NL8402080A - Piezo-elektrische verontreinigingsdetektor. - Google Patents

Piezo-elektrische verontreinigingsdetektor. Download PDF

Info

Publication number
NL8402080A
NL8402080A NL8402080A NL8402080A NL8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
detector according
heating
contamination detector
temperature sensor
contamination
Prior art date
Application number
NL8402080A
Other languages
English (en)
Other versions
NL191803B (nl
NL191803C (nl
Original Assignee
Suisse Horlogerie Rech Lab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suisse Horlogerie Rech Lab filed Critical Suisse Horlogerie Rech Lab
Publication of NL8402080A publication Critical patent/NL8402080A/nl
Publication of NL191803B publication Critical patent/NL191803B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL191803C publication Critical patent/NL191803C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/063Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using piezoelectric resonators
    • G01B7/066Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using piezoelectric resonators for measuring thickness of coating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02881Temperature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

i '·% N.0. 32.576
Piëzo-elektrische verontreinigingdetector.
De uitvinding heeft betrekking op een piëzo-elektrische verontreinigingdetector voor het bepalen van de massa of laagdikte van de in resp. op een oppervlak van een piëzo-elektrisch trillingsorgaan geadsorbeerde of gecondenseerde gasvormige, vloeibare of vaste stoffen.
5 Aan boord van raketten, satellieten en dergelijke vliegende licha men moet de verontreiniging van kritische onderdelen als gevolg van gassen en verdamping van de toegepaste constructiematerialen, de bekledingen daarvan en smeerstoffen door een restrictieve materiaalkeuze worden begrensd en moet de overblijvende verontreiniging van de kriti-10 sche onderdelen worden gecontroleerd. Bijzonder bedreigde onderdelen zijn: optische elementen, zoals infrarood-optieken, collectoren voor zonne-energie, of mechanische onderdelen zoals kleppen, of constructies die zijn voorzien van thermische strijklagen en andere thermische lagen voor een bepaald thermisch optisch gedrag (emissie- en reflectievermo-15 gen). Door toenemende toepassing van tot zeer lage temperaturen gekoelde optieken en sensoren en door de vervanging van metallische materialen door organische componenten is de problematiek ernstiger geworden en daardoor is een continue, aan boord toegepaste controle van de verontreiniging noodzakelijk.
20 £en van de meest toegepaste meetmethoden berust op de verandering van de trilllngsfrequentie van een piëzo-elektrisch trillingsorgaan door de extra massa van geadsorbeerde of gecondenseerde stoffen in resp. op een dergelijk kristaloppervlak dat naar de gasbron is toegekeerd.
25 Bij detectoren van bekende soort worden twee kwartskristallen toe gepast, een meetkwartskristal en een referentiekwartskristal. Deze worden gewoonlijk boven elkaar aangebracht en wel zodanig dat het meetkwartskristal het referentiekwartskristal bedekt cm te verhinderen dat dit wordt verontreinigd. Voor het selectief bepalen van de adsorptie of 30 condensatie van verschillende stoffen moet de temperatuur van het meet-kristal in het gewenste gebied controleerbaar kunnen worden gevarieerd.
Om meettechnische redenen moet het referentiekwartskristal dezelfde temperatuur aannemen, aangezien de trilllngsfrequentie niet slechts van de massa maar ook van de temperatuur van het kristal afhangt, die met 35 discrete temperatuuropnemers meestal tussen de beide kristallen wordt gemeten.
De temperatuurcontrole kan door een ingebouwd thermo-elektrisch moduul, door de warmte-uitwisseling door middel van van buiten af toe- 1402080 2 r ϊ· ΐ gevoerde, gekoelde resp. verwarmde gassen of vloeistoffen, of door andere geschikte methoden worden uitgevoerd.
Zoals verschillende auteurs hebben aangetoond, kunnen ondanks een compacte wijze van constructie aanzienlijke temperatuurverschillen tus-5 sen beide kwartskristallen ontstaan, die aanleiding geven tot oncontroleerbare en overeenkomstig daarmee niet corrigeerbare meetfouten.
Voorts werd vastgesteld dat met een discrete temperatuuropnemer, die tussen beide kwartskristallen is aangebracht, niet de werkelijke temperatuur van het meetkristal wordt gemeten, maar ongeveer de temperatuur 10 van de ondersteuning van het kwartskristal. Voorts kan met dergelijke detectoropstellingen een verontreiniging van het referentiekwartskris-tal niet volledig worden uitgesloten.
