JP2001133362A - 画質評価装置及び画質評価方法 - Google Patents

画質評価装置及び画質評価方法

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JP2001133362A
JP2001133362A JP31400199A JP31400199A JP2001133362A JP 2001133362 A JP2001133362 A JP 2001133362A JP 31400199 A JP31400199 A JP 31400199A JP 31400199 A JP31400199 A JP 31400199A JP 2001133362 A JP2001133362 A JP 2001133362A
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JP31400199A
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English (en)
Inventor
Kimiyoshi Miyata
公佳 宮田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 輝度や色度のむらを評価することができる
が、画質は様々な要因により影響されるため、単にむら
だけを評価しても画質を客観的に評価することができな
いなどの課題があった。 【解決手段】 測光部3aの測定結果から階調再現性,
色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値を演算し、各評価
値から画質を総合的に評価する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、モニター等の画
質を評価する画質評価装置及び画質評価方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来の画質評価装置は、例えば、特開平
10−253497号公報に示されているように、輝度
や色度のむらを評価対象としている。具体的には、カメ
ラがブラウン管を拡大撮影して、モニターの画面内にお
ける表示色の不均一性を評価する。
【0003】表示色の不均一性は、空間周波数の大きな
ものから小さなものまで多様であるが、人間の知覚する
ざらつきに大きな影響を及ぼす程の高い周波数の評価は
できない。因みに、従来の画質評価装置は、急激に明暗
が変化するエッジ状態の測定を行わないため、鮮鋭性を
評価することができない。また、表示色の不均一性のみ
を評価対象とし、明るさを変化させたときの輝度変化を
測定しないため、明るさの変化特性である階調再現性を
評価することができない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の画質評価装置は
以上のように構成されているので、輝度や色度のむらを
評価することができるが、画質は様々な要因により影響
されるため、単にむらだけを評価しても画質を客観的に
評価することができないなどの課題があった。
【0005】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、画質を客観的に評価することがで
きる画質評価装置及び画質評価方法を得ることを目的と
する。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る画質評価
装置は、モニターがテストパターンを表示する際に発す
る光を測定する測定手段と、その測定結果から種類が異
なる複数の再現性の評価値を演算する演算手段とを設
け、複数の再現性の評価値から画質を総合的に評価する
ようにしたものである。
【0007】この発明に係る画質評価装置は、原稿に反
射された光を測定する測定手段と、その測定結果から種
類が異なる複数の再現性の評価値を演算する演算手段と
を設け、複数の再現性の評価値から画質を総合的に評価
するようにしたものである。
【0008】この発明に係る画質評価装置は、測定手段
の測定結果から階調再現性,色再現性,鮮鋭性及び粒状
性の評価値を演算するようにしたものである。
【0009】この発明に係る画質評価装置は、照射手段
が光源を内蔵するようにしたものである。
【0010】この発明に係る画質評価装置は、照射手段
が外部から周囲光を取り込む開口部を有し、その周囲光
を原稿に照射するようにしたものである。
【0011】この発明に係る画質評価装置は、テストパ
ターン発生手段,演算手段及び評価手段を内蔵するホス
トコンピュータに対して、測定手段の測定結果を転送す
