KR102023739B1 - 와전류를 이용한 전지셀 내부의 균열 검사 방법 및 검사 장치 - Google Patents

와전류를 이용한 전지셀 내부의 균열 검사 방법 및 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 와전류를 이용하여 전지셀 내부의 균열(Crack)을 검출하는 장치로서, 와전류를 유도하는 제 1 센서 및 상기 제 1 센서에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 제 2 센서를 포함하고, 전지셀이 주행하는 동안에 와전류에 의한 검사를 수행하는 검사부; 전지셀이 투입되는 지점부터 반출되는 지점까지, 복수의 전지셀을 순차적으로 이송하는 이송부; 및 상기 검사부와 전기적으로 연결되며, 상기 검사부에 의해 감지된 와전류 신호를 수신하여 평가하고 제어하는 제어부; 를 포함하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치이다.
본 발명의 전지셀 내부의 균열 검출 장치는 비파괴적 방법으로, 전극, 전극 탭, 용접부 상에 발생한 균열의 유무와 위치를 검출할 수 있다.

Description

와전류를 이용한 전지셀 내부의 균열 검사 방법 및 검사 장치{Inner crack detection device for secondary battery using eddy current}
본 발명은 리튬 이차전지 내부의 균열을 검사하는 방법 및 장치에 관한 것으로, 와전류를 이용하여 비파괴적으로 전극 크랙, 탭 크랙, 용접부 크랙을 검출하는 방법과 장치에 관한 것이다.
화석연료의 고갈에 의한 에너지원의 가격이 상승하고, 환경오염에 대한 관심이 증폭되면서 친환경 대체 에너지원에 대한 요구가 미래생활을 위한 필수 불가결한 요인이 되고 있고, 특히, 모바일 기기에 대한 기술 개발과 수요가 증가함에 따라 에너지원으로서의 이차전지에 대해 수요가 급격히 증가하고 있다.
대표적으로 전지의 형상 면에서는 얇은 두께로 휴대폰 등과 같은 제품들에 적용될 수 있는 각형 이차전지와 파우치형 이차전지에 대한 수요가 높고, 재료 면에서는 높은 에너지 밀도, 방전 전압, 출력 안정성의 리튬이온 전지, 리튬이온 폴리머 전지 등과 같은 리튬 이차전지에 대한 수요가 높다.
이차전지는 양극, 음극 및 상기 양극과 음극 사이에 개재된 분리막 구조의 전극조립체가 어떠한 구조로 이루어져 있는지에 따라 분류되기도 하는데, 대표적으로는 긴 시트형의 양극들과 음극들을 분리막이 개재된 상태에서 권취한 구조의 젤리-롤(권취형) 전극조립체, 소정 크기의 단위로 절취한 다수의 양극과 음극들을 분리막에 개재한 상태로 순차적으로 적층한 스택형(적층형) 전극조립체, 소정 단위의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 적층한 바이셀(Bi-cell) 또는 풀셀(Full cell) 등의 단위셀들을 권취한 구조의 스택-폴딩형 전극 조립체 등을 들 수 있다.
또한 이차전지는 전극조립체가 전지 용기에 수납된 상태에서 액체 전해질인 전해액을 주입하고, 전지 용기를 실링함으로써 제조된다.
위와 같은 전극의 제조공정이나 전극조립체의 조립 공정 중에는, 유지부와 무지부의 연신율 차이, 용접에 의한 물리적 외력 등의 이유로 전극, 탭, 용접부 상에 균열이 발생할 수 있고, 나아가 이 같은 균열은 저전압 불량을 야기한다.
문제는 스택-폴딩형 전지셀의 경우 스택-폴딩 공정 특성 상, 폴딩 공정 중에 발생하는 조립 결함은 폴딩 셀 내부에 크랙이 생김으로 인해 비전 검사를 통해 불량 선별이 어렵고, 실링이 완료되어 밀봉된 전지셀 내부의 크랙을 비파괴적으로 검출하는 방법이 없다는 것이다.
이에 전지셀 내부의 크랙을 비파괴적으로 검출하는 방법 및 장치에 대한 기술 개발이 필요한 실정이다.
본 발명은 상기한 문제 해결을 위해 안출된 것으로, 실링(sealing)이 완료된 리튬 이차전지 내부의 크랙을 비파괴적으로 검출하는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 와전류를 이용하여 전지셀 내부의 균열(Crack)을 검출하는 장치로서,
와전류를 유도하는 제 1 센서 및 상기 제 1 센서에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 제 2 센서를 포함하고, 전지셀이 주행하는 동안에 와전류에 의한 검사를 수행하는 검사부;
전지셀이 투입되는 지점부터 반출되는 지점까지, 복수의 전지셀을 순차적으로 이송하는 이송부; 및
상기 검사부와 전기적으로 연결되며, 상기 검사부에 의해 감지된 와전류 신호를 수신하여 평가하고 제어하는 제어부; 를 포함하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치이다.
