JPS61211844A - デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、たとえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などのデ
ィスク装置に関づる。

［発明の技術的背頃］ 近年、多量に発生覆る支出などの画像情報を２次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーどして再生出力し得る画像
情報ノアイル装置が用いられている。

従来、このような光デイスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。

［背景技術の問題点］ しかしながら、上記のようなディスクを用いた光デイス
ク装置では、光学ヘッドにおける対物レンズのフォー力
ツシングを行う場合、取付（プ誤差等により適正な位置
にビームが照射されないため、）Ａ−カツシング用の検
知信号を増幅する際に、バイアス電圧（オフセット電圧
）を印加することにより、焦点位置を補正するようにな
っている。

しかし、上記Ｊ：うな補正は、取付は時（出荷時）に最
適調整位置つまりエラーレイト（誤差発生率）が最良と
なる位置が設定されているだけである。

このため、実際の可動により読取りエラーが生じ、情報
の再生が行えない場合があった。

［発明の目的］ この発明は上記事情にもとづいてなされたもので、その
目的とするところは、読取りエラーが生じた場合でも、
確実に情報の再生を行うことができるディスク装置を提
供することにある。

［発明の概要］ この発明は、上記目的を達成するために、集束光を用い
ディスクに対して情報の記録あるいは再生を行うものに
おいて、読取りエラーが生じた時、光源から発せられる
光を上記ディスク上に集束する集束手段によるディスク
上での集束位置を変更し、この変更された種々の集束位
置で情報の再生が行われるか否かを判定し、この判定結
果に応じた再生可能な集束位置で再生を行うようにした
ものである。

［発明の実施例］ 以下、この発明の一実施例を図面を参照しながら説明す
る。

第１図はこの発明に係わる画像情報記憶検索装置を示す
ものである。すなわち、１１は主制御装置であり、各種
制御を行うＣＰＵ１２．メインメモリ１３、ページバッ
ファ１４、画像情報の圧縮（冗長度を少なくする）おＪ
ζび伸長く少なくされた冗長度を元に戻す）を行う圧縮
・伸長回路１５、文字あるいは記号などのパターン情報
が格納されたパターンジェネレータ１６、および表示用
インターフェイス１７などから構成されている。２゜は
読取装置たとえば二次元走査装置で、原稿〈文書）を２
１上をレーザビーム光で二次元走査することにより、上
記原稿２１上の画像情報に応じた電気信号を得るもので
ある。２２は光デイスク装置で、上記二次元走査装置２
０で読取られて上記主制御装置１１を介して供給される
画像情報などを光ディスク１９に順次記憶するものであ
る。

上記光ディスク１９は第２図に示すように、たとえばガ
ラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された基
板の表面にテルルあるいはビスマスなどの金属被膜層が
ドーナツ形にコーティングされており、その金属被膜層
の中心部近傍には切欠部つまり基準位置マーク１９１が
設けられている。また、上記光デイスク１９上は基準位
置マーク１９１を「０」として「Ｏ〜２５５」の２５６
セクタに分割されるようになっている。

上記光ディスク１９には可変長の情報（画像情報）が複
数のブロックにわたって記憶されるようになっており、
光デイスク１９上の３６，０００トラツクに３０万ブロ
ツクの情報が記憶されるようになっている。なお、上記
光ディスク１９にお（プる１ブロツクのセクタ数はたと
えば内側で４０セクタになり、外側では２０セクタにな
るようになっている。また、各ブロックがセクタの切換
え位置で終了しない場合、第２図に示す第ｎブロックと
第ｎ＋１ブロックとで示すように、ブロックギャップを
設（プ、各ブロックが必ずセクタの切換え位置から始ま
るようになっている。上記ブロックの開始位置にはブロ
ック番号、ｌ・ラック番号などからなるブロックヘッダ
（プリヘッダ）Ａがた　　、とえば光ディスク１９の製
造時に記録されるようになっている。

一方、２３はキーボードで、画像情報に対応する固有の
検索コードおよび各種動作指令などを入力するためのも
のである。２４は出力装置たとえば表示部であるところ
の陰極線管表示装＠（以下ＣＲＴディスプレイ装置と称
する）で二次元走査装置２０で読取られて主制御装置１
１を介して供給される画像情報あるいは光デイスク装置
２２から読出されて主制御装置１１を介して供給される
画像情報などを表示するものであり、主制御装置１１に
お【ブる表示用インターフェイス１７とで大きな意味の
画像情報表示装置を構成している。

