JPS61211842A

JPS61211842A - デイスク装置

Info

Publication number: JPS61211842A
Application number: JP5374385A
Authority: JP
Inventors: Tomohisa Yoshimaru; 朝久吉丸
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1985-03-18
Filing date: 1985-03-18
Publication date: 1986-09-19

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の技術分野］この発明は、たどえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などのデ
ィスク装置に関する。

［発明の技術的背景］近年、多量に発生する文書なとの画像情報を２次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーとして再生出力し得る画像
情報ファイル装置が用いられている。

従来、このような光デイスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにＪ：り情報の記録あるいは再生が行われるように
なっている。

［背理技術の問題点１しかしながら、上記のようなディスクを用いた光ディス
ク装間では、光学ヘッドにおける対物レンズの）Ａ−力
ッシングを行う場合、取イ」け誤差等により適正な位置
にビームが照射され１．ｆＧまため、フィー力ツシング
用の検知信号を増幅り゛る際に、バイアス電圧（Ａフセ
ット電圧）を印加することにＪ：す、焦点位置を補正す
るようになっている。

しかし、上記ような補正は、取イ」け時（出荷時）に最
適調整位置つまりエラーレイｉ〜（誤差発生率）が最良
となる位置が設定されているだ【プである。

このため、実際の可動によりずれ（温度、湿度、振動、
ｍａ等による機械的ずれ）が生じた場合、最適調整位置
が異なってしまい、最良エラールー１〜が悪化してしま
う。また、調整位置からのずれににす、光デイスク同士
のばらつぎあるいは外部環境の変化による光軸ずれ、あ
るいは光検出器の位置ずれ等に対するマージン（余裕）
が狭くなってしま−）でいた。

［発明の目的１この発明は」−記事情（、二もとづいてなされたしので
、その目的どケるところ（ま、焦点（＋：’、　ｉｆｆ
を富に適正な位置１こ補正することができ、エラーレイ
トが向上し、調整位置ずれ（こ対Ｊるマージンを広く持
つことができるディスク装量を提供することにある。

［発明の概要］この発明は、上記目的を達成りるために、集束光を用い
ディスクに対して情報の記録あるい１．Ｊ、再生を行う
ものにおいて、光源から発けられる光を集束手段を用い
−（上記ディスク上に集束し、この集束手段によるディ
スク上での集束位置を変更し、この変更された種）Ｚの
集束位置に対するディスク上の少なくとも１１〜ラツク
に記録されでいる同一データを用い′Ｃエラーレ＝１〜
を判定手［９で判定し、この判定手段の判定結果で得ら
れた種々のエラーレートを記憶し、この記憶しｌζエラ
ーレートににり最適集束位置を判断し、この判断結果に
対応した集束位置に」−記集束手段を設定するようにし
たちのである。

［発明の実施例１１スト、この発明の一実施例を図面を参照しながら説明
する。

第１図はこの発明に係わる画像情報記憶検索装置を示す
ものである。すなわち、１１は主制御装置であり、各種
制御を行うＣＰｔＪ１２．メインメモリ１３、ページバ
ッファ１４、画像情報の圧縮（冗長度を少なくする）お
よび伸長（少なくされた冗長度を元に戻す）を行う圧縮
・伸長回路１５、文字あるいは記号などのパターン情報
が格納されたパターンジェネレータ１６、および表示用
インターフェイス１７などから構成されている。２０は
読取装置たとえば二次元走査装置で、原稿（文磨）を２
１上をレーデご一ム光で二次元走査することにより、上
記原稿２１上の画像情報に応じた電気信号を得るもので
ある。２２は光デイスク装置で、上記二次元走査１置２
０で読取られて上記主制御装置１１を介して供給される
画像情報などを光ディスク１９に順次記憶４るものＣあ
る。

上記光ディスク１９は第２図に示１ように、たとえばカ
ラスあるいはプラスチックス４ｆとで円形に構成された
基板の表面に１ルルあるいはヒスマスなどの金属被膜層
がドーナツ形にコーティングされており、その金属被膜
層の中心部近傍には切欠部つまり基準位置マーク１９１
が設けられている。また、上記光デイスク１９上は基準
位置マーク１９１をｒＯＪとして「０〜２５５」の２５
６セクタに分割されるようになっている。

