JPS61211840A - デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野１ この発明は、たとえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などのデ
ィスク装置に関する。

［発明の技術的黄銅〕 近年、多聞に発生ずる文書などの画像情報を２次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーとして再生出力し得る画像
情報フ１イル装置が用いられている。

従来、このような光ディスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。

［背順技術の問題点］ しかしながら、上記のようなテ′イスクを用いた光デイ
スク装置では、光学ヘッドにおける対物レンズのフォー
力ツシングを行う場合、取付は誤差等により適正な位置
にビームが照射されないため、フォー力ッシング用の検
知信号を増幅する際に、バイアス電圧（オフセット電圧
）を印加することにより、焦点位置を補正するようにな
っている。

しかし、上記ような補正は、取付は時（出荷時）に最適
調整位置つまりエラーレイト（誤差発生率）が最良とな
る位置が設定されているだけである。

このため、実際の可動によりずれ（温度、湿度、振動、
衝撃等による機械的ずれ）が生じた場合、最適調整位置
が異なってしまい、最良エラーレートが悪化してしまう
。また、調整位置からのずれにより、光デイスク同士の
ばらつきあるいは外部環境の変化による光軸ずれ、ある
いは光検出器の位置ずれ等に対するマージン（余裕）が
狭くなってしまっていた。

［発明の目的１ この発明は上記事情にもとづいて４１された１〕ので、
その目的とするところは、焦点位■を常に適正な位置に
補正することができ、エラーレイ１〜が向上し、調整位
置ずれに対づるマージンを広く持つことができるディス
ク装量を提供Ｊ−ることにある。

［発明の１度要］ ・　この発明は、上記目的を達成Ｊ−るために、集束光
を用いディスクに対して情報の記録あるいは再生を行う
ものにおいて、光源から発せられる光を集束手段を用い
て上記ディスク上に集束し、この集束手段によるディス
ク上での集束位置を変更し、この変更された種々の集束
位置でのエラーレートを判定し、この判定でｔｑられた
種々のエラーレ＝１・を記憶し、この記憶したエラーレ
ー１へにより最適集束位置を判断Ｉノ、この判断結果に
対応した集束位置に上記集束１段を設定づるようにした
ものである。

［発明の実施例］ 以下、この発明の一実施例を図面を参照しなか１う説明
する。

第１図はこの発明に係わる画像情報記憶検索装置を示す
ものである。すなわち、１１は主制御装置であり、各種
制御を１１うＣＰＵ１２、メインメモリ１３、ベージバ
ッフ１１４、画像情報の圧縮（冗長爪を少なくする）お
よび伸長（少なくされた冗長度を元に戻ず）を行う圧縮
・伸長回路１５、文字あるいは記号などのパターン情報
が格納されたパターンジェネレータ１６、および表示用
インターフェイス１７などから構成されている。２０は
読取装置たとえば二次元走査装置で、原稿（文＠）を２
１上をレーサ゛ビーム光で二次元走査することにより、
上記原稿２１上の画像情報に応じた電気信号を１ｑるも
のである。２２は光デイスク装置で、上記二次元走査装
置２０で読取られて上記主制御ａ装置１１を介して供給
される画像情報などを光ディスク１９に順次記憶するも
のである。

上記光ディスク１つは第２図に示すように、たとえばガ
ラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された縦
板の表面にテルルあるいはヒスマスなどの金属被膜層が
１−一ナツ形にコープｒンクされ−Ｃおり、その金属被
膜層の中心部近１号１：　１．Ｌ　ＩＪＩ欠部つより基
準位置で−ク１９＋か股１ノられている。また、上記光
デイスク１９土は基準位置マーク１９１を「Ｏ−１とし
て１０〜２５５Ｊの２５６セクタに分割されるＪ：うに
なっている。

上記光ディスク１９に（ユ可変長の情報（画像り報）が
複数の７１コツク（こわた）て記憶ざｔｉる」、うにな
っており、光ティスフ１９上の３６．０００トラックに
３０万フロツクの情報が記憶されるようになっているつ
なＪノ、上記光ディスク１つにおける１ブロツクのセク
タ数はたとえは内側で４０セクタになり、夕１測でｆＪ
　２０セクタに１．蒙るようになっている。また、各フ
ロックがセクタの切換え位置で終了しない場合、第２図
に示す第１）ブロックと第ｎ＋１ブロックとＣ゛示づ゛
ように、ブロックギャップを設置ノ、各ブロックが必ず
セクタの切換え位置から始まるようになっている。上記
ブロックの開始ｆ１Ｚ置にはブロック番号、トランク番
号などからなるブロックヘッダ（ブリへツタ）八がたと
えば光ディスク１９の製造詩に記録されるようになって
いる。

