RU2002125410A - Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты) - Google Patents

Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты)

Info

Publication number
RU2002125410A
RU2002125410A RU2002125410/28A RU2002125410A RU2002125410A RU 2002125410 A RU2002125410 A RU 2002125410A RU 2002125410/28 A RU2002125410/28 A RU 2002125410/28A RU 2002125410 A RU2002125410 A RU 2002125410A RU 2002125410 A RU2002125410 A RU 2002125410A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
surface layer
solid body
physical
chemical properties
solid
Prior art date
Application number
RU2002125410/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2221236C1 (ru
Inventor
Алексей Александрович Калачев
Николай Михайлович Блашенков
Юрий Петрович Иванов
Владимир Антонович Ковальский
сников Александр Львович М
Александр Львович Мясников
сникова Любовь Петровна М
Любовь Петровна Мясникова
Original Assignee
Алексей Александрович Калачев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Алексей Александрович Калачев filed Critical Алексей Александрович Калачев
Priority to RU2002125410/28A priority Critical patent/RU2221236C1/ru
Priority to US10/527,966 priority patent/US7309864B2/en
Priority to AU2003252630A priority patent/AU2003252630A1/en
Priority to EP03795511A priority patent/EP1553397A4/en
Priority to PCT/RU2003/000311 priority patent/WO2004025275A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2221236C1 publication Critical patent/RU2221236C1/ru
Publication of RU2002125410A publication Critical patent/RU2002125410A/ru
Priority to US11/957,603 priority patent/US7692145B2/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/221—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by activation analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/32—Polishing; Etching
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N13/00—Investigating surface or boundary effects, e.g. wetting power; Investigating diffusion effects; Analysing materials by determining surface, boundary, or diffusion effects

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Radiation-Therapy Devices (AREA)

Claims (3)

1. Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела, включающий воздействие на поверхностный слой твердого тела излучением в виде атомарного пучка и/или электронного пучка, и/или молекулярного пучка, и/или ионного пучка, и/или фотонного пучка и/или их комбинации и последующую дезактивацию поверхностного слоя с регистрацией испускаемых вследствие этого квантов энергии, отличающийся тем, что воздействие производят единичным импульсом излучения, а дезактивацию поверхностного слоя твердого тела осуществляют по окончании воздействия на него излучением путем выдержки твердого тела при постоянной температуре и последующего нагрева, при этом спектр испускаемых поверхностным слоем твердого тела квантов энергии регистрируют в процессе дезактивации поверхностного слоя.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что импульс излучения, действующий на исследуемую поверхность, имеет мощность от 10-5 до 10-3 Вт/см2.
3. Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела, включающий воздействие на поверхностный слой твердого тела низкотемпературной плазмой с последующей дезактивацией поверхностного слоя и регистрацией спектра термолюминесценции, отличающийся тем, что используют низкотемпературную плазму с давлением плазмообразующего газа от 0,001 до 0,08 мбар в течение от 0,01 до 5 с.
RU2002125410/28A 2002-09-16 2002-09-16 Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты) RU2221236C1 (ru)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002125410/28A RU2221236C1 (ru) 2002-09-16 2002-09-16 Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты)
US10/527,966 US7309864B2 (en) 2002-09-16 2003-07-15 Method for analysing physical and/or chemical properties of the surface layer of a solid body (variants)
AU2003252630A AU2003252630A1 (en) 2002-09-16 2003-07-15 Method for analysing physical and/or chemical properties of the surface layer of a solid body (variants)
EP03795511A EP1553397A4 (en) 2002-09-16 2003-07-15 PROCESS FOR ANALYZING THE PHYSICAL AND / OR CHEMICAL PROPERTIES OF THE SURFACE LAYER OF A SOLID BODY (AND VARIANTS)
PCT/RU2003/000311 WO2004025275A1 (fr) 2002-09-16 2003-07-15 Procede d'analyse des proprietes physiques et/ou chimiques de la couche de surface d'un corps solide (et variantes)
US11/957,603 US7692145B2 (en) 2002-09-16 2007-12-17 Method to analyze physical and chemical properties on the surface layer of a solid

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002125410/28A RU2221236C1 (ru) 2002-09-16 2002-09-16 Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2221236C1 RU2221236C1 (ru) 2004-01-10
RU2002125410A true RU2002125410A (ru) 2004-03-27

Family

ID=31989418

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002125410/28A RU2221236C1 (ru) 2002-09-16 2002-09-16 Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты)

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7309864B2 (ru)
EP (1) EP1553397A4 (ru)
AU (1) AU2003252630A1 (ru)
RU (1) RU2221236C1 (ru)
WO (1) WO2004025275A1 (ru)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7998537B2 (en) * 2002-03-01 2011-08-16 The Chinese University Of Hong Kong Method for selectively removing hydrogen from molecules
RU2509299C1 (ru) * 2012-06-29 2014-03-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет" Способ определения зарядового состояния атомов в субнанослойных пленках на поверхности металлов и полупроводников
RU2509301C1 (ru) * 2012-06-29 2014-03-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет" Способ определения кристаллической фазы в аморфных пленках наноразмерной толщины
RU2522667C2 (ru) * 2012-07-30 2014-07-20 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность
JP5783318B1 (ja) * 2014-11-28 2015-09-24 Ｊｆｅスチール株式会社 微量炭素定量分析装置および微量炭素定量分析方法
RU2629703C1 (ru) * 2016-05-16 2017-08-31 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук (ИЭФ УрО РАН) Люминесцентный способ определения количественного содержания неоднородно распределенной дополнительной кристаллической фазы в сильнорассеивающих дисперсных двухфазных средах с примесными ионами-люминогенами

