NO141389B - Apparat for avlesning av en opptegningsbaerer, i hvilken er opptegnet informasjon, f.eks. video- og/eller lydinformasjon, i minst ett spor - Google Patents

Description

Oppfinnelsen angår et apparat for avlesning av

en opptegningsbærer i hvilken er opptegnet informasjon,

f.eks. video- og/eller lydinformasjon, i minst ett spor,

omfattende en strålingskilde som tilveiebringer en avlesnings-

stråle og et strålingsfølsomt signaldetekteringssystem for omdanning av avlesningsstrålen som er modulert med informasjonen,

til elektriske signaler, samt et fokuseringsdetekterings-

system for å bestemme en avvikelse mellom det ønskede og det faktiske fokuseringsplan for avlesningsstrålen.

Et slikt apparat er kjent fra U.S.-patentskrift nr. 3.530.258, hvor en plateformet informasjonsbærer med et spiralformet opptegningsspor roterer på en spindel gjennom et hull i sentrum av opptegningsbæreren, avleses i tangensial retning ved hjelp av en avlesningsstråle. Dette spor følges ved at huset som inneholder strålingskilden og detektorsystemet forskyves radialt.

Som følge av f.eks. unøyaktighet i bæreinnretningen for informasjonsbæreren eller huset eller kast på opptegningsbæreren,

kan sporet eller huset få en relativ bevegelse også i aksial retning. I dette tilfelle vil signaldetektoren motta ikke bare stråling fra en del av sporet som skal avleses men også stråling fra denne dels om-givelser. Som følge av dette vil modulasjonsgraden av det elektriske utgangssignal fra signaldetektoren avta mens det samtidig vil oppstå krysstale fordi ikke bare et enkelt spor bestråles men også tilgrens sende spor. Reduksjonen i modulasjonsgraden og krysstale hindrer tilfredsstillende signaldetektering.

