NO750416L - - Google Patents

Description

Oppfinnelsen angår en opptegningsbærer på hvilken er lagret informasjon, f.eks. video- og/eller lydinformasjon,

en optisk avlesbar struktur i spor med områder hvis innvirkning på ert avlesningsstråle avviker fra mellomliggende områder og avgrensningen mellom sporene, hvilken informasjon ligger i

områdenes konturfrekvens. Oppfinnelsen gjelder også et apparat for avlesning av en slik opptegningsbærer.

Med spor skal her forstås spordeler sett i sideveés retning av spordelene som ligger ved siden av hverandre. Por en rund skiveformet opptegningsbærer er sporet en del som tilbake-legges ved en omdreining av opptegningsbæreren.. Et spiralformet spor er summen av kvasikonsentriske spor som omgir hverandre på en rund skiveformet opptegningsbærer.

Det.er tidligere foreslått blant annet i Philips' Technical Review bind 33, nr. 7, side 177-193 å opptegne et farvefjernsynsprograrc ppå en opptegningsbærer som beskrevet ovenfor. Repetisjonsfrekvensen for områdene som består av for-dypninger som er presset inn i opptegningsbærerens overflate, inneholder informasjon om luminanssignalet, mens farve- og/eller

lydsignalene utledes fra modulasjonen av områdenes lengde. Por riktig avlesning av sporene må de ha tilstrekkelig innbyrdes avstand for at sporene skal kunne skilles lett fra hwerandre og lett kan følges, og at ingen krysstale opptrer mellom til hverandre grensende spor under avlesningen. Som følge herav kan bare en del av en opptegningsbærer anvendes for lagring av bruk-bar informasjon.

I stedet for å anvende hele områdene på opptegningsbæreren er det også mulig bare å markere overgangene mellom områdene og mellomrommene på opptegningsbæreren ved hjelp av så kalte standardområder av prinåippielt samme lengde. Informasjonen ligger da i avstandene mellom sentrene for disse standardområder. Den midlere konturfrekvens for disse standardområder er det dobbelte av områdenes. For en rund opptegningsbærer hvor samme mengde informasjon er lagret i et indre spor som i et spor ved den ytre omkrets av opptegningsbæreren, kan standardområdene komme til å ligge så tett at de ikke lenger kan detekteres med tilfredsstillende oppløsning.

Hensikten med oppfinnelsen er å tilveiebringe en løsning på de to ovenfor nevnte problemer. Dette oppnås ifølge oppfinnelsen ved at områdene omfatter minst to typer gitterverk hvis gitterlinjers retning er forskjellig.

I dette tilfellet kan gitterverkene i to til hverandre grensende spor være av forskjellig type. Ved avlesning av et spor tjener da de tilgrensende spor på hver sin side av sporet til avgrensning av sporet. Dette muliggjør lagring av tilnærmet to ganger informasjonstettheten på en opptegningsbærer.

Etter hverandre følgende gitterlignende områder i et spor kan være av forskjellig type, slik at områdene kan detek-. teres med tilfredsstillende oppløsning hvorved det oppnås

større konturfrekvens.

Anvendelse av gitterverk har den ytterligere fordel at retningen i hvilken avlesningsstrålen avbøyes er bestemt, slik at detekterte signal?blir hovedsakelig upåvirket av riper, støvpartikler eller lignende på opptegningsbæreren.

Hvis gitterverkene virker som standardområder, kan antallet gitterlinjer pri,gitterverk begrenses f„eks, til bare to eller endog en.

I Journal of the Optical Society of America, bind 53

(1963), side 1351 finnes en artikkel "Theta Modulation in

Optica, the use of gratings with differently oriented grating lines for informafeionsjstorage purposes". Her er retningen aV gitterlinjene bestemt av amplituden av informasjonssignalet, mens på opptegningsbæreren ifølge oppfinnelsen er informasjonen opptegnet i konturfrekvensen for områdene og lengden av disse områder.

Oppfinnelsen skal nedenfor beskrives nærmere under henvisning til tegningene.

Fig. 1 viser skjematisk en del av en kjent optisk

informasjonsstruktur på en opptegningsbærer.

Fig. 2 og 3 viser skjematisk en del av to ut-førelsesekserapler på optisk informasjonsstruktur ifølge oppfinnelsen. Fig.<*>*>5og 6 viser skjematisk prinsippet for avlesning av en informasjonsstruktur ifølge oppfinnelsen.