上記光ディスク１９には可変長の情報（画像情報）が複
数のブロックにわたって記憶されるようになっており、
光デイスク１９上の３６．０００１〜ラツクに３０万ブ
ロツクの情報が記憶されるようになっている。なお、上
記光ディスク１９における１ブロツクのセクタ数はたと
えば内側で４０セクタになり、外側では２０セクタにな
るようになっている。また、各ブロックがセクタの切換
え位置で終了しない場合、第２図に示す第ｎブロックと
第ｎ＋１ブロックとで示すように、ブロック＝６− ギャップを設（プ、各ブロックが必ずセクタの切換え位
置から始まるようになっている。上記ブロックの開始位
置にはブロック番号、１〜ラック番号などからなるブロ
ックヘッダ（ブリヘッダ）△がたとえば光ディスク１９
の製造時に記録されるようになっている。

また、上記光ディスク１９には、たとえば最内周にノＡ
−カス状態ヂエック用のデータがあらかじめ記録されて
いるフォーカスチェックエリアａが設（）られている。

このフォーカスチェックエリアａに記録されるデータと
しては、エラーの発生し易いデータが記録されるもので
、たとえばランダムなデータ、最少ピッチピッ１〜（２
ピツヂ）で変化するデータ、あるいは最大ピッチピッ１
〜（７ピツヂ）で変化するデータが記録されるようにな
っている。上記フォーカスチェックエリアａは複数の１
−ラックで構成されている。

一方、２３はキーボードで、画像情報に対応する固有の
検索コードおよび各種動作指令などを入力するだめのも
のである。２４は出力装置たとえば表示部であるところ
の陰極線管表示装置（以下ＣＲＴディスプレイ装置ど称
する）Ｃ二次元走査装置２０で読取られて主制御装置１
１を介して供給される画像情報あるいは光デイスク装置
２２から続出されて主制御ｌｌ装置１１を介して供給さ
れる画像情報などを表示でるものであり、主制御装置１
１にお【Ｊる表示用インターフェイス１７どＣ大きな意
味の画像情報表示装置を構成している。

２５は記録装置で、二次元走査装置２０で読取られて主
副御装Ｗ　１１を介して供給される画像情報あるいは光
ディスクｖ装置２２から読出されて主制御装置１１を介
して供給される画像情報などをハードコピー２６として
出力するものである。２７は磁気ディスク装置で、上記
キーボー１〜２３により入力された検索コードとこの検
索コードに対応づる１件分の画像情報の４ノイズど画像
情報が記憶される光デイスク１９上の配憶アドレスから
なる検索データを陽気ディスク２８に１１１分の画像情
報ことに記憶するものである。

上記検索データは、複数の検索キーからなる検索コード
（画像名）と、この検索コードに対応づる画像情報の光
ディスク１９における画像格納先頭ブロック番号、画像
記憶ブロック数（画像の長さ）とからなっている。

次に、第３図および第４図を用いて光デイスク装置２２
の要部の構成を説明する。すなわち、光ディスク１９は
、モータ３０によって光学ヘッド３１に対して、線速一
定で回転駆動されるようになっている。上記モータ３０
の軸３２には、信号発生用マークが一定間隔で設けられ
ている円板３３が固定されていて、この円板３３のマー
クを発光ダイオードと受光素子とからなる検出器３４に
より光学的に検出するようになっている。また、上記光
ディスク１９の下方には前記基準位置マーク１９１を光
学的に検出する発光ダイオードと受光素子とからなる検
出器３５が設けられている。

上記検出器３４の出力つまり受光素子の出力は増幅部３
６を介してセクタカウンタ３７のクロックパルス入力端
に供給され、このセクタカウンタ３７のリセット入力端
には上記検出器３５の出力−〇− が増幅部３８を介して供給される。

また、上記光ディスク１の裏側には、情報の記録、再生
を行うための光学ヘッド３１が設（）られている。この
光学ヘッド３１は、次のＪ−うに構成される。すなわち
、４１は半導体レーザ（光＃りであり、この半導体レー
ザ４１からは発散性のレーザ光１−が発生される。この
場合、情報を上記光ディスク１９の記録膜１９ａに書き
込む（記録）に際しては、出き込むへき情報に応じてそ
の光強度が変調されたレーザ光りが発生され、情報を光
ディスク１９の記録膜１９ａから読み出づ（再生）際に
は、一定の光強度を有するレーザ光りが発生される。そ
して、半導体レーザ４１から発生された発散性のレーザ
光りは、コリメータレンズ４３によって平行光束に変換
され、偏光ビームスプリッタ４４に導かれる。この偏光
ビームスプリッタ４４に導かれたレーザ光りは、この偏
光ビームスプリッタ４４を通過した後、１／４波長板４
５を通過して対物レンズ４６に入射され、この対物レン
ズ４６によって光ディスク１９の記録膜１９ａ＝１０− に向けて集束される。ここで、対物レンズ４６は、その
光軸方向および光軸と直交する方向にそれぞれ移動可能
に支持されており、対物レンズ４６が所定位置に位置さ
れると、この対物レンズ４６から発せられた集束性のレ
ーザ光りのビームウェストが光ディスク１９の記録膜１
９ａの表面上に投射され、最小ビームスポットが光ディ
スク１９の記録膜１９ａの表面上に形成される。この状
態において、対物レンズ４６は合焦状態および合トラッ
ク状態に保たれ、情報の書き込みおよび読み出しが可能
となる。