I det følgende er med uttrykket <*>^?or i en plateformet opptegningsbærer" ment såvel et antall konsentriske opptegningsspor som et enkelt kontinuerlig spiralformet spor. ;Posisjonsfeil i sporets plan i forhold til signaldetek-teringen kan oppdages ved hjelp ar den posisjonsbestemmende innretning, slik som angitt i norsk patentsøknad 741/72. Denne innretning omfatter to refraksjonsgittere som er anbrakt etter hverandre i strålingsbanen bak opptegningsbæreren. Den del av opptegningsbæreren som omgir den del av sporet som skal avleses, og som også har form av et refraksjons-gitter, avbildes på et punkt mellom de to refraksjonsgittere. En sammenligning av verdiene av de elektriske utgangssignaler fra to strå-lingsfølsomme elementer som er anordnet bak et av refraksjonsgitterne muliggjør å bestemme om avlesningsstrålen er fokusert i sporets plan og i hvilken retning en avvikelse opptrer. Prinsippet for fokuseringen av detekteringen ved hjelp av refraksjonsgitterne kan modi-fiseres på mange måter. I alle tilfeller må imidlertid detektorene levere et likespenningssignal som det ikke er lett å behandle i en elektronisk anordning. Riktignok kan vekselspenningsignaler frembringes ved å anordne et svingende speil i strålingsbanen mellom opptegningsbæreren og refraksjonsgitterne, men et slikt svingende speil nødvendiggjør ekstra mekaniske og elektriske hjelpemidler. ;Hensikten med oppfinnelsen er å tilveiebringe et apparat av den innledningsvis nevnte art hvor detektering av posisjonsfeil i sporets plan i forhold til signaldetekteringén er basert på ;et annet prinsipp og utføres uten ekstra svingende komponenter. ;Dette oppnås ifølge oppfinnelsen ved at fokuseringsdetekteringssystemet består av to strålingsfølsomme detekteringselementer som er anordnet efter hverandre i sporets lengderetning og som mottar stråling som er modulert i samsvar med informasjonen på opptegningsbæreren, hvilke detekteringselementers utganger er forbundet med en fasedetektor for detektering av en tidsforskjell mellom detekteringssignalene, hvilken forskjell er en funksjon av avvikelsen mellom det ønskede og det faktiske fokuseringsplan for avlesningsstrålen. ;Apparatet ifølge oppfinnelsen er basert på den kjensgjerning at variasjonene mellom områder med forskjellige optiske egenskaper, hvor variasjonene opptrer i den optiske struktur av informasjonen, kan anvendes ved hjelp av knivegger på lignende måte som ved Foucaults kniveggs-prøve. Videre kan bevegelsen av den optiske struktur av informasjonen anvendes for å oppnå dynamisk detektering. ;Mens det i norsk patentansøkning 7^1/72 på et gitt tidspunkt avbildes et stort antall spor rundt den spordel som skal avleses og amplitudene av de elektriske utgangssignaler fra de strålingsfølsomme elementer sammenlignes, vil det i apparatet ifølge oppfinnelsen på et gitt tidspunkt bare avbildes en li,teh del av ett spor og fasen for de elektriske utgangssignaler fra de strålingsfølsomme elementer sammenlignes. ;Det skal bemerkes at anvendelsen av to detektorer ;for måling av forskyvningen av en gradert skala vinkelrett på detektorenes plan er beskrevet i U.S.-patentskrift nr. 3.502.415, hvor et avsøkningsmerke blir periodisk beveget i forhold til den graderte skala, og dette krever en særskilt drivinnretning? mens en av fordelene ved apparatet ifølge oppfinnelsen er at- ;ingen ekstra svingning behøver frembringes. ;Strålingen i den posisjonsbestemmende innretning kan også være avlesningsstrålen, og de strålingsfølsomme elementer i den posisjonsbestemmende innretning kan være deler av signaldetektoren. Med fordel kan styresignalet som leveres av den elek^ troniske anordning utledes av de komponenter av utgangssignalene fra det strålingsfølsomme element, hvis frekvenser svarer til signalinformasjonens frekvenser. Med et slikt apparat kan bare posisjonsfeil innenfor et lite område bestemmes nøyaktig. ;Por å muliggjøre bestemmelse av posisjonsfeil på et større område kan styresignalet som leveres av den elektroniske anordning utledes' av komponenter av utgangssignalene fra de stråling: følsomme elementer hvis frekvenser er vesentlig lavere enn isignalin- ;fonnasjonens frekvens. ;For å sikre at det område innenfor hvilket posisjons-feilene skal bestemmes, er tilstrekkelig stort, kan det fortrinnsvis i de posisjoner i den optiske struktur som svarer til delbildetilba-keløpstidene i videosignalet, være anordnet en ytterligere struktur med optiske detaljer som er vesentlig større enn de optiske detaljer i video-og/eller lydinformasjonen. ;Fortrinnsvis kan et andre linsesystem være anordnet i strålingsbanen i et punkt foran de strålingsfølsomme elementer for å danne bilder av åpningen til et første linsesystem, som er anordnet i strålingsbanen i et punkt efter opptegningsbæreren, påde . strålingsfølsomme elementer, hvilke bilder er stasjonære i forhold til de strålingsfølsomme elementer. ;De to strålingsfølsomme elementer kan danne en enkelt detektor i form av integrert krets. ;Noen utførelseseksempler på oppfinnelsen skal forklares ;nærmere under henvisning til tegningene. ;Fig.l viser skjematisk et optisk avlesningsapparat iføl-ge oppfinnelsen. Fig.2 viser et grunnriss av en del av den optiske struktur som skal avleses. Fig.3 viser skjematisk prinsippet for den posisjonsbestemmende innretning ifølge oppfinnelsen. Fig.4 viser bølgeformer for signaler