RU2007119167A - Способ градуировки спектрофотометра - Google Patents
Способ градуировки спектрофотометра Download PDFInfo
- Publication number
- RU2007119167A RU2007119167A RU2007119167/28A RU2007119167A RU2007119167A RU 2007119167 A RU2007119167 A RU 2007119167A RU 2007119167/28 A RU2007119167/28 A RU 2007119167/28A RU 2007119167 A RU2007119167 A RU 2007119167A RU 2007119167 A RU2007119167 A RU 2007119167A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- spectral
- optical spectrum
- spectrometer
- value
- scheme
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 7
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 31
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 19
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 18
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 7
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 claims 4
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
- G01J3/4535—Devices with moving mirror
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/359—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N2021/3595—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
- G01N21/276—Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Claims (15)
1. Способ регулирования шкалы длин волн оптического спектра, записываемого спектрометром, включающий следующие шаги:
предоставление оптического спектра, записанного спектрометром и содержащего спектральные схемы компонентов атмосферного воздуха, находящегося в спектрометре,
выбор спектральной схемы компонентов атмосферного воздуха, находящегося в спектрометре,
определение зависящего от длины волны значения позиции, связанного с выбранной спектральной схемой, и
регулирование шкалы длин волн оптического спектра на основе разности между заданным значением и соответствующим эталонным значением выбранной спектральной схемы.
2. Способ по п.1, в котором зависящее от длины волны значение позиции, связанное с выбранной спектральной схемой, является значением центра выбранной спектральной схемы.
3. Способ по п.1 или 2, в котором шаг по определению зависящего от длины волны значения содержит удаление спектральных компонентов от других веществ в пределах заданного диапазона длин волн, охватывающего выбранную спектральную схему.
4. Способ по п.3, в котором удаление спектральных компонентов содержит следующие шаги:
выбор, по меньшей мере, двух спектральных значений внутри заданного диапазона длин волн, содержащего выбранную спектральную схему, причем эти значения лежат по обеим сторонам и вне указанной спектральной схемы,
аппроксимация кривой по выбранным спектральным значениям с использованием простой модельной функции, и
вычитание аппроксимированной кривой из оптического спектра по меньшей мере для заданного диапазона длин волн оптического спектра.
5. Способ по п.1, в котором выбранная спектральная схема получена от газообразного диоксида углерода (CO2 (g)) и расположена в интервале 2000-2800 см-1.
6. Способ по п.1, в котором оптический спектр дополнительно содержит оптический спектр исследуемого образца, находящегося в спектрометре.
7. Инфракрасный спектрометр, содержащий измерительный и вычислительный узлы, причем измерительный узел содержит источник света, излучающий инфракрасный свет, средство для позиционирования исследуемого образца, освещаемого инфракрасным светом, фотодетектор, предназначенный для приема инфракрасного света, взаимодействующего с образцом, а вычислительный узел содержит
средство для генерирования оптического спектра из данных, полученных от фотодетектора,
данные, определяющие диапазон длин волн оптического спектра, в котором лежит спектральная схема компонента атмосферного воздуха, находящегося в спектрометре,
средство для определения зависящего от длины волны значения позиции, связанного с выбранной спектральной схемой, и
средство для сравнения заданного значения с соответствующим эталонным значением и вычисления формулы градуировки для оптического спектра.
8. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором вычислительный узел дополнительно содержит средство по меньшей мере для удаления в основном спектральных компонентов источника света и других веществ в заданном диапазоне длин волн.
9. Инфракрасный спектрометр по п.7 или 8, в котором инфракрасный спектрометр является спектрометром, работающим на основе преобразования Фурье (FTIR).
10. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором спектральная схема получена от газообразного диоксида углерода (СО2 (g)) и расположена в интервале 2000-2800 см-1.
11. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором оптический спектр дополнительно содержит оптический спектр исследуемого образца, находящегося в спектрометре.
