RU2004118304A - Структура лазера типа dfb с выводом излучения через поверхность для широкополосных систем передачи данных и набор таких лазеров - Google Patents
Структура лазера типа dfb с выводом излучения через поверхность для широкополосных систем передачи данных и набор таких лазеров Download PDFInfo
- Publication number
- RU2004118304A RU2004118304A RU2004118304/28A RU2004118304A RU2004118304A RU 2004118304 A RU2004118304 A RU 2004118304A RU 2004118304/28 A RU2004118304/28 A RU 2004118304/28A RU 2004118304 A RU2004118304 A RU 2004118304A RU 2004118304 A RU2004118304 A RU 2004118304A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- specified
- laser
- output
- length
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/05—Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
- H01S3/08—Construction or shape of optical resonators or components thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/185—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL]
- H01S5/187—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL] using Bragg reflection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/026—Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
- H01S5/0262—Photo-diodes, e.g. transceiver devices, bidirectional devices
- H01S5/0264—Photo-diodes, e.g. transceiver devices, bidirectional devices for monitoring the laser-output
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1203—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers over only a part of the length of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1228—DFB lasers with a complex coupled grating, e.g. gain or loss coupling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4087—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Claims (37)
1. Полупроводниковый лазер с выводом излучения через поверхность, содержащий:
структуру полупроводникового лазера, включающую активный слой, расположенные друг напротив друга слои оболочки, прилегающие к указанному активному слою, подложку, структуру показателя преломления, предназначенную для ограничения в поперечном направлении объема оптической моды, и электроды, с помощью которых можно инжектировать ток в указанную структуру полупроводникового лазера, и
дифракционную решетку второго или более высокого порядка, распределенную так, что она содержит периодически чередующиеся элементы решетки, причем каждый из указанных элементов решетки отличается тем, что он представляет собой либо элемент с высоким усилением или элемент с низким усилением, в которой при инжектировании тока элемент с низким усилением проявляет низкое усиление, отсутствие усиления или поглощение, по сравнению с элементом с высоким усилением, причем каждый из указанных элементов имеет определенную длину, причем длина элемента с высоким усилением и длина элемента с низким усилением совместно определяют период решетки, причем указанный период решетки находится в диапазоне, требуемом для получения оптического сигнала в диапазоне сигнала оптической системы передачи данных, в котором длина одного из элементов с высоким усилением составляет не более 0,5 длины периода решетки.
2. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором длина указанных элементов высокого усиления составляет от 15% до 35% длины указанного периода решетки.
3. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором длина одного из указанных элементов с высоким усилением составляет приблизительно 25% длины указанного периода решетки.
4. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором дифракционная решетка с указанным распределением является оптически активной и сформирована в среде усиления, в активном слое.
5. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором указанная распределенная дифракционная решетка является оптически активной и сформирована в среде потерь в объеме моды.
6. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором указанная распределенная дифракционная решетка не является оптически активной и сформирована из материала, блокирующего ток.
7. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором указанная решетка содержит целочисленное количество периодов решетки.
8. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором указанная структура дополнительно включает прилегающую область, которая, по меньшей мере, частично окружает указанную решетку в плоскости решетки.
9. Полупроводниковый лазер по п.1, в котором указанная прилегающая область дополнительно включает интегрально сформированные области поглощения, расположенные с каждого из торцов указанной распределенной дифракционной решетки.
10. Полупроводниковый лазер по п.1, дополнительно включающий прилегающую область, содержащую фотодетектор.
11. Полупроводниковый лазер по п.10, в котором указанный фотодетектор интегрально сформирован с указанной структурой лазера.
12. Полупроводниковый лазер по п.11, дополнительно включающий петлю обратной связи, подключенную к указанному фотодетектору, предназначенную для сравнения детектируемого выходного сигнала, с требуемым выходным сигналом.
13. Полупроводниковый лазер по п.12, дополнительно включающий регулятор, предназначенный для регулирования входного тока, для поддержания указанного выходного сигнала на требуемом значении характеристики.