Ffeg.7 viser skjematisk et utførelseseksempel på et apparat ifølge oppfinnelsen for avlesning av en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen.

Fig. 1 viser en del av en optisk informasjonsstruktur på en opptegningsbærer 1 som skal avleses, nemlig en rund opptegningsbærer. På opptegningsbæreren er anordnet et antall områder g i spor 2. Områdene har forskjellig innvirkning på en avlesningastråle som faller på opptegningsbæreren, i forhold til de mellomliggende områder t og det strukturløse mellomrom 3 mellom sporene. Sporene kan være konsentriske med sentrum i opptegningsbærerens sentrum. Opptegningsbæreren kan alterna-tivt være forsynt med ett kontinuerlig spiralformet spor.

For avlesning av opptegningsbæreren rettes en avlesningsstråle på en strålingsfølsom detektor via opptegningsbæreren og opptegningsbæreren roterer, slik at avlesningsstrålen moduleres i samsvar med rekkefølgen av områder og mellomliggende områder i spøret som avleses.

Den optiske struktur kan være strålingsgjennomtrengelig eller reflekterende, dvs. at avlesningsstrålen moduleres ved passering gjennom opptegningsbæreren eller ved reflek-sjon fra opptegningsbæreren.

Områdene kan være slik at de påvirker avlesningsstrålen på forskjellig måte. Områdene i ett spor kan være av en type ørnens områdene i tilgrensende spor kan være av en annen Jtype som f.eks, vist på fig. 2. Under avlesningen av det første spor 2 påvirker ikke områdene g' i det andre spor 2' avlesningsstrålen slik at det sistnevnte spor virker som et mellomrom i likhet med mellomrommet 3 på fig. 1. Sporet 2r inneholder imidlertid utnyttbar informasjon. Under avlesning av sporet 2<*>virker det tilgrensende spor 2 som mellomrom. Det skal bemerkes at en opptegningsbærer ifølge fig. 2 kan inneholde dobbelt så

meget informasjon som en opptegningsbærer ifølge fig. 1. På opptegningsbæreren ifølge figi 1 og 2 er in-,

formasjonen lagret i overgangen mellom områdene og de mellomliggende, områéer. Por å hindre at variasjoner av parameterne under fremstillingen av opptegningsbæreren skal påvirke signalet som avleses fra opptegningsbæreren senere,kan overgangene mellom områdene og de mellomliggende områder i sporet f.eks. være bestemt av. såkalte standardområder, f.eks. i form av

sfeandard lysavbøyende elementer. Under avlesningen bestemmes avstanden mellom sentrene for disse standardområder, og disse avstander er hovedsakelig uavhengig av mulige variasjoner av parameterne under fremstillingen av opptegningsbæreren. Konturfrekvensen for standardområdene er dobbelt så stor som konturfrekvensen for områdene g og g' på fig. 1 og 2. På en rund skiveformet opptegningsbærer hvor hvert spor inneholder samme mengde informasjon, er konturfrekvensen for områdene i det

innerste spor av opptegningsbæreren større (f.eks. med en faktor 3) enn for områdene i det ytterste spor. Por en tilstrekkelig

mengde informasjon pr. omdreining må standardområdene i det innerste spor anbringes nærmere hverandre. Por at standardområdene' iskal kunne detekteres med tilstrekkelig oppløsning, må etter hverandre følgende standardområder ifølge oppfinnelsen ha forskjellig form som f.eks. vist på fig. 3.. Denne figur viser bare det ytterste spor og det innerste spor. Det skal bemerkes at lengden av områdene særlig lengden av standardområdene i det innerste spor på fig. 3 er vist overdrevet i forhold til sporefc-es radius. Da etter hverandre følgende standardområder iakt-tas av forskjellige detektorer, kan områdene anordnes meget nær hverandre og endog inntil hverandre.

Områdene g og g<1>på fig. 2 og standardområdene s og s' på fig. 3 består av gitterverk. Retningen av gitterlinjene i området g og standardområdene s avviker fra retningen av gitterlinjene i området g' resp. standardområdene s<*>. Fortrinnsvis står disse retninger vinkelrett på hverandre for å sikre maksimal skilleevne mellom stråling som stammer fra de forskjellige typer gitterverk. For å minske virkningen av av-bøyning av strålingen på kantene av sporet, danner gitterlinjene fortrinnsvis en vinkel på ca. ^5° med sporets lengderetning. Hvis informasjonen ligger i gitterverkets lengde, må antallet gitterlinjer pr. gitterverk være tilstrekkelig stort til å muliggjøre at begynnelsen og slutten av gitterverket kan detekteres med tilstrekkelig nøyaktighet. Hvis informasjonen ligger i avstanden mellom sentrene for gitterverkene, er lengden av gitterne ikke lenger av vitøighet, og et lite antall linjer pr. gitterverk, fortrinnsvis to og endog en, kan være tilstrekkelig.

