JP4688978B2 - X線発生装置及びそれを用いる複合装置並びにx線発生方法 - Google Patents
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Description
例えば電界放射型カーボンナノチューブカソードを用いた小型X線管とこのX線管へ高電圧超短パルスを印可するための高周波同軸ケーブルを備えてなるX線発生装置が提案されている(特許文献1参照)。
また、焦電体から放出される電子を銅片へ照射し、銅片からX線を放出するタイプのX線発生装置も提案されている(非特許文献1)
本件発明に関連する技術として非特許文献2も参照されたい。
小型X線発生装置の一つの用途として、これを体内へ挿入してガン細胞へ直線X線を照射して行うガン治療がある。かかる見地から電界放射型カーボンナノチューブカソードを用いるタイプを検討すると、このタイプではカソードへ高電圧の印加が必要なので、たとえ絶縁性の同軸ケーブルを用いるとしても、治療現場での使用に抵抗感がある。
また、焦電体を用いるタイプではペルチェ素子の上に焦電体が載置され、このペルチェ素子で焦電体を加熱して当該焦電体から電子を放出させている。したがって、ペルチェ素子へ印加する電圧に高電圧を必要としない。しかしながら、昇温状態の焦電体からは電子の放出が継続するので、X線発生のオン・オフ制御が困難になる。電子非放出の状態まで焦電体全体を冷却するのに時間を要するからである。
エネルギーを受けて電子を放出する電子放出素子と、
該電子放出素子から放出された電子を受けてX線を放出する金属片と、
前記電子放出素子へエネルギーを供給するエネルギー供給部と、を備えるX線発生装置であって、
前記エネルギー供給部は前記電子放出素子に局所的な高エネルギー部分を形成する、ことを特徴とするX線発生装置。
焦電体は、異極像結晶とも呼ばれ、その温度を昇降させると、結晶内部の自発分極が増減し、表面吸着電荷がその変化に追随できなくなって、電気的な中和が破られ、もって表面から電荷(電子)が放出されるという特性を有している。代表的な異極像結晶体としては、LiNbO3単結晶があり、この結晶体内では正電荷(Li+、Nb5+)の重心と負電荷(O2−)の重心とが一致しないため、定常状態でも分極していて、この電荷量と等量で異符号の電荷が結晶表面に吸着しているために、常時は電気的に中和されている。
焦電体としては上記LiNbO3の外、LiTaO3等の一種を単独で又は複数種を併用して、用いることができる。
本発明者らの検討によれば、焦電体に対して紫外線の侵入深さは数十nm程度であるので、紫外線により活性化されて高エネルギーを有する部分は焦電体表面の一部、即ち局所的な部分となる。
紫外線の波長は300nm以下とすることが好ましい(第3の局面)。かかる短波長の紫外線はその殆どが焦電体に吸収されるので高いエネルギー変換効率を確保できるからである。更に好ましい紫外線の波長は250nm以下である。
パルスの周期はμsec、又はnsec単位とすることができる。
これにより、金属片、焦電体及びエネルギー供給部(紫外線発生部)を直列に配置可能となり、装置の組みつけが容易になる。
棒状の焦電体を電子放出素子として用いるとき、棒状体の一端を金属片へ対向させ、その他端へ紫外線を照射する。
焦電体とカーボンナノチューブとを組み合わせることで電子放出の促進を図ることができる。
実施の形態のX線発生装置1はパルスレーザ発振機3、紫外線用ファイバ5、焦電体10及び金属片20を備えてなる。
紫外線発生部としてnd:YAGパルスレーザ発振機3を採用する。このパルスレーザ発振機3の定格は波長:約250nm、パルス幅:100μm、最大出力:約350mjである。
紫外線用ファイバ5にはフレキシブルな石英ファイバを用いることができる。
焦電体10にはLiNbO3の棒状体(直径:10mm、長さ:40mm、両端は平坦面)を用いる。なお、焦電体10において金属片20に対向する面(電子放出面13)にはエッチングにより微細加工を施して、好ましくは表面に針状の突起を形成する。
紫外線レーザ光は焦電体10の自由端面11へ垂直に照射することが好ましい。反射を抑制して、紫外線レーザ光のエネルギーを最も効率よく焦電体10へ供給できるからである。
図2に示すとおり、光ファイバ5と焦電体10との間に集光器(フレネルレンズ)15を介在し、光ファイバ5から放出された紫外線レーザを集光することができる。
焦電体10の自由端面11において紫外線レーザ光が照射された部分のみが活性化されて、当該部分に対向する電子放出面の部分から電子が放出される。
電子放出面13から放出される単位面積当たりの電子の量(電流密度)は自由端面11へ入力される紫外線レーザ光の強さに対応するので、図2のように紫外線レーザ光を集光することにより、金属片20へ集中して電子が照射され、もって強いX線の放出が可能となる。
この例では、紫外線レーザ光がパルス状に照射されるので、焦電体10において高エネルギー化される部分が焦電体10の半径方向へ拡散しない。換言すれば高エネルギー部分が拡散しないように、パルス幅を調整する。
図3に示した複合装置を体腔内へ挿入することにより、X線を患部へ照射しつつ、患部の特性をセンサ30で観察可能となる。例えば、ガン細胞をX線蛍光物質でマーキングしておくことにより、X線を照射しつつガン細胞の存在を光センサ30で確認可能となる。
上記の例では、紫外線パルス光を照射することにより焦電体の高エネルギー部分を局所的とすることにより、高エネルギー状態から定常状態へ素早く戻れるようにし、もって電子線照射、即ちX線発生のオン・オフ制御を容易にしている。焦電体の高エネルギー部分を局所的とすることができれば、他の方法を採用することができる。例えば、ペルチェ素子等の発熱体を焦電体へ非連続的に接触させることにより、焦電体が全体に昇温されることを防止し、焦電体における高エネルギー部分を局所的なものとすることができる。
紫外線を受けて電子を放出可能な強誘電体を電子放出素子として用いることもできる。
3 パルスレーザ発振機
5 紫外線光用ファイバ
10 焦電体
20 金属片
Claims (12)
- エネルギーを受けて電子を放出する電子放出素子と、
該電子放出素子から放出された電子を受けてX線を放出する金属片と、
前記電子放出素子へエネルギーを供給するエネルギー供給部と、を備えるX線発生装置であって、
前記エネルギー供給部は前記電子放出素子に局所的な高エネルギー部分を形成する、ことを特徴とするX線発生装置。 - 前記エネルギー供給部は紫外線を前記電子放出素子へ照射する、ことを特徴とする請求項1に記載のX線発生装置。