14. Полупроводниковый лазер по п.8, в котором указанная прилегающая область сформирована из материала, имеющего сопротивление, достаточное для электрической изоляции указанной решетки при использовании указанного лазера.
15. Лазер с выводом излучения через поверхность по п.1, в котором один из указанных электродов содержит отверстие для излучения сигнала.
16. Лазер с выводом излучения через поверхность по п.1, в котором указанная структура показателя преломления, обеспечивающая поперечное ограничение, представляет собой один из гребенчатого волновода или волновода со скрытой гетероструктурой.
17. Полупроводниковый лазер по п.8, в котором указанная структура лазера дополнительно включает структуру ограничения продольного поля с каждого торца указанного резонатора лазера.
18. Полупроводниковый лазер по п.17, в котором указанная структура ограничения продольного поля содержит интегрально сформированную решетку первого порядка, и указанный лазер дополнительно содержит второй электрод, связанный с указанной решеткой первого порядка для инжекции в нее тока.
19. Набор полупроводниковых лазеров с выводом излучения через поверхность, как заявлено п.1, в котором указанный набор включает два или большее количество указанных лазеров, расположенных на общей подложке.
20. Набор полупроводниковых лазеров по п.19, в котором каждый из указанных двух или большего количества указанных лазеров формирует выходной сигнал, имеющий разную длину волны и выходную мощность, и который может быть индивидуально промодулирован.
21. Набор полупроводниковых лазеров по п.19, в котором каждый из указанных двух или большего количества указанных лазеров формирует выходной сигнал, имеющий одинаковую длину волны.
22. Способ производства полупроводниковых лазеров с выводом излучения через поверхность, включающий следующие этапы:
формирование множества структур полупроводникового лазера путем последовательного формирования слоев на общей плоской подложке;
формирование на указанной плоской подложке первого слоя оболочки, активного слоя и второго слоя оболочки;
формирование на указанной плоской подложке множества распределенных дифракционных решеток второго или более высокого порядка, связанных с указанным активным слоем;
формирование электродов на каждой из указанных структур полупроводникового лазера, расположенных на указанной плоской подложке, для инжектирования тока в каждую из указанных решеток, где один из указанных электродов имеет отверстие для обеспечения эмиссии света; и
проверку каждой из указанных структур полупроводникового лазера путем инжектирования проверочного тока в указанные структуры, в то время как структуры все еще соединены с указанной общей плоской подложкой.
23. Способ по п.22, дополнительно содержащий этап одновременного формирования прилегающих областей между указанным множеством распределенных дифракционных решеток.
24. Способ по п.22, дополнительно содержащий этап формирования структуры с показателем преломления, предназначенную для ограничения в поперечном направлении оптической моды каждой из указанных структур полупроводникового лазера в виде гребенчатого волновода или волновода на основе скрытой гетероструктуры.
25. Способ по п.22, дополнительно содержащий этап формирования с обоих торцов каждой из указанных решеток области поглощения в указанной прилегающей области.
26. Способ по п.22, дополнительно содержащий этап расщепления указанной подложки вдоль указанных прилегающих областей, для формирования набора лазеров.
27. Полупроводниковый лазер с выводом излучения через поверхность, содержащий:
структуру полупроводникового лазера, включающую активный слой, расположенные друг напротив друга слои оболочки, примыкающие к указанному активному слою, подложку, структуру показателя преломления, предназначенную для ограничения в поперечном направлении объема оптической моды, и электроды, с помощью которых можно инжектировать ток в указанную структуру полупроводникового лазера, и
дифракционную решетку с заданным распределением второго или более высокого порядка, связанную с активным слоем указанной структуры лазера, причем указанное распределение дифракционной решетки содержит периодически чередующиеся элементы решетки, причем каждый из указанных элементов решетки обладает эффектом усиления, в котором любая соседняя пара элементов решетки включает один элемент, имеющий относительно высокий эффект усиления и элемент, имеющий относительно низкий эффект усиления, в котором разница указанных эффектов усиления, различные значения показателей преломления элементов высокого и низкого усиления, и период решетки обеспечивает формирование выходного сигнала в диапазоне, близком к 850 нанометров, или от 910 нанометров до 990 нанометров, или от 1200 нанометров до 1700 нанометров, и, в котором каждый из указанных элементов решетки имеет определенную длину, причем длина элемента с относительно высоким эффектом усиления и длина элемента с относительно низким эффектом усиления совместно определяют период решетки, в котором длина одного из элементов с относительно высоким усилением не превышает 0,5 длины периода решетки.