본 발명에 있어서, 상기 전지셀 내부의 균열이란, 전극, 전극 탭 및 용접부 상에 발생한 균열일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 검사부는, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서를 검사하고자 하는 위치로 이동할 수 있도록 설계되고, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서가 고정된 상태에서 와전류에 의한 검사를 수행하는 것일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 검사부는 일 측은 상기 제 1 센서와 결합되어 있고, 타 측은 위치 고정 볼트에 의해 하기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 제 1 위치 조정 부재;
일 측은 상기 제 2 센서와 결합되고 있고, 타 측은 위치 고정 볼트에 의해 하기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 제 2 위치 조정 부재;
일 측은, 상기 제 1 위치 조정 부재 및 상기 제 2 위치 조정 부재와 각각 결합되어 있고, 타 측은 위치 고정 볼트에 의해 하기 제 4 위치 조정 부재와 결합되는 제 3 위치 조정 부재; 및
위치 고정 볼트에 의해 상기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 제 4 위치 조정 부재; 를 포함하고,
상기 제 1 위치 조정 부재 및 상기 제 2 위치 조정 부재가 각각 상기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 부위는, 동일 연장선 상에서 소정의 간격으로 이격되어 있고,
상기 제 3 위치 조정 부재는, 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재의 위치 조절을 위한 소정의 길이를 가지는 슬라이딩 홈을 구비하고 있고, 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재는, 상기 슬라이딩 홈을 따라, 이동할 수 으며,
상기 제 4 위치 조정 부재는, 상기 제 3 위치 조정 부재의 위치 조절을 위한 소정의 길이를 가지는 슬라이딩 홈을 구비하고 있고, 상기 제 3 위치 조정 부재는 상기 슬라이딩 홈을 따라 이동할 수 있는 것일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서는 각각 코일을 포함한다.
이때, 상기 코일의 직경은 0.5 내지 10mm일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 이송부는, 전지셀의 투입 지점부터 반출 지점까지 연장된 이송 다이; 및 전지셀을 이송하는 이송 수단; 을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 이송부는, 복수의 단위 이동 구간을 가지고 있으며, 상기 이송 수단은 한 개 또는 두 개 이상의 단위 이동 구간을 왕복 이동할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 이송 다이는, 하나의 단위 이동 구간과 인접한 단위 이동 구간과의 사이에 전지셀이 안착되는 네스트를 구비하고 있고, 상기 네스트는, 전지셀의 형상에 대응하여 내부로 만입된 수용 홈이 형성되어 있을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 이송 수단은, 전지셀을 상기 이송 다이로부터 승강시키는 승강부; 및 상기 승강부가 이동 가능하게 결합되고, 상기 승강부를 왕복 이동시키는 구동부를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 승강부는 전지셀의 흡착을 위한 흡착 홀을 구비하고 있고, 상기 흡착 홀을 통해 진공을 인가하여 전지셀을 흡착하는 것일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 승강부는 유압이나 공압에 의해 상하로 왕복 운동되는 실린더일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 전지셀은 파우치형 리튬 이차전지이다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 검사부가 와전류 검사를 수행하는 동안, 상기 전지셀은 일정한 속도로 주행한다.
본 발명의 일 실시예에서, 검사 영역 내에서 전지셀의 주행 속도는, 그 외 영역의 주행 속도와 다르게 제어될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 와전류 신호는 전압이다.
본 발명의 일 실시예에서, 와전류의 발생 및 검출의 시작과 종료 시점을, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서에 전달하는 광센서를 더 포함하고,
상기 광센서는 전극 리드의 양 단부를 검출하여, 이를 상기 제 1 센서 및 제 2 센서에 전달하고,
제 1 단부의 검출 신호로써, 와전류 검사가 시작되고, 제 2 단부의 검출 신호로써, 와전류 검사가 종료된다.
본 발명의 전지셀 내부의 균열 검출 장치는, 와전류를 이용하여 전극, 전극 탭, 용접부 상에 발생한 균열의 유무와 위치를 검출하기 때문에, 비파괴적인 방법으로 전지셀 내부의 균열을 검출하는 효과가 있다.
도 1은 와전류를 이용한 균열의 검출 원리를 도시한 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전지셀 내부의 균열 검출장치의 개요도이다.
도 3은 본 발명은 다른 일 실시예에 따른 검사부의 상세 도면이다.
도 4는 도 3의 검사부를 구성하는 제 1 센서 및 제 2 센서 내부의 코일의 개요도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사부와 이송부의 상세 도면이다.
도 6은 도 5의 이송부를 나타내는 모식도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 다이를 나타낸 모식도이다.
본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시예에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시양태에 불과하고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물 및 변형예가 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성 요소를 「포함한다」고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미하다.
본원 명세서 전체에서 사용되는 용어 「약」, 「실질적으로」 등은 언급된 의미에 고유한 제조 및 물질 허용 오차가 제시될 때 그 수치에서 또는 그 수치에 근접한 의미로서 사용되고 본원의 이해를 돕기 위해 정확하거나 절대적인 수치가 언급된 개시 내용을 비양심적인 침해자가 부당하게 이용하는 것을 방지하기 위해 사용된다.
본원 명세서 전체에서, 마쿠시 형식의 표현에 포함된 「이들의 조합(들)」의 용어는 마쿠시 형식의 표현에 기재된 구성 요소들로 이루어지는 군에서 선택되는 하나 이상의 혼합 또는 조합을 의미하는 것으로서, 상기 구성 요소들로 이루어지는 군에서 선택되는 하나 이상을 포함하는 것을 의미한다.
본원 명세서 전체에서 「A 및/또는 B」의 기재는 「A 또는 B 또는 이들 모두」를 의미한다.
이하 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.
도 1은 와전류를 이용한 균열 검출 원리를 도시한 개략도이다.
도 1을 참조하여 설명하면, 코일(10)에 교류 전류를 부가하면 코일 주위에 1차 자기장(20)이 발생한다. 이때 1차 자기장(20)이 형성되는 코일(10)을 검사대상(50) 표면에 가져가면 전자기유도 현상에 의해 검사대상(50) 표면 내에 유도기전력이 발생한다. 이 유도기전력은 1차 자기장(20)을 방해하는 전류를 흐르게 하는데, 이 전류를 와전류(40, eddy current)라 한다.