また、上記光ディスク１９には、たとえば最内周にフォ
ーカス状態チェック用のデータがあらかじめ記録されで
いるフォー７Ｊスチエソクエリアａか設けられている。

このフＡ−ノｊスチェック］リアａに記録されるデータ
として１ｊ、エラーの発生し易いデータが記録されるも
ので、たとえばランダムなデータ、最少ピッデビット（
２ビノヂ）で変化するデータ、あるいは最大ピッデビッ
ト（７ピツヂ）で変化するデータが記録されるようにな
っている。上記フｉ−カスヂエツタエリアａは複数の１
〜ラツクで構成されている。

一方、２３はキーボードで、画像情報に対応する固有の
検索コードおよび各種動作指令などを入力するだめのも
のである。２４は出力装置たとえば表示部であるところ
の陰極線管表示装置（以下ＣＲＴディスプレイ装置と称
する）で二次元走査装置２０で読取られて主制御装置′
１１を介しで供給される画像情報あるいは光う′イック
８厘２２　／Ｊｌら続出されτ主制御技ば１１を介して
供給される画像情報などを表示づる已のであり、主制御
装置１１における表示用インターンｒイス′１７どて大
きな意味の画像情報表示装置を構成している。

２５は記録装置で、Ｅ次元走査装置２０で読取られて主
制御装置１１をｆｔシて１共給される画１象情報あるい
（」光デイスク装置２２から読出さｔ′（て主制御装置
′１′１を介（］て供佑６れる画像情ｔｉＦｉなどをハ
ードコピー２６どして出力Ｊるものである。２７（ま磁
気デ（ス・ン装置で、」二記Ａ−小−１−２３ｉこＪ−
り入力された倹＠　：ｑ　−＋・とこの検索］−１，に
対応する１件分の画像情ｐノのりイスと画像１６報が記
憶される光ディスク１９−ｆ二の記憶アトＬ／スからな
る検索データを磁気ディスク２８に１（！１−分の画１
象１＾報ことに記憶りるものである。

ｈｇ［！検索データ（ユ、複数の検索キーからなる。検
索コード（画像名）と、この検Ｚ（コー１〜に対応−４
る画像情報の光デ、ｒスク１９にお１）る画（砲格納λ
頭ブロック番号、画１象記憶ブロック数（両１絵のＨさ
）とからなっている。

次に、第３図おＪ：び第４図を用いて光デイスク装置２
２の要部の構成を説明する。すなわち、光ディスク１つ
は、七−夕３０によって光学ｌ＼ラッド１に対して、線
速一定で回転駆動されるようになっている。上記モーフ
３０の軸３２には、信号発生用マークが一定間隔で設け
られている円板３３が固定されていて、この円板３３の
マークを発光ダイオードと受光素子とからなる検出器３
４により光学的に検出するようになっている。また、上
記光ディスク１９の下方には前記基準位置マーク１９１
を光学的に検出する発光ダイオードと受光素子とからな
る検出器３５が段（プられている。

上記検出器３４の出力つまり受光素子の出力（ｊ増幅部
３６を介してセクタカウンタ３７のクロックパルス入力
端に供給され、このセクタカウンタ３７のリセッ１へ入
力端には上記検出器３５の出力が増幅部３８を介して供
給される。

また、上記光ディスク１の裏側には、情報の記録、再生
を行うための光学ヘッド３１が設けられている。この光
学ヘット・３３１は、次のように構成される。寸なわら
、４１１１半導体レーリー（光ａＱ）であり、この半導
体レーザ４１から；Ｊ発散性の１．・−ザ光した発生さ
ｆ′（る。この場合、１４報を１記光デイスク１９の記
録膜１９　ａ　１：…き込む（記録〕に際しでは、書き
込むべき情報に応じてその光強度が変調されたし〜ザ光
りか５＠生され、ＩＲ報を光ディスク１９の記録ＩＱ　
１９　ａから読み出す（再生）際には、一定の光強度を
有するしノー号光りが発生される。そして、半導体し〜
ザ４１から光ｉさ１′１だ発散性のレーザ光りは、コリ
メータレンズ４３によンて平行光束に変換され、偏光ビ
ームスプリッタ４４に導かれる。この開先ビームスプリ
ッタ４４に導かれたレーザ光りは、この偏光ビームスプ
リッタ４４を通過した後、１　′４波長板４５を通過し
て対物レンズ４６に入射され、この対物レンズ４６によ
って光ディスク１９の記録膜１９　ａに向けて集束され
る。ここで、対物レンズ４６は、その光軸方向および光
軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支持されており
、対物レンズ４６が所定位置に位置されると、この対物
レンズ４６ｈ）ら発せられた集束性のルーず光しのビー
ムウェストが光ティスフ１９の記録Ｂダ１９ａの表面−
１−にｊ体側され、最小じ一ムスポッ］・が光ディス′
７１９の記録部Ｉ　９　ａの表面−Ｌに形成さねる。こ
の１に態（・二おいて、対物レンズ４６は合焦状態およ
び帛トラック状態に保たれ、清報の書き込みおよび読み
出しが可能となる。

