JP4153021B1 - 太陽電池の検査装置 - Google Patents
太陽電池の検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4153021B1 JP4153021B1 JP2007273538A JP2007273538A JP4153021B1 JP 4153021 B1 JP4153021 B1 JP 4153021B1 JP 2007273538 A JP2007273538 A JP 2007273538A JP 2007273538 A JP2007273538 A JP 2007273538A JP 4153021 B1 JP4153021 B1 JP 4153021B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solar cell
- light shielding
- dark room
- light
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 54
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 88
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 4
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229920001875 Ebonite Polymers 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920013716 polyethylene resin Polymers 0.000 description 1
- -1 polyethylene vinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】 平らな上面111を備えた暗室110と、該暗室110の上面に設けられ、被測定物200となる太陽電池を載せる透明板112と、前記暗室110の内部に設けられたカメラ120と、該カメラを前記暗室内で移動する駆動機構とを有する。
【選択図】 図2
Description
さらに前記透明板と前記透明板に載せられた前記太陽電池との境界の隙間から暗室内に入る光を遮光するための遮光手段を設けた構成としたり、前記上面に、前記太陽電池の搬送を案内する遮光手段を付与したガイド部材を設けた構成とすることができる。
まず本発明の検査装置が扱う対象である被測定物200の例について説明する。図8は、本発明の検査装置にて測定する太陽電池の構成の説明図で、(a)は、太陽電池の内部の太陽電池セルが分かるように記載した平面図で、(b)はその断面図である。
図1は本発明の検査装置の構成を示す図で、(a)は平面図、(b)は(a)のB−B断面図、(c)は右側面図である。図2は、太陽電池の検査装置のカメラとカメラ駆動装置の構成を示す図で、(a)は平面図、(b)は正面図、(c)は右側面図である。これらの図に示す本発明の太陽電池の検査装置100は、四角の箱形の暗室110およびその平らな上面111に、アクリル樹脂などの合成樹脂製又はガラス製の透明板112が取り付けられている。暗室内には、被測定物200である太陽電池を検査測定するカメラ120と、その移動機構が設けられている。ただし、カメラ120の移動機構については用途に応じて設けない場合もある。上面111の透明板112以外は、暗室110に光を入れないような遮光性の素材からなる構成にしている。もっとも、上面111に被測定物200として太陽電池を載せた後、被測定物200を含む上面111の全体を、遮光手段にて覆うことにすれば、上面111全体を透明板にしてもよい。また、上面以外の4つの側面と底面は全て遮光性の部材としている。上面111には、被測定物200の搬送をガイドする一対のガイド部材114が設けられている。ガイド部材114、114間の距離は、被測定物200のサイズに合わせて変更可能である。
ガイド部材114は、矩形断面の細長いレール状で、本発明の検査装置100の上面に、被測定物200の流れ方向に沿って一対設けられている。各ガイド部材114の内側側面には、複数個のローラ115が配置され被測定物200は、このローラ115上を移動搬送される。したがって被測定物200を搬送中および測定中に下面のカバーガラス21が検査装置100の上面の透明板112に接触することはない。またこのガイド部材114は、装置の被測定物200の搬入側および搬出側に配置された移動用レール116、送りネジ117およびハンドル118により被測定物200の幅寸法に応じて調整が可能な構成となっている。すなわち、送りネジ117は、一方が右ネジで他方が左ネジとなっており、ハンドル118を回転することで、ガイド部材114、114は、中心位置が一定の状態で、相互に接近・離反するようになっている。また、搬入側および搬出側の送りネジ117は、傘歯車を備えたクロスシャフト113により連結され、ハンドル118を回転することで、両方の送りネジ117を傘歯車によって同時に回転することができる。
被測定物200から発するEL発光は、1,000nmから1,300nmの波長の微弱な光であり、暗室内で発光させ、撮影用カメラ120でこの微弱な光を撮影する。このため、撮影用カメラ120としては微弱な光に対する感度の良いCCDカメラを用いる必要がある。本実施の形態例では、浜松ホトニクス製の型式C9299−02(Si−CCDカメラ)を使用している。
図2にカメラの移動機構の構成を示す。暗室110内には、カメラ120と、このカメラ120をy軸方向に移動するy軸ガイド部130がある。y軸ガイド部130の一端には、モータ132があり、これが回転することで、カメラ120をy軸方向に進退させることができる。
上記の他に、図示を省略するが、図9の従来例で示した電源14やパソコンを利用した画像処理装置15が設けられている。
被測定物200として太陽電池パネルを例にして、本発明の太陽電池の検査装置の使用方法を説明する。
遮光手段であるが、上記では、暗室の上面110の上部全てを覆うと説明していた。しかし太陽電池パネル30の場合、裏側の樹脂製の裏面材22は、不透明であり、遮光性が十分である。また、暗室110の上面111も、透明板112以外を遮光性の部材で構成されている。したがって、被測定物200が透明板112に密着し、かつ、透明板112より大きくて、透明板112の全体が被測定物200で覆われる場合には、遮光手段は不要である。