また、光ディスク１９の記録膜１９ａから反射された発
散性のし〜ザ光りは、合焦時には対物レンズ４６によっ
て平行光束に変換され、再び１／４波長板４５を通過し
て偏光ビームスプリッタ４４に戻される。レーザ光りが
１／４波長板４５を往復することによって、このレーザ
光りは偏光ビームスプリッタ４４を通過した際に比べて
偏波面が９０度面回転ており、この９０度だ（プ偏波面
が回転したレーザ光りは、偏光ビームスプリッタ４４を
通過せずに、この偏光ビームスプリッタ４４で反射され
る。そして、偏光ビームスプリッタ４４で反射したレー
ザ光１−はハーフミラ−４７によって２系統に分（プら
れ、その一方（１〜ラツクずれ検出系）のレーザビーム
Ｌは第１の投射レンズ４８によって第１の光検出器４９
上に照射される。

この第１の光検出器４９は、第１の投射レンズ４８によ
って結像される光を、電気信号に変換する光検出セル４
９ａ、４９ｂによって構成されている。これらの光検出
セル４９ａ、４９ｂににって出力される信号としては、
それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっている
。

一方、ハーフミラ−４７によって分けられた他方（焦点
ぼけ検出系）のレーザビームしは、ナイフエッチ（光抜
出し部材）５０によって光軸から離間した領域を通過す
る成分のみ抜出され、第２の投射レンズ５１を通過した
後筒２の光検出器５２上に照射される。この第２の光検
出器５２は、第２の投射レンズ５１によって結像される
光を、電気信号に変換する光検出セル５２ａ、５２ｂに
よって構成されている。これらの光検出セル５２ａ、５
２ｂによって出力される信号としては、それぞれα信号
、β信号が出力されるようになっている。

上記光学ヘッド３０の出力つまり各光検出セル４９ａ、
４９ｂ、５２ａ、５２ｂの出力は、それぞれ増幅器６１
．６２．７１．７２に供給される。

上記増幅器６１の出力は増幅器６３を介して減算回路と
しての差動増幅器６８の非反転入力端に供給される。ま
た、上記増幅器６２の出力は差動増幅器６４の非反転入
力端に供給され、この差動増幅器６４の反転入力端には
基準信号発生回路６５からバイアス電圧（オフセット電
圧）が供給される。上記基準信号発生回路６５は制御回
路８２から供給される信号（ディジタル信号）に応じて
種々の基準信号としてのバイアス電圧（アナログ信号）
を出力するものである。この基準信号発生回路６５は、
記録時、および再生時に対物レンズ１６によるビームス
ポットが最適位置となるようにするための、基準信号と
してのバイアス電圧を出力するものである。また、上記
基準信号発生回路６５は、■ラールー１・の検出時に対
物レンズ゛１６によるビームスポットを移動するための
、バイアス電圧を出力するものである。たとえば、上記
基準信号発生回路６５は制御回路８２から供給される信
号により一１０ポル１〜、−９ポル］・、〜＋１０ボル
トのバイアス電圧を出力するようになっている。

また、上記差動増幅器６４の出力は差動増幅器６８の反
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器６８は
光検出セル５２ａからの検出信号と、光検出セル５２ｂ
からの検出信号にオフセット電圧を加えた信号との差を
取ることにより、焦点ぼけに応じた信号を出力するもの
である。上記差動増幅器６８の出力は、波形整形回路６
９で整形され、駆動回路７０に供給される。この駆動回
路７０は、波形整形回路６９から供給される信号に応じ
て、前記対物レンズ４６を光ディスク１９の記録面１９
ａに対して垂直方向に駆動するコイル５４に対応する電
流を供給することにより、対−１４＝物レンズ４６を駆動するものである。

