RU2006121448A

RU2006121448A - Способ и система поверхностей дефектоскопии непрерывнолитой металлической заготовки

Info

Publication number: RU2006121448A
Application number: RU2006121448/28A
Authority: RU
Inventors: Филип МЕЙАН (FR); Филип МЕЙАН; Жан-Мишель ТЮРОН (FR); Жан-Мишель ТЮРОН; Фабьен МИДРУА (FR); Фабьен МИДРУА
Original assignee: Арселор Франс (Fr); АРСЕЛОР Франс
Priority date: 2003-11-18
Filing date: 2004-10-29
Publication date: 2007-12-27
Also published as: US20070285088A1; WO2005052569A1; EP1685396A1; JP4652336B2; BRPI0416310A; US7489129B2; CN100447565C; FR2862384A3; RU2343473C2; UA80504C2; KR20060123349A; FR2862384B3; CN1894579A; JP2007513330A; KR101065472B1

Claims

1. Способ поверхностной дефектоскопии металлической непрерывнолитой заготовки при помощи вихретокового дефектоскопа типа «раздельного излучателя-приемника» с рядами установленных в линию смежных измерительных элементов, управляемых раздельно при помощи мультиплексорного устройства, при этом исследуемое изделие протягивают относительно дефектоскопа, отличающийся тем, что дефектоскоп содержит матрицу измерительных элементов, распределенных по рядам и столбцам, при этом указанная матрица содержит, по меньшей мере, один первый и один второй параллельные ряды (22, 24), каждый из которых содержит, по меньшей мере, три измерительных элемента (C1-С12), мультиплексорное устройство регулируют согласно последовательным этапам управления таким образом, чтобы

на этапе (60, 62, 64, 66) управления активировать первый и второй элементы в каждом ряду, отделенные друг от друга, по меньшей мере, одним неактивным элементом, при этом на первый элемент подают команду для генерирования токов Фуко на поверхности указанной металлической заготовки, при этом на второй элемент подают команду для обнаружения токов Фуко, генерируемых первым элементом, прохождение которых на поверхности претерпевает изменение по причине наличия поверхностных дефектов, при этом по истечении заранее определенного промежутка времени оба элемента дезактивируют, и указанный этап управления повторяют для двух следующих элементов, смещенных, по меньшей мере, на один элемент вдоль этого же ряда относительно двух дезактивированных элементов, и так далее до завершения тестирования всей зоны исследуемой поверхности,

причем указанный этап (60, 62, 64, 66) управления осуществляют одновременно для элементов первого (22) и второго (24) рядов, при этом указанные первые элементы каждого ряда входят в один и тот же столбец, и указанные вторые элементы каждого ряда также входят в один и тот же столбец, при этом вторые элементы каждого ряда выполнены с возможностью подачи сигналов противоположной полярности при обнаружении дефекта.

2. Система дефектоскопии, содержащая вихретоковый дефектоскоп (10) типа «раздельного излучателя/приемника» для обнаружения поверхностных дефектов, содержащий матрицу измерительных элементов, распределенных по рядам и столбцам, при этом указанная матрица содержит, по меньшей мере, один первый и один второй параллельные ряды (22, 24), каждый из которых содержит, по меньшей мере, три смежных и управляемых измерительных элемента (C1-С12), и блок (12) многоканального управления, выполненный с возможностью подачи команд управления на указанные измерительные элементы, при этом каждый элемент выполнен с возможностью поочередного выполнения функции создания токов Фуко на поверхности исследуемой металлической заготовки и функции обнаружения токов Фуко на указанной поверхности, отличающаяся тем, что блок (12) многоканального управления выполнен с возможностью

подачи команд на первый и второй элементы одного ряда, отделенные друг от друга, по меньшей мере, одним неактивным измерительным элементом, при этом первый элемент активируют для генерирования токов Фуко на поверхности металлической заготовки, а второй элемент активируют для обнаружения токов Фуко, генерированных первым элементом, прохождение которых на поверхности изменяется из-за наличия поверхностных дефектов;

подачи команд на элементы второго ряда аналогично подаче команд на элементы первого ряда.

3. Система по п.2, отличающаяся тем, что дефектоскоп (10) содержит основание (20), в котором установлены в линию указанные, по меньшей мере, три элемента, при этом основание (20) размещено на расстоянии, по меньшей мере, трех миллиметров от тестируемой поверхности.

4. Система по п.3, отличающаяся тем, что содержит устройство (30) охлаждения основания (20).

5. Система по п.4, отличающаяся тем, что устройство (30) охлаждения содержит контур циркуляции охлаждающей текучей среды, проходящей вдоль основания (20).

6. Система по п.5, отличающаяся тем, что устройство (30) охлаждения содержит, по меньшей мере, одну тонкую пластину (40) из керамического материала, установленную напротив основания (20) с возможностью создания пространства для циркуляции охлаждающей текучей среды.

7. Система по п.2, отличающаяся тем, что каждый элемент первого ряда (22) является смежным с элементом второго ряда (24) и выполнен с возможностью активирования для подачи сигнала с полярностью, противоположной полярности сигнала, подаваемого смежным элементом второго ряда, при этом блок (12) управления выполнен с возможностью активирования вторых элементов первого и второго рядов таким образом, чтобы они генерировали сигналы противоположной полярности.