本実施の形態では、図3に示すとおり暗室の上面110の上部全てを遮光カバー302により覆う構成となっている。本検査装置100の幅方向のいずれか一端に遮光手段300のベース301を設けている。遮光カバー302は、2本のアーム303に支持されていて、このアーム303を2本のエアーシリンダー304で旋回中心軸Cを中心に旋回して上下させる構成となっている。
図4は、遮光手段の実施の形態2の構成を示す図で、(a)は遮光手段の斜視図、(b)は遮光手段の取り付け構造を示す断面図、(c)は(b)のC−C断面図である。この遮光手段400は、透明板112と被測定物200との間に額縁状にできる隙間を遮光する部材で、金属製、合成樹脂製などの剛性のある板材401に遮光性を有するスポンジ402などを貼り付けている。スポンジ402は、透明板112と接する側の面に設ける。遮光手段400は、最低で、透明板112と被測定物200との間に額縁状にできる隙間を覆う程度の大きさがあればよい。
本実施の形態は、遮光手段の実施の形態2の別例であり、被測定物200の寸法が小ロットで変わる場合に対応したものである。遮光手段500は、2対の合計4枚の遮光板をアクチュエータにより被測定物200の寸法に応じて自動的に移動させる構成としている。
本実施の形態は、透明板112と被測定物200との間に額縁状にできる隙間を遮光する手段である。本実施の形態の場合は、図7のとおり本検査装置100に搬入される太陽電池の搬送を案内するガイド部材114に以下に説明する遮光手段600を設けている。
110 暗室
111 上面
112 透明板
114 ガイド部材
115 ローラ
116 移動用レール
117 送りネジ
118 ハンドル
119 位置決め金具
120 カメラ
130 y軸ガイド部
132、142 モータ
140 x軸ガイド部
144 タイミングベルト
200 被測定物
300 遮光手段
301 ベース
302 遮光カバー
303 アーム
304 エアーシリンダー
305 密封シート
400 遮光板
401 L型金具
402 スポンジ
403 ストッパー
500 遮光手段
501、502 遮光板
503 送りネジ
504 モータ
505 タイミングベルト
600 遮光手段
601 遮光シート
602 遮光板
603 ブロック状部材
604 遮光性スポンジ部材
Claims (4)
- 平らな上面を備えた暗室と、該暗室の前記上面に設けられ、被測定物となる太陽電池を載せる透明板と、前記暗室の内部に設けられたカメラと、を有することを特徴とする太陽電池の検査装置。
- 前記暗室内に、前記カメラを前記暗室内で移動する駆動機構を設けたことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池の検査装置。
- 前記透明板と前記透明板上に載せられた前記太陽電池との境界の隙間から暗室内に入る光を遮光するための遮光手段を設けたことを特徴とする請求項1又は2に記載の太陽電池の検査装置。
- 前記上面に、前記太陽電池の搬送を案内する遮光手段を付与したガイド部材を設けたことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の太陽電池の検査装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007273538A JP4153021B1 (ja) | 2007-10-22 | 2007-10-22 | 太陽電池の検査装置 |
EP08405263A EP2053386A3 (en) | 2007-10-22 | 2008-10-20 | Inspecting apparatus for photovoltaic devices |
CNA2008101690668A CN101419269A (zh) | 2007-10-22 | 2008-10-20 | 太阳能电池检查装置 |
KR1020080102785A KR101454929B1 (ko) | 2007-10-22 | 2008-10-20 | 태양전지 검사장치 |
US12/255,399 US8004270B2 (en) | 2007-10-22 | 2008-10-21 | Inspecting apparatus for photovoltaic devices |
TW097140357A TWI425233B (zh) | 2007-10-22 | 2008-10-21 | 太陽能電池檢查裝置 |
DE202008014036U DE202008014036U1 (de) | 2007-10-22 | 2008-10-21 | Inspektionsvorrichtung für Photovoltaik-Bauelemente |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007273538A JP4153021B1 (ja) | 2007-10-22 | 2007-10-22 | 太陽電池の検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP4153021B1 true JP4153021B1 (ja) | 2008-09-17 |
JP2009105112A JP2009105112A (ja) | 2009-05-14 |
Family
ID=39846537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007273538A Expired - Fee Related JP4153021B1 (ja) | 2007-10-22 | 2007-10-22 | 太陽電池の検査装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8004270B2 (ja) |
EP (1) | EP2053386A3 (ja) |
JP (1) | JP4153021B1 (ja) |
KR (1) | KR101454929B1 (ja) |
CN (1) | CN101419269A (ja) |
DE (1) | DE202008014036U1 (ja) |
TW (1) | TWI425233B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010024452A1 (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-04 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池の検査装置 |