som oppnås ved hjelp av innretningen på fig.3» Fig.5, 6 og 7 viser skjematisk forskjellige utførelses-former av et apprat ifølge oppfinnelsen. Fig.8 viser en opptegningsbærer forsynt med ekstra optiske strukturer ifølge oppfinnelsen. ;På fig.l blir en plateformet opptegningsbærer 1 som er vist i radialsnitt brakt i rotasjon ved hjelp av en aksel 4 s°m er drevet av en ikke vist motor og som strekke?? seg gjennom et sentralt hull 2 i opptegningsbæreren. Fra en strålingskilde 5 blir en stråle 20 reflektert ved hjelp av et plant speil 7 m°t opptegningsbæreren. Strålen 20 fokuseres ved hjelp av en linse på opptegningssporenes 3 plan som i dette tilfelle befinner seg på undersiden av opptegningsbæreren. Avlesningsstrålen 20 moduleres av sporet og konsentreres ved hjelp av en kondensatorlinse 9 på en strålingsfølsom detektor 10. Utgangssignalet fra detektoren 10 kan være forbundet med en i og for seg kjent elektronisk anordning 11 for omforming av det elektriske utgangssignal fra detektoren til et bilde eller lyd. ;Linsen 8 må tilfredsstille strange betingelser fordi størrelsen av bildet av strålingskilden som dannes ved hjelp av linsen må være lik størrelsen av den minste dimensjon innenfor den optiske struktur i opptegningen. Fig.2 viser en liten del av en slik optisk struktur. Pilen 15 angir bevegelsesretningen av opptegningsbæreren. Strukturen omfatter et antall spor 3 som hver inneholder blokker b med vekslende areal g. Sporene er adskilt fra hverandre ved hjelp av nøytrale striper 6. Sporene kan være anordnet på informasjonsbæreren som parallelle konsentriske ringer men kan også være eb kontinuerlig spiralformet spor. Blokkene i et spor kan f.eks. væ-re strålingsabsorberende, og i dette tilfelle vil arealene og de nøytrale striper slippe gjennom stråling. I dette tilfelle vil den stråling som passerer opptegningsbæreren påvirkes med hensyn til styrken. Alternativt kan blokkene og arealet være anbrakt på forskjellige nivåer i opptegningsbæreren slik at det dannes en krene-lert struktur. En slik struktur muliggjør at strålens fase påvirkes og blir derfor ofte betegnet som fasestruktur. Videre er både reflek-sjon og passering mulig. Lengdene av blokkene og arealene represen-terer den lagrede informasjon. Strålingen som moduleres av sporet får pulsformede variasjoner som funksjon av tiden i samsvar med rekken av blokker og arealer i sporet. ;Ved en praktisk utførelsesform var den midlere periode for den optiske struktur i sporets lengderetning 4 /um og den minste lengde i sporet var 2 /um, slik at et bilde 13 av strålingskilden 5 lå i størrelsesorden 2 ^um. Dette betinger at den optiske strukturs plan ligger innenfor brennvidden f.eks. 1 yum for linsen. En for-flyttning av den optiske struktur i en retning vinkelrett på sporets plan må detekteres for å sikre at avstanden mellom sporets plan og bildet av strålingskilden forblir mindre enn 1 ^um. ;Fig.3 viser skjematisk hvorledes fokuseringsfeil kan detekteres ifølge oppfinnelsen. Det er anordnet en kondensatorlinse 19 og to strålingsfølsomme detektorer 10J og 10''side om side bak kondensatorlinsen. Detektorene treffes av stråling fra forskjellige deler av strålingen fra kondensatoren 19. Den optiske struktur i sporet 3 som avleses i øyeblikket er vist i tangensialt snitt foran linsen 19. I apparatet på fig.3 strekker opptegningens plan seg i retning vinkelrett på tegningens plan. Rotasjonsaksen for opptegningsbæreren er parallell med tegningens plan og vinkelrett på sporet 3«;Denne aksel kan enten ligge foran eller bak tegningens plan. Sporet 3 beveger seg i forhold til det optiske system 18, 19 i den retning som er angitt med pilen 15. ;Når sporet 3 er riktig lokalisert ' i e i det optiske system vil avlesningsstrålen 20 være nøyaktig fokusert på sporet 3. Stråling som treffes av detektorene 10' og 10'' stammer fra samme punkt i sporet og er derfor like, slik at detektorene gir like utgangssignal. Hvis sporet 3 og dermed den optiske struktur beveges mot kondensatorlinsen 19, f.eks. til posisjonen f, vil detektorene motta stråler fra forskjellige deler av den optiske struktur i sporet. Som følge av opptegningsbærerens bevegelse vil de to detektorer se samme punkt av strukturen men i et gitt øyeblikk vil den ene detektor se dette punkt på et tidligere tidspunkt enn den andre. I tilfelle av posisjonen f vil det av sporet 3 opptre en blokk b som detekteres av detektoren 10' på et tidligere tidspunkt enn for detektoren 10" . ;På fig.4 er vist strålingsstyrken I av utgangssignalet S' og S" fra detektorene 10' og 10" som funksjon av tiden t for det tilfelle hvor sporet 3 befinner seg i posisjonen g. Mellom signalene S' og S" er det en tidsforsinkelse på IT hvis størrelse er avhengig av avstanden mellom posisjonene e og g. Tidsforsinkelsen "V er vist meget overdrevet for tydelighets skyld. ;Hvis sporet 3 befinner seg i posisjonen f vil signalet S" bli forsinket i forhold til signalet S '. ;Signalene S' og S" tilføres en fasedetektor 17 som om-former tidsforskjellen mellom signalene til et elektrisk signal. DetT te styresignal Sc muliggjør at en fokusering av linsen 18 foretas. Hverien den elektroniske behandling av signalene eller innstillingen av fokuseringen danner noen del av oppfinnelsen og skal derfor ikke beskrives nærmere. ;Det skal bemerkes at anvendelsen av den posisjonsbestemmende innretning som er