) * 1998-04-29 2003-03-15 Dimso Sa Wirbelsäulen-osteosynthesesystem mit spannvorrichtung, insbesondere zur vorderen fixierung
JP2001116653A (ja) * 1999-10-21 2001-04-27 Yoichiro Ogita 画面表示特性の評価方法及び装置
JP2001133362A (ja) * 1999-11-04 2001-05-18 Mitsubishi Electric Corp 画質評価装置及び画質評価方法
JP2003294528A (ja) * 2002-03-29 2003-10-15 Fuji Photo Film Co Ltd 液晶ディスプレイの輝度測定装置
KR20030092552A (ko) * 2002-05-30 2003-12-06 삼성전자주식회사 액정표시장치
US7609360B2 (en) * 2002-06-17 2009-10-27 Fujifilm Corporation Image display device
JP2004212116A (ja) * 2002-12-27 2004-07-29 Tohoku Pioneer Corp 輝度測定装置及び測定方法
JP2004333194A (ja) * 2003-05-01 2004-11-25 Fuji Photo Film Co Ltd ディスプレイ・モニタの輝度測定方法およびこれを用いたディスプレイqc方法
TWI256997B (en) * 2004-11-29 2006-06-21 Asia Optical Co Inc Brightness detector and detection method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006126544A1 (ja) 2006-11-30
ZA200710391B (en) 2008-10-29
US20090231575A1 (en) 2009-09-17
NO20076532L (no) 2008-02-20
EP1892507A1 (en) 2008-02-27
KR20080009291A (ko) 2008-01-28
TW200743788A (en) 2007-12-01
JPWO2006126544A1 (ja) 2008-12-25
CN101180522A (zh) 2008-05-14
AU2006250478A1 (en) 2006-11-30
CA2609386A1 (en) 2006-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2007146301A (ru) Способ и устройство для измерения яркости светоизлучаещего объекта
US8130309B2 (en) Light spot position detection device, optical device including the same, and electronic equipment including the optical device
US8046188B2 (en) Temperature sensor and temperature measuring method
US7317520B2 (en) Method and apparatus for measuring brightness
JP2004150923A (ja) 屈折計
KR102248091B1 (ko) 자동 광학 검사 방법
US8546771B2 (en) Method and device for identifying a photoluminescent material
CN110267031B (zh) 一种摄像机输出图像延迟时间测试方法及系统
TWI481849B (zh) Portable detection device
US8730480B2 (en) Testing of optical devices
KR101276691B1 (ko) 곡물 신선도 판정기
JP2008151776A (ja) 輝度測定器および輝度測定方法
US7391512B2 (en) Integrated optoelectronic system for measuring fluorescence or luminescence emission decay
JPWO2007105312A1 (ja) 土壌検査システム、土壌検査装置、土壌検査プログラム及び記録媒体
KR101380700B1 (ko) 태양 전지 모듈을 구비한 발광소자 측정 장치 및 측정 방법
CN204903423U (zh) 透明板件表面瑕疵检测装置
KR960024258A (ko) 광학식 거리 측정 장치 및 방법
CN100402993C (zh) 亮度检测方法
TWI452285B (zh) Detecting light bar machine and method for detecting
KR100997305B1 (ko) 철광석의 적하온도 계측방법 및 그 장치
TW201013165A (en) Inspection machine for lighting assembly with plural lighting parts and inspection method thereof
CN103411884B (zh) 一种参比透射色散敏感谱线检测装置
CN220063356U (zh) 快门式3d眼镜检测装置
JPH0479409B2 (ru)
CN210198954U (zh) 一种区分双波段滤光片和红外截止滤光片的测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
FA93 Acknowledgement of application withdrawn (no request for examination)

Effective date: 20090524