28. Полупроводниковый лазер по п.27, в котором указанная структура показателя преломления, обеспечивающая поперечное ограничение, представляет собой один из гребенчатых волноводов или волновод со скрытой гетероструктурой.
29. Способ стабилизации выходного сигнала лазера, содержащий следующие этапы:
подачу энергии в лазер с выводом излучения через поверхность, путем инжектирования тока в лазер;
подачу энергии на один или несколько соединенных с лазером фотодетекторов;
отслеживание качества выходного сигнала лазера с излучением с поверхности с помощью фотодетектора; и
регулирование величины тока, инжектируемого в лазер, для предотвращения флуктуации сигнала.
30. Способ по п.29, дополнительно включающий предварительный этап формирования указанного фотодетектора интегрально с указанным лазером.
31. Способ по п.30, дополнительно включающий этап подключения указанного фотодетектора к петле обратной связи и сравнения указанного детектируемого выходного сигнала с требуемым выходным сигналом.
32. Способ по п.31, дополнительно включающий этап установки регулятора и регулирования величины тока, инжектируемого в указанный лазер, для предотвращения флуктуации сигнала в соответствии с указанным сравнением, с использованием указанной петли обратной связи.
33. Полупроводниковый лазер с выводом излучения через поверхность, предназначенный для получения выходных сигналов с определенными пространственными характеристиками, причем указанный лазер содержит:
структуру полупроводникового лазера, включающую активный слой, расположенные друг напротив друга слои оболочки, прилегающие к указанному активному слою, подложку и электроды, с помощью которых можно инжектировать ток в указанную структуру полупроводникового лазера для получения выходного сигнала в полосе передачи данных, и распределенную дифракционную решетку второго или более высокого порядка, размеры и форма которой обеспечивают при инжектировании тока в структуру лазера, более низкое пороговое значение усиления для моды с одним максимумом, чем пороговое значение усиления для любой другой моды, в котором указанная мода с одним максимумом лазерного излучения способствует стыковке указанного выходного сигнала с оптоволоконным световодом.
34. Полупроводниковый лазер по п.33, в котором указанная распределенная дифракционная решетка состоит из чередующихся элементов решетки, которые определяют период решетки, в котором один из указанных элементов представляет собой элемент с относительно высоким усилением, и соседний элемент представляет собой элемент с относительно низким усилением, и в котором длина элемента с относительно высоким усилением составляет не более 0,5 длины периода решетки.
35. Полупроводниковый лазер по п.33, в котором указанная распределенная дифракционная решетка представляет собой решетку, со связью по усилению в активной области указанной структуры.
36. Полупроводниковый лазер по п.33, в котором указанная распределенная дифракционная решетка представляет собой решетку, со связью по потерям, в объеме моды указанной структуры.