Fig.. H og 5 viser hvorledes en reflekterende informasjonsstruktur som består av gitterverk kan avleses. Fig.

k viser en del av en opptegningsbærer i tverrsnitt, mens fig.

5 viser én del av et informasjonsspor sett ovenfra.

Ved hjelp av en linse 6 blir strålingen fra en strålingskilde 5 fokusert til en strålingsflekk V på et spor. Når strålingen faller inn på et mellomliggende område t, vil strålingen bli reflektert. Hvis strålingsflekken projiseres på et gitterformet området s, vil imidlertid strålingen bli avbøyet, f.eks. mot detektorene og D2som vist på fig. 'I. Retningen i hvilken strålingen blir .avbøyet er bestemt av retningen av gitterlinjene. Fig. 5 viser den innbyrdes orientering av gitterne s og s<1>og de strålingsfølsomme flater av fire detektorer.

Gitterverket s samvirker med to detektorer, f.eks. detektorene og Y>2på fig. '4 hvis strålingsfølsomme flater er orientert i samarvar med a og b, mens detektorene hvis strålingsfølsomme flater er orientert i samsvar med c og d samvirker med gitterverket s<*>. Strålingen som treffer detektorene hvis flater er oriaatert i samsvar med a og b, påvirkes ikke av tilstedeværelsen av gitterverket s'. Gitterverkene s og sf kan være anbrakt meget nær hverandre.

Ved avlesning av en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen er det bare nødvendig å fastslå om et gitterverk med en bestemt linjeorientering er til stede. Det er ikke nødvendig å avbilde noe gitterverk. Det optiske system for avlesnings-apparatet kan derfor være meget enkelt og billig. Linsen 6 er f.eks. en linse med en åpning på 0,3 og denne linse avbilder en avbøyet strålingsflekk på opptegningsbæreren.

Det er klart at oppfinnelsen kan anvendes også i forbindelse med en strålingsgjennomtrengelig opptegningsbærer. Detektorene f. eks. detektorene D-^og D2på fig. H kan da være anbrakt på den ene side av opptegningsbæreren mens strålings-kilden som leverer avlesningsstrålen er anordnet på den motsatte side.

Detektorene er anordnet slik at de bare iakttar strukturer på stedet for avlesnings flekken som strekker seg i en bestemt retning. Mulige riper, støvpartikler etc. på opptegningsbæreren vil bare gjøre seg gjeldende hvis deres orientering er den samme som orienteringen av gitterlinjene. Denne metode for avlesning er derfor vesentlig mindre følsom for riper, støvpartikler etc. på opptegningsbæreren.

Som beskrevet i Philips' Technical Review bind 33, nr. 7, side 177"1'93 kan et farvefjernsynssignal opptegnes i en fordypningsstruktur som kan avleses ved hjelp av en avlesningsstråle hvis diameter på stedet for strukturen er større enn spor-bredden. Avlesningsstrålen fra opptegningsbæreren er konsen-trert på en detektor ved hjelp av en linse med en slik åpning at den ikke kan'avbilde en fordypning. Fordypningene virker som avbøyningsstruktur. Sammenlignet med en slik fordypningsstruktur har gitterstrukturen den fordel at signal-støyforholdet er bedre, fordi bare strålingen som avbøyes i en bestemt retning detekteres.

For optimal avlesning av en fordypningsstruktur, hvis avlesningsstrålen er rettet på en fordypning,må strålingen som kommer fra bunnen av fordypningen og fra den tilgrensende

flate av opptegningsbæreren ha en faseforskjell på l80° og må ha samme styrke. Som følge herav må dybden av fordypningene være nøyaktig'innen meget snevre grenser. Dimensjonene av avlesningsflekken og fordypningene må -være tilpasset hverandre.

En avlesnings flekk som optimalt kan avlese et ytterste spor i

en rund skiveformet opptegningsbærer kan ikke uten videre være egnet for riktig avlesning av det innerste spor hvis fordypning-er i middelverdi er kortere enn fordypningene i det ytterste spor.. For riktig avlesning av alle spor må det innerste spor f.eks. gjøres bredere enn det ytterste spor. Som følge av den av-vikende metode for avlesning er problemene i forbindelse med fordypningsstrukturen ikke lenger aktuell i det tilfellet at informasjonsstrukturen består av gitterverk med gitterlinjer i spesiell orientering.'

