NO750439L - - Google Patents

Description

Oppfinnelsen angår en opptegningsbærer på hvilken er lagret informasjon i en optisk avlesbar struktur i spor med områder og mellomliggende områder'langs sporene, hvor innvirkningen av områdene på en avlesningsstråle avviker fra de mellomliggende områder. Oppfinnelsen angår også et apparat for avlesning av en slik opptegningsbærer.

Med spor skal her forstås de spordeler som sett

på tvers av spordelenes retning ligge ved siden av hverandre. Por en rund skiveformet opptegningsbærer er sporet en spordel som strekker seg langs en omdreining av opptegningsbæreren. Et spiralformet spor er summen av til hverandre grensende kvasikonsentriske spor på en rund skiveformet opptegniggsbærer. En opptegningsbærer består av en plate på hvilken informasjonsstrukturen er anordnet eventuelt med et beskyttelsessjikt oven-på informasjonsstrukturen.

Fra norsk patentsøknad nr. 646/72 er det kjent å lagre et farvefjernsynsprogram på en opptegningsbærer som beskrevet ovenfor. F.eks. kan en rund skiveformet opptegnings-. bærer inneholde et 30 minutters program i et antall spor av hvilke det ytterste har en radius på ca. 15 cm og det innerste et radius på ca. 8 cm. Perioden i radial retning for sporene er da ca. 2yum.

Opptegningsbæreren kan avleses optisk ved at det på den optiske struktur fokuseres en avlesningsstråle idet avlesningsflekken og informasjonssporet beveges i forhold til hverandre. Avlesningsstrålen moduleres så i samsvar med rekke-følgen av områder og mellomliggende områder i sporet. Den. modulerte avlesningsstråle omformes av en strålingsfølsom detektor til et elektrisk signal fra hvilket det f.eks. kan utledes bilder og/eller lyd.

Under avlesningen av opptegningsbæreren må små de-taljer i det ovenfor nevnte eksempel i størrelsesorden av^um detekteres. Til dette formål anvendes et objektivsystem med en stor lysåpning og liten brennvidde. Objektivsystemet må sikre at avlesningsstrålen alltid er skarpt fokusert på informasjonsstrukturen. F.eks. på grunn av feil ved understøt-telsen av opptegningsbæreren eller kast på opptegningsbæreren eller som følge av vibrasjon i avlesningsapparatet, kan det hende at sporet som skal avleses beveges aksialt i forhold til objektivsystemet. Detektoren mottar da ikke bare stråling fra spordelen. som avleses, men også stråling fra denne dels omgiv-else. Som følge herav blir modulasjonsgraden for signalet som leveres fra detektoren minsket, samtidig som krysstale kan opptre fordi ikke bare et spor avleses, men også de tilgrensende spor som også bestråles. Det er derfor av viktighet å kunne fastslå avvikelse mellom fokuseringsplanet og informasjonsstrukturens plan for å muliggjøre en korreksjon av fokuseringen.

Hensikten med oppfinnelsen er under avlesning av en ' opptegningsbærer av den innledningsvis nevnte art foruten et . informasjonssignal å tilveiebringe et signal for fokuseringskorreksjon ved hjelp av et minimum av optiske elementer.

Dette oppnås ifølge oppfinnelsen ved at i det minste den ene overflate av opptegningsbæreren har periodiske ujevnheter som varierer i sporenes avlesningsretning og hvis periode er vesentlig større enn den midlere periode for områdene i sporene.

De' periodiske ujevnheter bevirker at avlesningsstrålen periodisk bringes i og ut av fokusering på planet for den spordel som skal avleses. Som følge herav leverer detektoren et signal som er modulert periodisk. Fra variasjonen av modulasjonen kan størrelsen av avvikelsen mellom den aktuelle og den ønskede posisjon av planet for spordelen som skal avleses, utledes.

Perioden for ujevnhetene må være så meget større enn den midlere periode av områdene at i det detekterte signal kan

modulasjonen som resultat av informasjonen lett skilles med hensyn til frekvens fra modulasjonen som skyldes de periodiske ujevnheter. For en opptegningsbærer som er forsynt méd et fjernsynsprogram er perioden av ujevnhetene noen hundre ganger større enn den midlere periode av områdene i sporet. Amplituden

av ujevnhetene må velges slik at informasjonsstrukturens plan alltid ligger innenfor brennvidden av objektivsystemet. Denne amplitude kan være i størrelsesorden^um.