２５は記録装置で、二次元走査装置２０で読取られて主
制御装置１１を介して供給される画像情報あるいは光デ
イスク装置２２から読出されて主制御装置１１を介して
供給される画像情報などをハードコピー２６として出力
するものである。２７は磁気ディスク装置で、上記キー
ボード２３により入力された検索コードとこの検索コー
ドに対応する１件分の画像情報のサイズと画像情報が記
憶される光デイスク１９上の記憶アドレスからなる検索
データを磁気ディスク２８に１件分の画像情報ごとに記
憶するものである。

上記検索データは、複数の検索キーからなる検索コード
（画像名）と、この検索コートに対応する画像情報の光
ディスク１９における画像格納先頭ブロック番号、画像
記憶ブロック数（画像の長さ）どからなっている。

次に、第３図および第４図を用いて光デイスク装置２２
の要部の構成を説明する。すなわち、光ディスク１９は
、モータ３０によって光学ヘッド３１に対して、線速一
定で回転駆動されるようになっている。上記モータ３０
の軸３２には、信号発生用マークが一定間隔で設けられ
ている円板３３が固定されていて、この円板３３のマー
クを発光ダイオードと受光素子とからなる検出器３１１
Ｉにより光学的に検出するようになっている。また、上
記光ディスク１つの下方には前記基準位置マーク１９１
を光学的に検出器る発光ダイオードと受光素子とからな
る検出器３５が設（プられている。

上記検出器３４の出力つまり受光素子の出力は増幅部３
６を介してレクタカウンタ３７のクロックパルス入力端
に供給され、このレクタカウンタ３７のリセッＩ−入力
端には上記検出器３５の出力が増幅部３８を介して供給
される。

また、上記光ディスク１の裏側には、情報の記録、再生
を行うための光学ヘッド３１が設けられている。この光
学ヘッド３１は、次のように構成される。すなわち、４
１は半導体レーザ（光源）であり、この半導体レーザ４
１からは発散性のレーザ光ｌ−が発生される。この場合
、情報を上記光ディスク１９の記録膜１９ａに閤き込む
（記録）に際しては、書き込むべき情報に応じてその光
強度が変調されたレーザ光りが発生され、情報を光ディ
スク１つの記録膜１９ａから読み出す（再生）際には、
一定の光強度を有するレーザ光りが発生される。そして
、半導体レーザ４１から発生された発散性のレーザ光り
は、コリメータレンズ４３によって平行光束に変換され
、偏光ビームスプリッタ４４に導かれる。この偏光ビー
ムスプリッタ４４に導かれたレーザ光しは、この偏光ビ
ームスプリッタ４４を通過した後、１／４波長板４５を
通過して対物レンズ４６に入射され、この対物レンズ４
６によって光ディスク１９の記録ＩＪ　１９　ａに向【
プて集束される。ここで、対物レンズ４６は、その先軸
方向および光軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支
持されており、対物レンズ４６が所定位置に位置される
と、この対物レンズ４６から発ぜられた集束性のレーザ
光りのビームウェストが光ディスク１９の記録膜１９ａ
の表面上に投射され、最小ビームスポットが光ディスク
１９の記録１Ｂ１１９ａの表面上に形成される。この状
態において、対物レンズ４６は合焦状態および合トラッ
ク状態に保たれ、情報の書き込みおよび読み出しが可能
となる。

一〇− また、光ディスク１９の記録ＩＪ　１９　ａから反射さ
れた発散性のレーザ光［は、合焦時にはグ・１物レンズ
４６によって平行光束に変換され、再び１，７７４波長
板４５を通過して偏光ビームスプリッタ４４１こ戻され
る。レーザ光りが１／４１皮長イ反４５を往復すること
によって、このレーザ光１−は偏光ビームスプリッタ４
４を通過した際に比べて１１波面が９０度回転しており
、この９０度だ【プ偏波面が回転したレーザ光］−は、
偏光ビームスプリッタ４４を通過せずに、この偏光ビー
ムスプリッタ４４で反射される。そして、偏光ビームス
プリッタ４４で反射したレーザ光しはハーフミラ−４７
によって２系統に分（プられ、その一方（１〜ラツクず
れ検出系）のレーザビームしは第１の投射レンズ４８に
よって第１の光検出器４９上に照射される。この第１の
光検出器４９は、第１の投射レンズ４８によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル４９ａ、４９
ｂによって構成されている。これらの光検出セル４９ａ
、４９ｂによって出力される信号としては、それぞれγ
信号、β信号が出力されるようになっている。