12. Инфракрасный спектрометр по п.8, в котором средство по меньшей мере для удаления в основном спектральных компонентов содержит алгоритм для выполнения следующих шагов:
выбор по меньшей мере двух спектральных значений внутри заданного диапазона длин волн, причем эти значения лежат по обеим сторонам и вне указанной спектральной схемы,
аппроксимация кривой по выбранным спектральным значениям с использованием простой модельной функции, и
вычитание аппроксимированной кривой из оптического спектра, по меньшей мере для заданного диапазона длин волн оптического спектра.
13. Инфракрасный спектрометр по п.7, в котором значение позиции, зависящее от длины волны, определяется как значение центра выбранной спектральной схемы.
14. Инфракрасный спектрометр по п.13, в котором средство для определения зависящего от длины волны значения позиции содержит алгоритм для выполнения следующих шагов:
определение минимального спектрального значения в пределах заданного диапазона длин волн,
определение спектральных краевых значений, являющихся заданными процентными значениями минимального значения,
определение значения центра между спектральными краевыми значениями, это значение центра является значением центра спектральной схемы.
15. Носитель данных, содержащий данные, представляющие
программное средство для генерирования оптического спектра из данных об оптической частоте и соответствующих спектральных данных,
данные, определяющие заданный диапазон длин волн оптического спектра, в пределах которого находится спектральная схема компонента атмосферного воздуха, и эталонное значение для зависящего от длины волны значения позиции заданной характеристики спектральной схемы,
программное средство для определения зависящего от длины волны значения позиции для заданной характеристики спектральной схемы в оптическом спектре, и
программное средство для сравнения заданного значения с эталонным значением и вычисления формулы градуировки для оптического спектра.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DKPA200401965 | 2004-12-21 | ||
| DKPA200401965 | 2004-12-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2007119167A true RU2007119167A (ru) | 2009-01-27 |
| RU2400715C2 RU2400715C2 (ru) | 2010-09-27 |
Family
ID=34956385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2007119167/28A RU2400715C2 (ru) | 2004-12-21 | 2005-12-16 | Способ градуировки спектрометра |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20080290279A1 (ru) |
| EP (1) | EP1836463A1 (ru) |
| JP (1) | JP2008524609A (ru) |
| CN (1) | CN101084419A (ru) |
| AU (1) | AU2005318683B2 (ru) |
| NZ (1) | NZ554781A (ru) |
| RU (1) | RU2400715C2 (ru) |
| WO (1) | WO2006066581A1 (ru) |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008049484A1 (de) * | 2006-10-27 | 2008-05-02 | Optek-Danulat Gmbh | Inline-photometervorrichtung und kalibrierverfahren |
| EP1916513A1 (de) | 2006-10-27 | 2008-04-30 | optek-Danulat GmbH | Inline-Photometervorrichtung und Kalibrierverfahren |
| JP5121415B2 (ja) * | 2007-11-20 | 2013-01-16 | 日本電信電話株式会社 | スペクトル解析方法、及び、プログラム |
| CN100545632C (zh) * | 2007-11-22 | 2009-09-30 | 中国科学院力学研究所 | 光纤光谱仪波长标定方法 |
| KR101069618B1 (ko) | 2009-06-23 | 2011-10-05 | 한국표준과학연구원 | 고출력 자외선 복사조도계 교정 장치 |
| CA2791411C (en) | 2011-05-02 | 2017-03-21 | Foss Analytical A/S | Spectrometric instrument |
| US9606050B2 (en) * | 2011-08-19 | 2017-03-28 | Foss Analytical A/B | Method for compensating amplitude drift in a spectrometer and spectrometer performing said method |