37. Полупроводниковый лазер по п.33, в котором указанная распределенная дифракционная решетка представляет собой решетку с блокированием тока в указанной структуре полупроводникового лазера.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CA002363149A CA2363149A1 (en) | 2001-11-16 | 2001-11-16 | Surface emitting dfb laser structures for broadband communication systems and array of same |
CA2,363,149 | 2001-11-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2004118304A true RU2004118304A (ru) | 2005-04-10 |
Family
ID=4170544
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2004118304/28A RU2004118304A (ru) | 2001-11-16 | 2002-11-15 | Структура лазера типа dfb с выводом излучения через поверхность для широкополосных систем передачи данных и набор таких лазеров |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050053112A1 (ru) |
EP (1) | EP1454391A2 (ru) |
JP (1) | JP2005510090A (ru) |
KR (1) | KR20040066127A (ru) |
CN (1) | CN1602570A (ru) |
AU (1) | AU2002342456A1 (ru) |
CA (1) | CA2363149A1 (ru) |
IL (1) | IL161965A0 (ru) |
MX (1) | MXPA04004666A (ru) |
NO (1) | NO20033213L (ru) |
RU (1) | RU2004118304A (ru) |
WO (1) | WO2003044910A2 (ru) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2004246310A1 (en) * | 2003-06-10 | 2004-12-16 | Photonami Inc. | Method and apparatus for suppression of spatial-hole burning in second or higher order DFB lasers |
CN1823456A (zh) * | 2003-06-10 | 2006-08-23 | 福托纳米公司 | 在二阶或高阶分布反馈激光器中抑制空间烧孔的方法和设备 |
US7417789B2 (en) * | 2004-08-18 | 2008-08-26 | National Chiao Tung University | Solar-pumped active device |
JP2007227560A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Mitsubishi Electric Corp | 利得結合型分布帰還型半導体レーザ |
US20110116523A1 (en) * | 2009-09-13 | 2011-05-19 | Alfalight Corp. | Method of beam formatting se-dfb laser array |
US20160377821A1 (en) * | 2012-03-05 | 2016-12-29 | Nanoprecision Products, Inc. | Optical connection of optical fibers to grating couplers |
EP2957004B1 (en) * | 2013-02-18 | 2018-06-06 | Innolume GmbH | Single-step-grown transversely coupled distributed feedback laser |
CN103197366B (zh) * | 2013-03-13 | 2015-06-17 | 北京工业大学 | 基于异质结光栅的偏振滤波器及制备方法 |
CN106356712B (zh) * | 2016-10-13 | 2023-05-05 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种基于球形多路双异质结量子点的人工复眼激光器系统 |
US11158996B2 (en) | 2017-09-28 | 2021-10-26 | Apple Inc. | Laser architectures using quantum well intermixing techniques |
AU2020100473B4 (en) * | 2017-09-29 | 2020-11-26 | Apple Inc. | Connected epitaxial optical sensing systems |
CN111164415A (zh) | 2017-09-29 | 2020-05-15 | 苹果公司 | 路径解析的光学采样架构 |
CN111164393A (zh) | 2017-09-29 | 2020-05-15 | 苹果公司 | 连接的外延光学感测系统 |
EP3752873A1 (en) | 2018-02-13 | 2020-12-23 | Apple Inc. | Integrated photonics device having integrated edge outcouplers |
CN108736314B (zh) * | 2018-06-12 | 2020-06-19 | 中国科学院半导体研究所 | 电注入硅基iii-v族纳米激光器阵列的制备方法 |
US11644618B2 (en) | 2018-06-22 | 2023-05-09 | Apple Inc. | Discrete optical unit on a substrate of an integrated photonics chip |
US11525967B1 (en) | 2018-09-28 | 2022-12-13 | Apple Inc. | Photonics integrated circuit architecture |
US11171464B1 (en) | 2018-12-14 | 2021-11-09 | Apple Inc. | Laser integration techniques |
US11506535B1 (en) | 2019-09-09 | 2022-11-22 | Apple Inc. | Diffraction grating design |
US11835836B1 (en) | 2019-09-09 | 2023-12-05 | Apple Inc. | Mach-Zehnder interferometer device for wavelength locking |
US11525958B1 (en) | 2019-09-09 | 2022-12-13 | Apple Inc. | Off-cut wafer with a supported outcoupler |
US11881678B1 (en) | 2019-09-09 | 2024-01-23 | Apple Inc. | Photonics assembly with a photonics die stack |