Bij dergelijke detectorontwerpen dient het referentiekwartskristal in de eerste plaats als temperatuurreferentie, aangezien een ideale de-15 tector een meetkwartskristal zonder een. of andere temperatuurcoëffi-cient moet bevatten. Aangezien dergelijke kwartskristallen die voor de betreffende detector geschikt zijn, niet bestaan, wordt daarom een tweede kwartskristal als temperatuurreferentie gebruikt, die op ideale wijze identiek is. Onvermijdelijke fabricagetoleranties van de kristal-20 snijhoek leiden in de praktijk echter tot afwijkende temperatuurcoëffi-cienten tussen beide kwartskristallen, die de meetwaarde vervalsen.
Door D.A. Wallace (Journal of Spacecraft, volume 17, nr 2) werd een gasdetector voorgesteld, waarbij door de toepassing van een dubbel kwartskristal ("doublet crystal") het temperatuurverschil tussen meet-25 en referentiekristal kan worden verminderd. Deze uitvoering heeft echter het nadeel van overspreken tussen de resonantiegebieden, dat wordt bepaald door de mogelijke koppeling tussen de verschillende meet- en referentietrillingen. Deze koppeling geeft aanleiding tot onstabiele frequenties en interferentieverschijnselen.
30 Voor het weer verdampen van de geadsorbeerde en gecondenseerde stoffen wordt in het algemeen het meetkristal verwarmd. Bij de hierboven genoemde detectorontwerpen wordt daarvoor een extra discreet verwarmingselement, of in bepaalde uitvoeringen de hierboven genoemde discrete temperatuuropnemer toegepast. Aangezien de warmte-overdracht in 35 hoofdzaak indirect plaats vindt door stralingsuitwisseling, is het thermische rendement gering en is dus het benodigde elektrische vermogen aanzienlijk.
De uitvinding heeft ten doel te voorzien in een piëzo-elektrische verontreinigingdetector van de in de aanhef genoemde soort, waarbij de 40 hierboven genoemde nadelen van onnauwkeurige bepaling en controle van 8402080 » i 3 de temperatuur worden, vermeden.
Dit doel wordt volgens de uitvinding bereid, doordat ten minste het meettrillingsorgaan is voorzien van ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype. Door de nauwkeurige kennis 5 van de kristaltemperatuur is een elektronische of numerieke correctie van de temperatuurinvloed op de trillingsfrequentie mogelijk. Hierdoor bestaat in beginsel de mogelijkheid af te zien van het referentietril-lingsorgaanj dit vereist echter een absolute frequentiemeting, een eis waaraan meestal slechts onder laboratoriumvoorwaarden kan worden vol* 10 daan. Indien niet kan worden afgezien van het referentietrillingsorgaan om redenen van een vereenvoudigde verdere signaalverwerking, wordt door de temperatuurbepaling volgens de uitvinding de mogelijkheid geschapen cm het effect van het snijhoekenverschil en het temperatuurverschil tussen meet- en referentietrillingsorgaan te corrigeren.
15 Als verder voordeel van de detector volgens de uitvinding bestaat de mogelijkheid de geïntegreerde temperatuuropnemer zodanig uit te voeren, dat deze ook toepasbaar is voor de directe verwarming van het kristal, waardoor het thermische' rendement wordt verbeterd en het te gebruiken vetwarmingsvermogen wordt verlaagd. Hiertoe zijn weerstand-20 vergrotende geometrieën, zoals meandervormige dunne-filmstructuren voordelig. Ook bestaat de mogelijkheid ten minste een van de electroden als temperatuuropnemer en/of verwarmingselement uit te voeren. Als meet- en referentietrillingsorganen kunnen alle geschikte materialen en sneden worden toegepast, echter worden bij voorkeur voor deze toepas-25 sing AT- of BT-snede-kwartsresonatoren gebruikt en wel vanwege de economische vervaardigingsmethoden en uitgebreide toepassing daarvan.
Als geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype kunnen weerstandopnemers, thermo-elementen en halfgeleidersensoren worden gebruikt en bij voorkeur worden voor deze toepassing metallische dunne 30 films toegepast. Deze dunne films kunnen evenals de elektroden worden aangebracht door middel van fysische, chemische en elektrisch chemische gas-, vloeistof- of vaste-stofreacties en bij voorkeur worden in het bijzonder kathodeverstuiving, verdamping of elektrisch chemische neerslag toegepast. ’ 35 De detector volgens de uitvinding kan als een-kristaldetector die als enig piëzo-elektrisch trillingsorgaan het meettrillingsorgaan bevat, als twee-kristaldetector die het meettrillingsorgaan en het referentietrillingsorgaan bevat, alsmede als meer-kristaldetector voor speciale doeleinden worden geconstrueerd. Bovendien zijn verschillende 40 uitvoeringsvormen mogelijk.