また、光デｆスク１９の記録Ｍｕ　１９　ａから反１］
さねＩ−弁数１牛のレ−１ｆ＞にＬは、合焦詩には対物
レンズ！１６によっで平１テ光栄に変換され、再び１′
４波長阪４５を通過して隔光ビームスプリッタ４　ｌ＞
に戻される。レーザ光１−が１　′４波長板４５を往復
することにＪ−）て、このルーリ゛光りは鍋光ヒームス
ブリッタ４４を通過した際に比べて喝波面が９０喰回転
してａヅリ、この９０度だ１ノ１編ン皮而か回転したル
ー１ｆ光りは、Ｑ光ヒ゛−ムスプリツタ４４を通過せず
に、この偏光ビームスブ′リッタ４４で反射される。そ
して、１営光ビーｌ＼スプリツタ４４で反引したレーザ
光りはハーフミラ−４７（ごよ・）−Ｃ２系１充（ご分
１）られ、その−ｎ　（ｈ園）ツタずれ検出系）のし・
−」ｊ−ヒ−！、１は第１の投用し／ンズ／１８によつ
Ｃ第１の）し検出器４９１１．二照射さ↑（る。この第
１の九検出器４９（１、第１の１シｑ１し０、・ズ４　
Ｂによって結峯ｊざねる光を、電気１シ号に変換する）
５　険ｕｊセル４９　；３　、７１ｒ）　［）　１．：
　ｒ　−、＞　（＋Ａ成ｇ　ｔｌηいる。これらの光検
出ｅルー’Ｉ　９　ａ　、　−４０ｂに］って出力され
る信号とｌ、て（、、ｉ、それぞれ７′１店号、δ信号
が出力されるＪ、うになっている。

一方、ハーフミラ−４７によ′）（タンけられｊこ（１
１１方（焦点はけ検出系）のルーリーヒ−！、　１．、
　＋よ、ブでノエツヂｆ光汲出し部（イ）５０にｊ゛・
）て光軸／）自ら離間したｆａ　ｌ或を通過する成分の
み１に出され、第２の投）ルンス５１を通過ｌノた棲第
２の尤検出器５２上に照射される。この第２の）Ｖ核出
器５２は、第２の投射レンズ５′１にＪ：って結１象ざ
ｉｌる光を、電気信号に変換する光検出セル５２．ｉ、
５２ｂによつで偶成されている。これらのソを検出セル
　　　　　。

５２ａ、５２１〕にＪ、）で出力される１５号どしては
、それぞれα信号、β１言号が出力されシ、ようになプ
ている。

旧訳光学ｌ＼ノド３０の出力つまり各光検出セル４９ａ
、４９１）、５２ａ、５２ｂの出力は、それぞれ増幅器
６’ｌ、６２．７１．７２に供給されるゎ上記増幅器６
１の出力ＩＪ：　ＩＩ１幅器６３をｆｌ−シて減算回路
としての差動増幅器６８の非反転入力端に供給される。

また、上記Ｊ！４＠器６２の出力は差動増幅器６４の非
反転入力端に供給され、この差動増幅器６４の反転入力
端には基準信８光生回路６５からバイアス電圧（オフセ
ット電圧）が供給される。上記基準信号発生回路６５は
制御回路８２から供給される信号（ディジタル（ｇ号）
に応じて種々の基準信号としてのバイアス電圧（アナロ
グ信号）を出力するものである。このＭ車信号発生回路
６５ば、記録部、および再生時に対物レンズ１６による
ビームスポットが最適位置となるようにするだめの、Ｍ
車信号としてのバイアス電圧を出力するものである。ま
た、上記基準信号発生回路６５は、エラーレートの検出
時に対物レンズ１６によるビームスポットを移動するた
めの、バ−（アス電圧を出力づるらのである。Ｉことえ
は、−１−記星ｉｆ、信＠光生回路６５１．を制御回路
８２かｔし供白される信号により一１０ボルト、一つボ
ルト、−＋　１０ポル１・のハイ戸ス電Ｉ王を出力りる
」うにｌ了）でいる。