US11231319B1 (en) | 2019-09-09 | 2022-01-25 | Apple Inc. | Athermal wavelength stability monitor using a detraction grating |
US11320718B1 (en) | 2019-09-26 | 2022-05-03 | Apple Inc. | Cantilever beam waveguide for silicon photonics device |
US11500154B1 (en) | 2019-10-18 | 2022-11-15 | Apple Inc. | Asymmetric optical power splitting system and method |
CN111755946A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-09 | 中国科学院半导体研究所 | 有源腔与无源腔交替结构的dfb激光器 |
US11852318B2 (en) | 2020-09-09 | 2023-12-26 | Apple Inc. | Optical system for noise mitigation |
US11561346B2 (en) | 2020-09-24 | 2023-01-24 | Apple Inc. | Tunable echelle grating |
US11852865B2 (en) | 2020-09-24 | 2023-12-26 | Apple Inc. | Optical system with phase shifting elements |
US11906778B2 (en) | 2020-09-25 | 2024-02-20 | Apple Inc. | Achromatic light splitting device with a high V number and a low V number waveguide |
US11815719B2 (en) | 2020-09-25 | 2023-11-14 | Apple Inc. | Wavelength agile multiplexing |
Family Cites Families (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61140189A (ja) * | 1984-12-12 | 1986-06-27 | Canon Inc | 半導体レ−ザ |
US4807955A (en) * | 1987-08-06 | 1989-02-28 | Amp Incorporated | Opto-electrical connecting means |
JP2768672B2 (ja) * | 1987-09-30 | 1998-06-25 | 株式会社日立製作所 | 面発光半導体レーザ |
JP2692913B2 (ja) * | 1987-12-19 | 1997-12-17 | 株式会社東芝 | グレーティング結合型表面発光レーザ素子およびその変調方法 |
EP0361399A3 (en) * | 1988-09-28 | 1990-07-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Semmiconductor laser array including lasers with reflecting means having different wavelength selection properties |
US5033053A (en) * | 1989-03-30 | 1991-07-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device having plurality of layers for emitting lights of different wavelengths and method of driving the same |
JPH02271586A (ja) * | 1989-04-12 | 1990-11-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置 |
US4976539A (en) * | 1989-08-29 | 1990-12-11 | David Sarnoff Research Center, Inc. | Diode laser array |
US5070509A (en) * | 1990-08-09 | 1991-12-03 | Eastman Kodak Company | Surface emitting, low threshold (SELTH) laser diode |
EP0487351B1 (en) * | 1990-11-21 | 1995-07-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Wavelength-tunable distributed-feedback semiconductor laser device |
US5233187A (en) * | 1991-01-22 | 1993-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Multi-wavelength light detecting and/or emitting apparatuses having serially arranged grating directional couplers |
US5164956A (en) * | 1991-10-21 | 1992-11-17 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Multiperiod-grating surface-emitting lasers |
US5241556A (en) * | 1992-01-28 | 1993-08-31 | Hughes Aircraft Company | Chirped grating surface emitting distributed feedback semiconductor laser |
US5384797A (en) * | 1992-09-21 | 1995-01-24 | Sdl, Inc. | Monolithic multi-wavelength laser diode array |
US5345466A (en) * | 1992-11-12 | 1994-09-06 | Hughes Aircraft Company | Curved grating surface emitting distributed feedback semiconductor laser |
KR950002068B1 (ko) * | 1992-11-25 | 1995-03-10 | 삼성전자주식회사 | 제2고조파 발생방법 및 그 장치 |
US5355237A (en) * | 1993-03-17 | 1994-10-11 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Wavelength-division multiplexed optical integrated circuit with vertical diffraction grating |
FR2706079B1 (fr) * | 1993-06-02 | 1995-07-21 | France Telecom | Composant intégré monolithique laser-modulateur à structure multi-puits quantiques. |
JPH0738205A (ja) * | 1993-07-20 | 1995-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | 面発光レーザダイオードアレイ及びその駆動方法,光検出素子,光検出素子アレイ,空間光接続システム,並びに波長多重光通信システム |
US5448581A (en) * | 1993-11-29 | 1995-09-05 | Northern Telecom Limited | Circular grating lasers |