Prinsippielt kan en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen avleses med et apparat som bare er forsynt med én avlesningsstråle og en detektor. I en elektrisk krets som er forbundet med"detektoren, skilles høyfrekvenskomponenten i det detekterte signal fra lavfrekvenskomponenten.. Disse komponenter bearbeides til et informasjonssignal og et styresignal for fokuseringskorreksjon.

For oppnåelse av styresignalet trenges ingen ekstra optiske elementer og tilpasningsproblemer .ved monteringen av avlesningsapparatet hvis ekstra elementer måtte anvendes, unngås. Videre behøver det ikke å tas noen '-ekstra foranstaltninger i avlesningsapparatet for å kompensere for vibrasjoner som kan opptre mellom ekstra optiske elementer under avlesningen.

Det skalbemerkes at U.S.-patentskrift nr. 3. 67J>. Hl2 angir at under avlesning av en opptegningsbærer forsynt med en optisk informasjonsstruktur, kan det utledes både informasjonssignal og styresignal for fokusering av avlesningsstrålen fra det signal som leveres av en enkelt detektor. I dette kjente apparat blir en svingende bevegelse i en retning vinkelrett på opptegningsbæreren påtrykt strålingskildenf.som leverere avlesningsstrålen. Som følge herav blir avlesningsstrålen periodisk fokusert og brakt ut av fokus på informasjonsstrukturen. Da det imidlertid anvendes mekaniske hjelpemidler blir hjelpefrekvensen for svingningen forholdsvis lav, for lav til å anvendes for avlesning av en opptegningsbærer med stor in-formasjonstetthet, f.eks. en opptegningsbærer med et fjernsynsprogram. Videre er det kjente apparat temmelig komplisert som føl-e av de mekaniske svingemidler.

Oppfinnelsen skal nedenfor forklares nærmere under henvisning til tegningen. Fig. 1 viser et grunnriss av en del av en kjent rund skiveformet opptegningsbærer. Fig. 2 viser skjematisk et apparat for avlesning av en opptegningsbærer... Fig. 3 viser et tangentialt tverrsnitt gjennom en liten del av en rund plateformet opptegningsbærer ifølge opp-

finnelsen.

Fig. 4 viser et grunnriss av en slik opptegningsbærer. Fig. 5a,5b og 5c tjener til forklaring av prinsippet som oppfinnelsen er basert på. Fig. 6 viser tidskurver for signaler som utledes fra opptegningsbæreren ifølge oppfinnelsen for forskjellig inn-stilling av avlesningsobjektivet. Fig. 7 viser skjematisk noen utførelser på en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen. Fig. 1 viser en opptegningsbærer 1 med et antall

•konsentriske eller kvasikonsentriske spor 2 av hvilke bare noen er vist. Mellom informasjonssporet befinner det seg et struk-turløst mellomrom 3. Sporene 2 omfatter et antall områder g som veksler med mellomliggende områder t. Lengden av områdene og de mellomliggende områder representerer den lagrede informasjon. Under avlesningen av et spor blir en avlesningsstråle modulert slik at strålen meddelee tidsavhengige variasjoner i samsvari-eme.d rekkefølgen av områder og mellomliggende områder i et spor. Områdene i et spor kan skilles fra de mellomliggende områder og mellomrommet mellmm sporene på forskjellig måte. F.eks. kan områdenes gjennomtrengelighetskoeffisient eller re-fleks jonskoef f isient for strålingen være forskjellig fra de mellomliggende områder, slik at en avlesningsstråle amplitude-moduleres. Alternativt kan avlesningsstrålen fasemoduleres ved hjelp av områdene og de mellomliggende områder. Defite kan oppnås ved å anordne områdene og de mellomliggende områder i for-skjellige nivåer i opptegningsbæreren. Fortrinnsvis består en

slik fasestruktur av et antall fordypninger som er presset inn i en reflekterende opptegningsbærer i en dybde-på A/4, hvor

X er bølgelengden for strålingen som anvendes for avlesning.

En slik struktur kan f.eks. avleses med en strålingsflekk V på fig. 1 hvis diameter er større enn sporets bredde, men mindre enn summen av bredden av ett spor og to mellomrom mellom sporene.