また、上記増幅器７１の出力は増幅器７３を介して減算
回路としての差動増幅器７６の非反転入力端に供給され
る。また、上記増幅器７２の出力は差動増幅器７４の非
反転入力端に供給され、この差動増幅器７４の反転入力
端には基準信号発生回路７５からバイアス電圧（オフセ
ット電圧）が供給される。上記基準信号発生回路７５は
、記録時および再生時に対物レンズ１６によるビームス
ポットが最適位置となるようにするための、基準信号と
してのバイアス電圧を出力するものであり、その値は装
置への設定時にセツティングされるようになっている。

また、上記差動増幅器７４の出力は差動増幅器７６０反
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器７８は
光検出セル４９ａからの検出信号と、光検出セル４９ｂ
からの検出信号にオフセット電圧を加えた信号との差を
取ることにより、通常のｉ−ランキング時のトラックず
れに応じた信号を出力するものである。上記差動増幅器
７６の出力は、波形整形回路７７で整形され、駆動回路
７８に供給される。この駆動回路７８は、波形整形回路
７７から供給される信号に応じて、前記対物レンズ４６
を光ディスク１つの記録面１９ａに対して水平方向に駆
動するコイル５３Ｉこ対応する電流を供給することによ
り、対物レンズ４６を駆動するものである。

また、上記増幅器７１の出力および上記増幅器７２の出
力は加算回路７９に供給される。この加算回路７９は、
それらの信号を加算した結果を読取信号として後述する
２値化回路８０に出力するものである。

また、前記光学ヘッド３０の出力つまり加算回路７９の
出力は２値化回路８０に供給され、この２　＋ｌＩｌ化
回路８０で２値化された信号は復調回路８１で復調され
て制御回路８２に供給されるとともに、ＣＲＣチェック
回路８７に供給される。上記復調回路８１は再生データ
の復調を行うものである。上記制御回路８２は外部装置
つまり前記ＣＰＵ１２からの信号に応じて装置全体を制
御するものである。上記制御回路８２は、たとえば記録
あるいは再生を行うブロック番号が供給された時、図示
しない変換テーブル部に記憶されている変換テーブルに
応じてアクセスする１〜ラック番号、開始セクタ番号を
算出するものである。また、上記制御回路８２は、トラ
ック番号を算出した時、その１〜ラック番号をスケール
値に変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の
出力により検出される位置とが一致するまでリニアモー
タドライバ８３を駆動制御するようになっている。この
リニアモータドライバ８３は、制御回路８２の制御によ
りリニアモータ機構８４で光学ヘッド３１を移動せしめ
、光学ヘッド３１のビーム光が所定のトラックを照射せ
しめるようになっている。上記リニアモータ機構８４は
、光学ヘッド３１を光デイスク１９上における半径方向
に移動させるものである。また、１ｉｌｌｌｉ１１１回
路８２は上記アクセス時の目的のトラックに光学ヘッド
３１が対応したとき、開始セクタと前記セクタカウンタ
３７のカウント値が一致したときに、光学ヘッド３１の
記録、再主動作を開始せしめるものである。

また、上記制御回路８２は前記ベージバッファ１４から
の記録データを変調回路８５で変調してレーザドライバ
８６に供給する。上記変調回路８５は制御回路８２から
供給される記録データの変調を行うものである。上記シ
ー１アドライバ８６は供給される変調信号に応じて光学
ｌ＼ラッド１内の半導体レーザ４１を駆動することによ
り、データの記録を行うものである。

上記ＣＲＣチェック（サイクリック　リダンダンシイ　
チェック）回路８７は、１！調回路８１から供給される
復調信号により、たとえば１６バイ１−ごとのデータと
ＣＲＣコードとにより周期冗長検査を行う回路である。