US5452318A (en) * | 1993-12-16 | 1995-09-19 | Northern Telecom Limited | Gain-coupled DFB laser with index coupling compensation |
JPH07209603A (ja) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Fujitsu Ltd | 光アイソレータ |
JPH08107252A (ja) * | 1994-10-06 | 1996-04-23 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レーザ装置,及び半導体レーザアレイ装置 |
US5536085A (en) * | 1995-03-30 | 1996-07-16 | Northern Telecom Limited | Multi-wavelength gain-coupled distributed feedback laser array with fine tunability |
US5727013A (en) * | 1995-10-27 | 1998-03-10 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Single lobe surface emitting complex coupled distributed feedback semiconductor laser |
JP3714430B2 (ja) * | 1996-04-15 | 2005-11-09 | シャープ株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ装置 |
US5717804A (en) * | 1996-04-30 | 1998-02-10 | E-Tek Dynamics, Inc. | Integrated laser diode and fiber grating assembly |
US5970081A (en) * | 1996-09-17 | 1999-10-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Grating coupled surface emitting device |
US6088374A (en) * | 1997-04-15 | 2000-07-11 | Nec Corporation | Multi-wavelength semiconductor laser array having phase-shift structures |
US5870512A (en) * | 1997-05-30 | 1999-02-09 | Sdl, Inc. | Optimized interferometrically modulated array source |
JPH1117279A (ja) * | 1997-06-20 | 1999-01-22 | Toshiba Corp | 波長多重光通信用素子、送信器、受信器および波長多重光通信システム |
JP3180725B2 (ja) * | 1997-08-05 | 2001-06-25 | 日本電気株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ |
US5936994A (en) * | 1997-09-18 | 1999-08-10 | Northern Telecom Limited | Two-section complex coupled distributed feedback semiconductor laser with enhanced wavelength tuning range |
US6026110A (en) * | 1997-10-16 | 2000-02-15 | Nortel Networks Corporation | Distributed feedback semiconductor laser with gain modulation |
JPH11233898A (ja) * | 1997-12-03 | 1999-08-27 | Canon Inc | 分布帰還型半導体レーザとその駆動方法 |
US6104739A (en) * | 1997-12-24 | 2000-08-15 | Nortel Networks Corporation | Series of strongly complex coupled DFB lasers |
US6289028B1 (en) * | 1998-02-19 | 2001-09-11 | Uniphase Telecommunications Products, Inc. | Method and apparatus for monitoring and control of laser emission wavelength |
EP0948104B1 (en) * | 1998-03-30 | 2003-02-12 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Semiconductor laser module and method of manufacturing the same |
US6117699A (en) * | 1998-04-10 | 2000-09-12 | Hewlett-Packard Company | Monolithic multiple wavelength VCSEL array |
US6195381B1 (en) * | 1998-04-27 | 2001-02-27 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Narrow spectral width high-power distributed feedback semiconductor lasers |
US6097748A (en) * | 1998-05-18 | 2000-08-01 | Motorola, Inc. | Vertical cavity surface emitting laser semiconductor chip with integrated drivers and photodetectors and method of fabrication |
JP3186705B2 (ja) * | 1998-08-27 | 2001-07-11 | 日本電気株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ |
JP2000174397A (ja) * | 1998-12-02 | 2000-06-23 | Nec Corp | 多波長光源装置及びその発振周波数制御方法 |
US6330388B1 (en) * | 1999-01-27 | 2001-12-11 | Northstar Photonics, Inc. | Method and apparatus for waveguide optics and devices |
JP3928295B2 (ja) * | 1999-03-16 | 2007-06-13 | 富士ゼロックス株式会社 | 面発光型半導体レーザ |
US6810053B1 (en) * | 1999-08-13 | 2004-10-26 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Single mode, single lobe surface emitting distributed feedback semiconductor laser |
-
2001
- 2001-11-16 CA CA002363149A patent/CA2363149A1/en not_active Abandoned
-
2002
- 2002-11-15 RU RU2004118304/28A patent/RU2004118304A/ru not_active Application Discontinuation