beskrevet ikke er begrenset til en opptegningsbærer med optisk struktur som omfatter adskilte blokker.og arealer. Den posisjonsbestemmende innretning ifølge oppfinnelsen kan og-så anvendes for å bestemme posisjonen av opptegningsbærer med en kontinuerlig optisk struktur, f.eks. en sinusformet struktur. ;Heller ikke formen av opptegningsbæreren behøver å tilfredsstille spesielle krav for å muliggjøre anvendelsen av den posisjonsbestemmende innretning ifølge oppfinnelsen. Denne posisjonsbe-stemmende innretning kan anvendes generelt for en hvilken som helst opptegningsbærer som under avlesningen beveges i forhold til signaldetektoren i et plan vinkelrett på avlesningsstrålen, mens opptegningsbærerens plan er bevegelig i avlesningsstrålens retning. ;De strålingsfølsomme elementer 10' og 10" behøver ikke være anordnet side om side men kan alternativt ha en bestemt innbyr-des avstand f.eks. når et avbøyningselement anvendes i strålegangen etter kondensatorlinsen 19. Ved utførelsen som er vist på fig.5 er det avbøyende element vist i form av én kile 14. Også et plant speil kan anordnes i den ene eller begge halvdeler av strålegangen fra linsen 19, hvorved elementene 10' og 10" kan anordnes i forskjellig vin-kel i forhold til den optiske akse 18, 19.for innretningen. ;Ved apparatene på fig.3 og 5 mottar de strålingsfølsom-me elementer 10' og 10" hver sin halvdel av strålingen 21 som deles i to halvdeler av et plan gjennom den optiske akse 18, 19 vinkelrett på lengderetningen av sporet 3» Elementene kan også være anordnet slik at de bare treffes av en del av halvdelene. Følsomheten av foku-seringsinnretningen øker når avstanden mellom disse deler øker. ;Når opptegningsbæreren i apparatet på fig.3 forflyttes ;i en retning vinkelrett på tegningens plan, dvs. i radial retning av den plateformede opptegningsbærer, kan bildet forflyttes i forhold til de strålingsfølsomme elementer ved hjelp av et roterende speil som anbringes i strålingsbanen. Da følsomheten av elementenes over-flate kan være lokalt forskjellige kan det frembringes et feilsignal til tross for at sporets plan er riktig lokalisert i forhold til av-lesningsinnretningen. Videre kan i tilfelle av uriktig radial forskyvning, dannes et bilde på opptegningsbæreren i et punkt langt fra de strålingsfølsomme elementer. ;Ifølge oppfinnelsen kan disse ulemper unngås ved å anordne ekstra linser i strålingsbanen i et punkt foran de strålings-følsomme elementer som vist på fig.6. Her er den optiske struktur i sporene 3 dannet av nøytrale striper 6 i radialt snitt. En linse 16 danner et forminsket bilde 19' av strålebunten fra linsen 19. Elementene 10' og 10" er anordnet i bildeplanet 19'• Uavhengig av. bevegelsen av den optiske struktur vil bildet alltid falle på de samme små arealer av de strålingsfølsomme elementer. ;For å hindre overdrevet stråletap i apparatet på fig.6 må elementene 10' og 10" anbringes nær hverandre. Av den grunn kan de to elementer være anordnet i en integrert krets som kan fremstil-les ved hjelp av vanlig kjent integreringsteknikk. ;De posis jonsbestemmende innretninger som er vist på fig«3> 5 og 6 kan anvendes i avlesningsapparatet på fig.l hvor avlesningsstrålen fokuseres på sporets plan. Elementene i lokalise-ringsinnretningen kan kombineres med elementene i avlesningsapparatet slik at avlesningsstrålen 20 faller sammen med strålingen 21. På fig.l behøver man derfor bare bytte ut detektoren 10 med to elementer 10' og 10" som anvendt i innretningene på fig.3, 5 og 6. ;Hvert av disse elementer leverer et fullstendig elektrisk signal og en sammenligning av fasene for disse signaler muliggjør at det kan oppnås informasjon om posisjonen av sporets plan i forhold til signaldetektoren. ;Den posisjonsbestemmende innretning ifølge oppfinnelsen kan også anvendes for avlesning av informasjon på opptegningsbæreren ved at denne bestråles med en bred avlesningsstråle mens de strålings-følsomme områder i signaldetektoren er så små at de treffes bare av en stråle med en diameter som tilsvarer den minste detalj i sporet. Ved et slikt apparat kan også avlesningsstrålen falle sammen med den posisjonsbestemmende stråling som vist på fig.7« ;Apparatet på fig.7 har en stråle Jl med stor diameter som faller på en forholdsvis ±or del av den optiske struktur i ba-re ett spor 3 som vist. Bak denne del av sporet er anordnet et objek-tiv 39 som danner et bilde av denne del på detektoren. Detektoren omfatter en blender 35 °g to strålingsfølsomme detektorer 30' og 30" ;i en viss avstand bak blenderen. Størrelsen av slissen 36 i blenderen tilsvarer den minste detalj i den optiske struktur. De to elementer 30' og 30" treffes av stråling som stammer fra forskjellige deler av slissen. ;En del av den optiske struktur i opptegningsbæreren som danner en del av en gitterstruktur er avbildet på begge halvdeler 37' og 37" av blenderen 35* Ved denne utforming av elementene som to halvdeler er det mulig ikke bare å bestemme den aksiale posisjon men også den radiale posisjon av opptegningsbæreren i forhold til signaldetektoren, på den måte som er beskrevet i norsk patentsøknad 741/72. Innføringen av en ekstra linse i strålingsbanen i et punkt foran slissen 36 muliggjør oppnåelsen som vist på fig.7, av stasjonære avbildninger av strålegangen fra linsen 39 Pa det strålingsføl-somme element på samme måte som ved apparatet på fig.6.