る転送手段を設けたものである。
【0012】この発明に係る画質評価装置は、テストパ
ターン発生手段及び測定手段、または、照射手段及び測
定手段から構成されるセンサーを複数個連結し、複数の
センサーを連動させる連動手段を設けたものである。
【0013】この発明に係る画質評価装置は、モニター
又は原稿の周囲光を考慮して画質を評価するようにした
ものである。
【0014】この発明に係る画質評価装置は、モニター
又は原稿に対する観察距離を考慮して画質を評価するよ
うにしたものである。
【0015】この発明に係る画質評価方法は、モニター
がテストパターンを表示する際に発する光を測定して、
その測定結果から種類が異なる複数の再現性の評価値を
演算し、複数の再現性の評価値から画質を総合的に評価
するようにしたものである。
【0016】この発明に係る画質評価方法は、原稿に反
射された光を測定して、その測定結果から種類が異なる
複数の再現性の評価値を演算し、複数の再現性の評価値
から画質を総合的に評価するようにしたものである。
【0017】この発明に係る画質評価方法は、測定結果
から階調再現性,色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値
を演算するようにしたものである。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による画
質評価装置を示す構成図であり、図において、1はモニ
ター、1aはモニター1の管面、2はテストパターンを
モニター1に表示させるテストパターン発生部(テスト
パターン発生手段)、3はモニター1の管面1aに密着
され、モニター1がテストパターンを表示する際に発す
る光を測定するセンサー(測定手段)、3aはCCDな
どの光電変換素子と色彩情報を測定するためのカラーフ
ィルターが備えられ、モニター1に表示されたテストパ
ターンの明るさの変化を測定し、その測定結果を電気信
号に変換するセンサー3の測光部、3bは画質評価尺度
算出部4による画質の評価結果等を表示するセンサー3
の表示部である。
【0019】4はセンサー3の測定結果から階調再現
性,色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値を演算し、そ
の評価値から画質を総合的に評価する画質評価尺度算出
部、5はセンサー3の測定結果等を記憶する測定値記憶
部、6は各種評価部が評価値等を演算する際に使用する
基準値を記憶する基準値記憶部、7はテストパターン発
生部2やセンサー3を制御する制御部である。
【0020】8はセンサー3の測定結果から階調再現性
の評価値を演算する階調再現性評価部、9はセンサー3
の測定結果から色再現性の評価値を演算する色再現性評
価部、10はセンサー3の測定結果から鮮鋭性の評価値
を演算する鮮鋭性評価部、11はセンサー3の測定結果
から粒状性の評価値を演算する粒状性評価部である。な
お、階調再現性評価部8,色再現性評価部9,鮮鋭性評
価部10及び粒状性評価部11から演算手段が構成され
ている。12は階調再現性評価部8,色再現性評価部
9,鮮鋭性評価部10及び粒状性評価部11により演算
された評価値から画質を総合的に評価する総合画質評価
部(評価手段)である。図2はこの発明の実施の形態1
による画質評価方法を示すフローチャートである。
【0021】次に動作について説明する。最初に、階調
再現性の評価値の演算方法を説明する。階調再現性と
は、画像の明暗の再現特性を示すものであり、モニター
に代表される自発光画像表示機器の場合には、入力デー
タであるテストパターンに対して如何なる強度の光を発
するかが階調再現性となる。以下、発光強度の単位とし
て輝度を用いる場合を説明するが、発光強度の単位は輝
度に限らず、光電変換された電気出力値をそのまま使用
するなど、その他の単位を用いてもよいことは言うまで
もない。
【0022】まず、画質評価尺度算出部4における制御
部7の指示の下、テストパターン発生部2がレベルの異
なる複数のグレイチャート(例えば、明るさが異なる灰
色のテストパターン)を作成して、各グレイチャートを
順番にモニター1に表示させる。図3(c)(d)はグ
レイチャートの表示例である。
【0023】センサー3の測光部3aは、モニター1が
グレイチャートを表示すると、制御部7の指示の下、モ
ニター1の管面1aから放射される光の輝度値を測定
し、その測定結果を測定値記憶部5に格納する(ステッ
プST1)。ここで、グレイチャート番号、あるいは、
グレイチャートのレベルを横軸にとり、センサー3によ
り測定された輝度値を縦軸にプロットすると、いわゆる
階調再現曲線を作成することができる。しかし、階調再