このＣＲＣチェック回路８７によるチェック結果は制御
回路８２を介してカウンタ８８に供給される。このカウ
ンタ８８は供給されるエラー数を８１数するものである
。１記制御回路８２は、エラーレートチェックモード時
、個々のバイアス電圧ごとに１１へラックに対しでカウ
ンタ８８から供給されるカウンＩ−数（エラーレート）
を記憶回路８９に記憶するようになっている。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、光デイスク装置２２に光ディスク１９を設
定する。すると、ＣＰＵ１２はエラーレートチェックモ
ードと判断し、その信号を制御回路８２に出力する。こ
れにより、制御回路８２は図示しない変換テーブル部を
用いてフォーカスチェックエリアａの開始トラック番号
と開始セクタどを算出する。このトラック番号により、
制御回路８２はそのｔ−ラック番号をスケール値に変換
し、このスケール値と図示しない位置検出器の出力によ
り検出される位置とが一致するまでリニアモータドライ
バ８３を駆動せしめる。ついで、制御回路８２はセクタ
カウンタ３７のカラン１〜値と上記開始セクタとが一致
した際、フォーカスチェックエリアａに対するデータの
再生を開始する。この場合、制御回路８２はまず基準信
号発生回路６５から発生されるバイアス電圧が０ボルト
どなる信号を基準信号発生回路６５に出力する。

このような状態において、半導体ルーリ゛４１から発生
された発散性の弱光度のレーザ光束（再生ビーム光）は
、コリメータレンズ４３によって平行光束に変換され、
偏光ビームスプリッタ４／Ｉに導かれる。この偏光ビー
ムスプリッタ４４に導かれたレーザ光１−は、この偏光
ビームスプリッタ４４を通過した後、１／４波長板４５
を通過して対物レンズ４６に大剣され、この対物レンズ
４６によって光ディスク１９の記録膜１９ａに向（）て
集束される。この状態において、この再生ビーム光に対
する光ディスク１９からの反射光は、対物レンズ４６に
よって平行光束に変換され、再び１／４波長板４５を通
過して偏光ビームスプリッタ４４に戻される。レーザ光
１−が１／４波長板４５を往復することによって、この
レーザ光１−は偏光ビームスプリッタ４４を通過した際
に比へて偏波面が９０度回転しており、この９０度だ（
プ偏波面が回転したレーザ光りは、偏光ビームスプリッ
タ７１４を通過せずに、この偏光ビームスプリッタ４４
で反射される。そして、偏光ど−ムスプリッタ４４で反
射したレーザ光「はハーフミラ−４７によって２系統に
分けられ、その一方（トラックずれ検出系）のレーザビ
ームＬは第１の投射レンズ４８によって第１の光検出器
４９上に照射される。一方、ハーフミラ−４７によって
分けられた他方（焦点ぼけ検出系）のレーザビームＬは
、ナイフエッチ（光抜出し部材）５０によって光軸がら
離間した領域を通過する成分のみ抜出され、第２の投射
レンズ５１を通過した後筒２の光検出器５２上に照射さ
れる。したがって、光検出セル５２ａ、５２ｂ、４９ａ
１４９ｂがら照射光ニ応じた信号が出力され、それらの
信号がそれぞれ増幅器６１．６２．７１．７２に供給さ
れる。

これにより、上記増幅器６１がらの信号は増幅器６３で
増幅され差動増幅器６８に供給される。

また、増幅器６２からの出力は差動増幅器６４に供給さ
れる。このとき、基準信号発生回路６６はｒＯＪボルト
のバイアス電圧を差動増幅器６４に供給している。これ
により、差動増幅器６４は増幅器６２から供給される信
号にバイアス電圧（〇■）を加えた信号を差動増幅器６
８に出力する。

したがって、差動増幅器６８は光検出セル５２ａからの
検出信号と、光検出セル５２ｂからの検出信号にバイア
ス電圧（ＯＶ）を加えた信号との差を取ることにより得
られる信号を、波形整形回路６９を介して駆動回路７０
に出力する。これにより、駆動回路７０は波形整形回路
６９からの信号に応じてコイル５４に所定の電流を供給
し、対物レンズ４６を垂直方向に駆動して、フォーカス
位置を移動する。

このような状態において、増幅器７１．７２の出力は加
算回路７って加算され、２値化回路８０に供給される。

ついで、その２値化回路８０で２値化されたデータは復
調回路８１で復調され、制御回路８２およびＣＲＣチェ
ック回路８７に供給される。これにより、制御回路８２
は対応するトラックのプリヘッダを判断した場合、その
ヘッダに続けて読出されるデータに対するＣＲＣヂエツ
ク回路８７のチェック結果を、カウンタ８８で計数する
。そして、１１へラック分に対するチェックが行われた
時、制御回路８２はカウンタ８８の内容をバイアスｒＯ
ＶＪに対するエラー数として記憶回路８９に記憶すると
ともに、カウンタをクリアする。