Som vist på fig.. 4 og 5 kan det anvendes to strå-lingsfølsomme detektorer for hver orientering av gitterlinjene for å oppnå størst mulig elektrisk signal. ' For å hindre at detektorene i tillegg til strålingen fra avlesningspunktet som er avbøyet av gitterverket, påvirkes av annen stråling som

reflekteres fra opptegningsbæreren, kan strålingspunktet avbildes på detektorene D- L og D2ved hjelp av linser 7 og 8. I stedet for tre separate linser 6,7,8 er det også mulig å anvende en linse 6' med en større åpningsvinkel enn linsen 6 og som er anbrakt på stedet for linsen 6 som vist på fig. 6.

Den sentrale del av linsen 6' anvendes for projeksjon av avlesningsflekken V på opptegningsbæreren, mens den perifere sone av linsen avbilder gitterverkene på detektorene. Elementet 9 er et speil som reflekterer en stråle som faller inn med en bestemt vinkel på tegningens plan mot linsen 6'. Prismene 4 og 4' sikrer at strålene som avbøyes av opptegningsbæreren 1 treffer de to detektorer D og D^.

I stedet for to detektorer for hver gitterorientering, er det også mulig å anvende en kombinasjon av en detektor og egnede linseelementer for hver gitterorientering som vist på fig. 7.

Her er opptegningsbæreren 1 båret av en roterende aksel 30 som drives av en ikke vist motor, og akselen strekker seg gjennom en sentral åpning 10 i opptegningsbæreren. Strålingen 20 fra kilden 5 er fokusert på opptegningsbæreren ved hjelp av en linse 6. Strålingen som avbøyes fra områdene med spesiell gitterorientering, 21, passerer ringformede linseelementer 11 og 12 som er anordnet rundt linsen 6 og som konsentrerer strålingen på en detektor 15. Detektoren leverer et

elektrisk signal som er modulert i samsvar med rekkefølgen av

de gitterformede områder i sporet som avleses, og strålingen avbøyes mot linseelementene 11 og 12. Signalene tilføres en elektronisk krets 17 som på kjent måte utleder et video- og/ eller lydsignal S^som tilføres en vanlig fravefjernsynsmot-taker 18. Bearbeidelsen av de detekterte signaler til informasjonssignal i kretsen 17 ligger utenfor området av forelig-gende oppfinnelse og'skal ikke beskrives nærmere her.

Rundt linsen 6 er anordnet to ytterligere linse-eleraenter 13 og I*». Disse linseelementer kan konsentrere strålingen 22 som avbøyes av gitterverk hvis gitterlinjer har en orientering som avviker fra orienteringen av gitterverket som avbildes på detektoren 15 ved hjelp av linseelementene 11 og 12, og retter den avbøyede stråling på detektoren 16. Detektoren 16 er også forbundet med den elektroniske krets 17. Linseelementene 11 og 12 representerer deier av en linse hvis sentrum er forskjøvet i forhold til den optiske akse 0-0'. Linseelementene 13 og lb er deler av en annen linse hvis sentrum er forskjøvet enten på den optiske akse 0-0' eller forskjøvet i forhold til denne akse, men i en annen retning enn sentrum for linsen som er dannet av elementene 11 og 12.

Apparatet på fig. 7 er egnet for avlesning av en opptegningsbærer som er forsynt med gitterformede områder hvor

gitterlinjene har forskjellig orientering. For avlesning av et spor med standard områder, hvor etter hverandre følgende gitterverk er orientert forskjellig, må dé to detektorer 15 og 16 anvendes og signalene fra disse detektorer må kombineres i

kretsen 17. Hvis gitterlinjene i gitterverkene i ett spor har en orientering og gitterlinjene i gitterverkene i de tilgrensende spor har en annen orientering, er det nødvendig med to detektorer 15 og 16 for avlesning av hele informasjonen på opptegningsbæreren. Avlesningen av ett spor krever imidlertid bare én detektor.

I det sistnevnte tilfellet er det mulife at de tilgrensende spor kan avleses i tur og orden. Hver gang etter at et spor er avlest er det nødvendig å kople om fra den ene detektor til den andre. Det er også mulig at et første kvantum informasjon lagres i et første spiralformet spor hvor områdene har en første gitterorientering og at det mellom sporene er anordnet et andre spiralformet spor hvis områder har en andre gitterorientering.