Fig. 2 viser et apparat for avlesning av en opptegningsbærer. Avlesningsstrålen leveres av en kilde .6 og reflek-teres på en objektivlinse 8 ved hjelp av et delvis gjennomtrenge-lig speil 7. Objektivlinsen projiserer en avlesningsflekk V på den optiske struktur som inneholder informasjonen i sporet 2. Den optiske struktur er i dette "tilfellet vist på.den øvre

flate av opptegningsbæreren. Ved refleksjon av informasjonsstrukturen passerer avlesningsstrålen objektivlinsen 8 for 'annen- gang og strålen konsentreres da på en strålingsfølsom detektor 9 via det delvis gjennomtrengelige speil 7. Utgangs-signalet fra detektoren 9 tilføres en elektronisk krets 10 i hvilken detektorsignalet bearbeides til et informasjonssignal Si som f.eks. tilføres en vanlig farvefjernsynsmottaker.il. Hvis strålingsflekken projiseres på et område g på. opptegningsbæreren vil strålingen bli avbøyet slik at en vesentlig del av den reflekterte stråling faller utenfor åpningen av objektivlinsen 8 og dermed utenfor den strålingsfølsomme området av' detektoren

9. Når strålingsflekken projiseres utenfor et område G på

opptegningsbæreren, vil mesteparten av den. reflekterte stråling være konsentrert på detektoren ved hjelp av objektivlinsen. Opptegningsbæreren kan roteres ved hjelp av en aksel 5 som strekker seg gjennom en sentral åpning 4 i ppptegningsbæreren. Ved å bevege avlesningsflekken over et spor, moduleres detektorsignalet i samsvar med rekkefølgen av områder og mellomliggende områder i sporet.

Under avlesningen kan det opptre avvikelser mellom den aktuelle og den ønskede posisjon av nsporets plan. Slike avvikelser kan-skyldes at opptegningsbæreren ikke er plan i tilfelle av runde folielignende opptegningsbærere, som følge av bølgebevégelse som opptrer under rotasjon av opptegningsbæreren;

Slike avvikelser kan resultere i en svekket modulasjonsgrad i det detekterte signal samtidig som det kan opptre krysstale. Som følge derav er det ikke lenger mulig å avleses opptegningsbæreren riktig." Det er derfor viktig at avvikelsen mellom aktuell og ønsket posisjon av sporets plan kan detekteres.

Ifølge oppfinnelsen kan en slik avvikelse detekteres uten anvendelse av ekstra optiske elementer. I den hensikt blir en flate av opptegningsbæreren forsynt med periodiske ujevnheter<p>g retningen av perioden av disse ujevnheter er den samme smm avlesningsinnretningen for sporet.

Fig. 3 viser en utførelse av en opptegningsbærer . ifølge oppfinnelsen i tangentialt tverrsnitt. Bare en del av et

spor er vist. Opptegningsbæreren antas å være en tynn, folielignende opptegningsbærer. Områdene g som representerer informasjonen, og de mellomliggende områder t er anbrakt på over-siden av opptegningsbæreren. Undersiden av opptegningsbæreren er forsynt med en ujevn overflate. Fig. 4 viser hele opptegningsbæreren sett fra undersiden. De radiale linjer 1 forbinder punkter med samme høyde på. overflaten av opptegningsbæreren.

Det.skal bemerkes at på fig. 3 er lengden av. områdene og de mellomliggende områder overdrevet i forhold til perioden p for ujevnhetene. I virkeligheten er perioden.^p hundre til tusen ganger større enn den midlere periode for områdene g. Når på fig. 4 alle toppene av overflaten er forbundet i radial retning, vil antallet linjer måtte være. hundre til tusen.

Virkningen av den ujevne flate på undersiden av opptegningsbæreren er vist på fig. 5a, 5b og 5c. Her er vist et tverrsnitt hvor fig. 5b viser at avlesningsstrålen er fokusert på den øvre flate av opptegningsbæreren hvor informasjonsstrukturen antas å befinne seg, nemlig ved hjelp av objektivlinsen 8. En avlésningsflekk V av minimal størrelse er da avtegnet på den øvre flate av opptegningsbæreren. Tykkelsen d' for en del av opptegningsbæreren er vist på fig. 5a og denne tykkelse er mindre enn tykkelsen g på fig. 5b. Fokuseringsplanet for objektivlinsen 8 ligger da inne i selve opptegningsbæreren. ,Avlesningsflekken V på den øvre flate av opptegningsbæreren er større enn avlesningsflekken V. På fig. 5c er tykkelsen d" og er meget større enn d på fig. 5b. Fokuseringsplanet for objektivlinsen ligger nå over den øvre flate av opptegningsbæreren og avlesnings flekken V" er større enn avlesningsflekken V på fig. 5b.

