RU2007119167A - Способ градуировки спектрофотометра - Google Patents

Способ градуировки спектрофотометра Download PDF

Info

Publication number
RU2007119167A
RU2007119167A RU2007119167/28A RU2007119167A RU2007119167A RU 2007119167 A RU2007119167 A RU 2007119167A RU 2007119167/28 A RU2007119167/28 A RU 2007119167/28A RU 2007119167 A RU2007119167 A RU 2007119167A RU 2007119167 A RU2007119167 A RU 2007119167A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
spectral
optical spectrum
spectrometer
value
scheme
Prior art date
Application number
RU2007119167/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2400715C2 (ru
Inventor
Хенрик Вилструп ЮЛ (DK)
Хенрик Вилструп ЮЛ
Original Assignee
Фосс Аналитикал А/С (Dk)
ФОСС Аналитикал А/С
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Фосс Аналитикал А/С (Dk), ФОСС Аналитикал А/С filed Critical Фосс Аналитикал А/С (Dk)
Publication of RU2007119167A publication Critical patent/RU2007119167A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2400715C2 publication Critical patent/RU2400715C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4535Devices with moving mirror
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/359Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N2021/3595Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G01N21/276Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/127Calibration; base line adjustment; drift compensation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Claims (15)

1. Способ регулирования шкалы длин волн оптического спектра, записываемого спектрометром, включающий следующие шаги:
предоставление оптического спектра, записанного спектрометром и содержащего спектральные схемы компонентов атмосферного воздуха, находящегося в спектрометре,
выбор спектральной схемы компонентов атмосферного воздуха, находящегося в спектрометре,
определение зависящего от длины волны значения позиции, связанного с выбранной спектральной схемой, и
регулирование шкалы длин волн оптического спектра на основе разности между заданным значением и соответствующим эталонным значением выбранной спектральной схемы.
2. Способ по п.1, в котором зависящее от длины волны значение позиции, связанное с выбранной спектральной схемой, является значением центра выбранной спектральной схемы.
3. Способ по п.1 или 2, в котором шаг по определению зависящего от длины волны значения содержит удаление спектральных компонентов от других веществ в пределах заданного диапазона длин волн, охватывающего выбранную спектральную схему.
4. Способ по п.3, в котором удаление спектральных компонентов содержит следующие шаги:
выбор, по меньшей мере, двух спектральных значений внутри заданного диапазона длин волн, содержащего выбранную спектральную схему, причем эти значения лежат по обеим сторонам и вне указанной спектральной схемы,
аппроксимация кривой по выбранным спектральным значениям с использованием простой модельной функции, и
вычитание аппроксимированной кривой из оптического спектра по меньшей мере для заданного диапазона длин волн оптического спектра.
5. Способ по п.1, в котором выбранная спектральная схема получена от газообразного диоксида углерода (CO2 (g)) и расположена в интервале 2000-2800 см-1.
6. Способ по п.1, в котором оптический спектр дополнительно содержит оптический спектр исследуемого образца, находящегося в спектрометре.
7. Инфракрасный спектрометр, содержащий измерительный и вычислительный узлы, причем измерительный узел содержит источник света, излучающий инфракрасный свет, средство для позиционирования исследуемого образца, освещаемого инфракрасным светом, фотодетектор, предназначенный для приема инфракрасного света, взаимодействующего с образцом, а вычислительный узел содержит
средство для генерирования оптического спектра из данных, полученных от фотодетектора,
данные, определяющие диапазон длин волн оптического спектра, в котором лежит спектральная схема компонента атмосферного воздуха, находящегося в спектрометре,
средство для определения зависящего от длины волны значения позиции, связанного с выбранной спектральной схемой, и
средство для сравнения заданного значения с соответствующим эталонным значением и вычисления формулы градуировки для оптического спектра.
8. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором вычислительный узел дополнительно содержит средство по меньшей мере для удаления в основном спектральных компонентов источника света и других веществ в заданном диапазоне длин волн.
9. Инфракрасный спектрометр по п.7 или 8, в котором инфракрасный спектрометр является спектрометром, работающим на основе преобразования Фурье (FTIR).
10. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором спектральная схема получена от газообразного диоксида углерода (СО2 (g)) и расположена в интервале 2000-2800 см-1.
11. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором оптический спектр дополнительно содержит оптический спектр исследуемого образца, находящегося в спектрометре.
12. Инфракрасный спектрометр по п.8, в котором средство по меньшей мере для удаления в основном спектральных компонентов содержит алгоритм для выполнения следующих шагов:
выбор по меньшей мере двух спектральных значений внутри заданного диапазона длин волн, причем эти значения лежат по обеим сторонам и вне указанной спектральной схемы,
аппроксимация кривой по выбранным спектральным значениям с использованием простой модельной функции, и
вычитание аппроксимированной кривой из оптического спектра, по меньшей мере для заданного диапазона длин волн оптического спектра.
13. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором значение позиции, зависящее от длины волны, определяется как значение центра выбранной спектральной схемы.
14. Инфракрасный спектрометр по п.13, в котором средство для определения зависящего от длины волны значения позиции содержит алгоритм для выполнения следующих шагов:
определение минимального спектрального значения в пределах заданного диапазона длин волн,
определение спектральных краевых значений, являющихся заданными процентными значениями минимального значения,
определение значения центра между спектральными краевыми значениями, это значение центра является значением центра спектральной схемы.
15. Носитель данных, содержащий данные, представляющие
программное средство для генерирования оптического спектра из данных об оптической частоте и соответствующих спектральных данных,
данные, определяющие заданный диапазон длин волн оптического спектра, в пределах которого находится спектральная схема компонента атмосферного воздуха, и эталонное значение для зависящего от длины волны значения позиции заданной характеристики спектральной схемы,
программное средство для определения зависящего от длины волны значения позиции для заданной характеристики спектральной схемы в оптическом спектре, и
программное средство для сравнения заданного значения с эталонным значением и вычисления формулы градуировки для оптического спектра.
RU2007119167/28A 2004-12-21 2005-12-16 Способ градуировки спектрометра RU2400715C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DKPA200401965 2004-12-21
DKPA200401965 2004-12-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2007119167A true RU2007119167A (ru) 2009-01-27
RU2400715C2 RU2400715C2 (ru) 2010-09-27

