RU2006144788A - Способ и устройство для неразрушающего контроля изолирующего покрытия - Google Patents

Способ и устройство для неразрушающего контроля изолирующего покрытия Download PDF

Info

Publication number
RU2006144788A
RU2006144788A RU2006144788/28A RU2006144788A RU2006144788A RU 2006144788 A RU2006144788 A RU 2006144788A RU 2006144788/28 A RU2006144788/28 A RU 2006144788/28A RU 2006144788 A RU2006144788 A RU 2006144788A RU 2006144788 A RU2006144788 A RU 2006144788A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
coating
value
insulating coating
processor
recording system
Prior art date
Application number
RU2006144788/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2431823C2 (ru
Inventor
Гарри Исраэль РЕЙНДЖМАХЕР (US)
Гарри Исраэль РЕЙНДЖМАХЕР
Элена РОЗЬЕ (US)
Элена РОЗЬЕ
Original Assignee
Дженерал Электрик Компани (US)
Дженерал Электрик Компани
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Дженерал Электрик Компани (US), Дженерал Электрик Компани filed Critical Дженерал Электрик Компани (US)
Publication of RU2006144788A publication Critical patent/RU2006144788A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2431823C2 publication Critical patent/RU2431823C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
    • G01B21/085—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness using thermal means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/18—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1. Устройство (10) для определения толщины и удельной теплопроводности изолирующего покрытия (14), расположенного на подложке (16) объекта (12), содержащее:источник (20) для быстрой подачи множества оптических импульсов (24) к поверхности объекта (12), при этом поверхность содержит изолирующее покрытие (14);регистрирующую систему (28), выполненную с возможностью сбора данных (36), представляющих прохождение множества оптических импульсов (24) в объект (12); ипроцессор (34), соединенный с регистрирующей системой (28) и выполненный с возможностью приема данных (36) с регистрирующей системы (28) и выполненный с возможностью определения значения толщины и значения удельной теплопроводности изолирующего покрытия (14).2. Устройство по п.1, в котором поверхность объекта (12) содержит зачерненное периферийное покрытие (18), расположенное поверх изолирующего покрытия (14).3. Устройство по п.1, содержащее фильтр (22), расположенный между источником (20) и объектом (12) и выполненный с возможностью исключения длины волны, большей, чем около 2 мкм, оптического излучения, исходящего из источника (20).4. Устройство по п.1, в котором процессор (34) выполнен с возможностью получения характеристик зависимости температуры от времени для изолирующего покрытия (14) и подложки (16) на основании данных (36), принятых регистрирующей системой (28).5. Устройство по п.4, в котором процессор (34) выполнен с возможностью определения значения отражательной способности и характеристического времени покрытия путем использования характеристик зависимости температуры от времени и в котором значение отражательной способности и характеристическое время покрытия используются для определения

Claims (10)

1. Устройство (10) для определения толщины и удельной теплопроводности изолирующего покрытия (14), расположенного на подложке (16) объекта (12), содержащее:
источник (20) для быстрой подачи множества оптических импульсов (24) к поверхности объекта (12), при этом поверхность содержит изолирующее покрытие (14);
регистрирующую систему (28), выполненную с возможностью сбора данных (36), представляющих прохождение множества оптических импульсов (24) в объект (12); и
процессор (34), соединенный с регистрирующей системой (28) и выполненный с возможностью приема данных (36) с регистрирующей системы (28) и выполненный с возможностью определения значения толщины и значения удельной теплопроводности изолирующего покрытия (14).
2. Устройство по п.1, в котором поверхность объекта (12) содержит зачерненное периферийное покрытие (18), расположенное поверх изолирующего покрытия (14).
3. Устройство по п.1, содержащее фильтр (22), расположенный между источником (20) и объектом (12) и выполненный с возможностью исключения длины волны, большей, чем около 2 мкм, оптического излучения, исходящего из источника (20).
4. Устройство по п.1, в котором процессор (34) выполнен с возможностью получения характеристик зависимости температуры от времени для изолирующего покрытия (14) и подложки (16) на основании данных (36), принятых регистрирующей системой (28).
5. Устройство по п.4, в котором процессор (34) выполнен с возможностью определения значения отражательной способности и характеристического времени покрытия путем использования характеристик зависимости температуры от времени и в котором значение отражательной способности и характеристическое время покрытия используются для определения значения толщины и значения удельной теплопроводности.
6. Устройство по п.4, в котором процессор (34) выполнен с возможностью измерения значения "дельталог" и значения точки перегиба на основании соответствующей характеристики зависимости температуры от времени.
7. Устройство по п.6, в котором процессор (34) выполнен с возможностью вычисления множества характеристических значений покрытия путем использования значения "дельталог" или значения точки перегиба.
8. Устройство по п.6, в котором множество характеристических значений покрытия содержит по меньшей мере одно из значения эффузивности покрытия, значения отражательной способности, переменной, характеристического времени покрытия, или значения тепловой диффузности.
9. Устройство по п.1, в котором процессор (34) выполнен с возможностью одновременного определения значения толщины и значения удельной теплопроводности.
10. Устройство по п.1, в котором изолирующее покрытие представляет собой по меньшей мере одно из создающего тепловой барьер покрытия и покрытия, создающего барьер для окружающей среды.
RU2006144788/28A 2005-12-16 2006-12-15 Способ и устройство для неразрушающего контроля изолирующего покрытия RU2431823C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/305,438 2005-12-16
US11/305,438 US7409313B2 (en) 2005-12-16 2005-12-16 Method and apparatus for nondestructive evaluation of insulative coating