また、上記停動１！！ｉ幅器６４の出力は季動１１コ幅
器６Ｂの反転入力端に供給される１、これに」：す、隆
動増幅器６８は光検出セル５２ａからの検出１占号ど、
光検出ヒル５２　ｂからの検出信号（こＡフレッ１〜電
圧をＬＩＤえた信号との差を取ることにより、１ｒ点ぼ
けに応じた信号を出力するものである。上記差動増幅器
６８の出力は、波形整形回路０９で整形され、駆動回路
７０に供給されろ。この駆動回路７０は、波形整形回路
６つからｆａｔ　＃Ａされる信号に応じて、前記対物レ
ンズ４６を光ディスク１９の記録部１９ａに幻しＣ垂直
方向に駆動する」イル５４に対応する′ｉｔ流を供給−
づることににす、対物レンズ４Ｇを駆動するものである
。

また、−上記増幅器７１の出力は増幅器７３を介しく減
算回路どしての差動増幅器７６の非反転入万端に供給さ
れる。また、上記増幅器７２の出力は差動増幅器７４の
非反転入力端に供給され、この差動増幅器７４の反転入
力端には基準信号発生回路７５からバイアス電圧（オフ
レゾ１〜電圧）が供給される。−［記基準信号発生回路
７５は、記録Ｉ１．．５ａ５よび再生時に対物レンズ１
６によるビームスボッ１〜が最適位冒となるようにする
ための、基準信号としてのバイアス電圧を出力するもの
であり、その値は装置への設定時にレッティングされる
Ｊ：うになっている。

また、上記差動増幅器７４の出力は差動増幅器７６の反
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器７８は
光検出セル／Ｉ９ａからの検出信号と、光検出セル４９
ｂからの検出信号にオフセット電圧を加えた信号との差
を取ることにより、通常の１〜ラッキング時の１へラッ
クずれに応じた信号を出力するものである。Ｆ記差動増
幅器７６の出力は、波形整形回路７７で整形され、駆動
回路７８に供給される。この駆動回路７８は、波形整形
回路７７から供給される信号に応じて、前記対物レンズ
４６を光ディスク１９の記録面１９ａに対して水平方向
に駆動づる一］イル５３３に３・ｊ応りる電流を供給り
−ることにより、対物レンズ４６を駆動するものである
。

また、上記増幅器７１の出ノＪおよび上記１ｉ！］６ｉ
ｉｉ器７２の出力は加算回路７９に供給される。この加
算回路７９は、それらの信号を１」１１算した結果をｂ
先取信号どして後述する２値化回路８０に出力σるもの
て゛ある。

また、前記光学ヘッド３０の出力つまり加鳴回路７９の
出力は２１１１！化回路８０に供給され、この２値化回
路８０で２値化された信号は復調回路８１で復調され−
Ｃ１ｌＩＩＩ■回路８２に１１（給されるとともに、（
、ＲＣチ■ンク回路８７に１１ξ給される。１記復調回
路８１は再生データの復調を行うもの（゛ある。上記制
御回路８２は外部装置つまり前記ＣＰ　Ｕ　’１２１）
”うの信号に応じて装［ａ全体を制１２１１りるｂので
ある。Ｖ開制御回路８２は、たとえば配録あるいは再生
を（ｉうブロック番号か供給された時、図示しない変換
テーブル部に記憶されでいる変換テーブルに応じてアク
セスするトラック番号、開始セクタ番号を算出するもの
である。また、上記制御回路８２は、１〜ラック番号を
算出した時、その１−ラック番号をスケール値に変換し
、このスケール値と図示しない位置検出器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
８３を駆動制御するようになっている。このリニアモー
タドライバ８３は、制御回路８２の制御によりリニアモ
ータ機構８４で光学ヘッド３１を移動せしめ、光学ｌ＼
ラッド１のビーム光が所定のトラックを照射せしめるよ
うになっている。上記リニアモータ機構８４は、光学ヘ
ッド３１を光デイスク１９上における半径方向に移動さ
せるものである。また、制御回路８２は上記アクセス時
の目的のトラックに光学ヘッド３１が対応したとき、開
始セクタと前記セクタカウンタ３７のカウント値が一致
ｉ〕だときに、光学ヘッド３１の記録、再生動作を開始
せしめるものである。