- 2002-11-15 AU AU2002342456A patent/AU2002342456A1/en not_active Abandoned
- 2002-11-15 CN CNA028248872A patent/CN1602570A/zh active Pending
- 2002-11-15 WO PCT/CA2002/001746 patent/WO2003044910A2/en not_active Application Discontinuation
- 2002-11-15 KR KR10-2004-7007518A patent/KR20040066127A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-11-15 US US10/495,723 patent/US20050053112A1/en not_active Abandoned
- 2002-11-15 IL IL16196502A patent/IL161965A0/xx unknown
- 2002-11-15 MX MXPA04004666A patent/MXPA04004666A/es unknown
- 2002-11-15 JP JP2003546446A patent/JP2005510090A/ja active Pending
- 2002-11-15 EP EP02779056A patent/EP1454391A2/en not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-07-15 NO NO20033213A patent/NO20033213L/no unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2002342456A1 (en) | 2003-06-10 |
CA2363149A1 (en) | 2003-05-16 |
NO20033213D0 (no) | 2003-07-15 |
KR20040066127A (ko) | 2004-07-23 |
IL161965A0 (en) | 2005-11-20 |
NO20033213L (no) | 2003-09-16 |
JP2005510090A (ja) | 2005-04-14 |
MXPA04004666A (es) | 2005-05-17 |
EP1454391A2 (en) | 2004-09-08 |
WO2003044910A3 (en) | 2003-12-11 |
CN1602570A (zh) | 2005-03-30 |
WO2003044910A2 (en) | 2003-05-30 |
US20050053112A1 (en) | 2005-03-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2004118304A (ru) | Структура лазера типа dfb с выводом излучения через поверхность для широкополосных систем передачи данных и набор таких лазеров | |
US5539571A (en) | Differentially pumped optical amplifer and mopa device | |
US7889776B2 (en) | High-power semiconductor laser | |
US20090092159A1 (en) | Semiconductor light-emitting device with tunable emission wavelength | |
JPH0587635A (ja) | 回折格子を有する光検出装置 | |
US10020638B2 (en) | Optical semiconductor device, semiconductor laser module, and optical fiber amplifier | |
US6690688B2 (en) | Variable wavelength semiconductor laser and optical module | |
Menezo et al. | 10-wavelength 200-GHz channel spacing emitter integrating DBR lasers with a PHASAR on InP for WDM applications | |
JP5698267B2 (ja) | 半導体デバイス | |
RU2004121153A (ru) | Лазерные структуры с распределенной обратной связью и с выводом излучения через поверхность со сдвигом фазы с усилительными или поглощательными дифракционными решетками | |
US20230187906A1 (en) | Wavelength-variable laser | |
CN105830292A (zh) | 半导体激光器阵列、半导体激光器元件、半导体激光器模块、以及波长可变激光器组件 | |
US10511150B2 (en) | Wavelength-variable laser | |
US20050152026A1 (en) | Gain-clamped optical amplifier | |
US20020101897A1 (en) | Laser elements having different wavelengths formed from one semiconductor substrate | |
JP6730868B2 (ja) | 波長可変半導体レーザ | |
US7072372B2 (en) | Semiconductor laser device, semiconductor laser module, and optical fiber amplifier | |
Figueroa et al. | Modeling of the optical characteristics for twin-channel laser (TCL) structures | |
US20220123526A1 (en) | Semiconductor lasers with improved frequency modulation response | |
Yashiki et al. | Wavelength-independent operation of EA-modulator integrated wavelengthselectable microarray light sources | |
KR20060025168A (ko) | 2차 이상의 dfb 레이저의 공간-홀 버닝의 억제를 위한방법 및 장치 | |
Sarangan et al. | Wavelength control in DFB laser arrays by tilting the ridge with respect to the gratings | |
Chen et al. | Design of multi-wavelength loss-coupled DFB laser array | |
Li | Gain-coupled distributed-feedback (DFB) laser array for wavelength division multiplexing systems | |
MORIMOTO et al. | Wavelength-selectable microarray light sources for DWDM photonic networks |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FA93 | Acknowledgement of application withdrawn (no request for examination) |
Effective date: 20051116 |