Det beskrevne apparat har en optisk struktur som er sammensatt av strålingsabsorberende og strålingsgjennomslippende områder. Det er klart at det også kan anvendes en optisk struktur som er sammensatt av strålingsreflekterende og strålingsabsorberende områder. F.eks. kan et halvforsølvet speil anordnes i strålingsbanen mellom strålingskilden og opptegningsbæreren. Dette speil avbøyer stråling som reflekteres fra opptegningsbæreren. Den avbøyede stråling kan deretter behandles på en hvilken som helst av de ovenfor beskrevne måter.

Det er hittil antatt at strålingen 21 moduleres av blokker og arealer i bare ett spor. Dimensjonene av disse blokker og arealer i sporets lengderetning er meget små f.eks. 2 ^um. Hvis loka-liseringsinnretningen skal arbeide., tilfredsstillende må diameteren av strålen i området av sporet være mindre enn den minste dimensjon i sporets lengderetning. En forskyvning av sporet i forhold til det optiske system l8, 19 som kan detekteres nøyaktig er forholdsvis liten. Sporet tillates å bevege seg mot linsen 19 eller bort fra linsen 19 et stykke som er tilnærmet lik brennvidden av linsen 18. Brennvidden er avhengig av størrelsen av den detalj som skal avle-

ses. Brennevidden for en linse med en nummerisk åpning på 0,3 er ca. 7 / xm f°r en detalj på 2 <y>um, slik at arbeidsområdet for den posisjonsbestemmende innretning under slike forhold er ca.14 ^um.