| BR112014009046B1 (pt) * | 2011-10-17 | 2020-10-13 | Foss Analytical A/S | método para compensar o desvio de frequência de uma fonte de energia de referência, e instrumento de espectrômetro |
| JP2013113664A (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-10 | Yokogawa Electric Corp | レーザガス分析装置 |
| WO2013089764A1 (en) * | 2011-12-16 | 2013-06-20 | Halliburton Energy Services, Inc. | Methods of calibration transfer for a testing instrument |
| JP2015525877A (ja) | 2012-06-28 | 2015-09-07 | クイック エルエルシー | 物質を解析する携帯スマートデバイス用赤外光測定装置、方法、およびシステム |
| US9540701B2 (en) * | 2014-02-28 | 2017-01-10 | Asl Analytical, Inc. | Apparatus and method for automated process monitoring and control with near infrared spectroscopy |
| JP2016070776A (ja) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | セイコーエプソン株式会社 | 分光分析装置、及び分光分析装置の校正方法 |
| CN106876236B (zh) * | 2015-12-10 | 2018-11-20 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 监测等离子体工艺制程的装置和方法 |
| CN105628676B (zh) * | 2015-12-29 | 2018-10-12 | 北京华泰诺安探测技术有限公司 | 一种拉曼光谱修正系统及方法 |
| CN105651723A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-06-08 | 哈尔滨工业大学 | 用于锂离子电池气体检测的原位透射红外电解池及其实验方法 |
| KR20190076952A (ko) * | 2016-08-22 | 2019-07-02 | 조요한 | 매트릭스 지원 레이저 탈착/이온화 비행 시간 질량 분광계를 이용한 데이터베이스 관리 |
| CN106672970B (zh) * | 2017-01-24 | 2020-07-07 | 北京华亘安邦科技有限公司 | 一种高丰度13co2标准气体制备方法 |
| US10663344B2 (en) * | 2017-04-26 | 2020-05-26 | Viavi Solutions Inc. | Calibration for an instrument (device, sensor) |
| US11085825B2 (en) | 2018-03-30 | 2021-08-10 | Si-Ware Systems | Self-referenced spectrometer |
| DE112019005765T5 (de) * | 2018-11-15 | 2021-07-29 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Abstandsmessungen mit spectrometer-systemen |
| PT3899462T (pt) | 2018-12-17 | 2022-08-05 | Evonik Operations Gmbh | Método para a identificação de um espectrómetro de infravermelhos incorretamente calibrado ou não calibrado e para a correcção de um espectro registado num espectrómetro de infravermelhos incorretamente ou não calibrado |
| JP7275581B2 (ja) * | 2019-01-08 | 2023-05-18 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換赤外分光装置 |
| DE102019104066A1 (de) * | 2019-02-19 | 2020-08-20 | Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh | Spektrometersystem und Verfahren zu dessen Prüfung |
| DE102019203562B4 (de) | 2019-03-15 | 2022-11-03 | Bruker Optics Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Ermittlung einer Korrekturgrößenfunktion und Verfahren zur Erzeugung eines frequenzkorrigierten Hyperspektralbildes |
| WO2020197497A1 (en) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Self-calibrating spectral sensor modules |
| CN111987079B (zh) * | 2020-02-20 | 2023-03-28 | 大连兆晶生物科技有限公司 | 发光装置、发光方法、光谱仪及光谱检测方法 |
| JP7371531B2 (ja) * | 2020-02-27 | 2023-10-31 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換赤外分光光度計 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19548378A1 (de) * | 1995-12-27 | 1997-07-03 | Bran & Luebbe | Verfahren und Gerätekombination zur Herstellung der Vergleichbarkeit von Spektrometermessungen |
| US5780843A (en) * | 1996-07-16 | 1998-07-14 | Universite Laval | Absolute optical frequency calibrator for a variable frequency optical source |
| AUPO425896A0 (en) * | 1996-12-18 | 1997-01-23 | University Of Wollongong, The | Method and apparatus for measuring gas concentrations and isotope ratios in gases |
| US5771094A (en) * | 1997-01-29 | 1998-06-23 | Kla-Tencor Corporation | Film measurement system with improved calibration |