- 前記紫外線は300nm以下の波長を有する、ことを特徴とする請求項2に記載のX線発生装置。
- 前記紫外線をパルス状にして前記電子放出素子へ照射する、ことを特徴とする請求項2又は3に記載のX線発生装置。
- 前記電子放出素子において前記金属片と対向する面と反対側の面へ前記紫外線を照射する、ことを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載のX線発生装置。
- 前記エネルギー供給部は、
前記紫外線を発生する紫外線発生部と、紫外線用ファイバとを備え、
該紫外線発生部で発生された前記紫外線を前記紫外線ファイバを介して前記電子放出素子へ照射する、ことを特徴とする請求項2〜5のいずれかに記載のX線発生装置。 - 請求項1〜6のいずれかに記載のX線発生装置と物理量又は化学量を測定可能なセンサとが同一面上に配列される、ことを特徴とする複合装置。
- エネルギーを受けて電子を放出する電子放出素子と、
該電子放出素子から放出された電子を受けてX線を放出する金属片と、
前記電子放出素子へエネルギーを供給するエネルギー供給部と、を備えるX線発生装置を用いるX線の発生方法であって、
前記エネルギー供給部から前記電子放出素子へエネルギーを供給し、前記電子放出素子に局所的な高エネルギー部分を形成する、ことを特徴とするX線の発生方法。 - 前記エネルギー供給部は紫外線を前記電子放出素子へ照射する、ことを特徴とする請求項8に記載のX線発生方法。
- 前記紫外線は300nm以下の波長を有する、ことを特徴とする請求項9に記載のX線発生装置。
- 前記紫外線をパルス状にして前記電子放出素子へ照射する、ことを特徴とする請求項9又は10に記載のX線発生方法。
- 前記電子放出素子において前記金属片と対向する面と反対側の面へ前記紫外線を照射する、ことを特徴とする請求項9〜11のいずれかに記載のX線発生方法。
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WO2013058342A1 (ja) * | 2011-10-18 | 2013-04-25 | 株式会社Bsr | 荷電粒子放射装置および同装置を用いたx線発生装置 |
US9117622B2 (en) * | 2012-08-08 | 2015-08-25 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Miniaturized high-speed modulated X-ray source |
US9520260B2 (en) * | 2012-09-14 | 2016-12-13 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Photo emitter X-ray source array (PeXSA) |
US10398014B2 (en) | 2014-10-08 | 2019-08-27 | Bsr Co., Ltd. | Method and apparatus for radiating charged particles, and method and apparatus for emitting X-rays |
GB201622206D0 (en) | 2016-12-23 | 2017-02-08 | Univ Of Dundee See Pulcea Ltd Univ Of Huddersfield | Mobile material analyser |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3090910B2 (ja) * | 1999-01-19 | 2000-09-25 | 株式会社エー・イー・ティー・ジャパン | 超小形x線発生装置 |
JP2006120582A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Hamamatsu Photonics Kk | 電子流供給装置及び供給方法 |
WO2008123301A1 (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-16 | Kyoto University | 異極像結晶を用いたx線発生装置 |
JP2009009942A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | General Electric Co <Ge> | 高圧縮電子銃用の一次元グリッド・メッシュ |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5042058A (en) * | 1989-03-22 | 1991-08-20 | University Of California | Ultrashort time-resolved x-ray source |
AU4161899A (en) * | 1998-06-04 | 1999-12-20 | Uriel Halavee | Radiotherapeutical device and use thereof |
US6319188B1 (en) * | 1999-04-26 | 2001-11-20 | Xoft Microtube, Inc. | Vascular X-ray probe |
US6195411B1 (en) * | 1999-05-13 | 2001-02-27 | Photoelectron Corporation | Miniature x-ray source with flexible probe |
US6333968B1 (en) * | 2000-05-05 | 2001-12-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Transmission cathode for X-ray production |
US20020191746A1 (en) * | 2001-06-19 | 2002-12-19 | Mark Dinsmore | X-ray source for materials analysis systems |
AU2003233600A1 (en) * | 2002-05-17 | 2003-12-02 | Niton Corporation | A calibration source for x-ray detectors |