WO2010088120A2 (en) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Vserv Technologies Corp | Methods and apparatus for detection and classification of solar cell defects using bright field and electroluminescence imaging |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101518530B1 (ko) * | 2008-02-25 | 2015-05-07 | 닛신보 홀딩스 가부시키 가이샤 | 태양전지 검사장치 |
WO2010039500A2 (en) * | 2008-09-23 | 2010-04-08 | Applied Materials, Inc. | Light soaking system and test method for solar cells |
CN102725859B (zh) * | 2009-02-04 | 2016-01-27 | 应用材料公司 | 太阳能生产线的计量与检测套组 |
KR100924491B1 (ko) * | 2009-03-27 | 2009-11-03 | (주) 엠브이텍 | 솔라 셀 검사 장치 및 그 방법 |
CN101576602B (zh) * | 2009-06-19 | 2010-12-29 | 南开大学 | 检测上转换材料对太阳电池短路电流密度提高效果的装置 |
CN101943744A (zh) * | 2009-07-06 | 2011-01-12 | 应用材料股份有限公司 | 干型高电位测试器以及太阳模拟工具 |
EP2284520A1 (en) * | 2009-07-28 | 2011-02-16 | David Marcos Muntal | Assembly for the inspection in a continuous manner of cells, strings and photovoltaic modules and inspection method thereof |
CN101696942B (zh) * | 2009-10-16 | 2011-03-30 | 厦门大学 | 多结太阳能电池及各子电池交流电致发光测试方法和装置 |
DE102009057203A1 (de) * | 2009-11-26 | 2011-06-01 | Aci-Ecotec Gmbh & Co. Kg | Einrichtung zum Aussetzen eines Fotovoltaik-Dünnschichtmoduls mittels Licht |
DE102010004873A1 (de) | 2010-01-18 | 2011-07-21 | Fuss, Michael, Dr., 22143 | Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion von Photovoltaik-Bauelementen |
DE102010046428A1 (de) | 2010-02-25 | 2011-08-25 | Fuss, Michael, Dr., 22143 | Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion von Solarzellen-Strings |
US9525381B2 (en) * | 2011-09-26 | 2016-12-20 | First Solar, Inc. | Method and apparatus for electrically accessing photovoltaic modules |
KR101096629B1 (ko) * | 2010-05-06 | 2011-12-21 | 동국대학교 산학협력단 | 전계 발광 시료 분석 장치 |
CN102313739B (zh) * | 2010-07-05 | 2014-02-05 | 上海伊斯曼电气有限公司 | 一种太阳能电池组件自动检测仪 |
CN101915859A (zh) * | 2010-07-13 | 2010-12-15 | 常州亿晶光电科技有限公司 | El测试仪的拉板遮光装置 |
CN103069293B (zh) * | 2010-08-23 | 2016-01-27 | 住友重机械工业株式会社 | 电池检查装置 |
CN101968526B (zh) * | 2010-09-02 | 2012-09-19 | 立晔科技股份有限公司 | 太阳能板检测机台 |
TWI404950B (zh) * | 2010-10-26 | 2013-08-11 | Inst Nuclear Energy Res Atomic Energy Council | 聚光型太陽能電池檢測裝置 |
KR101142272B1 (ko) * | 2010-11-18 | 2012-05-07 | 주식회사 톱텍 | 태양열 전지판용 셀의 크랙 검사장치 |
DE102011001718B4 (de) * | 2011-04-01 | 2016-12-15 | Harrexco Ag | Prüfvorrichtung für eine lichtabhängige Prüfung eines Photovoltaikmoduls sowie Verfahren zur Prüfung des Photovoltaikmoduls in der Prüfvorrichtung |
TW201241399A (en) * | 2011-04-07 | 2012-10-16 | xi-ming Xu | Laser measurement device |
US9863890B2 (en) * | 2011-06-10 | 2018-01-09 | The Boeing Company | Solar cell testing apparatus and method |
DE202011109424U1 (de) * | 2011-12-23 | 2012-01-20 | Grenzebach Maschinenbau Gmbh | Vorrichtung zur industriellen Verdrahtung und Endprüfung von photovoltaischen Konzentratormodulen |
KR101294860B1 (ko) * | 2012-01-20 | 2013-08-09 | 주식회사 신성솔라에너지 | 다양한 패턴의 태양전지를 측정할 수 있는 솔라 시뮬레이터용 스테이지 |