이와 같은 와전류는, 검사대상(50) 표면의 상태, 위치, 결함, 재질 등의 변화에 따라 변화하게 된다. 본 발명은 이 같은 와전류의 특징을 이용하여, 전지셀 내부의 크랙을 검출하는 것이다. 즉 와전류 센서 사이에 검사대상 물체인 전지셀을 통과시키며, 와전류 신호를 측정하고, 와전류 신호의 변화가 있는 지점은, 전극이나 전극 탭 또는 용접부의 균열로 인해 와전류 신호가 변화한 것으로 보아 균열을 검출하는 것이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 균열 검출 장치를 나타내는 모식도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사부와 이송부의 상세 도면이다. 이들 도면을 참조하면, 와전류를 이용해 전지셀 내부의 균열을 검출하는 본 발명의 전지셀 내부의 균열 검출 장치는,
와전류를 유도하는 제 1 센서 및 상기 제 1 센서에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 제 2 센서를 포함하고, 전지셀이 주행하는 동안에 와전류에 의한 검사를 수행하는 검사부(110);
전지셀이 투입되는 지점부터 반출되는 지점까지, 복수의 전지셀을 순차적으로 이송하는 이송부(120); 및
상기 검사부와 전기적으로 연결되며, 상기 검사부에 의해 감지된 와전류 신호를 수신하여 평가하고 제어하는 제어부(130); 를 포함한다.
본 발명에 있어서, 전지셀 내부의 균열이란, 전극, 전극 탭, 용접부 상에 발생한 균열(Crack)을 의미한다.
상기 전극의 균열이란, 집전체 상에 전극 활물질, 바인더, 도전재 등을 포함하는 전극 합제가 도포된 후, 건조 및 압연 등의 전극 공정을 거쳐 제조된 전극이, 상기 전극 공정 중, 집전체와 전극 합제의 연신율 차이 등의 원인으로 발생한 집전체 상의 균열일 수 있다.
상기 전극 탭의 균열이란 유지부와 무지부 사이의 연신율 차이로 발생한 전극 너울, 경계부의 주름에 응력이 쌓여 용접 시 진동이나 외력으로 인해 발생한 균열일 수 있다.
용접부 상의 균열이란, 용접 시 용접이 충분치 못해 생긴 미용접부나, 용접 공정 중 발생한 균열일 수 있다.
상기 열거한 전극, 전극 탭, 용접부 상에 발생한 균열들은, 전극조립체를 라미네이트 시트와 같은 전지케이스로 밀봉하는 실링 공정을 거치면, 전지케이스에 의해 전지셀 내부가 가려져 있으므로, 전지셀의 외부에서 관찰할 수 없는 균열들이다. 그러나, 본 발명의 와전류를 이용한 균열 검출 장치를 이용하면, 상기 균열들을 검출할 수 있는 효과가 있다.
이하 상기 검사부에 대해 상세히 설명한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사부의 구조를 나타낸 도면으로, 이를 참조하면, 본 발명의 검사부(110)는, 상기 제 1 센서(111) 및 제 2 센서(112)가 검사하고자 하는 위치로 이동할 수 있고, 상기 제 1 센서(111) 및 제 2 센서(112)가 고정된 상태에서 와전류의 유도 및 와전류의 감지를 수행하도록 설계되어 있다.
구체적으로, 검사부는
와전류를 유도하는 제 1 센서(111);
상기 제 1 센서(111)에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 제 2 센서(112);
일 측은 상기 제 1 센서(111)와 결합되어 있고, 타 측은 위치 고정 볼트(115)에 의해 하기 제 3 위치 조정 부재(117)와 결합되는 제 1 위치 조정 부재(113);
일 측은 상기 제 2 센서(112)와 결합되고 있고, 타 측은 위치 고정 볼트(116)에 의해 하기 제 3 위치 조정 부재(117)와 결합되는 제 2 위치 조정 부재(114);
일 측은, 상기 제 1 위치 조정 부재(113) 및 상기 제 2 위치 조정 부재(114)와 각각 결합되어 있고, 타 측은 위치 고정 볼트(119)에 의해 하기 제 4 위치 조정 부재(118)와 결합되는 제 3 위치 조정 부재(117); 및
위치 고정 볼트(119)에 의해 상기 제 3 위치 조정 부재(117)와 결합되는 제 4 위치 조정 부재(118); 를 포함하고 있다.
상기 제 1 위치 조정 부재(113) 및 상기 제 2 위치 조정 부재(114)가 각각 상기 제 3 위치 조정 부재(117)와 결합되는 부위는, 동일 연장선 상에서 소정의 간격으로 이격되어 있고, 상기 제 3 위치 조정 부재(117)는, 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재의 위치 조절을 위한 소정의 길이를 가지는 슬라이딩 홈(미도시)을 구비하고 있으며, 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재는, 상기 슬라이딩 홈을 따라, 이동할 수 있다.
또한, 상기 제 4 위치 조정 부재(118)는, 상기 제 3 위치 조정 부재(117)의 위치 조절을 위한 소정의 길이를 가지는 슬라이딩 홈을 구비하고 있고, 상기 제 3 위치 조정 부재(117)는 상기 슬라이딩 홈을 따라 이동할 수 있다.
상기 실시양태에 따르면, 상기 제 1 센서(111) 및 상기 제 2 센서(112)를 조작자가 원하는 위치로 이동시키기 위해, 이들과 결합된 제 1 위치 조정 부재(113) 및 제 2 위치 조정 부재(114)가 각각 상하 방향으로 이동할 수 있도록 설계되어 있다. 여기서 상하 방향이란 검사 대상 물체인 전지셀(200)로부터 수직 방향으로 멀어지는 방향 및 가까워지는 방향으로 정의될 수 있을 것이다.
상기 제 3 위치 조정 부재(117)의 일 측에는, 제 1 위치 조정 부재(113)와 결합되는 부위에 제 1 위치 조정 부재의 이동을 위한 슬라이딩 홈(미도시)이 구비되어 있을 수 있다. 상기 제 1 위치 조정 부재는 상기 이동 홈을 이동 홈의 길이 범위 내에서, 이동 홈을 따라 이동할 수 있다. 상기 이동 홈은 전지셀의 수직 방향으로 연장된 형태이다. 제 1 위치 조정 부재(113)는 상기 위치 고정 볼트(115)의 조작으로 제 3 위치 조정 부재(117)에 고정될 수 있다.
상기 제 2 센서(112) 역시 제 1 센서와 마찬가지로, 상하 방향으로 이동할 수 있도록, 제 2 위치 조정 부재(114)의 일 측과 결합되어 있고, 상기 제 1 위치 조정 부재의 타 측은 제 3 위치 조정 부재(117)의 일 측과 결합될 수 있도록 설계되어 있다. 제 3 위치 조정 부재(117)의 일 측에는, 제 2 위치 조정 부재와 결합되는 부위에 제 2 위치 조정 부재(114)의 이동을 위한 슬라이딩 홈(미도시)이 구비되어 있을 수 있고, 상기 제 2 위치 조정 부재는 상기 슬라이딩 홈을 따라 이동할 수 있으며, 상기 위치 고정 볼트(116)의 조작으로 제 2 위치 조정 부재가 제 3 위치 조정 부재에 고정될 수 있다. 상기 제 1 위치 조정 부재(113) 및 상기 제 2 위치 조정 부재(114)가 각각 상기 제 3 위치 조정 부재(117)와 결합되는 부위는, 동일 연장선 상에서 소정의 간격으로 이격되어 있다.
상기 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재가 제 3 위치 조정 부재와 결합된 것과 마찬가지의 원리로, 제 3 위치 조정 부재는 제 4 위치 조정 부재와 결합된다. 제 4 위치 조정 부재에는 제 3 위치 조정 부재가 위치 이동 할 수 있는 슬라이딩 홈(미도시)이 구비되어 있을 수 있고, 상기 제 3 위치 조정 부재는 슬라이딩 홈의 길이만큼 이동할 수 있으며, 사용자는 상기 슬라이딩 홈을 통해 제 3 위치 조정 부재를 원하는 위치로 이동시킨 후, 위치 고정 볼트(119)를 조작해 제 3 위치 조정 부재가 제 4 위치 조정 부재에 고정되도록 한다.
도 4는 제 1 센서 및 제 2 센서를 나타낸 개략도로서, 도 4를 참조하면 제 1 센서(111) 및 제 2 센서(112)는 각각 코일을 포함하고 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서는 자화 부재(미도시)에 코일이 감긴 구조로 형성되고, 이를 감싸는 케이스를 구비할 수 있다. 또한, 상기 케이스의 일단에는 커버가 형성되어 있고, 타단은 오픈된 형상을 가질 수 있다. 상기 케이스는 외부 충격으로부터 와전류를 이용하는 제 1 센서 및 제 2 센서를 보호할 수 있도록 하며, 제 1 센서 및 제 2 센서를 이송부 또는 후술하는 위치 고정 부재와 같은 다른 곳에 쉽게 장착할 수 있도록 한다.
상기 제 1 센서(111)의 코일에 교류 전류가 가해지면 코일 주위에 1차 자기장이 형성된다. 본 실시예에서 코일은 스프링 형상이나 이에 한정되는 것은 아니다. 1차 자기장이 형성되는 코일을 검사대상 물체인 리튬 이차전지에 가져가면, 전자기유도 현상에 의해 리튬 이차전지에 유도기전력이 발생하여 1차 자기장을 방해하는 와전류가 흐르게 된다. 이 같이 제 1 센서는 리튬 이차전지에 와전류를 유도한다.
제 2 센서(112)는 검사대상 물체인 전지셀을 기준으로, 제 1 센서(111)의 반대 면에 위치한다. 제 2 센서는 제 1 센서에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 기능을 한다. 제 2 센서는, 제 1 센서에 의해 유도된 와전류가 검사대상 물체인 리튬 이차전지의 상태, 위치, 결함, 재질과 같은 요인들로 인하여 형성, 반사, 흡수 등의 감쇠된 와전류 신호를 감지한다. 따라서, 전지셀의 내부에 균열이 있을 경우, 와전류 신호의 변화가 생기게 되고, 제 2 센서는 와전류 신호를 감지하여 이를 후술하는 제어부에 전송하는 것이다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에서, 상기 코일의 직경은 0.5 내지 10mm이다. 상기 코일의 직경이 0.5mm 미만이면, 직경이 너무 작아 와전류 신호의 감지 감응도가 낮아 이차전지 내부 균열의 정교한 검출이 어려울 수 있고, 반대로 코일의 직경이 10mm를 초과하면, 노이즈에 의해 내부 균열의 검출에 부정적 영향을 미쳐 바람직하지 않다. 따라서 코일의 직경을 상기 수치 범위 내에서 적절히 조정하면서, 내부 균열 검출을 위한 최적의 코일 직경을 선택하는 것이 바람직하다.
와전류를 이용한 검사를 실시함에 있어서, 코일과 검사대상 표면 간의 거리를 리프트 오프라고 하는데, 검사대상 표면의 결함의 검출 능력을 향상시키기 위해서는 리프트 오프가 일정하게 유지되거나 혹은 최소화하는 것이 바람직하다.
이하, 상기 이송부(120)에 대하여 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 균열 검사 장치를 상부에서 본 도면으로, 검사부(110) 및 이송부(120)를 나타내고 있고, 도 6은 도 5의 이송부(120)의 상세 도면이다. 이들 도면을 참조하면, 이송부(120)는 전지셀의 투입 지점부터 반출 지점까지 연장된 이송 다이(121); 전지셀을 이송하는 이송 수단(122, 123, 124); 을 포함하고 있다.
본 발명의 전지셀 내부의 균열 검출 장치의 투입된 전지셀(200)은, 상기 이송부(120)에 의해 검사부(110)를 향해 이송되고, 검사부(110)에 의한 검사가 종료된 후 반출구로 이송되어 반출된다. 복수의 전지셀(200)은 상기 이송부(120)에 순차적으로 투입되고, 전지셀들은 일정한 간격으로 배열되어 이송된다.
상기 검사부(110)는, 전지셀이 검사 영역을 주행하는 동안에, 와전류를 이용해 검사를 수행하는데, 선행의 전지셀을 검사하는 동안, 후행의 전지셀은 선행의 전지셀이 머물렀던 위치로 이송된다. 이때 후행의 전지셀은 소정의 검사 대기 시간을 가질 수 있고, 선행의 전지셀의 검사가 종료되어 검사 영역을 벗어나면, 후행의 전지셀이 검사 영역 내로 이송되어 검사를 시작하게 된다.
본 발명의 검사 장치는, 필요에 따라 검사 영역 내에서 전지셀의 주행 속도를, 검사 영역 외에서의 전지셀의 이송 속도와 다르게 조절할 수 있다. 즉, 검사 영역 내에서 전지셀의 주행 속도는, 검사 영역이 아닌 영역에서의 전지셀의 이송 속도보다 느릴 수 있다.
도 3, 도 5를 참조하면, 본 발명의 내부 균열의 검출 장치는, 검사 대상인 전지셀(200)이 제 1 센서(111) 와 제 2 센서(112)의 사이를 통과하는 동안, 제 1 센서와 제 2 센서가 작동되고, 상기 전지셀(200)이 상기 센서들(111,112) 사이에 개재된 상태에서 와전류의 검사가 수행된다. 이때, 상기 전지셀은, 후술하는 이송 수단(122, 123, 124)에 의해 제 1 센서와 제 2 센서의 사이를 통과한다. 그리고 상기 제 1 센서 및 제 2 센서에 의해, 와전류 검사가 수행되는 동안, 상기 전지셀은 일정한 속도로 검사 영역을 주행하는 것이 바람직하다.
본 발명의 이송부(120)의 일 실시예를 도시한 도 6을 참조하면, 본 발명의 이송부(120)는, 이송 다이(121); 전지셀을 이송하는 이송 수단(122, 123, 124)을 포함할 수 있다. 그리고 상기 이송 수단은, 전지셀을 상기 이송 다이로부터 승강시키는 승강부(122); 및 상기 승강부(122)가 이동 가능하게 결합되고, 상기 승강부를 전지셀의 이송 방향으로 이송시키는 구동부(124)를 포함할 수 있다. 상기 구동부는 상기 승강부를 이동시키는 한 다양한 형태가 적용될 수 있다.
상기 승강부는 유압이나 공압에 의해 상하로 왕복 운동되는 실린더일 수 있다. 아래에서는 상기 승강부의 일 실시예를 설명하기로 한다.
도 6을 참조하면, 상기 승강부(122)는, 전지셀(200)의 주행 방향과 평행한 방향으로 연장된 형태로, 폭이 좁고 길이가 긴 직육면체의 형태를 가지고 있으며, 두 개의 길다란 직육면체가 상기 이송 다이의 길이 방향(전지셀의 주행 방향)과 평행한 중앙선을 기준으로, 그 위와 아래에 각각 이격되어 배치되어 있다. 이들 직육면체 형상의 승강부는, 전지셀(200)을 지지하며, 상기 구동부(124)가 이동함에 따라 함께 전지셀의 이송 방향으로 이동하면서, 전지셀을 이송하게 된다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 승강부는, 전지셀의 흡착을 위한 적어도 1 개 이상의 흡착 홀(123)을 구비할 수 있다. 상기 흡착 홀(123)의 개수는 필요에 따라 적절히 조절할 수 있다.
상기 승강부(122)는 전지셀을 픽업(pick-up)하기 위해 전지셀을 흡착하는 것이고, 전지셀의 흡착을 위해 상기 구동부(124)로부터 연장되어 상승된다. 상기 구동부(124)는 상기 이송 다이를 기준으로 전지셀이 안착된 면과 대향되는 면이, 상기 이송 다이(121)의 하부면에 설치되어 있을 수 있다. 상기 승강부가 상기 이송 다이를 관통하여 이송 다이의 상부로 상승하기 위해, 상기 이송 다이(121)는 상기 승강부가 대응 되는 부위에 개구부(125)를 구비하고 있을 수 있다.
상기 승강부가 상기 구동부로부터 연장되어 상기 이송 다이를 관통해 이송 다이의 상부로 상승하게 되면, 상기 흡착 홀(123)을 통해 진공이 인가됨으로써 상기 승강부에 전지셀이 고정된다.
이와 같이 상기 승강부가 전지셀을 흡착할 수 있음에 따라, 본 발명의 내부 균열 검출 장치는, 전지셀의 정렬이 흐트러지거나, 상기 승강부로부터 전지셀이 탈거되거나, 전지셀의 진동을 억제할 수 있는 효과가 있다. 전지셀이 주행하는 동안 와전류 유도 및 와전류 신호의 변화를 감지하는 본 발명에서, 검사 신뢰도 향상을 위해서는 전지셀의 주행 시, 전지셀 정렬의 흐트러짐, 전지셀 진동을 최대한 억제해야 하는데, 본 발명의 균열 장치는, 승강부에 흡착부가 구비됨으로써, 와전류 검사 시 전지셀이 주행하더라도 진동 억제 효과가 있어 검사의 신뢰도가 향상된다.
본 발명의 일 실시예에서는 상기 승강부가 전지셀을 흡착하기 위해 흡착 홀을 통해 진공을 인가하는 실시 형태를 예시하였으나, 승강부가 전지셀을 고정할 수 있기만 한다면, 상기 방법에 한정되지 않고 다양한 형태가 적용될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 이송부는 복수의 단위 이동 구간을 가질 수 수 있고, 상기 이송 수단은 하나의 단위 이동 구간 또는 두 개 이상의 단위 이동 구간을 왕복 이동하는 것일 수 있다. 따라서 상기 이송부는 복수의 이송 수단을 가질 수 있다.
도 5를 참조하면, 상기 이송부는 복수의 단위 이동 구간(a)을 가지고 있다. 상기 이송 수단은, 단위 이동 구간의 시작 지점에 놓여 있던 전지셀을 픽업(pick-up)해 인접한 단위 이동 구간의 시작 지점으로 이송한다. 단위 이동 구간에서의 전지셀의 이송을 완료한 상기 이송 수단은 다시 단위 이동 구간의 시작 지점으로 돌아온다. 상기 과정이 반복되어, 복수의 전지셀을 순차적으로 이송하게 되는 것이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 이송 다이(121)를 도시하고 있고, 이를 참조하면, 상기 이송 다이(121)는, 하나의 단위 이동 구간과 인접한 단위 이동 구간과의 사이에 전지셀이 안착되는 네스트(126)를 구비할 수 있다.
상기 네스트(126)는, 전지셀의 형상에 대응하여 내부로 만입된 수용 홈이 형성되어 있으며, 전지셀(200)이 네스트에 안착된다. 전지셀이 투입 지점부터 검사 영역까지 이송되면서 전지셀의 정렬이 흐트러질 수 있는데, 본 발명의 균열 검출 장치는 상기 이송 다이에 네스트가 구비되어 있어, 네스트에 안착됨으로써 전지셀이 정렬되는 효과가 있다.
도 7을 참조하면, 상기 수용 홈이, 전지셀의 주행 방향과 평행한 방향 및 전지셀의 주행 방향과 직교하는 방향으로 각각 형성되어 십자 모양의 형상이 내부로 만입된 형상이다. 이는 전지셀의 검사 시, 전지셀의 길이 방향 및 전지셀의 폭 방향으로 검사를 위한 것이다.
검사 대상 전지셀(200)이 본 발명의 검사 장치에 투입되어 반출되는 과정에 대해 상세히 설명한다.
본 발명의 이송부를 구성하는 이송 다이는 복수의 네스트를 구비하고 있다.
전지셀 투입 지점에 위치한 네스트에 전지셀을 투입하면, 상기 구동부(124)로부터 상기 승강부(122)가 이송 다이의 방향으로 연장되면서 이송 다이(121)의 개구부(125)를 관통하여 상승한다.
이송 다이의 상부로 상승된 승강부는(122)는, 네스트 상에 안착되어 있는 전지셀(200)을 흡착한다. 이는 이송 시 전지셀이 이송 수단으로부터 탈거되거나, 이송 도중 정렬이 흐트러지거나, 검사 도중, 전지셀의 움직임을 최소화 하기 위한 것이다. 상기 승강부가 전지셀을 흡착하는 방법은, 전지셀의 이송 중 움직임을 최소화시킬 수 있는 한, 상기한 실시 형태에 제한되는 것은 아니다.
상기 상승부(122)는 이동 가능하게 상기 구동부(124)와 결합되어 있고, 상기 구동부의 구동을 통해 왕복 이동이 가능하다. 전지셀을 흡착한 승강부(122)는, 상승 상태를 유지한 채로, 상기 구동부의 구동을 통해 검사부(110)가 설치되어 있는 방향을 향해 이동한다. 이때, 상기 승강부가 지지 또는 흡착하고 있던 전지셀도 함께 이송되는 것이다.
상기 승강부는 흡착하고 있던 전지셀을 인접한 네스트까지 이송하게 되고, 인접 네스트로의 이송을 완료한 승강부는, 진공을 해제하게 된다. 진공을 해제한 승강부는 이송 다이의 하부에 설치된 구동부를 향해 다시 하강하게 되고, 상기 구동부는 상기 승강부와 함께 원위치로 돌아오게 된다. 이로써 하나의 전지셀이, 하나의 단위 이동 구간에서 인접한 이동 구간으로 이송된다. 그리고 순차적으로 이 같은 과정이 반복되어, 전지셀은 투입 지점부터 검사부(110)와 가장 인접한 네스트에 도달하게 된다.
본 발명의 일 실시예에서, 본 발명의 내부 균열 검사 장치는, 검사부와 가장 인접한 네스트에 안착된 전지셀을 정렬하는 정렬부를 더 포함할 수 있다. 와전류 검사를 수행하기 직전에 전지셀을 정렬함으로써, 검사의 신뢰도가 향상될 수 있다.
상기 정렬부에 의해 정렬된 전지셀은 다시 상기 승강부(122)에 흡착되어 검사 영역을 주행하며, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서에 의한 와전류 검사를 받게 된다.
상기 검사부에 의한 검사 영역 내에서, 전지셀의 주행 속도는, 검사의 정확도를 높이기 위해 일정한 것이 바람직하다. 또한, 전지셀이 검사 영역을 통과하는 동안의 주행 속도는, 그 외 영역의 전지셀의 이송 속도와 다르게 제어될 수 있다.
상기 검사부에 의한 와전류 검사를 완료한 전지셀은 상기 승강부와 구동부를 포함하는 이송 수단에 의해, 전지셀이 반출되는 지점까지 이송된다.
상기 제어부(130)에 대하여 상세히 설명한다. 본 발명의 균열 검출 장치를 구성하는 제어부(130)는, 상기 검사부(110)와 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 검사부에 의해 감지된 와전류 신호를 수신하여 평가하고, 본 발명의 검출 장치를 제어하는 기능을 한다.
상기 제어부는 와전류 신호에 관한 정보를 수신하여 영상 표시할 수 있고, 표시된 영상에 의해 내부 균열을 판단할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 검사부에 의해 감지되는 와전류 신호는 전압일 수 있고, 전지셀 내부에 균열이 있는 경우, 균열이 있는 부위는 전압의 변화가 있으므로, 이에 기초하여 균열의 유무와 균열의 위치를 검출할 수 있다.
상기 제어부는, 상기 검사부에 의해 감지된 전압을 수신하여 이를 기록하고, 감지 위치에 따른 전압 값의 프로파일로부터 균열의 유무와 위치를 검출한다.
상기 제어부는, 상기 검사부 및 이송 수단을 제어할 수 있다. 상기 제어부는 복수의 전지셀의 이송과 그 속도를 제어하기 위한 메모리와 결합되는 종래의 프로그램 가능한 전자 컴퓨터로 구성될 수 있다.
본 발명의 균열 검출 장치는, 와전류 신호의 변화에 기초하여 균열을 판별하는 것으로, 파우치형 리튬 이차전지의 내부 균열 검출 시 유용하다.
이하 본 발명의 파우치형 리튬 이차전지에 대해 상술한다.
일반적으로 리튬 이차전지는 양극/분리막/음극 구조의 전극조립체가 어떠한 구조로 이루어져 있는지에 따라 분류될 수 있는데, 긴 시트형의 양극들과 음극들을 분리막이 개재된 상태에서 권취한 구조의 젤리-롤(권취형) 전극조립체, 소정 크기의 단위로 절취한 다수의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 순차적으로 적층한 스택형(적층형) 전극조립체. 소정 단위의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 적층한 바이셀(Bi-cell) 또는 풀셀(Full cell)들을 권취한 구조의 스택/폴딩형 전극조립체 등을 들 수 있다.
최근에는, 스택형 또는 스택/폴딩형 전극조립체를 알루미늄 라미네이트 시트의 파우치형 전지케이스에 내장한 구조의 파우치형 전지가, 낮은 제조비, 적은 중량, 용이한 형태 변형 등을 이유로, 많은 관심을 모으고 있고 또한 그것의 사용량이 점착적으로 증가하고 있다.
파우치형 리튬 이차전지는, 전극조립체, 전극조립체로부터 연장되어 있는 전극 탭들, 전극 탭들에 용접되어 있는 전극리드 및 전극조립체를 수용하는 전지케이스를 포함하는 것으로 구성되어 있다.
전극조립체는 분리막이 개재된 상태에서 양극과 음극이 순차적으로 적층되어 있는 발전소자로서, 스택형 또는 스택/폴딩형 구조로 이루어져 있다. 전극 탭들은 전극조립체의 각 극판으로부터 연장되어 있고, 전극리드는 각 극판으로부터 연장된 복수개의 전극 탭들과, 예를 들면 용접에 의해 각각 전기적으로 연결되어 있으며, 전지케이스의 외부로 일부가 노출되어 있다. 또한 전극리드의 상하면 일부에는 전지케이스와의 밀봉도를 높이고 동시에 전기적 절연상태를 확보하기 위하여 절연필름이 부착되어 있다.
전지케이스는 알루미늄 라미네이트 시트로 이루어져 있고, 전극조립체를 수용할 수 있는 수납 공간을 제공하며, 전체적으로 파우치 형상을 가지고 있다. 적층형 전극조립체의 경우, 다수의 양극 탭들과 다수의 음극 탭들이 전극리드에 함께 결합될 수 있도록, 전지케이스 내부 상단은 전극조립체로부터 이격되어 있다.
파우치형 리튬 이차전지는, 상술한 바와 같이 전극, 전극 탭, 용접부가 전지케이스의 내부에 있으므로, 그 균열을 외부에서 검출하기 어렵지만, 본 발명과 같이 와전류를 이용한 검출 장치를 이용하면, 파우치형 이차전지 내부의 균열을 검출할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시양태에 따른 균열 검출 장치는, 와전류의 유도 시점 및 와전류 신호 감지 종료 시점을, 검사부에 전달하는 광센서를 더 포함할 수 있다.
구체적으로, 상기 광센서가 전극 리드의 양 단부 중, 첫 번째 단부인 제 1 단부를 검출하여, 검출 신호를 상기 검사부에 전달하면, 상기 검사부의 제 1 센서 및 제 2 센서가 작동하여 와전류의 유도 및 와전류 신호의 감지를 시작하고, 상기 광센서가 전극 리드의 양 단부 중, 두 번째 단부인 제 2 단부를 검출하여 검출 신호를 상기 검사부에 전달하면, 상기 검사부의 제 1 센서 및 제 2 센서의 작동이 종료된다. 위와 같이 검사부에 의한 와전류 검사의 시작과 종료 시점을 전극 리드의 영역으로 한정함으로써, 검사 범위를 전극 리드 길이 안에 포함된 영역으로 축소시켜 검출 감응도를 향상시키는 효과가 있다.
전술한 바와 같이, 전극 리드는 각 극판으로부터 연장된 복수개의 전극 탭들과 용접에 의해 각각 전기적으로 연결되어 있고, 전극 리드는 전지케이스의 외부로 인출되어 있어, 광센서에 의해 전극 리드 단부의 인식이 가능하다.
전극 리드는 일 측의 제 1 단부와 타 측의 제 2 단부를 포함하고 있으며, 광센서는 제 1 단부로부터 제 2 단부까지를 이동하며, 제 1 단부와 제 2 단부를 감지한다. 구체적으로 광세선는 전극리드 일 측의 제 1 단부를 인식하여, 인식 신호를 제 1 센서에 전달한다. 상기 제 1 센서는 광센서로부터 인식 신호를 전달받으면, 와전류 코일에 전류를 인가하여 궁극적으로 리튬 이차전지에 와전류 유도를 시작한다. 상기 광센서는 제 1 단부로부터 제 2 단부를 향해 이동하면서, 제 2 단부를 감지하고, 제 2 단부를 인식하게 되면 인식 신호를 제 2 센서에 전달한다. 제 2 센서는 광센서로부터 인식 신호를 전달받으면, 제 2 센서에 의한 와전류 신호의 수신을 종료한다.
본 발명은 도면에 도시된 실시에를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.
100: 이차전지 내부의 균열 검출 장치
110: 검사부
111: 제 1 센서 112: 제 2 센서
113: 제 1 위치 조정 부재 114: 제 2 위치 조정 부재
115, 116, 119: 위치 고정 볼트
117: 제 3 위치 조정 부재 118: 제 4 위치 조정 부재
120: 이송부
121: 이송 다이 122: 승강부
123: 흡착 홀 124: 구동부
125: 개구부 126: 네스트
a: 단위 이동 구간
130: 제어부
200: 전지셀

Claims (17)

  1. 와전류를 이용하여 전지셀 내부의 균열(Crack)을 검출하는 장치로서,
    와전류를 유도하는 제 1 센서 및 상기 제 1 센서에 의해 유도된 와전류 신호를 감지하는 제 2 센서를 포함하고, 전지셀이 주행하는 동안에 와전류에 의한 검사를 수행하는 검사부;
    전지셀이 투입되는 지점부터 반출되는 지점까지, 복수의 전지셀을 순차적으로 이송하는 이송부; 및
    상기 검사부와 전기적으로 연결되며, 상기 검사부에 의해 감지된 와전류 신호를 수신하여 평가하고 제어하는 제어부; 를 포함하고,
    상기 검사부는, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서를 검사하고자 하는 위치로 이동할 수 있도록 설계되고, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서가 고정된 상태에서 와전류에 의한 검사를 수행하며,
    상기 검사부는,
    일 측은 상기 제 1 센서와 결합되어 있고, 타 측은 위치 고정 볼트에 의해 하기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 제 1 위치 조정 부재;
    일 측은 상기 제 2 센서와 결합되고 있고, 타 측은 위치 고정 볼트에 의해 하기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 제 2 위치 조정 부재;
    일 측은, 상기 제 1 위치 조정 부재 및 상기 제 2 위치 조정 부재와 각각 결합되어 있고, 타 측은 위치 고정 볼트에 의해 하기 제 4 위치 조정 부재와 결합되는 제 3 위치 조정 부재; 및
    위치 고정 볼트에 의해 상기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 제 4 위치 조정 부재; 를 포함하고,
    상기 제 1 위치 조정 부재 및 상기 제 2 위치 조정 부재가 각각 상기 제 3 위치 조정 부재와 결합되는 부위는, 동일 연장선 상에서 소정의 간격으로 이격되어 있고,
    상기 제 3 위치 조정 부재는, 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재의 위치 조절을 위한 소정의 길이를 가지는 슬라이딩 홈을 구비하고 있고, 제 1 위치 조정 부재 및 제 2 위치 조정 부재는, 상기 슬라이딩 홈을 따라, 이동할 수 으며,
    상기 제 4 위치 조정 부재는, 상기 제 3 위치 조정 부재의 위치 조절을 위한 소정의 길이를 가지는 슬라이딩 홈을 구비하고 있고, 상기 제 3 위치 조정 부재는 상기 슬라이딩 홈을 따라 이동할 수 있는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 전지셀 내부의 균열이란, 전극, 전극 탭 및 용접부 상에 발생한 균열인 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서는 각각 코일을 포함하는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 코일의 직경은 0.5 내지 10mm인 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 이송부는, 전지셀의 투입 지점부터 반출 지점까지 연장된 이송 다이; 및
    전지셀을 이송하는 이송 수단; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 이송부는, 복수의 단위 이동 구간을 가지고 있으며,
    상기 이송 수단은 한 개 또는 두 개 이상의 단위 이동 구간을 왕복 이동하는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 이송 다이는, 하나의 단위 이동 구간과 인접한 단위 이동 구간과의 사이에 전지셀이 안착되는 네스트를 구비하고 있고,
    상기 네스트는, 전지셀의 형상에 대응하여 내부로 만입된 수용 홈이 형성된 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  10. 제 7 항에 있어서, 상기 이송 수단은,
    전지셀을 상기 이송 다이로부터 승강시키는 승강부; 및
    상기 승강부가 이동 가능하게 결합되고, 상기 승강부를 수평 방향으로 왕복 이동시키는 구동부를 포함하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 승강부는 전지셀의 흡착을 위한 흡착 홀을 구비하고 있고,
    상기 흡착 홀을 통해 진공을 인가하여 전지셀을 흡착하는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  12. 제 10항에 있어서,
    상기 승강부는 유압이나 공압에 의해 상하로 왕복 운동되는 실린더인 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  13. 제 1 항에 있어서, 상기 전지셀은 파우치형 리튬 이차전지인 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  14. 제 1 항에 있어서, 상기 검사부가 와전류 검사를 수행하는 동안, 상기 전지셀은 일정한 속도로 주행하는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  15. 제 1 항에 있어서,
    검사 영역 내에서 전지셀의 주행 속도는, 그 외 영역의 주행 속도와 다르게 제어되는 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  16. 제 1 항에 있어서, 상기 와전류 신호는 전압인 것을 특징으로 하는 전지셀 내부의 균열 검출 장치.
  17. 제 1 항에 있어서, 와전류의 발생 및 검출의 시작과 종료 시점을, 상기 제 1 센서 및 제 2 센서에 전달하는 광센서를 더 포함하고,
    상기 광센서는 전극 리드의 양 단부를 검출하여, 이를 상기 제 1 센서 및 제 2 센서에 전달하고,
    제 1 단부의 검출 신호로써, 와전류 검사가 시작되고, 제 2 단부의 검출 신호로써, 와전류 검사가 종료되는 것을 특징으로 하는 리튬 이차전지 내부의 균열 검출 장치.
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