現曲線は、モニターに代表される自発光画像表示機器の
入出力特性を端的に表すが、このままでは単一の評価値
として階調再現性を表すことができないので、以下に示
すように、階調再現性を評価する評価値を演算する。
【0024】階調再現性評価部8は、測定値記憶部5に
格納された評価サンプルにおけるi番目のグレイチャー
トの輝度値Ysと、基準値記憶部6に記憶されている
基準値、即ち、基準サンプルにおけるi番目のグレイチ
ャートの輝度値Yrを下記の評価式に代入して、評価
値Tを演算する(ステップST2)。
【0025】
【数1】
【0026】ただし、上記の評価式において、nはグレ
イチャート数、iはグレイチャート番号である。なお、
基準サンプルの輝度値としては、基準モニター(測定の
基準となるモニター)がグレイチャートを表示する際に
放射する光の輝度値などを使用すればよく(当該輝度値
は予め測定する)、画面内における再現の均一性を評価
する場合には、中央部の測定結果等を基準とすればよ
い。
【0027】階調再現性評価部8により演算される評価
値Tは、基準とする階調再現曲線から、評価対象のモニ
ター1の階調再現曲線が離れている程、大きな値とな
る。したがって、評価値Tが小さい程、階調再現性が優
れていることを表している。
【0028】次に、色再現性の評価値の演算方法を説明
する。以下、基準モニターと評価対象のモニターとの色
差を色再現性の評価値とするものについて説明する。た
だし、その他の評価値を用いて色再現性を評価してもよ
く、また、画面内における再現の均一性を評価する場合
には、中央部の測定結果等を基準とすればよい。
【0029】まず、画質評価尺度算出部4における制御
部7の指示の下、テストパターン発生部2が明度や色味
の異なる複数のカラーチャート(例えば、明るさが異な
る赤色のテストパターン)を作成し、各カラーチャート
を順番にモニター1に表示させる。
【0030】センサー3の測光部3aは、モニター1が
カラーチャートを表示すると、制御部7の指示の下、モ
ニター1が表示するカラーチャートの三刺激値X,Y,
Zを測定し、その測定結果を測定値記憶部5に格納する
(ステップST3)。色再現性評価部9は、測定値記憶
部5に格納された三刺激値X,Y,Zと、基準値記憶部
6に記憶されている基準値、即ち、基準白色の三刺激値
,Y,ZやL,a,bの基準サンプルを
下記の評価式に代入して、評価値Eを演算する(ステッ
プST4)。ここでは、CIE L均等色空
間における色差を評価値Eとする(CIEは国際照明委
員会の略記号である)。
【0031】
【数2】
【0032】ただし、上記の評価式において、nはカラ
ーチャート数、iはカラーチャート番号、Lは明度、
,bは色味である。また、下付文字のrは基準サ
ンプルを示し、sは評価サンプルを示す。
【0033】色再現性評価部9により演算される評価値
Eは、評価対象のモニターの表示色が基準モニターの表
示色に近い程、小さい値となる。したがって、評価値E
が小さい程、色再現性が優れていることを表している。
【0034】次に、鮮鋭性の評価値の演算方法を説明す
る。鮮鋭性とは、画像を観察した時に受ける画像のシャ
ープさを表す指標である。モニターなどの自発光画像表
示機器の場合、鮮鋭性の高い機器は、細かな線までぼけ
ることなくはっきりと表示することができる。ここで
は、鮮鋭性の評価尺度の例として、点拡がり関数から算
出する評価値を用いて説明するが、MTF(Modul
ation Transfer Function)な
どに基づく他の評価尺度を用いて、鮮鋭性を評価しても
よい。
【0035】まず、画質評価尺度算出部4における制御
部7の指示の下、テストパターン発生部2がエッジチャ
ート(図3(a)(b)を参照)を作成し、各エッジチ
ャートを順番にモニター1に表示させる。センサー3の
測光部3aは、モニター1がエッジチャートを表示する
と、制御部7の指示の下、エッジ部分の光強度分布を測
定し、その測定結果を測定値記憶部5に格納する(ステ
ップST5)。
【0036】即ち、点拡がり関数はインパルス入力に対
する出力光強度分布であるので、モニター1の点拡がり
関数は、モニター上における1ドットの発光強度分布を
測定すればよい。しかし、モニター1の1ドットの点拡
がり関数の測定は、測定誤差の影響を受けるために精度
の観点から問題がある。そこで、ここでは、モニター1
に表示されたエッジ部分の光強度分布を測定し、その微
分値から線拡がり関数を導出するようにする。
【0037】このようにして、測光部3aがエッジ部分
の光強度分布を測定すると、鮮鋭性評価部10は、図4
に示すように、エッジ部分の光強度分布から点拡がり関
数の半値幅を導出し、その半値幅を鮮鋭性の評価値Sと