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3317727A (en) * 1963-06-18 1967-05-02 Mobil Oil Corp Characterizing thermoluminescent material by means of its isothermal decay of phosphorescence
SU928207A1 (ru) * 1980-05-23 1982-05-15 Московский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Управления Способ измерени температур и энергий активации молекул рных переходов в полимерах
SU928204A1 (ru) 1980-07-14 1982-05-15 Предприятие П/Я Р-6681 Оптический элемент нарушенного полного внутреннего отражени
US4906848A (en) * 1984-09-20 1990-03-06 International Sensor Technology, Inc. Apparatuses and methods for laser reading of phosphors
US4638163A (en) * 1984-09-20 1987-01-20 Peter F. Braunlich Method and apparatus for reading thermoluminescent phosphors
US4873444A (en) * 1988-11-23 1989-10-10 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Detection of surface impurity phases in high TC superconductors using thermally stimulated luminescence
US5483338A (en) * 1994-05-26 1996-01-09 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Method and apparatus for evaluating structural weakness in polymer matrix composites
US5683179A (en) * 1995-12-15 1997-11-04 Northrop Grumman Corporation Apparatus and method for thermoluminescent quench detection for superconducting devices
US6200531B1 (en) * 1998-05-11 2001-03-13 Igen International, Inc. Apparatus for carrying out electrochemiluminescence test measurements
WO1999065060A1 (fr) * 1998-06-05 1999-12-16 Ooo 'vysokie Technologii' Procede et dispositif permettant de produire un rayonnement optique
US5998146A (en) * 1998-07-17 1999-12-07 Wallac Oy Homogeneous luminescence assay method based on energy transfer
AT410600B (de) * 1999-12-02 2003-06-25 Hoffmann La Roche Messkammer mit lumineszenzoptischen sensorelementen
JP2002148157A (ja) * 2000-11-07 2002-05-22 Mitsubishi Chemicals Corp 表面分析方法
US6639360B2 (en) * 2001-01-31 2003-10-28 Gentex Corporation High power radiation emitter device and heat dissipating package for electronic components
US7067072B2 (en) * 2001-08-17 2006-06-27 Nomadics, Inc. Nanophase luminescence particulate material
US6979829B2 (en) * 2003-04-23 2005-12-27 Clearant Inc. Devices and methods for determining the amount of energy absorbed during irradiation

Also Published As

Publication number Publication date
EP1553397A1 (en) 2005-07-13
US20060145067A1 (en) 2006-07-06
WO2004025275A1 (fr) 2004-03-25
EP1553397A4 (en) 2008-10-08
US7309864B2 (en) 2007-12-18
US20080237488A1 (en) 2008-10-02
AU2003252630A1 (en) 2004-04-30
RU2221236C1 (ru) 2004-01-10
US7692145B2 (en) 2010-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5848765B2 (ja) イオン源の少なくとも一つの表面をクリーニングする方法及び装置
Bhuyan et al. Ion beam emission in a low energy plasma focus device operating with methane
FR2880105B1 (fr) Dispositif et procede de pilotage de l'operation de deshydratation durant un traitement de lyophilisation
DE60143527D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur erzeugung von röntgenstrahlung
RU2002125410A (ru) Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты)
JP4688978B2 (ja) Ｘ線発生装置及びそれを用いる複合装置並びにｘ線発生方法
Jiang et al. Spatially resolved density measurements of singlet delta oxygen in a non-equilibrium atmospheric pressure plasma jet by molecular beam mass spectrometry
TW200846034A (en) A system and method for non-destructive decontamination of sensitive electronics using soft x-ray radiation
TWI222661B (en) Decomposing apparatus for perfluorinated compounds and processing system for perfluorinated compounds
Gribkov et al. On various possibilities in pulsed radiation biochemistry and chemistry
Metev et al. Plasma parameters in pulsed laser-plasma deposition of thin films
RU2002125411A (ru) Устройство для анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела
Kasprowicz et al. Diffusion of rubidium atoms in PDMS thin films
Gauthier et al. Time resolved plasma photoemission of myocardium with excimer laser excitation
Chen et al. Laser-based intense hard x-ray source for mammography
JP2011086425A (ja) Ｘ線発生装置及びそれを用いる複合装置
JP2002329914A (ja) 増強型マイクロｘ線ビーム生成方法及び装置
Das et al. A technique for charge density measurement in laser-cluster interaction studies
JP2004212215A (ja) レーザーアブレーション高分子分析装置
Cefalas et al. Single shot, laser plasma X-ray contact microscopy of Chlamydomonas
Wong et al. Repetitive Operation of A Dense Plasma Soft X‐ray Source for Micromachining
Esumi et al. A novel system for particle identification in the 3.0-8 GeV/c range
Cefalas et al. Laser plasma X-ray contact microscopy of living specimens
Dekhtyar Strength and electron features of irradiated bone
Anashin et al. The effect of the temperature and of a thick layer of condensed CO2 on the photoelectron emission and on the photon reflection

Legal Events

Date Code Title Description
RH4A Copy of patent granted that was duplicated for the russian federation

Effective date: 20060520

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20180917