また、上記制御回路８２は前記ページバッファ１４から
の記録データを変調回路８５で変調してルーナドライバ
８６に供給する。上記変調回路８５は制御回路８２かう
供給される記録データの変調を行うものである。上記ル
ーＩＪ″ドライバ８６は供給される変調信号に応じて光
学ヘラ１−３１内の半導体レーザ４１を駆動”づること
により、データの記録を行うしのである。

上記ＣＲＣチェック（量ナイフリック　リタンタンシイ
　チェック）回路８７は、復調回路８１から供給される
復調信号により、たとえば１６バイトごとのデータとＣ
ＲＣコードとにより周期冗長検査を行う回路である。こ
のＣＲＣチェック回路８７によるチェック結果は制御回
路８２を介してカウンタ８８に供給される。このカウン
タ８８は供給されるエラー数を引数するものである。−
Ｆ記制御回路８２は、■ラージ−１〜チエツクモート時
、個々のバイアス電圧ごとに１１へラックに対してカウ
ンタ８８から供給されるカウンＩ〜数（エラーレート）
を記憶回路８９に記憶するようになっている。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、光デイスク装置２２に光ディスク１９を設
定する。すると、ＣＰＵ１２はエラーレートチェックモ
ードと判断し、その信号を制御回路８２に出力する。こ
れにより、制（社）回路８２は図示しない変換テーブル
部を用いてフォーカスチェックエリアａの開始トラック
番号と開始セクタとを算出する。このｌ・ラック番号に
より、制御回路８２はそのトラック番号をスケール値に
変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出力
により検出される位置とが一致するまでリニアモータド
ライバ８３を駆動ゼしめる。ついで、制御回路８２はセ
クタカウンタ３７のカウンｌ〜値と上記開始セクタとが
一致した際、フォーカスチェックエリアａに対するデー
タの再生を開始する。この場合、制御回路８２はまず基
準信号発生回路６５から発生されるバイアス電圧がＯポ
ル１〜となる信号を基準信号発生回路６５に出力する。

このような状態において、半導体レーザ４１から発生さ
れた発散性の偏光度のレーザ光束（再生ビーム光）は、
コリメータレンズ４３によって平行光束に変換され、偏
光ビームスプリッタ４４に導かれる。この偏光ビームス
プリッタ４４に導かれたレーザ光１−は、この陽光ビー
ムスプリッタ４４を通過した後、１，７４波長板４５を
通過して対物レンズ４６に入用され、この対物レンズ４
６によって光ディスク１つの記録膜１９ａに向けて集束
される。この状態におい°Ｃ１この再生ビーム光に対４
−る光デ、ｆスク１９からの反射光は、対物レンズ４６
によって平行光束に変換され、再び１７７４波長板４５
を通過して偏光ビームスプリッタ４４に戻される。レー
ザ光１−が１／４波長板４５を往復することによって、
このレーザ光りは偏光ビームスプリッタ４４を通過した
際に比べて偏波面が９０度回転しており、この９０度だ
（）偏波面が回転したレーザ光Ｌ−は、偏光ビームスプ
リッタ４４を通過せずに、この偏光ヒームスプリツタ４
４で反射される。そして、偏光ビームスプリッタ４４で
反射したレーザ光しはハーフミラ−４７によって２系統
に分けられ、その一方（１〜ラツクずれ検出系）のし〜
ザビームＬは第１の投射レンズ４８によって第１の光検
出器４９上に照射される。一方、ハーフミラ−４７によ
って分けられた他方（焦点ぼ（プ検出系）のレーザビー
ムしは、ナイフエッチ（光抜出し部材）５０によって光
軸から離間した領域を通過する成分のみ抜出され、第２
の投射レンズ５１を通過した後筒２の光検出器５２上に
照射される。したがって、光検出セル５２ａ、５２ｂ、
４９ａ、４９ｂから照射光に応じた信号が出力され、そ
れらの信号がそれぞれ増幅器６１．６２．７１．７２に
供給される。

これにより、上記増幅器６１からの信号は増幅器６３で
増幅され差動増幅器６８に供給される。

また、増幅器６２からの出力は差動増幅器６４に供給さ
れる。このとき、基準信号発生回路６６は「０」ボルト
のバイアス電圧を差動増幅器６４に供給している。これ
により、差動増幅器６４は増幅器６２から供給される信
号にバイアス電圧（ＯＶ）を加えた信号を差動増幅器６
８に出力する。したがって、差動増幅器６８は光検出セ
ル５２ａからの検出信号と、光検出セル５２ｂからの検
出信号にバイアス電圧（ＯＶ）を加えた信号との差を取
ることにより得られる信号を、波形整形回路６９を介し
て駆動回路７０に出力する。これにＪ：す、駆動回路７
０は波形整形回路６９からの信号に応じてコイル５４に
所定の電流を供給し、　　　　　・対物レンズ４６を垂
直方向に駆動して、フォーカス位置を移動する。