する(ステップST6)。点拡がり関数は、関数の形状
が急峻である程、鮮鋭性が高いことを表しているので、
点拡がり関数の半値幅が狭い程、鮮鋭性が良好であるこ
とを表している。
【0038】次に、粒状性の評価値の演算方法を説明す
る。粒状性とは、本来均一であるべき領域の揺らぎを示
す指標であり、ここでは、RMS(Root Mean
Square)粒状度を粒状性評価の尺度として説明
するが、ノイズウィーナースペクトルなど、その他の手
法により粒状性の評価値を算出してもよい。
【0039】まず、画質評価尺度算出部4における制御
部7の指示の下、テストパターン発生部2がフラットパ
ターン(面全体の明度が均一の同色のテストパターン)
を作成し、フラットパターンをモニター1に表示させ
る。
【0040】センサー3の測光部3aは、モニター1が
フラットパターンを表示すると、制御部7の指示の下、
モニター1が表示するフラットパターンの濃度値D
測定し、その測定結果を測定値記憶部5に格納する(ス
テップST7)。粒状性評価部11は、測定値記憶部5
に格納された濃度値Dと、基準値記憶部6に記憶され
ている基準値、即ち、フラットパターンの平均濃度値D
を下記の評価式に代入して、評価値Rを演算する(ス
テップST8)。
【0041】
【数3】
【0042】ただし、上記の評価式において、nは測定
された濃度値のデータ数であり、iは測定された濃度値
の番号である。上記の評価式は濃度値を代入して評価値
を求めるものであるが、下記に示すように、輝度値Y
から濃度値Dに変換することができるので、センサー
3の測光部3aが濃度値Dではなく、輝度値Yを測
定するようにしてもよい。なお、下式における基準白色
の輝度値Yを特定するに際し、完全拡散反射板や、測
定時の最も明るい白色をなどを用いることができる。
【0043】
【数4】
【0044】粒状性評価部11により演算される評価値
Rは、評価対象のモニターの表示濃度が均一である程、
小さい値となる。したがって、評価値Rが小さい程、粒
状性が優れていることを表している。なお、RMS粒状
度は、算出する際の平均濃度値に依存するので、平均濃
度が異なる複数のフラットパターンを用いることによ
り、詳細に粒状性を評価することができる。
【0045】最後に、階調再現性,色再現性,粒状性及
び鮮鋭性から総合画質の評価値を演算する方法を説明す
る。ここでは、画質は様々な要因により影響され、異な
る条件下における画質を比較するのが非常に困難である
ことに鑑み、階調再現性,色再現性,粒状性及び鮮鋭性
の評価値から画質を総合的に評価する評価値Vを演算す
るものとする。
【0046】具体的には、総合画質評価部12が各評価
部8〜11により演算された評価値を下記の評価式に代
入して、総合画質の評価値Vを求める(ステップST
9)。
【0047】
【数5】
【0048】ただし、上記の評価式において、Tは階調
再現性の評価値、Eは色再現性の評価値、Rは粒状性の
評価値、Sは鮮鋭性の評価値、K,K,K
,K は重回帰分析により決定される係数である。
【0049】なお、重回帰分析は、階調再現性,色再現
性,粒状性及び鮮鋭性の異なるサンプルを作成し、その
サンプルを用いた主観評価実験の結果に対して行われ
る。サンプルの作成方法としては、例えば、画像データ
の場合、階調再現性はルックアップテーブルによる変換
や指数関数による演算により変化させることができる。
色再現性は画像データをそのまま係数演算により変換し
てもよいし、CIEXYZなどの標準色空間へ変換した
後に変化させてもよい。粒状性は加法あるいは乗法のノ
イズを混入したりすることで変化させることができる。
さらに、鮮鋭性は、画像データに対して直接平滑化処理
を行ったり、フーリエ変換の後に周波数フィルタリング
を行い、フーリエ逆変換により変化させてもよい。各尺
度値の範囲は異なるため、各尺度の平均を0、分散を1
にするように規格化してもよい。また、必要に応じて、
例えばlog10(R)のように、尺度値の関数変換値
を用いてもよい。
【0050】総合画質評価部12により演算された総合
画質の評価値Vと、各評価部8〜11により演算された
評価値は、制御部7の指示の下、モニター1の管面1a
に表示される。各評価部8〜11の評価値との兼ね合い
もあるが、一般的には総合画質の評価値Vが小さい程、
画質が優れていると言える。
【0051】以上で明らかなように、この実施の形態1
によれば、測光部3aの測定結果から階調再現性,色再
現性,粒状性及び鮮鋭性の評価値を演算し、各評価値か
ら画質を総合的に評価するように構成したので、画質を
客観的に評価することができる効果を奏する。
【0052】実施の形態2.上記実施の形態1では、自
