RU2003110979A - Способ изготовления программируемых элементов - Google Patents
Способ изготовления программируемых элементовInfo
- Publication number
- RU2003110979A RU2003110979A RU2003110979/28A RU2003110979A RU2003110979A RU 2003110979 A RU2003110979 A RU 2003110979A RU 2003110979/28 A RU2003110979/28 A RU 2003110979/28A RU 2003110979 A RU2003110979 A RU 2003110979A RU 2003110979 A RU2003110979 A RU 2003110979A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- layer
- aluminum
- local
- photoresist
- programmable elements
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 13
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims 12
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminum Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 12
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 6
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 claims 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 3
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N Silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims 2
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 claims 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims 2
- 206010018987 Haemorrhage Diseases 0.000 claims 1
- 230000000740 bleeding Effects 0.000 claims 1
- 231100000319 bleeding Toxicity 0.000 claims 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
Claims (7)
1. Способ изготовления прогаммируемых элементов, включающий формирование на полупроводниковой подложке с элементами ИС, покрытыми диэлектрическим слоем с контактными окнами проводников нижнего уровня и нижних электродов программируемых элементов методом нанесения и локального травления первого проводящего слоя из материала на основе алюминия, формирование методом нанесения и локального травления локальных областей первого барьерного слоя, контактирующих с нижними электродами, локальных областей слоя материала программируемых элементов, контактирующих с первым барьерным слоем, локальных областей второго барьерного слоя над локальными областями слоя материала программируемых элементов, формирование изолирующего слоя, формирование окон в изолирующем слое, формирование проводников верхнего уровня и верхних электродов методом нанесения и локального травления второго проводящего слоя из материала на основе алюминия, отличающийся тем, что после нанесения первого проводящего слоя из материала на основе алюминия осуществляют нанесение первого барьерного слоя, слоя материала программируемых элементов, второго барьерного слоя и дополнительного слоя на основе алюминия, формируют маску фоторезиста в виде локальных областей в местах расположения нижних электродов программируемых элементов, проводят локальное травление дополнительного слоя на основе алюминия, второго барьерного слоя, слоя материала программируемых элементов и первого барьерного слоя до первого проводящего слоя на основе алюминия, в результате чего формируются локальные области травимых слоев, удаляют фоторезист, формируют маску фоторезиста, покрывающую области расположения проводников нижнего уровня и нижних электродов с расположенными над ними локальными областями травимых слоев, осуществляют локальное травление не покрытых фоторезистом областей первого проводящего слоя на основе алюминия до диэлектрической пленки, удаляют фоторезист, формируют изолирующий слой, формируют маску фоторезиста с окнами над поверхностью локальных областей травимых слоев в местах расположения нижних электродов программируемых элементов, а так же над поверхностью первого проводящего слоя на основе алюминия в местах расположения межуровневых контактов, проводят локальное стравливание изолирующего слоя в окнах фоторезиста, удаляют фоторезист, проводят формирование проводников верхнего уровня, методом нанесения и локального травления второго проводящего слоя из материала на основе алюминия.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что нанесение первого проводящего слоя из материала на основе алюминия включает нанесение нижнего контактного слоя титана, барьерного слоя нитрида титана и верхнего низкоомного слоя алюминия, легированого кремнием.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что материалом первого и второго барьерных слоев является нитрид титана.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что слоем материала программируемых элементов является слой аморфного кремния.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что нанесение слоя материала программируемых элементов включает нанесение нижнего подслоя нитрида кремния, слоя аморфного кремния и верхнего подслоя нитрида кремния.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что формирование изолирующего слоя включает плазмохимическое осаждение первого слоя двуокиси кремния, формирование планаризующего слоя из растворной композиции, плазмохимическое осаждение второго слоя двуокиси кремния.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что нанесение второго проводящего слоя из материала на основе алюминия включает нанесение нижнего слоя титана, верхнего низкоомного слоя алюминия легированного кремнием, антиотражающего слоя нитрида титана.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2003110979/28A RU2263370C2 (ru) | 2003-04-17 | 2003-04-17 | Способ изготовления программируемых элементов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2003110979/28A RU2263370C2 (ru) | 2003-04-17 | 2003-04-17 | Способ изготовления программируемых элементов |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2003110979A true RU2003110979A (ru) | 2004-11-27 |
RU2263370C2 RU2263370C2 (ru) | 2005-10-27 |
Family
ID=35864420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2003110979/28A RU2263370C2 (ru) | 2003-04-17 | 2003-04-17 | Способ изготовления программируемых элементов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2263370C2 (ru) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3078979B1 (fr) * | 2018-03-15 | 2020-10-16 | Commissariat Energie Atomique | Procede pour former une couche d'oxyde (fe, cr)2o3 de structure rhomboedrique sur un substrat en acier |
-
2003
- 2003-04-17 RU RU2003110979/28A patent/RU2263370C2/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100366632B1 (ko) | 도전층의 박리를 억제할 수 있는 반도체 소자 및 그의제조 방법 | |
DE60031631D1 (de) | Verfahren zum Vermeiden von Kupfer-Kontamination der Seitenflächen eines Kontaktloches oder einer Doppel-Damaszenen-Struktur | |
KR19980064089A (ko) | 다공성 유전체 금속화 방법 | |
RU2003110979A (ru) | Способ изготовления программируемых элементов | |
US20080157277A1 (en) | Mim capacitor | |
JP2000294545A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
KR970052439A (ko) | 반도체 소자의 콘택 홀 형성 방법 | |
JPH09219453A (ja) | 半導体装置およびその作製方法 | |
KR100571407B1 (ko) | 반도체 소자의 배선 제조 방법 | |
KR100571696B1 (ko) | 반도체 소자의 제조 방법 | |
RU2263370C2 (ru) | Способ изготовления программируемых элементов | |
CN1388573A (zh) | 半导体金属内连线的制造方法 | |
KR100383084B1 (ko) | 반도체 소자의 플러그 형성 방법 | |
KR100254175B1 (ko) | 반도체장치의텅스텐플러그형성방법 | |
KR100324020B1 (ko) | 반도체소자의금속배선형성방법 | |
JPH11354638A (ja) | 配線形成方法及び配線構造 | |
KR100532981B1 (ko) | 반도체소자 식각방법 | |
KR20040050118A (ko) | 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법 | |
KR970072316A (ko) | 반도체 소자의 다중 금속층 형성 방법 | |
KR100571408B1 (ko) | 반도체 소자의 듀얼 다마신 배선 제조 방법 | |
KR100720262B1 (ko) | 반도체 소자의 제조 방법 | |
KR100369339B1 (ko) | 캐패시터 및 그 제조 방법 | |
KR100214067B1 (ko) | 반도체 장치의 다층금속배선 형성방법 | |
TW404035B (en) | The damascene inner-wiring process which uses the organic polymer of low-dielectrics constant as the etch stop layer | |
KR20030080525A (ko) | 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법 |