Som.følge av de periodiske ujevnheter på overflaten av opptegningsbæreren, blir avlesningsstrålen periodisk fokusert og brakt ut av fokusering på planet for informasjonsstrukturen. Det resulterer i at modulasjonsgraden for detektorsignalet vil endres periodisk med en lav frekvens som vist på

fig. 6. Her er detektorsignalets styrke I varierende som funk-sjon av tiden når avlesningsflekken beveges over sporet i avlesningsretningen. Det antas at avlesningsstrålen er fokusert på et nivå m som er den midlere nivå for den ujevne overflate. Pulser med en'pulsbredde og en pulsavstand svarende til informasjonen blir da amplitudemodulert av den ujevne overflate. Fra

detektorsignalet kan det da utledes en lavfrekvenskomponent svarende til kurven S på fig. 6.

Hvis avlesningsstrålen ikke er fokusert på nivået m, men på nivået rn', vil lavfrekvenskomponenten være represen-tert ved kurven S' på fig. 6. Mens S båre har en frekvens som svarer til to ganger konturfrekvénsen for de periodiske ujevnheter, har S<1>også en grunnfrekvens svarende til kontorfrekvens-en for de periodiske ujevnheter. Det øyeblikk i hvilket kurven S<*>har sitt maksimum, forskyves med et tidsintervall t^ i for-holdt til de tidspunkter da kurven S har sine maksima. Når avlesningsstrålen er fokusert på nivået m" vil lavfrekvensJsompo-nenten ha en form svarende til kurven S". Denne komponent har også en grunnfrekvens mén i motsatt fase av kurven S', slik at tidsintervallene i hvilke maksima opptrer, er forskjøvet med et tidsintervall t2i forhold til de øyeblikk i hvilke maksima for kurven S opptrer. Forskyvningen er imidlertid motsatt av forskyvningen av kurven S'. Størrelsen av defokuseringen hvis

overhodet noen, kan hutledes fra.amplituden av lavfrekvenskomponenten i detektorsignalet.

I en elektronisk krets 10 på fig. 1 som er forbundet med detektoren, kan det utledes en høyfrekvenskomponent og en lavfrekvenskomponent, og lavfrekvenskomponenten kan bearbeides til et styresignal Scsom anvendes for korreksjon av fokuseringen. Signalet Sc muliggjør f.eks. endring av brennvidden for objektivlinsen 8. Objektivlinsen kan alternativt være opphengt i en høyttalerspole og signalet S kan tilføres denne spole slik at objektivlinsen kan beveges. '

Som det fremgår av fig. 6 kan retningen av en defokusering. utledes■fra lavfrekvenskomponenten av detektorsignalet. Fasen av komponenten må da sammenlignes med en refe-ransefase. For dette formål kan opptegningsbæreren f.eks. være forsynt med en ekstra fasereferansemarkering f.eks. punkter.' med maksimal ujevnhet på overflaten pr. omdreining. Denne mar-kering kan detekteres av et særskilt avlesningshode, og kan f.eks. være mekanisk, magnetisk eller optisk. I tilfelle av en rund plateformet opptegningsbærer kan referansemarkeringene være anordnet i et særskilt'spor ved den indre eller ytre omkrets av opptegningsbæreren.

Under fremstillingen av opptegningsbæreren er det mulig å tilveiebringe et fast forhold mellom variasjonene av de periodiske ujevnheter og beliggenheten av informasjonen i sporene, idet referansemarkeringene kan anbringes i informa-sjonssporene f.eks. på steder som svarer til linjesynkroni-seringspulsene hvis et fjernsynsprogram er lagret på opptegningsbæreren.

På fig. 7 er informasjonsstrukturen vist med en streket linje. Den umodulerte avlesningsstråle er vist som en enkel pil og den modulerte avlesningsstråle er vist som en dobbeltpil. På fig. 7a, b og c er informasjonsstrukturen strålingsgjenpomtrengelig mens den på fig. 7d,e og f er strålingsreflekterende. Amplituden av den periodiske defokusering

som skyldes de periodiske ujevnheter er:

i tilfellet a og,b, proporsjonal med i tilfellet b og c, proporsjonal me<

og i tilfellet c og f proporsjonal med b, hvor n^er brytnings-indéksen for materialet i opptegningsbæreren,

n n er brytningsindeksen for det omgivende medium, og b representerer amplituden av de periodiske ujevnheter.