ついで、制御回路８２は基準信号発生回路６５からの発
生されるバイアス電圧が＋１ボルトとなる信号を基準信
号発生回路６５に出力する。これにより、上記増幅器６
１からの信号は増幅器６３で増幅され差動増幅器６８に
供給される。また、増幅器６２からの出力は差動増幅器
６４に供給される。このとき、基準信号発生回路６６は
「＋１」ボルトのバイアス電圧を差動増幅器６４に供給
している。これにより、差動増幅器６４は増幅器６２か
ら供給される信号にバイアス電圧（→−１Ｖ）を加えた
信号を差動増幅器６８に出力する。したがって、差動増
幅器６８は光検出セル５２ａからの検出信号と、光検出
セル５２ｂからの検出信号にバイアス電圧（＋１Ｖ）を
加えた信号との差を取ることにより得られる、信号を波
形整形回路６つを介して駆動回路７０に出力する。これ
により、駆動回路７０は波形整形回路６つからの信号に
応じてコイル５４に所定の電流を供給し、対物レンズ４
６を垂直方向に駆動して、フォーカス位置を移動する。

このような状態において、増幅器７１．７２の出力は加
算回路７９で加算され、２値化回路８０に供給される。

ついで、その２値化回路８０で２値化されたデータは復
調回路８１で復調され、制御回路８２およびＣＲＣチェ
ック回路８７に供給される。これにより、制御回路８２
は対応するトラックのプリヘッダを判断した場合、その
ヘッダに続けて読出されるデータに対するＣＲＣチェッ
ク回路８７のチェック結果を、カウンタ８８で訓数する
。そして、１１へラック分に対するチェックが行われた
時、制御回路８２はカウンタ８８の内容をバイアス「＋
１　ＶＪに対するエラー数として記憶回路８９に記憶す
るとともに、カウンタをクリアする。

また、上記のようにして１１〜ラック分に対するチェッ
クが行われた時、エラー数が５０以上（エラーレートが
１０′４以上）となった場合、制御回路８２はフォーカ
スチェックエリアａにおける他の１−ラックを用いて、
上記の場合と同様に動作してエラー数を計数し、記憶回
路８９に記憶するようになっている。

ついで、制御回路８２は基準信号発生回路６５からの発
生されるバイアス電圧が１ボルトずつ加えた電圧となる
信号を基準信号発生回路６５に順次出力し、上記同様に
動作することにより、それぞれのバイアス電圧（ＩＶ〜
＋ｎＶ）に対するエラー数を求め記憶回路８９に記憶す
る。

そして、プリヘッダがトラッキングエラー、フォーカス
異常等により読取れないバイアス電圧となった場合、制
御回路８２は基準信号発生回路６５からの発生されるバ
イアス電圧が一１ボルトから１ボルトずつ引いた電圧と
なる信号を基準信号発生回路６５に順次出力し、上記同
様に動作することにより、それぞれのバイアス電圧（−
１Ｖ〜−ｎＶ）に対するエラー数を求め記憶回路８９に
記憶する。

そして、プリヘッダがトラッキングエラー、フォーカス
異常等により読取れないバイアス電圧となった場合、制
御回路８２は記憶回路８９に記憶した各バイアス電圧に
対するエラー数（エラーレート）から最適バイアスを求
め、この求めたバイアスに対応する信号を基準信号発生
回路６５に出力する。たとえば、第５図に示すように、
バイアス電圧が一２ボルトと＋６ボルトの時、■ラール
ー　トカ１０−）　（エラー数的５０）、バイアス電圧
が一１ボルトと＋５ボルトの時、■レーレ−１〜が１０
イ（エラー数的５）、バイアス電圧が０ボルト〜＋４ボ
ルトの時、■レーレ−１〜が１０’（エラー数Ｏ）、と
いうエラーレートが得られた場合、最適なバイアス電圧
は＋２ポルＩ〜と判断され、基準信号発生回路６５から
＋２ボルトのバイアス電圧が発生されるようにする。こ
れにより、対物レンズ４６を最良の位置に設定すること
ができ、取付は位置ずれに対するマージンも広く取るこ
とができる。また、１トラックのデータつまり同一デー
タを用い、そのデータをフォーカス位置の移動で再生し
てエラーレートを判定しているため、判定誤りが生じな
いようにでき、光ディスク１９のエラーも乗らないよう
にできるようになっている。

また、上記のようにしてフォーカスチェックエリアａに
おける所定の１トラックに対するエラールー１−を判定
した際に、エラー数が５０以上（エラーレートが１０′
４以上）となった場合、制御回路８２はフォーカスチェ
ックエリアａにおける他のトラックを用いて、上記の場
合と同様に動作してエラー数を計数し、記憶回路８つに
記憶することにより、エラーレートを判定するようにな
っている。