このような状態において、増幅器７１．７２の出力は加
算回路７９で加算され、２値化回路８゜に供給される。

ついで、イの２値化回路８０で２値化されたデータは復
調回路８１で復調され、制御回路８２およびＣＲＣチェ
ック回路８７に供給される。これにより、制御回路８２
は対応するトラックのプリヘッダを判断した場合、その
ヘッダに続【プて読出されるデータに対するＣＲＣチェ
ック回路８７のチェック結果を、カウンタ８８で計数す
る。そして、１トラック分に対するチェックが行われた
時、制御回路８２はカウンタ８８の内容をバイアス「Ｏ
Ｖ」に対するエラー数として記憶回路８９に記憶すると
ともに、カウンタをクリアする。

ついで、制御回路８２は基準信号発生回路６５からの発
生されるバイアス電圧が＋１ポル１へとなる信号を基準
信号発生回路６５に出力する。これにより、上記増幅器
６１からの信号は増幅器６３で増幅され差動増幅器６８
に供給される。また、増幅器６２からの出力は差動増幅
器６４に供給される。このとき、基準信号発生回路６６
は「＋１」ボルトのバイアス電圧を差動増幅器６４に供
給している。これにより、差動増幅器６４は増幅器６２
から供給される信号にバイアス電圧（＋Ｉ　Ｖ　）を加
えた信号を差動増幅器６８に出力する。したがって、差
動増幅器６８は光検出セル５２ａからの検出信号と、光
検出セル５２ｂからの検出信号にバイアス電圧（＋１ｖ
＞を加えた信号との差を取ることにより得られる、信号
を波形整形回路６９を介して駆動回路７０に出力する。

これにより、駆動回路７０は波形整形回路６９からの信
号に応じてコイル５４に所定の電流を供給し、対物レン
ズ４６を垂直方向に駆動して、フォーカス位置を移動す
る。

このような状態において、増幅器７１．７２の出力は加
算回路７９で加算され、２値化回路８０に供給される。

ついで、その２値化回路８０で２値化されたデータは復
調回路８１で復調され、制御回路８２およびＣＲＣチェ
ック回路８７に供給される。これにより、制御回路８２
は対応する１〜ラツクのプリヘッダを判断した場合、そ
のヘッダに続けて読出されるデータに対するＣＲＣチェ
ック回路８７のチェック結果を、カウンタ８８で計数す
る。そして、１１〜ラツク分に対するチェックが行われ
た時、制御回路８２はカウンタ８８の内容をバイアスｒ
＋ＩＶＪに対づるエラー数として記憶回路８９に記憶す
るとともに、カウンタをクリアづ−る。

ざらに、制御回路８２は基準信号発生回路６５からの発
生されるバイアス電圧が１ホル１〜ずつ加えた電圧とな
る信号を基準信号発生回路６５に順次出力し、上記同様
に動作することにより、それぞれのバイアス電圧（ＩＶ
〜＋ｎｖ＞に対するエラー数を求め記憶回路８９に記憶
する。

そして、ブリへツタがトラッキングエラー、フォーカス
異常等にＪ：り読取れないバイアス電圧となった場合、
制御回路８２は基準信号発生回路６５からの発生される
バイアス電圧が一１ボルトから１ボルトずつ引いた電圧
となる信号を基準信号発生回路６５に順次出力し、上記
同様に動作することにより、それぞれのバイアス電圧（
−１Ｖ〜−ｎＶ）に対するエラー数を求め記憶回路８９
に記憶する。

そして、プリヘッダがトラッキングエラー、フォーカス
異常等により読取れないバイアス電圧となった場合、制
御回路８２は記憶回路８９に記憶した各バイアス電圧に
対するエラー数（エラーレート）から最適バイアスを求
め、この求めたバイアスに対応する信号を基準信号発生
回路６５に出力する。たとえば、第５図に示すように、
バイアス電圧が一２ボルトと＋６ボルトの時、エラーレ
ートが１０−”（エラー数的５０）、バイアス電圧が一
１ボルトと＋５ボルトの時、エラーレートが１０瘍（エ
ラー数的５）、バイアス電圧がＯポルＩ〜〜＋４ポルＩ
〜の時、エラーレートが１０″＆（エラー数Ｏ）、とい
うエラールー１〜か得られた場合、最適なバイアス電圧
は＋２ポル１−と判断され、基準信号発生回路６５から
＋２ボルトのバイアス電圧が発生されるようにする。こ
れにより、対物レンズ４６を最良の位置に設定すること
ができ、取付は位置ずれに対するマージンも広く取る゛
ことができる。