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2006144788A true RU2006144788A (ru) 2008-06-20
RU2431823C2 RU2431823C2 (ru) 2011-10-20

Family

ID=37808017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006144788/28A RU2431823C2 (ru) 2005-12-16 2006-12-15 Способ и устройство для неразрушающего контроля изолирующего покрытия

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7409313B2 (ru)
EP (1) EP1798517A1 (ru)
JP (1) JP5178001B2 (ru)
CN (1) CN101055169B (ru)
RU (1) RU2431823C2 (ru)

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7538938B2 (en) * 2006-06-13 2009-05-26 Uchicago Argonne, Llc Optical filter for flash lamps in pulsed thermal imaging
DE102006044443A1 (de) * 2006-09-21 2008-04-03 Robert Bosch Gmbh Automatische Erkennung von Beschichtungsfehlern
US7549789B2 (en) * 2007-06-20 2009-06-23 General Electric Company Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object
CN101344384B (zh) * 2008-08-25 2010-06-09 苏州大学 钢铁表面硬化层深度检测方法
WO2013170052A1 (en) 2012-05-09 2013-11-14 Sio2 Medical Products, Inc. Saccharide protective coating for pharmaceutical package
EP2674513B1 (en) 2009-05-13 2018-11-14 SiO2 Medical Products, Inc. Vessel coating and inspection
US7985188B2 (en) 2009-05-13 2011-07-26 Cv Holdings Llc Vessel, coating, inspection and processing apparatus
US9458536B2 (en) 2009-07-02 2016-10-04 Sio2 Medical Products, Inc. PECVD coating methods for capped syringes, cartridges and other articles
KR20110037448A (ko) * 2009-10-07 2011-04-13 (주)토핀스 열화상카메라용 일축형 렌즈모듈
US11624115B2 (en) 2010-05-12 2023-04-11 Sio2 Medical Products, Inc. Syringe with PECVD lubrication
CN101858872B (zh) * 2010-06-10 2011-09-14 西北工业大学 一种监测发光环境障碍涂层失效状况的方法
US8692887B2 (en) * 2010-08-27 2014-04-08 General Electric Company Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings
US9878101B2 (en) 2010-11-12 2018-01-30 Sio2 Medical Products, Inc. Cyclic olefin polymer vessels and vessel coating methods
KR101716325B1 (ko) * 2011-02-28 2017-03-15 (주)아모레퍼시픽 열 차단 지수의 생성 방법
US9272095B2 (en) 2011-04-01 2016-03-01 Sio2 Medical Products, Inc. Vessels, contact surfaces, and coating and inspection apparatus and methods
US8718526B2 (en) * 2011-05-31 2014-05-06 Lexmark International, Inc. High fusing performance externally heated fuser roller
CN102221339B (zh) * 2011-06-09 2012-09-05 首都师范大学 脉冲红外热波技术测厚方法
DE102011079484A1 (de) 2011-07-20 2013-01-24 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und System zur Emissivitätsbestimmung
CN103930595A (zh) 2011-11-11 2014-07-16 Sio2医药产品公司 用于药物包装的钝化、pH保护性或润滑性涂层、涂布方法以及设备
US11116695B2 (en) 2011-11-11 2021-09-14 Sio2 Medical Products, Inc. Blood sample collection tube
TWI485396B (zh) * 2011-11-24 2015-05-21 Univ Nat Central 高適應性熱特性量測系統及其方法
JP6112599B2 (ja) * 2011-11-30 2017-04-12 ダイハツ工業株式会社 ワックスの塗布膜厚評価方法
FR2997181B1 (fr) * 2012-10-18 2014-12-12 Msc & Sgcc Installation pour mesurer l'epaisseur de la paroi de recipients
WO2014071061A1 (en) 2012-11-01 2014-05-08 Sio2 Medical Products, Inc. Coating inspection method