Por de fleste opptegningsbærermaterialer er brytningsindeksen ca. 1,5. Hvis opptegningsbæreren befinner seg i

luft og amplituden av den periodiske defokusering er:

I tilfellet a og d, proporsjonal med 1/3 b,

i tilfellet b.og e, proporsjonal med 2/3 b, og i tilfellet c og f proporsjonal med b.

Por å oppnå: samme virkning må amplituden av ujevnhetene av tilfellene a og d være tre ganger større enn i tilfellene c og f. I tilfellene a og d hvor informasjonen ikke er lagret på den ujevne overflate, kan bare velges i tilfellet av en tynn opptegningsbærer, f.eks. en f&lie. Diameteren, av avlesningsstrålen må'..'være liten i forhold til perioden av ujevnhetene. Hvis avlesningsstrålen er fokusert på en informasjonsstruktur som ikke befinner seg på den ujevne overflate slik som i tilfellene a og d, må diameteren av strålen på den ujevne overflate være større enn i tilfelle av en tykk opptegningsbærer.

Når det gjelder amplituden av ujevnhetene på den ujevne overflate, skal det bemerkes at variasjonene må holdes innenfor brennvidden for objektivlinsen. Amplituden er bestemt av de tillatte variasjoner i modulasjonsgraden for.detektorsignalet som.påtrykkes avlesningsstrålen av ujevnhetene.

En opptegningsbærer med en reflekterende informasjonsstruktur er å foretrekke overfor en opptegningsbærer med

strålingsgjennomtrengelig informasjonsstruktur, fordi mindre opptiske'elementer ér nødvendig i avlesningsapparatet. Noen av de optiske elementer passeres to ganger, slik at vibrasjoner mellom disse elementer ikke har noen virkning' på detektorsignalet. Fortrinnsvis anvendes en tykk opptegningsbærer i samsvar med fig. 7e. Selve opptegningsbæreren tjener da som et be-skyttende sjikt for informasjonen og sikrer at riper, støv-partikler og lignende praktisk talt ikke har noen innvirkning på avlesningen. På informasjonsstrukturen på opptegningsbæreren på fig. 7d og f kan det anordnes et ekstra beskyfctende sjikt.

Det er klart at den periodiske fokusering og defokusering også kan frembringes ved ujevnheter på to overflater av en.opptegningsbærer som avleses gjennom opptegningsbæreren.

I stedet for sinusformede variasjoner av ujevnhetene som vist på figuren er det naturligvis også mulig å velge avvikende utforming av ujevnhetene som f.eks. sagtannform. Oppfinnelsen er naturligvis ikke begrenset til en rund platefoatmet opptegningsbærer, men kan også anvendes for andre"opptegningsbærere som f.eks. båndformet opptegningsbærer.

Videre er ikke oppfinnelsen begrenset til spesiell type av informasjon. I stedet for et fjernsynsprogram kan det også.lagres andre data på opptegningsbæreren som f.eks. foto-grafiske data og digital informasjon.

Foreliggende oppfinnelse kan også anvendes ved en opptegningsbærer som foreslått i norsk patentsøknad nr. 7^3710 hvor sporene sideveis har periodiske ujevnheter hvis periode er vesentlig større (f.eks. 1000 ganger større) enn den midlere periode av områdene i sporene, mens amplituden av ujevnhetene

er mindre (f.eks. 5 ganger mindre) enn bredden av sporene. En slik opptegningsbærer med slygning på sporene kan avleses ved

hjelp av bare en avlesningsstråle og en detektor. Informasjonen kan utledes av høyfrekvenskomponenten i det detekterte signal, mens lavfrekvenskomponenten gir en indikasjon på stør-relsen og retningen av en mulig mistilpasning av avlesningsstrålen i forhold til.sporet som avleses.

Hvis ifølge oppfinnelsen opptegningsbæreren er forsynt med spor med periodiske ujevnheter i sporets plan og med en overflate som har periodiske ujevnheter, kan et mindre antall optiske elementer anvendes både for avlesning av -informasjonen og for utledning av styresignaler for fokusering av avlesningsstrålen' og sentrering av avlesningsflekken. Det kan da anvendes et apparat som vist på fig. 2 hvor det elektriske signal fra detektoren inneholder både informasjonen og en indikasjon på graden av mistilpasning av avlesnings flekksn og fokuseringen av avlesningsstrålen.

