RU2003110979A - Способ изготовления программируемых элементов - Google Patents

Способ изготовления программируемых элементов

Info

Publication number
RU2003110979A
RU2003110979A RU2003110979/28A RU2003110979A RU2003110979A RU 2003110979 A RU2003110979 A RU 2003110979A RU 2003110979/28 A RU2003110979/28 A RU 2003110979/28A RU 2003110979 A RU2003110979 A RU 2003110979A RU 2003110979 A RU2003110979 A RU 2003110979A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layer
aluminum
local
photoresist
programmable elements
Prior art date
Application number
RU2003110979/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2263370C2 (ru
Inventor
Анатолий Иванович Еремчук
Александр Сергеевич Ермаков
Александр Владимирович Зеленцов
Павел Викторович Игнатов
Владимир Александрович Шишко
Original Assignee
Открытое акционерное общество "НИИ молекулярной электроники и завод "Микрон"
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "НИИ молекулярной электроники и завод "Микрон" filed Critical Открытое акционерное общество "НИИ молекулярной электроники и завод "Микрон"
Priority to RU2003110979/28A priority Critical patent/RU2263370C2/ru
Priority claimed from RU2003110979/28A external-priority patent/RU2263370C2/ru
Publication of RU2003110979A publication Critical patent/RU2003110979A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2263370C2 publication Critical patent/RU2263370C2/ru

Links

Claims (7)

1. Способ изготовления прогаммируемых элементов, включающий формирование на полупроводниковой подложке с элементами ИС, покрытыми диэлектрическим слоем с контактными окнами проводников нижнего уровня и нижних электродов программируемых элементов методом нанесения и локального травления первого проводящего слоя из материала на основе алюминия, формирование методом нанесения и локального травления локальных областей первого барьерного слоя, контактирующих с нижними электродами, локальных областей слоя материала программируемых элементов, контактирующих с первым барьерным слоем, локальных областей второго барьерного слоя над локальными областями слоя материала программируемых элементов, формирование изолирующего слоя, формирование окон в изолирующем слое, формирование проводников верхнего уровня и верхних электродов методом нанесения и локального травления второго проводящего слоя из материала на основе алюминия, отличающийся тем, что после нанесения первого проводящего слоя из материала на основе алюминия осуществляют нанесение первого барьерного слоя, слоя материала программируемых элементов, второго барьерного слоя и дополнительного слоя на основе алюминия, формируют маску фоторезиста в виде локальных областей в местах расположения нижних электродов программируемых элементов, проводят локальное травление дополнительного слоя на основе алюминия, второго барьерного слоя, слоя материала программируемых элементов и первого барьерного слоя до первого проводящего слоя на основе алюминия, в результате чего формируются локальные области травимых слоев, удаляют фоторезист, формируют маску фоторезиста, покрывающую области расположения проводников нижнего уровня и нижних электродов с расположенными над ними локальными областями травимых слоев, осуществляют локальное травление не покрытых фоторезистом областей первого проводящего слоя на основе алюминия до диэлектрической пленки, удаляют фоторезист, формируют изолирующий слой, формируют маску фоторезиста с окнами над поверхностью локальных областей травимых слоев в местах расположения нижних электродов программируемых элементов, а так же над поверхностью первого проводящего слоя на основе алюминия в местах расположения межуровневых контактов, проводят локальное стравливание изолирующего слоя в окнах фоторезиста, удаляют фоторезист, проводят формирование проводников верхнего уровня, методом нанесения и локального травления второго проводящего слоя из материала на основе алюминия.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что нанесение первого проводящего слоя из материала на основе алюминия включает нанесение нижнего контактного слоя титана, барьерного слоя нитрида титана и верхнего низкоомного слоя алюминия, легированого кремнием.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что материалом первого и второго барьерных слоев является нитрид титана.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что слоем материала программируемых элементов является слой аморфного кремния.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что нанесение слоя материала программируемых элементов включает нанесение нижнего подслоя нитрида кремния, слоя аморфного кремния и верхнего подслоя нитрида кремния.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что формирование изолирующего слоя включает плазмохимическое осаждение первого слоя двуокиси кремния, формирование планаризующего слоя из растворной композиции, плазмохимическое осаждение второго слоя двуокиси кремния.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что нанесение второго проводящего слоя из материала на основе алюминия включает нанесение нижнего слоя титана, верхнего низкоомного слоя алюминия легированного кремнием, антиотражающего слоя нитрида титана.
RU2003110979/28A 2003-04-17 2003-04-17 Способ изготовления программируемых элементов RU2263370C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2003110979/28A RU2263370C2 (ru) 2003-04-17 2003-04-17 Способ изготовления программируемых элементов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2003110979/28A RU2263370C2 (ru) 2003-04-17 2003-04-17 Способ изготовления программируемых элементов

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2003110979A true RU2003110979A (ru) 2004-11-27
RU2263370C2 RU2263370C2 (ru) 2005-10-27

Family

ID=35864420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2003110979/28A RU2263370C2 (ru) 2003-04-17 2003-04-17 Способ изготовления программируемых элементов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2263370C2 (ru)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3078979B1 (fr) * 2018-03-15 2020-10-16 Commissariat Energie Atomique Procede pour former une couche d'oxyde (fe, cr)2o3 de structure rhomboedrique sur un substrat en acier

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100366632B1 (ko) 도전층의 박리를 억제할 수 있는 반도체 소자 및 그의제조 방법
DE60031631D1 (de) Verfahren zum Vermeiden von Kupfer-Kontamination der Seitenflächen eines Kontaktloches oder einer Doppel-Damaszenen-Struktur
KR19980064089A (ko) 다공성 유전체 금속화 방법
RU2003110979A (ru) Способ изготовления программируемых элементов
US20080157277A1 (en) Mim capacitor
JP2000294545A (ja) 半導体装置及びその製造方法
KR970052439A (ko) 반도체 소자의 콘택 홀 형성 방법
JPH09219453A (ja) 半導体装置およびその作製方法
KR100571407B1 (ko) 반도체 소자의 배선 제조 방법
KR100571696B1 (ko) 반도체 소자의 제조 방법
RU2263370C2 (ru) Способ изготовления программируемых элементов
CN1388573A (zh) 半导体金属内连线的制造方法
KR100383084B1 (ko) 반도체 소자의 플러그 형성 방법
KR100254175B1 (ko) 반도체장치의텅스텐플러그형성방법
KR100324020B1 (ko) 반도체소자의금속배선형성방법
JPH11354638A (ja) 配線形成方法及び配線構造
KR100532981B1 (ko) 반도체소자 식각방법
KR20040050118A (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법
KR970072316A (ko) 반도체 소자의 다중 금속층 형성 방법
KR100571408B1 (ko) 반도체 소자의 듀얼 다마신 배선 제조 방법
KR100720262B1 (ko) 반도체 소자의 제조 방법
KR100369339B1 (ko) 캐패시터 및 그 제조 방법
KR100214067B1 (ko) 반도체 장치의 다층금속배선 형성방법
TW404035B (en) The damascene inner-wiring process which uses the organic polymer of low-dielectrics constant as the etch stop layer
KR20030080525A (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법