Family

ID=34956385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007119167/28A RU2400715C2 (ru) 2004-12-21 2005-12-16 Способ градуировки спектрометра

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20080290279A1 (ru)
EP (1) EP1836463A1 (ru)
JP (1) JP2008524609A (ru)
CN (1) CN101084419A (ru)
AU (1) AU2005318683B2 (ru)
NZ (1) NZ554781A (ru)
RU (1) RU2400715C2 (ru)
WO (1) WO2006066581A1 (ru)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008049484A1 (de) * 2006-10-27 2008-05-02 Optek-Danulat Gmbh Inline-photometervorrichtung und kalibrierverfahren
EP1916513A1 (de) 2006-10-27 2008-04-30 optek-Danulat GmbH Inline-Photometervorrichtung und Kalibrierverfahren
JP5121415B2 (ja) * 2007-11-20 2013-01-16 日本電信電話株式会社 スペクトル解析方法、及び、プログラム
CN100545632C (zh) * 2007-11-22 2009-09-30 中国科学院力学研究所 光纤光谱仪波长标定方法
KR101069618B1 (ko) 2009-06-23 2011-10-05 한국표준과학연구원 고출력 자외선 복사조도계 교정 장치
CA2791411C (en) 2011-05-02 2017-03-21 Foss Analytical A/S Spectrometric instrument
PL2745085T3 (pl) * 2011-08-19 2019-08-30 Foss Analytical A/S Sposób kompensacji dryfu amplitudy w spektrofotometrze i spektrofotometr realizujący wymieniony sposób
PL2769187T3 (pl) * 2011-10-17 2019-08-30 Foss Analytical A/S Sposób kompensacji dryfu częstotliwości w interferometrze
JP2013113664A (ja) * 2011-11-28 2013-06-10 Yokogawa Electric Corp レーザガス分析装置
MX340339B (es) * 2011-12-16 2016-07-05 Halliburton Energy Services Inc Metodos de transferencia de calibracion para un instrumento de pruebas.
AU2013284368A1 (en) 2012-06-28 2015-01-22 Quick Llc Mobile smart device infrared light measuring apparatus, method, and system for analyzing substances
US9540701B2 (en) * 2014-02-28 2017-01-10 Asl Analytical, Inc. Apparatus and method for automated process monitoring and control with near infrared spectroscopy
JP2016070776A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 セイコーエプソン株式会社 分光分析装置、及び分光分析装置の校正方法
CN106876236B (zh) * 2015-12-10 2018-11-20 中微半导体设备(上海)有限公司 监测等离子体工艺制程的装置和方法
CN105628676B (zh) * 2015-12-29 2018-10-12 北京华泰诺安探测技术有限公司 一种拉曼光谱修正系统及方法
CN105651723A (zh) * 2015-12-30 2016-06-08 哈尔滨工业大学 用于锂离子电池气体检测的原位透射红外电解池及其实验方法
CN110431400A (zh) * 2016-08-22 2019-11-08 高地创新公司 利用基质辅助激光解吸/离子化飞行时间质谱仪进行数据库管理
CN106672970B (zh) * 2017-01-24 2020-07-07 北京华亘安邦科技有限公司 一种高丰度13co2标准气体制备方法
US10663344B2 (en) * 2017-04-26 2020-05-26 Viavi Solutions Inc. Calibration for an instrument (device, sensor)
US11085825B2 (en) 2018-03-30 2021-08-10 Si-Ware Systems Self-referenced spectrometer
US11441945B2 (en) * 2018-11-15 2022-09-13 Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. Distance measurements using spectrometer systems
RS63454B1 (sr) 2018-12-17 2022-08-31 Evonik Operations Gmbh Postupak za identifikaciju neispravno kalibrisanog ili nekalibrisanog infracrvenog spektrometra i za korekciju spektra snimljenog na neispravno kalibrisanom ili nekalibrisanom infracrvenom spektrometru
JP7275581B2 (ja) * 2019-01-08 2023-05-18 株式会社島津製作所 フーリエ変換赤外分光装置
DE102019104066A1 (de) 2019-02-19 2020-08-20 Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh Spektrometersystem und Verfahren zu dessen Prüfung
DE102019203562B4 (de) * 2019-03-15 2022-11-03 Bruker Optics Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Ermittlung einer Korrekturgrößenfunktion und Verfahren zur Erzeugung eines frequenzkorrigierten Hyperspektralbildes
US11821790B2 (en) * 2019-03-27 2023-11-21 Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. Self-calibrating spectral sensor modules
CN111987079B (zh) * 2020-02-20 2023-03-28 大连兆晶生物科技有限公司 发光装置、发光方法、光谱仪及光谱检测方法
JP7371531B2 (ja) * 2020-02-27 2023-10-31 株式会社島津製作所 フーリエ変換赤外分光光度計