発光のモニター1にセンサー3を密着させて、モニター
1が放射する光を測定するものについて示したが、図5
に示すように、テストパターンが記述されている原稿に
光を照射する光源3cをセンサー3に搭載し、センサー
3の測光部3aが原稿に反射された光を測定するように
してもよい。この場合、センサー3は測定手段の他に照
射手段も構成する。
【0053】これにより、自発光することができない原
稿の画質も評価することができる効果を奏する。ただ
し、画質の評価を実施するに際し、必要なテストパター
ンが記述されている原稿を予め用意しておく必要があ
る。
【0054】なお、センサー3は光源3cを搭載する代
わりに、室内照明などを取り込む開口部3dを施すよう
にしてもよい(図6を参照)。これにより、センサー3
に光源3cを搭載することなく、反射原稿の画質を評価
することができる効果を奏する。
【0055】実施の形態3.上記実施の形態1,2で
は、ホストコンピュータが介在することなく、画質を評
価するものについて示したが、図7に示すように、テス
トパターン発生部2及び画質評価尺度算出部4を内蔵す
るホストコンピュータ21に対して、センサー3が測光
部3aの測定結果を転送するようにしてもよい。この場
合、モニター3は転送手段も構成する。
【0056】これにより、ホストコンピュータ21は、
画質測定を制御する自己キャリブレーション装置として
使用することができるとともに、測光部3aの測定結果
をデバイスプロファイルとして保存することも可能にな
る。また、モニター1の画像表示パラメータを変更し
て、画質評価を逐次繰り返すことも可能になるため、画
質を自動的に最適化することができる効果も奏する。
【0057】実施の形態4.上記実施の形態1〜3で
は、1個のセンサー3を用いて画質を評価するものにつ
いて示したが、図8に示すように、複数のセンサー3を
連結し、複数のセンサー3を連動させるようにしてもよ
い。なお、図8において、22はセンサー3を連結する
ための信号入出力端子であり、画質評価尺度算出部4の
制御部7又はホストコンピュータ21が連動手段を構成
する。
【0058】これにより、複数のセンサー3をそれぞれ
異なるモニター1に設置するような場合には、各モニタ
ー1を同一のテストパターンで同時に評価することがで
きるため、各モニターの画質を相互に比較することがで
きる。したがって、複数のモニター1のうちの1台を標
準モニターとすれば、他のモニター1の画質を標準モニ
ターの画質と比較することができる。また、複数のセン
サー3を1台のモニター1の複数部位(例えば、四隅や
中央部分)に設置する場合には、各設置部位の画質の相
違を評価することができる。
【0059】実施の形態5.上記実施の形態1〜4で
は、画質を評価する際、モニター1や原稿の観察環境を
特に考慮しないで画質を評価するものについて示した
が、センサー3の開口部3dからモニター1又は原稿の
周囲光を取り込んで(図6を参照)、その周囲光を観測
し、その観測結果を考慮して画質を評価するようにして
もよい。この場合、センサー3は観測手段も構成する。
【0060】例えば、色再現性の評価値を演算する場合
には、センサー3の測光部3aにより測定された三刺激
値X,Y,Zに対して、周囲光の三刺激値Xa,Ya,
Zaを加算し、その加算結果X’,Y’,Z’を用いて
評価値を演算するようにすればよい。
【0061】
【数6】
【0062】これにより、画質の評価精度を高めること
ができる効果を奏する。なお、複数のセンサー3を連動
している場合には、照明むらを測定することができる効
果を奏する。
【0063】実施の形態6.上記実施の形態1〜5で
は、モニター1又は原稿に対する人間の観察距離を特に
考慮することなく画質を評価するものについて示した
が、モニター1又は原稿に対する人間の観察距離dを考
慮して画質を評価するようにしてもよい。
【0064】具体的には、図9のパラメータ入力部13
から観察距離dを入力すると、人間の知覚特性を考慮し
た鮮鋭性を評価するため、総合画質評価部12は、人間
の空間解像度CSF(Contrast Sensit
ivity Function)を示す関数を用いて、
モニター3の密着測定により得られた鮮鋭性の評価値S
を、観察距離dを考慮した評価値Sに換算する。
【0065】例えば、人間の空間解像度CSFは下記の
式(7)で表すことができる。CSFは人間の知覚する
周波数感度関数であり、CSFが大きな値を示す周波数
は人間の知覚感度が高いことに相当する。したがって、
CSFを用いることにより、人間の知覚特性を考慮した
鮮鋭性を評価することが可能となる。
【0066】
【数7】
【0067】式(7)において、uは網膜上での空間周