一方、ハーフミラ−４７によって分けられた他方（焦点
ぼ（プ検出系）のレーザビームＬは、ナイフエッチ（光
（友出し部材）５０によって光軸から離間した領域を通
過する成分のみ抜出され、第２の投射レンズ５１を通過
した侵第２の光検出器５２上に照射される。この第２の
光検出器５２は、第２の投射レンズ５１によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル５２ａ、５２
ｂによって構成されている。これらの光検出セル５２ａ
、５２ｂによって出力される信号としては、それぞれα
信号、β信号が出力されるようになっている。

上記光学ヘッド３０の出力つまり各光検出セル４９ａ、
４９ｂ、５２ａ、５２ｂの出力は、それぞれ増幅器６１
．６２．７１．７２に供給される。

上記増幅器６１の出力は増幅器６３を介して減算回路と
しての差動増幅器６８の非反転入力端に供給される。ま
た、上記増幅器６２の出力は差動増幅器６４の非反転入
力端に供給され、この差動増幅器６４の反転入力端には
基準信号発生回路６５からバイアス電圧（７１フセツ１
〜電圧）が供給される。上記基準信号発生回路６５は制
御回路８２がら供給される信号（ティジタル信号）に応
じて種々の基準信号としてのバイアス電圧（アナ［コグ
信号）を出力するものである。この基準信号発生回路６
５は、記録時、および再生時に対物レンズ１６によるビ
ームスボッ１〜が最適位置となるようにするための、基
準信号どしてのバイアス電圧を出力するものである。ま
た、上記基準信号発生回路６５は、エラ一時に対物レン
ズ１６によるビームスポットを移動するための、バイア
ス電圧を出ツノするものである。たとえば、上記基準信
号発生回路６５は制御回路８２から供給される信号によ
り一１０ポル１へ、−９ポル１−１〜＋１０ボルトのバ
イアス電圧を出力するようになっている。

また、上記差動増幅器６４の出力は差動増幅器６８の反
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器６８は
光検出セル５２ａからの検出信号と、光検出セル５２ｂ
からの検出信号にオフレッ１へ電圧を加えた信号との差
を取ることにより、焦点ぼけに応じた信号を出ツクする
ものである。上記差動増幅器６８の出力は、波形整形回
路６って整形され、駆動回路７０に供給される。この駆
動回路７０は、波形整形回路６９から供給される信号に
応じて、前記対物レンズ４６を光ディスク１９の記録面
１９ａに対して垂直方向に駆動するコイル５４に対応す
る電流を供給することにより、対物レンズ４６を駆動す
るものである。

また、上記増幅器７１の出力は増幅器７３を介して減算
回路としての差動増幅器７６の非反転入力端に供給され
る。また、上記増幅器７２の出力は差動増幅器７４の非
反転入力端に供給され、この差動増幅器７４の反転入力
端には基準信号発生回路７５からバイアス電圧（オフセ
ット電圧）が供給される。上記基準信号発生回路７５は
、記録時および再生時に対物レンズ１６によるビームス
ボッ１〜がＲ適位置となるようにするための、基準信号
としてのバイアス電圧を出力するものであり、その値は
装置への設定時にセツティングされるようになっ−Ｃい
る。

また、上記差動増幅器７４の出力は差動増幅器７６の反
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器７８は
光検出セル４９ａからの検出信号と、光検出セル４９　
ｂからの検出信号にオフセット電圧を加えた信号との差
を取ることにより、通常の１〜ラッキング時のトラック
ずれに応じた信号を出力するものである。上記差動増幅
器７６の出ノ〕は、波形整形回路７７で整形され、駆動
回路７８に供給される。この駆動回路７８は、波形整形
回路７７から供給される信号に応じて、前記対物レンズ
４６を光ディスク１つの記録面１９ａに対して水平方向
に駆動するコイル５３に対応する電流を供給することに
より、対物レンズ４６を駆動するものである。

また、上記増幅器７１の出力および上記増幅器７２の出
力は加算回路７９に供給される。この加算回路７つは、
それらの信号を加障した結果を読取信号として後述づる
２値化回路８０に出力するものである。