DE102012107316B4 (de) * | 2012-08-09 | 2019-08-14 | Solarzentrum Stuttgart GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Photovoltaikmodulen |
JP2014082352A (ja) * | 2012-10-17 | 2014-05-08 | Npc Inc | 太陽電池の検査装置及びその方法 |
TWI486601B (zh) * | 2013-07-31 | 2015-06-01 | Ind Tech Res Inst | 用於檢測太陽能電池之缺陷的方法與系統 |
MY188979A (en) * | 2014-10-27 | 2022-01-17 | Zeus Co Ltd | Cell and jig transfer apparatus of tabbing apparatus |
US9641125B2 (en) * | 2015-01-23 | 2017-05-02 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Luminescence imaging systems and methods for evaluating photovoltaic devices |
CN107658256B (zh) * | 2017-10-31 | 2024-04-05 | 河北羿珩科技有限责任公司 | 一种光伏组件传输归正系统及方法 |
CN110492845A (zh) * | 2019-09-10 | 2019-11-22 | 天合光能股份有限公司 | 一种高效双面太阳能光伏组件检测装置及检测方法 |
CN114910174A (zh) * | 2022-07-14 | 2022-08-16 | 徐州科华能源科技有限公司 | 一种太阳能光伏材料层温度测量装置 |
CN116545376B (zh) * | 2023-04-18 | 2024-06-18 | 珠海安维特工程检测有限公司 | 一种光伏组件模拟检测密闭箱体及方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2983022B2 (ja) | 1988-07-20 | 1999-11-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | 発光によるデバイスおよびその材料の評価装置 |
JP2711966B2 (ja) | 1992-09-10 | 1998-02-10 | 信越半導体株式会社 | 発光素子製造用ウエーハの検査方法 |
JP3655598B2 (ja) | 2002-04-04 | 2005-06-02 | トヤマキカイ株式会社 | 太陽電池セルの検査方法およびその装置 |
JP4765052B2 (ja) | 2002-12-19 | 2011-09-07 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
JP4625941B2 (ja) | 2003-02-04 | 2011-02-02 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 太陽電池の性能評価装置 |
EP1840541A4 (en) * | 2004-11-30 | 2010-04-07 | Nat Univ Corp Nara Inst | METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATION OF A SOLAR CELL AND USE THEREOF |
JP5236858B2 (ja) * | 2005-02-01 | 2013-07-17 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池の出力特性の測定方法。 |
US20090231575A1 (en) * | 2005-05-23 | 2009-09-17 | Kenichiro Saito | Method for Measuring Luminance of Light-Emitting Object and Device Therefor |
JP5148073B2 (ja) | 2005-06-17 | 2013-02-20 | 日清紡ホールディングス株式会社 | ソーラシミュレータによる測定方法 |
JP2007078404A (ja) * | 2005-09-12 | 2007-03-29 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池パネル検査装置 |
JP2007273538A (ja) | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Anritsu Corp | ヘテロ接合バイポーラトランジスタ及びその製造方法 |
US7847237B2 (en) | 2006-05-02 | 2010-12-07 | National University Corporation Nara | Method and apparatus for testing and evaluating performance of a solar cell |
DE102007007140B4 (de) * | 2007-02-09 | 2009-01-29 | Astrium Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Detektion mechanischer Defekte eines Halbleiter-Bauelements, insbesondere einer Solarzelle oder Solarzellen-Anordnung |
KR101518530B1 (ko) * | 2008-02-25 | 2015-05-07 | 닛신보 홀딩스 가부시키 가이샤 | 태양전지 검사장치 |
JP3143169U (ja) | 2008-04-30 | 2008-07-10 | 日清紡績株式会社 | 太陽電池の検査装置 |
-
2007
- 2007-10-22 JP JP2007273538A patent/JP4153021B1/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-10-20 CN CNA2008101690668A patent/CN101419269A/zh active Pending