Under avlesning av en opptegningsbærer hvor to til hverandre grensende spor har områder av forskjellig type, er det mulig å detektere på enkel måte om avlesningssporet er sentrert

på det spor som avleses. Hvis et første spor avleses, skal bare den detektor som er tilordnet disse områder i sporet motta

modulert stråling. Hvis en andre detektor smm er tilordnet områder i et tilgrensende spor også mottar modulert stråling, er dette en indikasjon på at avlesningspunktet ikke er nøyaktig sentrert i det første spor. Den elektroniske krets 17 kan inneholde hjelpemidler for å omforme signalet fra den andre detektor til et styresignal S som kan anvendes for korreksjon av posisjonen av avlesningsflekken, f.eks. ved hjelp av et sving-feart speil i strålingsbanen fra kilden 5 til linsen 6 som tidligere nevnt.

Hvis det under avlesningen også er nødvendig å vite retningen av en mulig posisjonsavvikelse for avlesningsflekken i forhold til sporet3om avleses, kan sporene på opptegningsbæreren ha periodiske utvidelser i sideveis retning av sporet og perioden av disse utvidelser er vesentlig større f.eks.

1000 ganger den midlere periode Hor områdene i sporet, mens amplituden av utvidelsen er mindre f.eks. femteparten av sporets bredde. Under avlesning av en slik opptegningsbærer leverer høyfrekvens-komponentene av det detekterte signal informasjonen, f.eks.

video- og/eller lydinformaBjonen, mens fasen av lavfrekvens-komponenten av det detekterte signal angir retningen av avvikels-en mellom den aktuelle og den ønskede posisjon av avlesningsflekken. Under avlesning av en opptegningsbærer hvor to til hverandre grensende spor har forskjellig type områder, kan det ifølge*oppfinnel3en detekteres om avlesningsstrålen er fokusert . på informasjonsstrukturens plan. Hvis det er en avvikelse mellom den aktuelle posisjon for dette plan og den Ønskede posisjon, vil avlesningsflekken som avbildes på opptegningsbæreren være proporsjonalt større. I tillegg til sporet som avleses, vil de tilgrensende spor da også bli belyst. Som følge derav vil det foruten en første detektor som detekterer gitterverkene med en orientering svarende til sporet som avleses, også en andre detektor detekter» gitterverkene som er orientert i samsvar med det tilgrensende spor. Når avlesningsstrålen er riktig fokusert på sporet som avleses, er det en maksimal forskjell mellom utgangssignalene fra den første og andre detektor. Denne.forskjell vil avta hvis fokuseringen av avlesningsstrålen på sporet for-styrres. Differansen mellom utgangssignalene fra den første og

andre detektor kan bearbeides i den elektroniske krets 17 til et lavfrekvent styresignal S' for fokuseringskorreksjon, f.eks. ved hjelp av en aksial forskyvning av linsen 6.

Por bestemmelse av en fokuseringsfeil må virkningen av en avvikelse mellom sentrene for avlesningsflekken og sporet som skal avleses bestemmes. Denne avvikelse kan bestemmes» f.eks. for en opptegningsbærer med spor med periodiske sideveis utvidelser som beskrevet ovenfor. Det periodiske signal S c som gir en indikasjon på feilen av avlesningsflekkens sentrering i forhold til sporet som avleses, har en bestemt fast frekvens og kan således utledes av signalet S' c som gir en indikasjon på en eventuell-fokuseringsfeil. Hvis et fjernsynsprogram er lagret på en rund plateformet opptegningsbærer hvor et delbilde er en omdreining av opptegningsbæreren, kan sporene f.eks. ha sideveis utvidelse bare på ett, punkt som tilsvarer linjesynkroni-seringspulsene i fjernsynssignalet. Frekvensen av signalet S3varer da til linjefrekvensen i informasjonssignalet. Fokuserp-ingen kan ha korrigeres slik at differansen mellom utgangssignalene fra den første <g andre detektor er maksimal ved null-gjennomgangen av signalet S C.