EP2920567B1 (en) 2012-11-16 2020-08-19 SiO2 Medical Products, Inc. Method and apparatus for detecting rapid barrier coating integrity characteristics
US9764093B2 (en) 2012-11-30 2017-09-19 Sio2 Medical Products, Inc. Controlling the uniformity of PECVD deposition
WO2014085346A1 (en) 2012-11-30 2014-06-05 Sio2 Medical Products, Inc. Hollow body with inside coating
WO2014134577A1 (en) 2013-03-01 2014-09-04 Sio2 Medical Products, Inc. Plasma or cvd pre-treatment for lubricated pharmaceutical package, coating process and apparatus
WO2014164928A1 (en) 2013-03-11 2014-10-09 Sio2 Medical Products, Inc. Coated packaging
US9937099B2 (en) 2013-03-11 2018-04-10 Sio2 Medical Products, Inc. Trilayer coated pharmaceutical packaging with low oxygen transmission rate
WO2014144926A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Sio2 Medical Products, Inc. Coating method
US8759770B1 (en) 2013-04-08 2014-06-24 General Electric Company System and method for qualifying usability risk associated with subsurface defects in a multilayer coating
US9870863B2 (en) * 2014-03-28 2018-01-16 Goodrich Corporation Peak temperature attenuation film
US11066745B2 (en) 2014-03-28 2021-07-20 Sio2 Medical Products, Inc. Antistatic coatings for plastic vessels
JP6614813B2 (ja) * 2015-06-10 2019-12-04 国立大学法人名古屋大学 配向同定装置、配向同定方法および分布同定装置
CA3204930A1 (en) 2015-08-18 2017-02-23 Sio2 Medical Products, Inc. Pharmaceutical and other packaging with low oxygen transmission rate
WO2017175795A1 (ja) * 2016-04-06 2017-10-12 株式会社ベテル 熱拡散率測定装置、熱拡散率測定方法およびプログラム
JP6239177B2 (ja) * 2016-04-25 2017-11-29 花王株式会社 制振材料用のポリエステル樹脂成形組成物
CN106768384B (zh) * 2016-12-06 2020-07-14 清华大学 基于辅助调频光源的彩色成像温度场测量装置及方法
KR101877480B1 (ko) * 2017-11-24 2018-08-07 한국과학기술원 도막 두께 분포 시각화 방법 및 이를 위한 능동형 열화상 장치
JP7176356B2 (ja) * 2017-11-27 2022-11-22 株式会社豊田中央研究所 計測装置、計測方法、及びプログラム
CN108051364A (zh) * 2017-12-13 2018-05-18 中国科学院长春应用化学研究所 一种epr核能电缆剩余寿命评估方法与预测epr核能电缆剩余使用寿命方法
US11592380B2 (en) * 2017-12-26 2023-02-28 Robert Bosch Gmbh System and method for detecting a thickness of a layer
JP6907951B2 (ja) * 2018-01-11 2021-07-21 トヨタ自動車株式会社 ヒートシンクの検査方法、検査装置及び生産方法、生産システム
CN108398094B (zh) * 2018-02-05 2019-09-24 电子科技大学 基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法
CN108413882B (zh) * 2018-02-05 2020-06-12 电子科技大学 基于红外热成像的涂层厚度检测方法
CN108344390B (zh) * 2018-02-06 2019-09-24 电子科技大学 基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法
WO2019245556A1 (en) * 2018-06-21 2019-12-26 Siemens Aktiengesellschaft Surface coating inspection using water spraying and numerical modeling
CN110455857A (zh) * 2019-08-09 2019-11-15 苏州热工研究院有限公司 用于评估安全壳表面涂层老化对导热性能影响的方法
CN112098462B (zh) * 2020-10-20 2022-07-12 贵州电网有限责任公司 一种漆层厚度红外热成像检测装置及检测方法
US11359976B2 (en) * 2020-10-23 2022-06-14 Accelovant Technologies Corporation Multipoint surface temperature measurement system and method thereof
CN114609189B (zh) * 2022-02-24 2023-04-21 电子科技大学 一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法
CN116989655B (zh) * 2023-09-26 2024-01-30 天蔚蓝电驱动科技(江苏)有限公司 绝缘涂层有效厚度的确定方法及涂覆方法