US6882703B2 (en) * | 2002-07-31 | 2005-04-19 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Electron source and cable for x-ray tubes |
EP1493466B1 (en) * | 2003-06-30 | 2012-06-20 | Nucletron Operations B.V. | Miniature X-ray source with cryogenic cooling |
CN102602894A (zh) * | 2004-03-30 | 2012-07-25 | 国立大学法人京都大学 | 使用异极象结晶体的x 射线发生装置及使用其的臭氧发生装置 |
US7741615B2 (en) * | 2004-05-19 | 2010-06-22 | The Regents Of The University Of California | High energy crystal generators and their applications |
US7136455B2 (en) * | 2004-11-02 | 2006-11-14 | General Electric Company | Electron emitter assembly and method for adjusting a size of electron beams |
US7187755B2 (en) * | 2004-11-02 | 2007-03-06 | General Electric Company | Electron emitter assembly and method for generating electron beams |
US7085350B2 (en) * | 2004-11-02 | 2006-08-01 | General Electric Company | Electron emitter assembly and method for adjusting a power level of electron beams |
US7729474B2 (en) * | 2005-03-29 | 2010-06-01 | Kyoto University | X-ray generator using hemimorphic crystal |
DE102005043372B4 (de) * | 2005-09-12 | 2012-04-26 | Siemens Ag | Röntgenstrahler |
JP4905721B2 (ja) * | 2006-01-18 | 2012-03-28 | 国立大学法人京都大学 | 異極像結晶を用いたx線発生装置 |
DE102006024435B4 (de) * | 2006-05-24 | 2012-02-16 | Siemens Ag | Röntgenstrahler |
DE102006024436B4 (de) * | 2006-05-24 | 2013-01-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgeneinheit |
US7791019B2 (en) * | 2007-01-11 | 2010-09-07 | California Institute Of Technology | Ambient pressure pyroelectric ion source for mass spectrometry |
US7796733B2 (en) * | 2007-02-01 | 2010-09-14 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel security screening system with enhanced privacy |
DE102007035177A1 (de) * | 2007-07-27 | 2009-02-05 | Siemens Ag | Computertomographie-System mit feststehendem Anodenring |
DE102007046278A1 (de) * | 2007-09-27 | 2009-04-09 | Siemens Ag | Röntgenröhre mit Transmissionsanode |
US7960704B2 (en) * | 2007-10-15 | 2011-06-14 | Excellims Corporation | Compact pyroelectric sealed electron beam |
DE102008034584A1 (de) * | 2008-07-24 | 2010-02-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgen-Computertomograph |
EP2465331B1 (en) * | 2009-08-07 | 2016-03-23 | The Regents of The University of California | Apparatus for producing x-rays for use in imaging |
US8223925B2 (en) * | 2010-04-15 | 2012-07-17 | Bruker Axs Handheld, Inc. | Compact collimating device |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3090910B2 (ja) * | 1999-01-19 | 2000-09-25 | 株式会社エー・イー・ティー・ジャパン | 超小形x線発生装置 |
JP2006120582A (ja) * | 2004-10-25 | 2006-05-11 | Hamamatsu Photonics Kk | 電子流供給装置及び供給方法 |
WO2008123301A1 (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-16 | Kyoto University | 異極像結晶を用いたx線発生装置 |
JP2009009942A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | General Electric Co <Ge> | 高圧縮電子銃用の一次元グリッド・メッシュ |
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