波数、dは観察距離、fはサンプル画面上での空間周波
数、Lは画像における最大輝度である。したがって、観
察距離dが変化すれば網膜上での空間周波数が異なるた
め、視覚特性と異なる感度となり、同じ画像を観察して
も異なる画質として知覚されることになる。また、Lは
画像における最大輝度であるため、周囲光の輝度値を測
定することができれば、周囲光による視覚特性の変化を
考慮した上で画質を正しく評価することが可能となる。
【0068】このようにして、式(7)を用いて人間の
空間解像度CSF(u)を計算すると、空間解像度CS
F(u)を式(8)に代入して、人間の知覚特性を考慮
した鮮鋭性の評価値Sを算出する。
【0069】
【数8】
【0070】ただし、式(8)において、H(u)は点
広がり関数のフーリエー変換結果、uは空間周波数、u
maxは空間周波数の最大値である。
【0071】なお、粒状性においても、観察距離dが異
なるとざらつき感が異なるため、観察距離dをパラメー
タとして入力することにより、センサー3を密着して得
られた測定値から実際に観察したときの画質の評価値を
換算することが可能となる。
【0072】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、モニ
ターがテストパターンを表示する際に発する光を測定す
る測定手段と、その測定結果から種類が異なる複数の再
現性の評価値を演算する演算手段とを設け、複数の再現
性の評価値から画質を総合的に評価するように構成した
ので、画質を客観的に評価することができる効果があ
る。
【0073】この発明によれば、原稿に反射された光を
測定する測定手段と、その測定結果から種類が異なる複
数の再現性の評価値を演算する演算手段とを設け、複数
の再現性の評価値から画質を総合的に評価するように構
成したので、画質を客観的に評価することができる効果
がある。
【0074】この発明によれば、測定手段の測定結果か
ら階調再現性,色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値を
演算するように構成したので、色々な観点から画質を評
価することができる効果がある。
【0075】この発明によれば、照射手段が光源を内蔵
するように構成したので、自発光することができない原
稿の画質も評価することができる効果がある。
【0076】この発明によれば、照射手段が外部から周
囲光を取り込む開口部を有し、その周囲光を原稿に照射
するように構成したので、照射手段に光源を搭載するこ
となく、反射原稿の画質を評価することができる効果が
ある。
【0077】この発明によれば、テストパターン発生手
段,演算手段及び評価手段を内蔵するホストコンピュー
タに対して、測定手段の測定結果を転送する転送手段を
設けるように構成したので、ホストコンピュータが画質
測定を制御することができる効果がある。
【0078】この発明によれば、テストパターン発生手
段及び測定手段、または、照射手段及び測定手段から構
成されるセンサーを複数個連結し、複数のセンサーを連
動させる連動手段を設けるように構成したので、複数の
モニター等の画質を同時に評価することができる効果が
ある。
【0079】この発明によれば、モニター又は原稿の周
囲光を考慮して画質を評価するように構成したので、画
質の評価精度を高めることができる効果がある。
【0080】この発明によれば、モニター又は原稿に対
する観察距離を考慮して画質を評価するように構成した
ので、画質の評価精度を高めることができる効果があ
る。
【0081】この発明によれば、モニターがテストパタ
ーンを表示する際に発する光を測定して、その測定結果
から種類が異なる複数の再現性の評価値を演算し、複数
の再現性の評価値から画質を総合的に評価するように構
成したので、画質を客観的に評価することができる効果
がある。
【0082】この発明によれば、原稿に反射された光を
測定して、その測定結果から種類が異なる複数の再現性
の評価値を演算し、複数の再現性の評価値から画質を総
合的に評価するように構成したので、画質を客観的に評
価することができる効果がある。
【0083】この発明によれば、測定結果から階調再現
性,色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値を演算するよ
うに構成したので、色々な観点から画質を評価すること
ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による画質評価装置
を示す構成図である。
【図2】 この発明の実施の形態1による画質評価方法
を示すフローチャートである。