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4663557A (en) * 1981-07-20 1987-05-05 Optical Coating Laboratory, Inc. Optical coatings for high temperature applications
US4854724A (en) * 1984-07-09 1989-08-08 Lockheed Corporation Method of and apparatus for thermographic evaluation of spot welds
GB8431928D0 (en) 1984-12-18 1985-01-30 Stevenson G M Non-destructively testing heat shrinkable sleeves
JPS62172249A (ja) * 1986-01-25 1987-07-29 Kajima Corp 煙突の劣化診断方法及び装置
US4792683A (en) * 1987-01-16 1988-12-20 Hughes Aircraft Company Thermal technique for simultaneous testing of circuit board solder joints
US4872762A (en) 1987-08-25 1989-10-10 Nkk Corporation Method and apparatus for detecting defective portion on inner surface of pipe
US4928254A (en) * 1988-04-28 1990-05-22 Knudsen Arne K Laser flash thermal conductivity apparatus and method
GB8813423D0 (en) 1988-06-07 1988-07-13 Atomic Energy Authority Uk Coating inspection
US5073433B1 (en) * 1989-10-20 1995-10-31 Praxair Technology Inc Thermal barrier coating for substrates and process for producing it
US5032727A (en) * 1990-09-14 1991-07-16 Digital Equipment Corporation Product defect detection using thermal ratio analysis
US5250809A (en) * 1992-01-24 1993-10-05 Shuji Nakata Method and device for checking joint of electronic component
US5201582A (en) * 1992-05-15 1993-04-13 Stress Photonics, Inc. Differential temperature stress measurement employing array sensor with local offset
US5246291A (en) * 1992-06-01 1993-09-21 Motorola, Inc. Bond inspection technique for a semiconductor chip
US5292195A (en) * 1992-09-09 1994-03-08 Martin Marietta Corporation Thermographic evaluation technique
US5564830A (en) * 1993-06-03 1996-10-15 Fraunhofer Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Method and arrangement for determining the layer-thickness and the substrate temperature during coating
US5376793A (en) * 1993-09-15 1994-12-27 Stress Photonics, Inc. Forced-diffusion thermal imaging apparatus and method
US5539656A (en) * 1994-10-11 1996-07-23 United Technologies Corporation Crack monitoring apparatus
DE19520788C2 (de) 1995-01-13 2001-08-16 Optisense Ges Fuer Optische Pr Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Schichtdicke, der Leitfähigkeit und/oder der Schichtkontaktgüte von auf Substraten aufgetragenen Schichten
EP0803062B2 (de) * 1995-01-13 2005-01-26 OptiSense Gesellschaft für Optische Prozessmesstechnik mbH & Co. KG i.G. Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der schichtdicke, der leitfähigkeit und/oder der schichtkontaktgüte von auf substraten aufgetragenen schichten
US5683181A (en) * 1995-05-12 1997-11-04 Thermal Wave Imaging, Inc. Method and apparatus for enhancing thermal wave imaging of reflective low-emissivity solids
JP3568304B2 (ja) * 1995-12-06 2004-09-22 株式会社超高温材料研究所 レーザフラッシュ法を用いた熱定数の解析方法
US5631465A (en) * 1996-02-29 1997-05-20 Shepard; Steven M. Method of interpreting thermographic data for non-destructive evaluation
WO1998005949A1 (de) 1996-07-31 1998-02-12 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und vorrichtung zur delaminationsprüfung bei beschichtungen auf substraten, insbesondere bei vps-beschichtungen auf gasturbinenschaufeln