| US6002990A (en) * | 1997-10-16 | 1999-12-14 | Datex-Ohmeda, Inc. | Dynamic wavelength calibration for spectrographic analyzer |
| FR2776771B1 (fr) * | 1998-03-24 | 2000-05-26 | Schlumberger Ind Sa | Procede d'etalonnage en longueur d'onde d'un dispositif de filtrage d'un rayonnement electromagnetique |
| IL141344A (en) * | 1998-08-14 | 2005-03-20 | On Site Analysis Inc | On-site analyzer |
| EP1303742B1 (en) * | 2000-07-27 | 2007-06-13 | BAE SYSTEMS Information and Electronic Systems Integration Inc. | Spectral drift and correction technique for hyperspectral imaging systems |
| US7217574B2 (en) * | 2000-10-30 | 2007-05-15 | Sru Biosystems, Inc. | Method and apparatus for biosensor spectral shift detection |
| US6687001B2 (en) * | 2001-03-16 | 2004-02-03 | Fujitsu Limited | Optical spectrum analyzer and optical spectrum detecting method |
-
2005
- 2005-12-16 US US11/793,036 patent/US20080290279A1/en not_active Abandoned
- 2005-12-16 RU RU2007119167/28A patent/RU2400715C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2005-12-16 CN CNA2005800436838A patent/CN101084419A/zh active Pending
- 2005-12-16 EP EP05818765A patent/EP1836463A1/en not_active Withdrawn
- 2005-12-16 WO PCT/DK2005/000798 patent/WO2006066581A1/en active Application Filing
- 2005-12-16 JP JP2007547179A patent/JP2008524609A/ja active Pending
- 2005-12-16 NZ NZ554781A patent/NZ554781A/en not_active IP Right Cessation
- 2005-12-16 AU AU2005318683A patent/AU2005318683B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2006066581A1 (en) | 2006-06-29 |
| RU2400715C2 (ru) | 2010-09-27 |
| JP2008524609A (ja) | 2008-07-10 |
| AU2005318683A1 (en) | 2006-06-29 |
| AU2005318683B2 (en) | 2011-10-13 |
| EP1836463A1 (en) | 2007-09-26 |
| US20080290279A1 (en) | 2008-11-27 |
| NZ554781A (en) | 2010-01-29 |
| CN101084419A (zh) | 2007-12-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2007119167A (ru) | Способ градуировки спектрофотометра | |
| US20140204382A1 (en) | Miniature tunable laser spectrometer for detection of a trace gas | |
| Rinnan et al. | Handling of first-order Rayleigh scatter in PARAFAC modelling of fluorescence excitation–emission data | |
| US10036707B2 (en) | Gem identification method and apparatus | |
| KR102231784B1 (ko) | 시료 분석을 위한 레퍼런스 스펙트럼 측정 장치 및 방법, 시료 분석 장치 및 방법 | |
| CN107014759A (zh) | 用于减少吸收光谱测量中的基线失真的影响的方法和系统 | |
| JP2002365142A5 (ru) | ||
| US6044329A (en) | Laser gas analyzer and a method of operating the laser to reduce non-linearity errors | |
| JP2021507221A5 (ru) | ||
| CN106370303B (zh) | 光检测器的输出修正方法和光谱分析装置或分光器 | |
| JP5201214B2 (ja) | 分光光度計 | |
| JP2015531071A (ja) | 外部空洞レーザ吸収分光方法及び装置 | |
| TW202223365A (zh) | 氣體分析裝置以及氣體分析方法 | |
| JP6421388B2 (ja) | 同位体濃度算出方法 | |
| JP6061031B2 (ja) | 分光分析システムおよび該方法 | |
| FR3077387A1 (fr) | Procede d'estimation d'une quantite de gaz | |
| JPH09222359A (ja) | レーザー分光器システムの波長安定化方法 | |
| CN116642850A (zh) | 傅里叶变换红外分光光度计 | |
| Poslusny et al. | Nondestructive adhesive analysis on stamps by Fourier transform infrared spectroscopy | |
| JPH0599746A (ja) | 光強度補償手段を有する工業用測色計 | |
| US20170045446A1 (en) | Method of determining the concentration of a gas component and spectrometer therefor | |
| KR200404482Y1 (ko) | 휴대형 과일 품질정보 측정장치 | |
| JPH07306139A (ja) | 液体試料の成分濃度等を測定する方法及び装置 | |
| Nørgaard | iToolbox Manual | |
| CN114136888B (zh) | 多光源便携式近红外光谱仪的光谱数据校准方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20111217 |