Ifølge oppfinnelsen kan dette arbeidsområde utvides

ved at det særlig for aksial posisjonsbestemmelse anordnes en ek-

stra optisk struktur med større detaljer, f.eks. 20 - 100 <y>um på opptegningsbæreren. Da informasjonstettheten på opptegningsbæreren er liten på de steder som svarer til delbildetilbakeløpstiden i et videosignal, blir den ekstra optiske struktur fortrinnsvis anordnet på disse steder.

Hvis det for hver omdreining av opptegningsbæreren avleses et bilde, dvs. hvis informasjonen av et bilde lagres i ett spor, vil stedene for delbildetilbakeløpstiden ligge i samme sektor av en sirkel i de forskjellige spor. Den ekstra optiske struktur kan da ganske enkelt bestå av en bred diametrisk linje. På fig.8 er vist et grunnriss av en plateformet opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen hvor denne linje er betegnet L. Sporene er betegnet 3 °g en mellom-liggende stripe uten informasjon er betegnet 6. Alternativt kan ekstra store områder M anordnes i sporene. Videre kan opptegningsbæreren være forsynt med flere diametriske linjer L med forskjellig bred-de eller med forskjellige områder M med forskjellige bredder i et spor.

Når opptegningsbæreren gjør 25 omdreininger pr.sek.vil linjen L eller områdene m avleses med en frekvens på 50 Hz. Denne frekvens er meget forskjellig fra frekvensen av de signaler som Jtem-bringes ved modulasjon av strålingen ved hjelp av eten optiske struktur i videoinformasjonen i sporet (frekvens ca.4 MHz). Ved anvendelse av en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen i det beskrevne avlesnings-system, vil det opptre signaler med høyfrekvenskomponenter og lav-frekvenskomponenter i utgangen av de strålingsfølsomme elementer. Disse komponenter kan skilles fra hverandre ved hjelp av filtre i

den elektroniske behandlingsanordning og anvendes for å frembringe adskilte signaler for fininnstilling og grovinnstilling. Denne mulig-het for detektering over et større område er særlig viktig for å mu-liggjøre en fokuseringsavvikelse som kan frembringes når en opptegningsbærer anbringes i avlesningsapparatet og når dette apparat utsettes

for støt, for hurtig å minske til en verdi som faller innenfor området av fininnstillingen.