WO1998005921A1 (de) 1996-07-31 1998-02-12 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur wanddickenbestimmung an einer turbinenschaufel und vorrichtung zur durchführung des verfahrens
US6536944B1 (en) * 1996-10-09 2003-03-25 Symyx Technologies, Inc. Parallel screen for rapid thermal characterization of materials
US5711603A (en) * 1996-10-30 1998-01-27 United Technologies Corporation Nondestructive testing: transient depth thermography
JPH10274675A (ja) 1997-03-31 1998-10-13 Shimadzu Corp 放射線検出器
DE19749984C2 (de) * 1997-11-12 2000-05-25 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtungen zum photothermischen Untersuchen eines Prüfkörpers
JP2000261137A (ja) * 1999-03-12 2000-09-22 Nec Corp 電子部品接続状態検査装置及び電子部品接続状態検査方法
JP4104785B2 (ja) * 1999-06-04 2008-06-18 アルバック理工株式会社 レーザー加熱オングストローム法による薄膜の熱拡散率測定方法及びその測定装置
US6367969B1 (en) * 1999-07-21 2002-04-09 General Electric Company Synthetic reference thermal imaging method
JP4195935B2 (ja) * 2004-03-01 2008-12-17 独立行政法人産業技術総合研究所 熱物性測定方法及び装置
KR100716704B1 (ko) * 2004-03-03 2007-05-14 산요덴키가부시키가이샤 퇴적 두께 측정 방법, 재료층의 형성 방법, 퇴적 두께 측정장치 및 재료층의 형성 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN101055169A (zh) 2007-10-17
JP2007178429A (ja) 2007-07-12
US7409313B2 (en) 2008-08-05
EP1798517A1 (en) 2007-06-20
CN101055169B (zh) 2012-10-10
US20070143061A1 (en) 2007-06-21
RU2431823C2 (ru) 2011-10-20
JP5178001B2 (ja) 2013-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2006144788A (ru) Способ и устройство для неразрушающего контроля изолирующего покрытия
Swimm Photoacoustic determination of thin‐film thermal properties
KR970705742A (ko) 적외선 고온계용 자동이득제어(automatic gain control for an infrared radiation pyrometer)
KR100939062B1 (ko) 섬광법에 의한 열확산 계수 측정장치 및 그 측정방법
Ludwig et al. Moisture detection in wood and plaster by IR thermography
SG128465A1 (en) Methods for determining the depth of defects
JP2012047739A (ja) コーティングを評価するための熱画像化方法および装置
WO2008003080A3 (en) Methods for determining wafer temperature
JP5058180B2 (ja) 基板上に構成された薄層材料を、能動的高温測定を使用して特性化する方法および装置
Heimsath et al. Angle resolved specular reflectance measured with VLABS
WO2015027210A1 (en) Lit method and system for determining material layer parameters of a sample
US8958999B1 (en) Differential detection for surface plasmon resonance sensor and method
Anderson et al. Liquid-crystal thermography: illumination spectral effects. Part 1—experiments
RU2012150839A (ru) Измерение повреждения термического барьера лопатки турбины
Han et al. The shrinkage properties of red pine wood assessed by image analysis and near-infrared spectroscopy
Turley et al. Infrared emissivity of tin upon release of a 25 GPa shock into a lithium fluoride window
JP2008014959A (ja) コーティング部材の界面欠陥検査方法
JP6127019B2 (ja) 半透明材料の熱拡散率の測定方法
Rabasović et al. Evaluation of laser-induced thin-layer removal by using shadowgraphy and laser-induced breakdown spectroscopy
ATE381711T1 (de) Verfeinerung der örtlichen auflösung multispektraler fernerkundungsdaten
Jacob et al. An absolute method of measuring energy outputs from CO2 lasers
JP2006201115A (ja) 光ファイバ型表面プラズモン共鳴センサ及び光ファイバ型表面プラズモン共鳴センサ装置
Yen Tan et al. Effects of light spectrum in flatbed scanner densitometry of stained polyacrylamide gels
JP4101012B2 (ja) 熱抵抗を有する積層材の熱特性評価方法及びその装置
JP2008157802A (ja) 熱物性測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20131216