- 2008-10-20 EP EP08405263A patent/EP2053386A3/en not_active Withdrawn
- 2008-10-20 KR KR1020080102785A patent/KR101454929B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2008-10-21 DE DE202008014036U patent/DE202008014036U1/de not_active Expired - Lifetime
- 2008-10-21 TW TW097140357A patent/TWI425233B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-10-21 US US12/255,399 patent/US8004270B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010024452A1 (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-04 | 日清紡ホールディングス株式会社 | 太陽電池の検査装置 |
JP2010056252A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Nisshinbo Holdings Inc | 太陽電池の検査装置 |
CN102197494A (zh) * | 2008-08-28 | 2011-09-21 | 日清纺控股株式会社 | 太阳能电池检测装置 |
CN102197494B (zh) * | 2008-08-28 | 2014-09-03 | 日清纺控股株式会社 | 太阳能电池检测装置 |
WO2010088120A2 (en) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Vserv Technologies Corp | Methods and apparatus for detection and classification of solar cell defects using bright field and electroluminescence imaging |
WO2010088120A3 (en) * | 2009-01-20 | 2010-12-16 | Vserv Technologies Corp | Methods and apparatus for detection and classification of solar cell defects using bright field and electroluminescence imaging |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101454929B1 (ko) | 2014-10-27 |
DE202008014036U1 (de) | 2009-01-22 |
US20090102453A1 (en) | 2009-04-23 |
TW200935076A (en) | 2009-08-16 |
JP2009105112A (ja) | 2009-05-14 |
EP2053386A2 (en) | 2009-04-29 |
US8004270B2 (en) | 2011-08-23 |
CN101419269A (zh) | 2009-04-29 |
KR20090040852A (ko) | 2009-04-27 |
TWI425233B (zh) | 2014-02-01 |
EP2053386A3 (en) | 2010-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4153021B1 (ja) | 太陽電池の検査装置 | |
JP3143169U (ja) | 太陽電池の検査装置 | |
TWI432758B (zh) | 太陽能電池檢測裝置 | |
KR101518530B1 (ko) | 태양전지 검사장치 | |
CN102007398B (zh) | 太阳电池的检查装置及检查装置用输送装置 | |
JP2011138981A (ja) | 太陽電池セルの電流電圧出力特性および欠陥の検査装置 | |
JP5006229B2 (ja) | 太陽電池の検査装置 | |
JP5378854B2 (ja) | 太陽電池の検査装置用搬送装置 | |
JP2011082202A (ja) | 検査装置 | |
KR20190051303A (ko) | 이동형 태양광 패널 검사 장치 및 검사 방법 | |
JP2010021193A (ja) | 太陽電池の検査装置 | |
JP2010073701A (ja) | 太陽電池の検査装置、およびその検査装置へ太陽電池を搬入するための取付け具、およびその取付け具を用いた太陽電池の搬入方法 | |
JP3141553U (ja) | 太陽電池の検査装置 | |
JP2012089759A (ja) | 検査装置の給電装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080617 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20080610 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080702 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110711 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120711 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120711 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120711 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130711 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130711 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |