JP5614312B2 - 周期性欠陥検出方法および周期性欠陥検出装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1実施形態にかかる漏洩磁束探傷装置1の構成を示す模式図である。なお、図1は、鋼板2の下に配置した機器を理解しやすいように透視図で示している。
図10は、本発明の第2実施形態にかかる漏洩磁束探傷装置1の構成を示す模式図である。第1実施形態にかかる漏洩磁束探傷装置1は鋼板2の長手方向に励磁をする構成であったが、第2実施形態にかかる漏洩磁束探傷装置1は鋼板2の幅方向に磁化をする構成とし、鉛直方向の磁場を感知するセンサを幅方向に並べて漏洩磁束を検出する構成である。なお、図7も、鋼板2の下に配置した機器を理解しやすいように透視図で示したものである。
ここで、本発明の実施による周期性欠陥の検出例を説明する。
2 鋼板
3 周期性欠陥
4 磁化器
5 磁気センサ
6 信号前処理装置
7 A/D変換装置
8 周期性判定装置
9 欠陥判定装置
81 データ記憶領域
82 第1の小領域選択部
83 第1の小領域データ設定部
84 第2の小領域選択部
85 第2の小領域データ設定部
86 類似性評価指数演算部
87 周期性判定部
91 データ列加算部
92 欠陥判定部
93 判定結果記憶部
Claims (2)
- 被検体に磁界をかける磁化ステップと、
該被検体の表面の漏洩磁束を測定して表面測定データを取得する表面測定ステップと、
該被検体の裏面の漏洩磁束を測定して裏面測定データを取得する裏面測定ステップと、
前記表面測定データから第1の小領域を選択する第1小領域選択ステップと、
前記表面測定データから前記第1の小領域と周期性欠陥の周期候補の距離だけ離れた位置に表面の第2の小領域を選択する表面の第2小領域選択ステップと、
前記裏面測定データから前記第1の小領域および前記表面の第2の小領域に対応した位置に裏面の第2の小領域を選択する裏面の第2小領域選択ステップと、
前記第1の小領域、前記表面の第2の小領域、および前記裏面の第2の小領域における測定データの相関値を求める相関算出ステップと、
前記表面測定データと前記裏面測定データを組み合わせて、前記相関値に基づいて該測定データの類似性評価指数を前記周期候補について算出する類似性評価指数算出ステップと、
前記類似性評価指数が閾値以上である場合に前記周期候補を同期加算周期として選択する周期選択ステップと、
前記被検体の表面および裏面の同一位置についての前記表面測定データと前記裏面測定データを組み合わせて、前記同期加算周期に基づいて同期加算する同期加算ステップと、
前記同期加算した測定データを用いて前記被検体に周期性欠陥があるか否かを判定する判定ステップと、
を含むことを特徴とする周期性欠陥検出方法。 - 被検体に磁界をかける磁化器と、
前記被検体の表面に漏洩する漏洩磁束を検出して表面測定データを取得する表面の磁気センサと、
前記被検体の裏面に漏洩する漏洩磁束を検出して裏面測定データを取得する裏面の磁気センサと、
前記表面測定データから第1の小領域を選択する第1小領域選択手段と、
前記表面測定データから、前記第1の小領域と周期性欠陥の周期候補の距離だけ離れた位置に表面の第2の小領域を選択し、前記裏面測定データから、前記第1の小領域および前記表面の第2の小領域に対応した位置に裏面の第2の小領域を選択する第2小領域選択手段と、
前記第1の小領域、前記表面の第2の小領域、および前記裏面の第2の小領域における測定データの相関値から前記周期候補の類似性評価指数を算出する類似性評価指数算出手段と、
前記類似性評価指数が閾値以上である場合に前記周期候補を前記周期性欠陥の発生周期として判定する周期性判定手段と、
前記被検体の表面および裏面の同一位置についての前記表面測定データと前記裏面測定データを組み合わせて、前記発生周期に基づいて同期加算する同期加算手段と、
前記同期加算した測定データを用いて前記被検体に周期性欠陥があるか否かを判定する欠陥判定手段と、
を備えることを特徴とする周期性欠陥検出装置。
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