つぎに、上記のようにして最適フォーカス位置への設定
が終了した状態において、データの記録を説明する。た
とえば今、前記主制御Ｉ波装置１のＣＰＵ１２から記録
を行う（アクセスする）ブロック番号が制御回路８２に
供給されたとする。Ｊると、制御回路８２は図示しない
変換テーブル部を用いて目的のブロックに対するトラッ
ク番号と開始セクタとを算出する。この１〜ラツク番号
により、制御回路８２はそのトラック番号をスケール値
に変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出
力により検出される位置とが一致するまてリニアモータ
［・ライバ８３を駆動せしめる。ついで、制御回路８２
はセクタカウンタ３７のカラン１〜値と上記開始セクタ
どが一致した際、光ディスク１９に対するデータの記録
を開始刃−る。このとき、制御回路８２からの記録デー
タは変調回路８５で変調され、レーザドライバ８６へ供
給される。これにより、レーザドライバ８６は供給され
る変調信号に応じて光学ヘッド３１内の半導体レーザ４
１を駆動ブることにより、データの記録を行う。

また、データの再生について説明する。たとえば勺、前
記１−制御装置１１のＣＰＵ１２から再生を行う（アク
セスする）ブＩコック番号が制御回路８２に供給された
とづる。すると、制御回路８２は図示しない変換テーブ
ル部を用いて目的のブロックに対するトラック番号と開
始セクタどを算出覆る。このトラック番号により、制御
回路８２はそのＩ−ラック番号をスケール値に変換し、
このスケール値と図示しない位置検８」器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
８３を駆動ぜしめる。ついて、制御７１１回路８２はセ
クタカウンタ３７のカウント舶と十ｎＬ　ｎｉＩ始レク
しどか−＋’ｔした際、光ディスク１９に対Ｊるｊ−タ
の再生を開始Ｊる。このとき、光学ｌ＼ツ（・３１の読
取信号は２稙化回路８０に供給きれ、この２値化回路８
０で２値化された信号は（り調回路８１に供給される、
この復調回路８１は、２伯化回路８０から供給される信
号を復調し、この復調した再生データを制御回路８２へ
出力する。づると、制御回路８２１まイの再住データを
前記主制御ｊ１１装置１１内のページバッファ１４に出
力覆る。

すなわち、半導体レーザ４１から発ｑ：された発散性の
レーザ光１−は、］リメータレンズ４３にＪ、って平行
光束に変換され、偏光ビームスブリック７１Ｉ４に導か
れる。この偏光ビームスプリッタ７′Ｉ４に導かれたレ
ーザ光りは、この偏光ビームスプリッタ４４を通過した
後、１７４波長板４５５を通過してλ１物ｌノンズ４６
に大剣され、この対物レンズ４６によって光ディスク１
９の記録ＩＩ！　１９　ａに向１プて集束される。この
状態にａ５いて、情報の記録を行う際には、強光度のレ
ーザ光束（記録ビーム光）の照射によって、光デイスク
１９上のトラックにビットが形成され、記録ビーム光の
照射を行う際以外および情報の再生を行う際には、弱光
型のレーザ光束（再生ビーム光）が照射される。この再
生ビーム光に対づる光ディスク１９からの反射光は、対
物レンズ４６によって平行光束に変換され、再び１／４
１波長板４５を通過して偏光ビームスプリッタ４４に戻
される。レーザ光りが１／４波長板４５を往復すること
によって、このレーザ光りは偏光ビームスプリンタ４４
を通過した際に比べて偏波面が９０度回転しており、こ
の９０度だけ偏波面が回転したレーザ光１−は、偏光ビ
ームスプリッタ４４を通過せずに、この偏光ビームスプ
リッタ４４で反則される。そして、偏光ビームスプリッ
タ４４で反射したレーザ光りはハーフミラ−４７によっ
て２系統に分（プられ、その一方（トラックずれ検出系
）のレーザビームＬは第１の投射レンズ４８によって第
１の光検出器４９上に照射される。一方、ハーフミラ−
４７によって分（プられた他方（焦点ぼけ検出系）のレ
ーザじ−ムＬは、ナイフ］−ツヂ（光仇出し部＋４　）
　５０によって光軸から＃１間した領域を通過する成分
のみ１ｈ出され、第２の投射レンズ５１を通過した後、
第２の光検出器５２上に照射される。したがって、光検
出セル５２ａ、５２ｂ、４９ａ、４９ｂから照射光（、
こ応じた信号が出力され、それらの信号かイれぞれ増幅
器６１．６２．７１．７２に供給される。これにより、
増幅器７１．７２の出力は加算回路７９により加算され
、この加算結果が読取信号（再生信号）として２１１化
回路８０に供給されるわ このような状態において、情報の記録時および再生詩に
お（）るフォー力ツシング動作について説明する。ずな
わら、上記増幅器６１からの信号は増幅器６３で増幅さ
れ差動増幅器６８に供給される。また、増幅器６２から
の出力は差動増幅器６４に供給される。このとき、基準
信号発生回路６６には制御回路８２から前述したエラー
シー１−チェックモードで得られた信号が供給されてい
る、このため、基準信号発生回路６６はたとえは基準信
号として１−２ボルトのバイアス電圧を差動増幅器６４
に供給している。これにより、差動増幅器６４は増幅器
６２から供給される信号にバイアス電圧を力Ｉえた信号
を差動増幅器６８に出力する。