Claims (9)

1. Apparat for avlesning av en opptegningsbærer (1) i hvilken er opptegnet informasjon, f.eks. video- og/eller lydinformasjon, i minst ett spor (3)} omfattende en strålingskilde (5) som tilveiebringer en avlesningsstråle (20) og et strålingsfølsomt signaldetekteringssystem (10) for omdanning av avlesningsstrålen som er modulert med informasjonen, til elektriske signaler, samt et fokuseringsdetekteringssystem for å bestemme en'avvikelse mellom det ønskede og det faktiske fokuseringsplan for avlesningsstrålen, karakterisert ved at fokuseringsdetekteringssystemet består av to strålingsfølsomme detekteringselementer (10',10'';30',30''), som er anordnet efter hverandre i sporets (3) lengderetning og som mottar stråling som er modulert i samsvar med informasjonen (b,g) på opptegningsbæreren (1), hvilke detekteringselementers utganger er forbundet med en fasedetektor (17) for detektering av en tidsforskjell mellom detekteringssignalene, hvilken forskjell er en funksjon av avvikelsen mellom det ønskede og det faktiske fokuseringsplan for avlesningsstrålen.

2. Apparat ifølge krav 1, karakterisert ved at strålingen (21) i fokuseringsdetekteringssystemet også er avlesningsstrålen (20), og at detekteringselementene (10',10'';30',30'') i fokuseringsdetekteringssystemet utgjør en del av signaldetekteringssystemet (10).

3. Apparat ifølge krav 2, karakterisert ved at det i strålingsbanen foran detekteringselementene (30',30'') er anordnet en blender (37) med en åpning (36) som svarer til den minste detalj som kan opptre i den optiske struktur i opptegningsbæreren (1).

4. Apparat ifølge krav 3, karakterisert ved at deler (37',37'') av blenderoverflaten på hver side av den slissformede åpning (36) som vender mot opptegningsbæreren (1) er utformet som gitterformede strålingsdetektorer.

5- Apparat ifølge krav 1, 2, 3 eller 4, karakterisert ved at det i fasedetektoren (17) bestemmes tidsforskjellen mellom to komponenter av utgangssignalene fra detekteringselementene (10',10'';30',30''), hvis frekvenser svarer til frekvensene i signalinformasjonen (b,g).

6. Apparat ifølge krav 1 eller 2, karakterisert ved at det i fasedetektoren (17) bestemmes tidsforskjellen mellom komponenter av utgangssignalene fra detekteringselementene (10',10'';30',30''), hvis frekvenser er vesentlig lavere enn frekvensene i signalinformasjonen (b,g).

7- Apparat.ifølge et av de foregående krav, karakterisert ved at det i strålingsbanen (21) foran detekteringselementene (10',10'';30',30'') er anordnet et andre linsesystem (16) for på detekteringselementene å danne avbildninger av et første linsesystem (19) som er anordnet i strålingsbanen efter opptegningsbæreren (1), hvilke avbildninger er stasjonære i forhold til detekteringselementene.

8. Apparat ifølge krav 7, karakterisert ved at de to detekteringselementer (10',10'';30',30 *') ut-gjøres av forskjellige deler av et strålingsfølsomt detekterings-system i form av et integrert kretsløp.

9. Plateformet opptegningsbærer i hvilken video-og/eller lydinformasjon i kodet form er opptegnet i minst ett spor (3) med optisk struktur, hvilken opptegningsbærer er beregnet på avlesning i et apparat ifølge krav 6, karakterisert ved at det fortrinnsvis i de posisjoner i den optiske struktur som svarer til delbildetilbakeløps-tidene, er anordnet en ytterligere struktur med optiske detaljer (m,L) som er vesentlig større enn de optiske detaljer (b,g) i video- og/eller lydinformasjonen.