Under den første fase av avlesningen når objektivet enda ikke er fokusert på opptegningsbæreren, er det altså mulig å anvende en forskjellig gitterorientering i til hverandre grensende spor for en grovj.ustering avoob jektivet. Sål lenge avlesningsstrålen er fokusert i et plan som har en forholdsvis stor avstand fra sporets plan, er styresystemet for sentrering av avlesningsflekken på sporet som skal avleses<%>enda ikke virk-somt. Når opptegningsbæreren beveges i avlesningsretningen i forhold til strålingskilden,beveger også avlesningsflekken seg over sporet i sideveis retning, og senteret av avlesningsflekkeh blir avvekslende lokalisert på et spor med en første gitterorientering og et spor med en andre gitterorientering. Detektorene som svarer til disse gitterorienteringer mottar da avvekslende stråling. Amplituden av detektorsignalene øker når fokuseringen av avlesningsstrålen på sporet bedres. Disse signaler er i motsatt fase. Hvis. differansen mellom de to signaler

er maksimal, vil styresystemet for sentrering av strålings-<4i>flekken på sporet tre i funksjon. Korreksjon av sentreringen og

finstyringen av fokuseringen utføres da som beskrevet ovenfor.

I stedet for en rund skiveformet opptegningsbærer kan oppfinnelsen også anvendes på en opptegningsbærer i firm av bånd eller en sylindrisk opptegningsbærer.

Opptegningsbæreren kan også inneholde annen informasjon enn et fjernsynsprogram.

Claims (1)

1. Opptegningsbærer på hvilken er lagret informasjon, f.eks. video- og/eller lydinformas^on, i en optisk avlesbar struktur i spor med områder hvis innvirkning på en avlesningsstråle avviker fra mellomliggende områder og avgrensninger mellom sporene, hvilken informasjon ligger i områdenes konturfrekvens, k a r a k t e r J. s e r t ved at områdene omfatter minst to typer gitterverk hvis gitterlinjes retning er forskjellig.

2. Opptegningsbærer ifølge krav 1, karakterisert ved at gitterverkene i to til hverandre grensende spor er av forskjellig type.

3.. Opptegningsbærer ifølge krav 2, karakterisert ve *.d at sporene sideveis har periodiske ujevnheter hvis periode er vesentlig større enn den midlere periode av områdene i sporene, og amplituden er mindre enn bredden av sporene. lJ. Opptegningsbærer ifølge krav 2 eller 3, og av rund, plateformet type, karakterisert ' v. ed to spiral-formede spor i samme plan, av hvilke det ene informasjonsspor, tjener som avgrensning av det andre informasjonsspor.;5. Opptegningsbærer ifølge krav 1, karakterisert ved at et spor inneholder gitterverk med forskjellig orienterte gitterlinjer.;6. Opptegningsbærer ifølge krav 5, karakterisert ved at to etter hverandre følgende gitterverk har forskjellig orienterte gitterlinjer, og at gitterverkenes dimensjoner i lengderetningen er uavhengig av informasjonen, mens gitterverkenes konturfrekvens er bestemt av informasjonen.;7. Opptegningsbærer ifølge krav 1, karakterisert ved at orienteringen av gitterlinjene for de to typer gitterverk er vinkelrett på hverandre og danner en vinkel på 45° rced sporenes lengderetning.;8. Opptegningsbærer ifølge krav 6, karakterisert ved at den omfatter spor med bare to gitterlinjer i hvert gitterverk.;9. Apparat for avlesning av en opptegningsbærer ifølge krav 1, omfattende en strålingskilde som leverer en avlesningsstråle, et strålingsfølsomt detekteringssystem for omforming av avlesningsstrålen, som er modulert av opptegningsbæreren, til et elektrisk signal som er modulert i samsvar med rekke-følgen av områder og mellomliggende områder i et spor, og en elektronisk krets hvor det elektriske signal bearbeides til et informasjonssignal, karakterisert ved at signaldetekteringssystemet består av minst to strålingsføl-somme detektorer som er anordnet slik at de mottar stråling bare når avlesningsstrålen treffer et gitterverk hvis gitterlinjer har en bestemt orientering.;10. Apparat ifølge krav 9, karakterisert ved at et antall linseelementer er tilordnet hvor detektor og konsentrerer strålingen som avbøyes i en bestemt retning av gitterverket på opptegningsbæreren til vedkommende detektor.;11* Apparat ifølge krav 8 eller 9, karakterisert ved at i den elektroniske krets utledes fra detektorsignalene et lavfrekvent styresignal for korrigering av avlesningsstrålen i forhold til sporet som avleses.

12. Apparat ifølge krav 9-10 eller 11, karakterisert ved at i den elektroniske krets utledes fra detektorsignalene et lavfrekvent styresignal for korrigering av avlesningsstrålens fokusering på «poret som avleses.