つぎに、上記のようにして最適フォーカス位置への設定
が終了した状態において、データの記録を説明する。た
とえば今、前記主制御装置１１のＣＰＵ１２から記録を
行う（アクセスする）ブロック番号が制御回路８２に供
給されたとする。すると、制御回路８２は図示しない変
換テーブル部を用いて目的のブロックに対でるトラック
番号と開始セクタとを算出する。このトラック番号によ
り、制御回路８２はそのトラック番号をスケール値に変
換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出力に
より検出される位置とが一致するまでリニアモータトラ
イバ８３をｍ　ｍＪ＋　Ｕしめる。ついて、制御回路８
２はセクタカウンタ３７のカラン１〜値と上記開始セク
タとが一致した際、光ディスク１９に対するデータの記
録を開始する。このとき、制御回路８２からの記録デー
タは変調回路８５で変調され、レーザドライバ８６へ供
給される。これにより、レーザドライバ８６は供給され
る変調信号に応じて光学ヘッド３１内の半導体レーザ４
１を駆動することにより、データの記録を行う。

また、データの再生について説明する。たとえば今、前
記主制御装置１１のＣＰＵ１２から再生を行う（アクセ
スする）ブロック番号が制御回路８２に供給されたとす
る。すると、制御回路８２は図示しない変換テーブル部
を用いて目的のブ【コックに対する！・ラック番号と開
始セクタとを算出する。このｌ・ラック番号により、制
御回路８２はそのｌ−ラック番号をスケール値に変換し
、このスケール値と図示しない位置検出器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
８３を駆動せしめる。ついで、制御回路８２はセクタカ
ウンタ３７のカウント値と上記開始セクタとが一致した
際、光ディスク１９に対するデータの再生を開始する。

このとき、光学ヘッド３１の読取信号は２値化回路８０
に供給され、この２Ｗｉ化回路８０で２値化された信号
は復調回路８１に供給される。この復調回路８１は、２
値化回路８０から供給される信号をＩ清し、この復調し
た再生データを制御回路８２へ出ノ〕する。すると、制
御回路８２はその再生データを前記主制御装置１１内の
ページバッファ１４に出力する。

すなわち、半導体レーザ４１から発生された発散性のレ
ーザ光しは、コリメータレンズ４３によって平行光束に
変換され、偏光ビームスプリッタ４４に導かれる。この
偏光ビームスプリッタ４４に導かれたレーザ光りは、こ
の偏光ビームスプリッタ４４を通過した後、１／４波長
板４５を通過して対物レンズ４６に入射され、この対物
レンズ４６によって光ディスク１９の記録膜１９ａに向
けて集束される。この状態において、情報の記録を行う
際には、強光度のレーザ光束（記録ビーム光）の照射に
よって、光デイスク１９上のトラックにビットが形成さ
れ、記録ビーム光の照射を行う際以外および情報の再生
を行う際には、偏光度のレーザ光束（再生ビーム光）が
照射される。この再生ビーム光に対する光ディスク１９
からの反射光は、対物レンズ４６によって平行光束に変
換され、再び１／４波長板４５を通過して偏光ビームス
プリッタ４４に戻される。レーザ光りが１／４波長板４
５を往復することによって、このレーザ光しは偏光ビー
ムスプリッタ４４を通過した際に比べて偏波面が９０度
回転しており、この９０度だけ偏波面が回転したレーザ
光りは、偏光ビームスプリッタ４４を通過せずに、この
偏光ビームスプリッタ４４で反射される。そして、偏光
ビームスプリッタ４４で反射したレーザ光りはハーフミ
ラ−４７によって２系統に分けられ、その一方（トラッ
クずれ検出系）のレーザビ−ムＬは第１の投射レンズ４
８によって第１の光検出器４９上に照射される。一方、
ハーフミラ−４７によって分ｔプられた他方（焦点ぼけ
検出系）のレーザビームＬは、ナイフエッチ（光描出し
部材）５０によって光軸から離間した領域を通過する成
分のみ抜出され、第２の投射レンズ５１を通過した後、
第２の光検出器５２上に照射される。したがって、光検
出ｔル５２ａ、５２ｂ、４９ａ、４９ｂから照射光に応
じた信号が出力され、それらの信号がそれぞれ増幅器６
１．６２．７１．７２に供給される。これにより、増幅
器７１．７２の出力は加算回路７９により加算され、こ
の加算結果が読取信号（再生信号）として２値化回路８
ｏに供給される。