Hvis bare en detektor anvendes for avlesning av opptegningsbæreren med slyngede spor og en ,ujevn overflate, må det sørges for at konturfrekvensene av svingningene og ujevnhetene i overflaten er tilstrekkelig forskjellig, slik at det mulig-gjøres riktig atskillelse av signalet for fokuseringsstyringen og for innstillingen av den elektroniske krets. Frekvensene for de elektriske styresignaler må ha en innbyrdes avstand som svarer f.eks. til styresignalets båndbredde i den elektroniske krets .10. Videre må det sørges for at konturfrekvensene for svingningene i sporet og ujevnhetene av overflaten ikke har felles harmoniske.

Detekteringen av fokuseringen av avlesningsstrålen som beskrevet ovenfor kan bare anvendes når avvikelsen i av-standen mellom planet for informasjonsstrukturen og objektivlinsen 18 ikke er forator. Ifølge oppfinnelsen.kan det imidlertid anvendes en grovfokuseringsstyring ved egnet valg av stør-relsen av detektoren og ved måling f.eks. av likestrømskompo-nenten i det detekterte signal. Likestrømskomponenten i det detekterte signal har hovedsakelig lineære variasjoner innenfor et bestemt område (f.eks. 10-40^um) av avvikelsene mellom det aktuelle og det ønskede fokuseringsplan, hvis den strå-lingsfølsomme flate av detektoren har tilstrekkelige dimen-sjoner (f.eks. 0,4 x 0,4 mm). Ved måling av likestrømskompo-nenten i den elektroniske krets og sammenligning av denne med en referanseverdi kan anvendes for grovstyring. En slik grovstyring er f.eks. nødvendig ved begynnelsen av en avlesning etter anbringelsen av opptegningsbæreren i avlesningsapparatet.

Claims (7)

1. Opptegningsbærer på hvilken er lagret informasjon i en optisk avlésbar struktur i spor med områder og mellomliggende områder langs sporene, hvor innvirkningen avoområdene på en avlesningsstråle avviker fea de mellomliggende områder, karakterisert ved at i det minste den ene overflate av opptegningsbæreren har periodiske ujevnheter som varierer i sporenes avlesningsretning og hvis periode ér vesentlig større enn den midlere periode for områdene i sporene.

2. Opptegningsbærer ifølge krav 1, som er plateformet, hvor den optisk avlesbare struktur er strålingsreflekterende, platematerialet er strålingsgjennomtrengelig, og den overflate som vender bort fra den optisk avlesbare struktur danner både innfallsplan og utfallsplan for avlesningsstrålen, karakterisert ved at den overflate som har den strålings-ref lekterende struktur har de periodiske ujevnheter.

3. Opptegningsbærer ifølge krav 1, i':form av en' tynn plate eller folie, hvor den optiske avlesbare struktur er strålingsreflekterende, platematerialet er strålingsgjennomtrengelig, og den overflate som vender bort fra den optisk avlesbare struktur danner både innfallsplan og utfallsplan for avlesningsstrålen, karakterisert 'ved at den overflate som vender bort fra den optisk avlesbare struktur har de periodiske ujevnheter. -

4. Opptegningsbærer ifølge krav 1,2 eller 3, hvor sporene vinkelrett på avlesningsretningen også har periodiske ujevnheter hvis periode er vesentlig større enn den midlere periode for områdene i sporene ognamplituden er mindre enn bredden av sporene, karakterisert ved at kontur-frekvensen for de to typer ujevnheter har tilstrekkelig innbyrdes avstand og ingen felles harmoniske.

5. Apparat for avlesning av en opptegningsbærer ifjElge krav 1, 2 eller 3, omfattende en strålingskilde som leverer en avlesningsstråle, og en strålings følsom detektor for omforming av avlesningsstrålen, som er modulert i samsvar med rekkefølgen av områder og mellomliggende områder.i sporet, til et elektrisk signal, karakt,erisert ved detektorens utgang er forbundet med en elektronisk krets hvor det fra detektorsignalet utledes en høyfrekvens- og en lavfrekvenskomponent som bearbeides til et informasjonssignal, og et styresignal for korrigering av avlesningsstrålens fokusering.

6. Apparat ifølge krav 5, for avlesning av en opptegningsbærer ifølge krav k, karakterisert ved at det i den elektroniske krets fra lavfrekvenskomponenten foruten et signal for korrigering av avlesningsstrålens fokusering, utledes et signal for korrigering av avlesningspunktets posisjon i forhold til sporet som avleses.

7. Apparat ifølge krav 5, karakterisert ved at det i den elektroniske krets, fra detektorsignalet, utledes en likestrømkomponent som bearbeides til et grovstyre-signal for korrigering av avlesningsstrålens fokusering.