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19548378A1 (de) * 1995-12-27 1997-07-03 Bran & Luebbe Verfahren und Gerätekombination zur Herstellung der Vergleichbarkeit von Spektrometermessungen
US5780843A (en) * 1996-07-16 1998-07-14 Universite Laval Absolute optical frequency calibrator for a variable frequency optical source
US5838008A (en) * 1996-12-18 1998-11-17 University Of Wollongong Method and apparatus for measuring gas concentrations and isotope ratios in gases
US5771094A (en) * 1997-01-29 1998-06-23 Kla-Tencor Corporation Film measurement system with improved calibration
US6002990A (en) * 1997-10-16 1999-12-14 Datex-Ohmeda, Inc. Dynamic wavelength calibration for spectrographic analyzer
FR2776771B1 (fr) * 1998-03-24 2000-05-26 Schlumberger Ind Sa Procede d'etalonnage en longueur d'onde d'un dispositif de filtrage d'un rayonnement electromagnetique
US6452179B1 (en) * 1998-08-14 2002-09-17 Global Technovations, Inc. On-site analyzer
EP1303742B1 (en) * 2000-07-27 2007-06-13 BAE SYSTEMS Information and Electronic Systems Integration Inc. Spectral drift and correction technique for hyperspectral imaging systems
US7217574B2 (en) * 2000-10-30 2007-05-15 Sru Biosystems, Inc. Method and apparatus for biosensor spectral shift detection
US6687001B2 (en) * 2001-03-16 2004-02-03 Fujitsu Limited Optical spectrum analyzer and optical spectrum detecting method

Also Published As

Publication number Publication date
AU2005318683A1 (en) 2006-06-29
US20080290279A1 (en) 2008-11-27
JP2008524609A (ja) 2008-07-10
CN101084419A (zh) 2007-12-05
EP1836463A1 (en) 2007-09-26
RU2400715C2 (ru) 2010-09-27
AU2005318683B2 (en) 2011-10-13
WO2006066581A1 (en) 2006-06-29
NZ554781A (en) 2010-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2007119167A (ru) Способ градуировки спектрофотометра
US20140204382A1 (en) Miniature tunable laser spectrometer for detection of a trace gas
KR102231784B1 (ko) 시료 분석을 위한 레퍼런스 스펙트럼 측정 장치 및 방법, 시료 분석 장치 및 방법
CN107014759A (zh) 用于减少吸收光谱测量中的基线失真的影响的方法和系统
JP2002365142A5 (ru)
US6044329A (en) Laser gas analyzer and a method of operating the laser to reduce non-linearity errors
JP2021507221A5 (ru)
US20170023408A1 (en) Photodetector output correction method used for spectroscopic analyzer
JP5201214B2 (ja) 分光光度計
JP2015531071A (ja) 外部空洞レーザ吸収分光方法及び装置
TW202223365A (zh) 氣體分析裝置以及氣體分析方法
JP6421388B2 (ja) 同位体濃度算出方法
JP6061031B2 (ja) 分光分析システムおよび該方法
FR3077387A1 (fr) Procede d'estimation d'une quantite de gaz
RU2618963C2 (ru) Способ градуировки лидара
De Backer-Barilly et al. Absolute Intensities of the 10-μm Bands of 16O3
JPH09222359A (ja) レーザー分光器システムの波長安定化方法
CN116642850A (zh) 傅里叶变换红外分光光度计
Poslusny et al. Nondestructive adhesive analysis on stamps by Fourier transform infrared spectroscopy
JPH0599746A (ja) 光強度補償手段を有する工業用測色計
US20170045446A1 (en) Method of determining the concentration of a gas component and spectrometer therefor
KR200404482Y1 (ko) 휴대형 과일 품질정보 측정장치
JPH07306139A (ja) 液体試料の成分濃度等を測定する方法及び装置
Nørgaard iToolbox Manual
CN114136888B (zh) 多光源便携式近红外光谱仪的光谱数据校准方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20111217