【図3】 テスタパターン例を示す説明図である。
【図4】 点拡がり関数を示すグラフ図である。
【図5】 反射原稿に対するセンサーの設置例を示す説
明図である。
【図6】 センサーの構造を示す断面図である。
【図7】 この発明の実施の形態3による画質評価装置
を示す構成図である。
【図8】 センサーの連結状態を示す説明図である。
【図9】 この発明の実施の形態6による画質評価装置
を示す構成図である。
【符号の説明】
1 モニター、1a 管面、2 テストパターン発生部
(テストパターン発生手段)、3 センサー(測定手
段)、3a 測光部、3b 表示部、3c 光源、3d
開口部、4 画質評価尺度算出部、5 測定値記憶
部、6 基準値記憶部、7 制御部、8 階調再現性評
価部(演算手段)、9 色再現性評価部(演算手段)、
10 鮮鋭性評価部(演算手段)、11 粒状性評価部
(演算手段)、12 総合画質評価部(評価手段)、1
3 パラメータ入力部、21 ホストコンピュータ、2
2 信号入出力端子。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 テストパターンをモニターに表示させる
    テストパターン発生手段と、上記モニターがテストパタ
    ーンを表示する際に発する光を測定する測定手段と、上
    記測定手段の測定結果から種類が異なる複数の再現性の
    評価値を演算する演算手段と、上記演算手段により演算
    された複数の再現性の評価値から画質を総合的に評価す
    る評価手段とを備えた画質評価装置。
  2. 【請求項2】 テストパターンが記述されている原稿に
    光を照射する照射手段と、上記原稿に反射された光を測
    定する測定手段と、上記測定手段の測定結果から種類が
    異なる複数の再現性の評価値を演算する演算手段と、上
    記演算手段により演算された複数の再現性の評価値から
    画質を総合的に評価する評価手段とを備えた画質評価装
    置。
  3. 【請求項3】 演算手段は、測定手段の測定結果から階
    調再現性,色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値を演算
    することを特徴とする請求項1または請求項2記載の画
    質評価装置。
  4. 【請求項4】 照射手段は光源を内蔵することを特徴と
    する請求項2記載の画質評価装置。
  5. 【請求項5】 照射手段は外部から周囲光を取り込む開
    口部を有し、その周囲光を原稿に照射することを特徴と
    する請求項2記載の画質評価装置。
  6. 【請求項6】 テストパターン発生手段,演算手段及び
    評価手段を内蔵するホストコンピュータに対して、測定
    手段の測定結果を転送する転送手段を設けたことを特徴
    とする請求項1記載の画質評価装置。
  7. 【請求項7】 テストパターン発生手段及び測定手段、
    または、照射手段及び測定手段から構成されるセンサー
    を複数個連結し、複数のセンサーを連動させる連動手段
    を設けたことを特徴とする請求項1から請求項6のうち
    のいずれか1項記載の画質評価装置。
  8. 【請求項8】 モニター又は原稿の周囲光を観測する観
    測手段を設け、評価手段は上記観測手段の観測結果を考
    慮して画質を評価することを特徴とする請求項1から請
    求項7のうちのいずれか1項記載の画質評価装置。
  9. 【請求項9】 評価手段は、モニター又は原稿に対する
    観察距離を考慮して画質を評価することを特徴とする請
    求項1から請求項8のうちのいずれか1項記載の画質評
    価装置。
  10. 【請求項10】 テストパターンをモニターに表示させ
    ると、そのモニターがテストパターンを表示する際に発
    する光を測定して、その測定結果から種類が異なる複数
    の再現性の評価値を演算し、その複数の再現性の評価値
    から画質を総合的に評価する画質評価方法。
  11. 【請求項11】 テストパターンが記述されている原稿
    に光を照射すると、その原稿に反射された光を測定し
    て、その測定結果から種類が異なる複数の再現性の評価
    値を演算し、その複数の再現性の評価値から画質を総合
    的に評価する画質評価方法。
  12. 【請求項12】 測定結果から階調再現性,色再現性,
    鮮鋭性及び粒状性の評価値を演算することを特徴とする
    請求項10または請求項11記載の画質評価方法。
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