このような状態において、情報の記録時および再生時に
おけるフォー力ツシング動作について説明する。すなわ
ち、上記増幅器６１からの信号は増幅器６３で増幅され
差動増幅器６８に供給される。また、増幅器６２からの
出ノｊは差動増幅器６４に供給される。このとき、基準
信号発生回路６６には制御回路８２から前述したエラー
レ−１へチェックモードで得られた信号が供給されてい
る。

このため、基準信号発生回路６６はたとえは基準信号ど
して＋２ボルトのバイアス電圧を差動増幅器６４に供給
している。これにより、差動増幅器６４は増幅器６２か
ら供給される信号にバイアス電圧を加えた信号を差動増
幅器６８に出力する。

したがって、差動増幅器６Ｂは光検出セル５２ａからの
検出信号と、光検出セル５２ｂからの検出信号にバイア
ス電圧（オフセラ１−電圧）を加えた信号との差を取る
ことにより得られる、焦点は（プに応じた信号を波形整
形回路６９を介して駆動回路７０に出力する。これによ
り、駆動回路７０は波形整形回路６つからの信号に応じ
てコイル５４に所定の電流を供給し、対物レンズ４６を
垂直方向に駆動して、記録時におけるフォー力ツシング
を行う。この結果、記録時における対物レンズ４６によ
るビームスボッ１〜が、対物レンズ４６の機構的位置ず
れが生じていたとしても、上記バイアス電圧により補正
することにより、最適位置とすることができる。

また、他の光ディスク１つをかけかえた際、あるいはオ
ープン時に、上記のように最適調整位置に対物レンズに
よる焦点位置を変更するようにしても良い。

上記したように、フォーカスチェックエリアにおける１
トラックのデータつまり同一データを用い、そのデータ
をフォーカス位置の移動で再生してエラーレートを判定
しているため、判定誤りが生じないようにでき、光ディ
スク１９のエラーも乗らないようにできる。このため、
最適調整位置に対物レンズによる焦点位置を変更するこ
とができ、またエラーレイトが最良の位置に設定するこ
とができ、調整位置ずれに対するマージンも広（取るこ
とができる。

［発明の効果］以上詳述したようにこの発明によれば、焦点位置を常に
最適調整位置に補正することができ、エラーレイトが向
上し、調整位置ずれに対するマージンを広く持つことが
できるディスク装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示すもので、第１図は画像
情報記憶検索装置の構成を示すブロック図、第２図は光
ディスクの構成を説明するための平面図、第３図および
第４図はディスク装置の横、　成を概略的に示す図、第
５図はバイアス電圧とエラーレートの関係を説明するた
めの図である。１９・・・光ディスク（ディスク）、ａ・・・フォーカ
スチェックエリア、２２・・・光デイスク装置、３１・
・・光学ヘッド、４１・・・光源（半導体レーザ）、４
６・・・対物レンズ、５２・・・第２の光検出器、５２
ａ、５２ｂ・・・光検出セル、６Ｌ　６２・・・増幅器
、６３．６４．６８・・・差動増幅器、６５・・・基準
信号発生回路、６９・・・波形整形回路、７０・・・駆
動回路、８０・・・２　（ｉ化回路、８１・・・ＩＩ調
回路、８２・・・制−回路、８７・・・ＣＲＣチェック
回路、８８・・・カウンタ、８９・・・記憶回路。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）集束光を用いディスクに対して情報の記録あるい
は再生を行うディスク装置において、光源と、この光源
から発せられる光を前記ディスク上に集束する集束手段
と、この集束手段によるディスク上での集束位置を変更
する変更手段と、この変更手段により変更された種々の
集束位置に対するディスク上の少なくとも１トラックに
記録されている同一データを用いてエラーレートを判定
する判定手段と、この判定手段で得られた種々のエラー
レートを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶した
エラーレートにより最適集束位置を判断する判断手段と
、この判断手段の判断結果に対応した集束位置に前記集
束手段を設定する手段とを具備したことを特徴とするデ
ィスク装置。
（２）前記集束手段の適正位置への設定が、ディスクの
設定時に行われることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載のディスク装置。
（３）前記エラーレートの判定が、ディスクにあらかじ
め設けられているフォーカスチェックエリアを用いて行
うことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のディス
ク装置。