したがって、差動増幅器６８は光検出セル５２ａからの
検出信号と、光検出しル５２ｂからの検出信号にバイア
ス電Ｕ−（オフｐツ１へ電圧）を加えた信号との差を取
ることにより得られる、焦点は（）に応じた信号を波形
整形回路６９を介して駆動回路７０に出力Ｊる。これに
より、駆動回路７０は波形整形回路６つからの信号に応
じてコイル５４に所定の電流を供給し、対物レンズ４６
を垂直方向に駆動して、記録時にお【ＪるフＡ−力ツシ
ングを行う。この結果、記録時におＩＪる対物レンズ４
６にＪ：るビームスボッ１〜が、対物レンズ４６の機構
的位置ずれが生じていたどしても、上記バイアス電圧に
より補正することにより、最適位置とすることができる
。

また、他の光ディスク１９をか（プかえた際、あるいは
オープン峙に、」＝記のＪ、うに最適調整ＩＱ［θにり
Ｊ物しンスによる焦点！ｉｌ　昭を変更Ｊるよう（こし
ても良い。

上記したように、光ディスク１９の光ディスク装置２２
への設定（か（Ｊかえ）時に、最適調整位置に対物１ノ
ンズによる焦点位置を変更７ることかでき、またＪシー
レイ１〜が最良の位置に設定覆ることができ、調整位置
ずれに対重るマージンも仏画を常に最適調整位置に補正
づることができ、］−ラーレイ１へか向上し、調整位置
ｆねに対重るマージンを広く持つことができるディスク
装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示４もので、第１図は画像
情報記憶検索装置の構成を示ゴブ〔ｊツク図、第２図は
光ディスクの（Ｒ成を説明づるための平面図、第３図お
よび第４図はディスク装置の構成を概略的に示す図、第
５図はバイアス電圧と工う−ルー１〜の関係を説明する
ための図である。 １９・・・光ディスク（ディスク）、ａ・・・フォー力
スチェックエリア、２２・・・光デイスク装置、３１・
・・光学ヘッド、４１・・・光源（半導体レーザ）、４
６・・・対物レンズ、５２・・・第２の光検出器、５２
ａ、５２ｂ・・・光検出セル、６１．６２・・・増幅器
、６３．６４．６８・・・差動増幅器、６５・・・基準
信号発生回路、６９・・・波形整形回路、７０・・・駆
動回路、８０・・・２値化回路、８１・・・復調回路、
８２・・・制御回路、８７・・・ＣＲＣチェック回路、
８８・・・カウンタ、８９・・・記憶回路。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）集束光を用いディスクに対して情報の記録あるい
   は再生を行うディスク装置において、光源と、この光源
   から発せられる光を前記ディスク上に集束する集束手段
   と、この集束手段によるディスク上での集束位置を変更
   する変更手段と、この変更手段により変更された種々の
   集束位置でのエラーレートを判定する判定手段と、この
   判定手段で得られた種々のエラーレートを記憶する記憶
   手段と、この記憶手段に記憶したエラーレートにより最
   適集束位置を判断する判断手段と、この判断手段の判断
   結果に対応した集束位置に前記集束手段を設定する手段
   とを具備したことを特徴とするディスク装置。
2. （２）前記集束手段の適正位置への設定が、ディスクの
   設定時に行われることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載のデイスク装置。
3. （３）前記エラーレートの判定が、ディスクにあらかじ
   め設けられているフォーカスチェックエリアを用いて行
   うことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のディス
   ク装置。