また、前記光学ヘッド３０の出力つまり加算回路７９の
出力は２値化回路８０に供給され、この２値化回路８０
で２１直化された信号は復調回路８１でＩＩ調されて制
御回路８２に供給されるとともに、ＣＲＣチェック回路
８７に供給される。上記１９調回路８′１は再生データ
の復調を行うものである。上記制ｉｌ１回路８２は外部
装置つまり前記ＣＰＵ１２からの信号に応じて装置全体
を制御するものである。上記制御回路８２は、たとえば
記録あるいは再生を行うブロック番号が供給された時、
図示しない変換テーブル部に記憶されている変換テーブ
ルに応じてアクセスするトラック番号、開始セクタ番号
を算出するものである。また、上記制御回路８２は、１
〜ラツク番号を算出した時、その１〜ラツク番号をスケ
ール値に変換し、このスケール値と図示しない位置検出
器の出力により検出される位置とが一致づるまでリニア
モータドライバ８３を駆動制御するようになっている。

このリニアモータドライバ８３は、制御回路８２の制御
によりリニアモータ機構８４で光学ヘッド３１を移動せ
しめ、光学ヘッド３１のビーム光が所定の１〜ラツクを
照射せしめるＪ：うになっている。上記リニアモータ機
構８４は、光学ヘラｌ’　３１を光デイスク１９上にＪ
５ける半径方向に移動させるものである。また、制御回
路８２は上記アクセス時の目的のトラックに光学ヘッド
３１が対応したとき、開始セクタど前記セクタカウンタ
３７のカラン］・値が一致したときに、光学ヘッド３１
の記録、再生動作を開始せしめるものである。

また、上記制御回路８２は前記ページバッファ１４から
の記録データを変調回路８５で変調してレーザドライバ
８６に供給する。上記変調回路８５は制御１回路８２か
ら供給される記録データの変調を行うものである。上記
レーザドライバ８６は供給される変調信号に応じて光学
ヘッド３１内の半導体レーザ４１を駆動することにより
、データの記録を行うものである。

上記ＣＲＣチェック（ナイフリック　リダンタンシイ　
チェック）回路８７は、復調回路８１から供給される復
調信号により、たとえば１６バイ１〜ごとのデータとＣ
ＲＣコードとにより周期冗長検査を行う回路である。こ
のＣＲＣチェック回路８７によるチェック結果は制御回
路８２を介してカウンタ８８に供給される。このカウン
タ８８は供給されるエラー数を計数するものである。上
記制御回路８２は、再生時、１ブロツクごとにカウンタ
８Ｂで計数されたカウント数で読取り（再生）エラーを
判定するようになっている。

次に、このような構成において動作を説明する。

まず、データの記録を説明する。たとえば今、前記主制
御装置１１のＣＰＵ１２から記録を行う（アクセスする
）ブロック番号が制御回路８２に供給されたとする。す
ると、制御回路８２は図示しない変換テーブル部を用い
て目的のブロックに対するトラック番号と開始セクタと
を算出する。

この１−ラック番号により、制御回路８２はその［ヘラ
ツク番号をスケール値に変換し、このスケール値と図示
しない位置検出器の出力により検出される位置とが一致
するまでリニアモータドライバ８３を駆動せしめる。つ
いで、制御回路８２はセフタカウンタ３７のカウント値
ど上記開始セクタどが一致した際、光ディスク１９に対
するサークの記録を開始する。このとき、制御回路８２
からの記録データは変調回路８５で変調さｆｌ、レーザ
ドライバ８６へ１共給される。これ（こより、レーザド
ライバ８６は供給される変調信号に応じて光学ヘッド３
１内の半導体レーザ４１を駆動することにより、データ
の記録を行う。

また、データの再生について説明する。たとえば今、前
記主制御装置１１のＣＰＬＪ１２から再生を行う（アク
セスする）ブロック番号が制御回路８２に供給されたと
する。すると、制御回路８２は図示しない変換テーブル
部を用いて目的のブ［コックに対する］ヘラツク番号と
開始セクタどを算出する。この１−ラック番号により、
制御回路８２１ｊそのトラック番号をスケール値に変換
し、このスケール値と図示しない位置検出器の出力にｊ
：り検出される位置とが一致するまでリニアモータドラ
イバ８３を駆動ゼしめる。ついで、制御ａ１１回路８２
はセクタカウンタ３７のノノウント値と、に紀開始しフ
タとが一致した際、光ディスク１９に対するデータの再
生を開始する。このとき、光学ヘッド３１の読取信号は
２値化回路８ｏに供給され、この２値化回路８０で２値
化された信号は復調回路８１に供給される。この復調回
路８１は、２値化回路８０から供給される信号を復調し
、この復調した再生データを制御回路８２へ出力するす
ると、制御回路８２はその再生データを前記主制御Ｉ装
置１１内のページバッファ１４に出ノ〕する。

すなわち、半導体レーザ４１から発生された発散性のレ
ーザ光りは、コリメータレンズ４３によって平行光束に
変換され、偏光ビームスプリッタ４４に導かれる。この
偏光ビームスプリッタ４４に導かれたレーザ光りは、こ
の偏光ビームスプリンタ４４を通過した後、１／４波長
板４５を通過して対物レンズ４６に入射され、この対物
レンズ４６によって光ディスク１９の記録膜１９ａに向
けて集束される。この状態において、情報の記録を行う
際には、強光度のレーザ光束（記録ビーム光）の照射に
よって、光デイスク１９上の１〜ラツクにビットが形成
され、記録ビーム光の照射を行う際以外および情報の再
生を行う際には、弱光度のレーザ光束（再生ビーム光）
が照射される。この再生ビーム光に対する光デ′イスク
１９力目らの反射光は、対物レンズ４６によって平行光
束に変換され、再び１／４波長板４５を通過して偏光ビ
ームスプリッタ４４に戻される。レーザ光りが１，７／
４波長板４５を往復することによって、このレーザ光り
は偏光ビームスプリッタ４４を通過した際に比べて偏波
面が９０度回転しており、この９０度だけ偏波面が回転
したレーザ光りは、偏光ビームスプリッタ４４を通過せ
ずに、この偏光ビームスプリッタ４４で反射される。そ
して、偏光ヒ゛−ムスプリッタ４４で反射したレーザ光
１はハーフミラ−４７によって２系統に分けられ、その
一方（１〜ラツクずれ検出系）のレーザビームＬは第１
の投射レンズ４８によって第１の光検出器４９上に照射
される。一方、ハーフミラ−４７によって分けられた他
方（焦点ぼけ検出系）のレーザど−ムＬは、ナイフエッ
ヂ（光描出し部材）５０にょって光軸から離間した領域
を通過する成分のみ抜出され、第２の投射レンズ５１を
通過した後、第２の光検出器５２上に照射される。した
がって、光検出セル５２ａ、５２ｂ、４９ａ、４９ｂが
ら照射光に応じた信号が出力され、それらの信号がそれ
ぞれ増幅器６１．６２．７１．７２に供給される。これ
により、増幅器７１．７２の出力は加算回路７９により
加算され、この加算結果が読取信号（再生信号）として
２値化回路８０に供給される。

このような状態において、情報の記録時および再生時に
おけるフォー力ツシング動作について説明する。すなわ
ち、上記増幅器６１からの信号は増幅器６３で増幅され
差動増幅器６８に供給される。また、増幅器６２からの
出力は差動増幅器６４に供給される。このとき、基準信
号発生回路６６には制御回路８２から最適フォーカス位
置となる信号が供給されている。このため、基準信号発
生回路６６はたとえば基準信号としてのバイアス電圧を
差動増幅器６４に供給している。これにより、差動増幅
器６４は増幅器６２から供給される信号にバイアス電圧
を加えた信号を差動増幅器６８に出力する。したがって
、差動増幅器６８は光検出セル５２ａからの検出信号と
、光検出セル５２ｂからの検出信号にバイアス電圧（オ
フセット電圧）を加えた信号との斧を取ることにより得
られる、焦点ぼけに応じた信号を波形整形回路６９を介
して駆動回路７０に出力する。これにより、駆動回路７
０は波形整形回路６９からの信号に応じてコイル５４に
所定の電流を供給し、対物レンズ４６を垂直方向に駆動
して、記録時におけるフォー力ッシングを行う。この結
果、記録時における対物レンズ４６によるビームスポッ
トが、対物レンズ４６の機構的位置ずれが生じていたと
しても、上記バイアス電圧により補正することにより、
最適位置とすることができる。

また、上記のような再生時、復調回路８１からの再生デ
ータはＣＲＣチェック回路８７へ供給される。これによ
り、制御回路８２は対応するトラックのプリヘッダを判
断した場合、そのヘッダに続（プて続出されるデータに
対するＣＲＣヂエツク回路８７のチェック結果を、カウ
ンタ８８で計数する。そして、１ブロック分に対するチ
ェックが行われた時、制御回路８２はカウンタ８８の内
容が所定数に達している場合、読取りエラーを判断する
。この読取りエラーを判断した場合、制御回路８２はま
ず基準信号発生回路６５から発生されるバイアス電圧を
Ｏポルト（このとき設定されている最適バイアス電圧）
から＋１ボルトに変更する信号を基準信号発生回路６５
に出力する。

これにより、上記増幅器６１からの信号は増幅器６３で
増幅され差動増幅器６８に供給される。

また、増幅器６２からの出力は差動増幅器６４に供給さ
れる。このとき、基準信号発生回路６６は「＋１」ボル
トのバイアス電圧を差動増幅器６４に供給している。こ
れにより、差動増幅器６４は増幅器６２から供給される
信号にバイアス電圧（→−ＩＶ）を加えた信号を差動増
幅器６８に出ノｊする。したがって、差動増幅器６８は
光検出セル５２ａからの検出信号と、光検出セル５２ｂ
からの検出信号にバイアス電圧（＋１　Ｖ　）を加えた
信号との差を取ることにより得られる信号を、波形整形
回路６９を介して駆動回路７ｏに出力する。

これにより、駆動回路７０は波形整形回路６９がらの信
号に応じて］イル５４に所定の電流を供給し、対物レン
ズ４６を垂直方向に駆動して、フォーカス位置を移動す
る。

このような状態において、増幅器７１．７２の出力は加
算回路７って加算され、２値化回路８０に供給される。

ついで、その２値化回路８ｏで２値化されたデータは復
調回路８１で復調され、制御回路８２およびＣＲＣチェ
ック回路８７に供給される。これにより、制御回路８２
は対応するトラックのブリヘッダを判断した場合、その
ヘッダに続けて読出されるデータに対するＣＲＣチェッ
ク回路８７のチェック結果を、カウンタ８８で計数する
。そして、１ブロック分に対するチェックが行われた時
、制御回路８２はカウンタ８８の内容が所定数に達して
いるか否がで、読取りエラーを判断する。この結果、読
取りエラーが生じてぃないと判断した場合、前記再生動
作を行う。また、読取りエラーを判断した場合、制御回
路８２は基準信号発生回路６５から発生されるバイアス
電圧をさらに１ボルト加え＋２ボルトに変更する信号を
基準信号発生回路６５に出力する。これにより、上記バ
イアス電圧に応じたフォーカス位置に対物レンズ４６を
移動する。

このような状態において、再び１ブロック分に対するエ
ラー数により読取りエラーを判断する。

以後、読取りエラーか生じないフォーカス位置となるま
で、バイアス電圧を順次変更（＋３ボルト、・・・＋１
０ボルト、−１ボルト、・・・−１０ボルト）するよう
になっている。

上記したように、読取りエラーが生じた際に、対物レン
ズに対するフォーカス位置をバイアス電圧の変更により
最適位置の近くで変更し、読取りエラーの生じないフォ
ーカス位置で再生を行うことができるようにしたもので
ある。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、読取りエラーが
生じた場合でも、確実に情報の再生を行うことができる
ディスク装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示すもので、第１図は画像
情報記憶検索装置の構成を示すブロック図、第２図は光
ディスクの構成を説明するだめの平面図、第３図および
第４図はディスク装置の構成を概略的に示す図である。 １９・・・光ディスク（ディスク）、２２・・・光デイ
スク装置、３１・・・光学ヘッド、４１・・・光源（半
導体レーザ）、４６・・・対物レンズ、５２・・・第２
の光検出器、５２ａ、５２ｂ・・・光検出セル、６１．
６２・・・増幅器、６３．６４．６８・・・差動増幅器
、６５・・・基準信号発生回路、６９・・・波形整形回
路、７０・・・駆動回路、８０・・・２値化回路、８１
・・・１！！調回路、８２・・・制御回路、８７・・・
ＣＲＣヂエック回路、８８・・・カウンタ。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）集束光を用いディスクに対して情報の記録あるい
   は再生を行うディスク装置において、光源と、この光源
   から発せられる光を前記ディスク上に集束する集束手段
   と、エラーが生じた時、前記集束手段によるディスク上
   での集束位置を変更する変更手段と、この変更手段によ
   り変更された種々の集束位置で情報の再生が行われるか
   否かを判定する判定手段と、この判定手段により判定さ
   れた再生可能な集束位置で再生を行う手段とを具備した
   ことを特徴とするディスク装置。
2. （２）前記エラーが、読取りエラーであることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載のディスク装置。