8402080 4 #- *
De uitvinding zal hierna aan de hand van een uitvoeringsvoorbeeld van een twee-kristaldetector worden toegelicht.
Fig. 1 illustreert een doorsnede van de inrichting van de veront-reinigingdetector.
5 Fig. 2 toont een bovenaanzicht van de kwartskristalsensoren.
Fig. 3 geeft de montage van de kwartskristallen weer.
Fig. 1 illustreert het meetkwartskristal 1 en het referentiekwartskristal 2, die op de basisplaat 3 van de koel-/verwarmingskamer 4 zijn gemonteerd, deze is door het detectorhuis 5 omsloten. Het referen-10 tiekwartskristal 2 is van het meetkristal 1 door een als verontrei-nigingsscherm werkende scheidingswand 6 en van de verontreinigingsbron door een warmte-doorlatend optisch venster 7 gescheiden. Dit optische venster 7 kan ook in de opening van het detectorhuis worden aangebracht, wanneer het verontreinigingsscherm voldoende is voor de be-15 scheming tegen verontreiniging van het referentiekwartskristal. De zichthoek van meet- en referentiekwartskristal wordt door de diafragma-openingen 8 en 9 daarvan in de koel-/verwarmingskamer 4 en in het detectorhuis 5 bepaald. De koel-/verwarmingskarner 4 wordt door middel van een thermo-elektrisch element 10 op de werktemperatuur gebracht, waar-20 bij de montageflens 11 als warmte-afvoerorgaan bij koeling is uitgevoerd. De elektronische schakeling 12 van de kwartsoscillator is onmiddellijk onder de montageflens 11 en in een thermisch te scheiden huis 13 nabij de beide kwartskristallen ingebouwd. Via een doorvoersteker 14 worden de elektrische signalen aan het meetstelsel toegevoerd.
25 Fig. 2 toont een mogelijke uitvoering van de kwartskristallen, waarbij behalve de elktroden 15 een geïntegreerde, meandervormige tem-peratuuropnemer 16 is aangebracht.
Fig. 3 toont de montage van de kwartskristallen in de koel-/ver-warmingskamer 4. Beide kwartskristallen zijn afzonderlijk door middel 30 van elektrisch geïsoleerde doorvoeren 17 in de basisplaat 3 gemonteerd, waarbij de kwartskristallen zelf door middel van een elastische ophanging 18 aan de doorvoeren 17 zijn bevestigd.
Om de warmteverliezen die door het mogelijke temperatuurverschil tussen' de koel-/verwamingskarner 4 en het detectorhuis 5 ontstaan, laag 35 te houden, zijn de betreffende vlakken 19 voorzien van een thermische strijklaag of andere thermische laag met een geringe, thermisch optische emissie en hoge reflectie in het temperatuurgebied van belang. Dit geldt eveneens voor vlakken die direct zijn blootgesteld aan warmtebronnen, zoals bijvoorbeeld de zon.
40 Aangezien daarentegen de warmte-overdracht tussen de koel-/verwar- 8402080 if % 5 mingskamer 4 en de beide kwartskristallen 1 en 2 zo groot mogelijk moet zijn om een laag benodigd vermogen te bereiken, zijn de binnenvlakken 20 van de koel-/verwarmingskamer 4 zodanig van een thermische strijk-laag of andere thermische laag voorzien, dat in het temperatuurgebied 5 van belang de thermisch optische emissie- en absorptiewaarden zo veel mogelijk de waarden van zwarte lichamen benaderen.
Afgezien van de ruimtevaarttoepassingen kan de detector volgens de uitvinding en de afzonderlijke onderdelen daarvan ook voor de verbetering van detectoren voor conventionele toepassingen worden gebruikt, 10 zoals aangroeisnelheidmonitors voor de bekledingstechnologieën, aero-sol-deeltjesanalysatoren voor milieubescherming en seismische detectoren voor de vroege waarschuwing voor aardbevingen.
8402080

Claims (19)

1. Piëzo-elektrische verontreinigingdetector, met het kenmerk, dat ten minste het piëzo-elektrische meettrillingsorgaan is voorzien 5 van ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne film-type.
2. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne film-type bestaat uit een weerstandselement.
3. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne film-type uit halfgeleidermateriaal bestaat.
4. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filrn- 15 type een thermo-element is.
5. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een elektrode eveneens is uitgevoerd als weerstand-tem-peratuuropnemer van het dunne filmtype.
6. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 5, met 20 het kenmerk, dat voor het verwarmen van het meettrillingsorgaan een van het meettrillingsorgaan gescheiden weerstandsverwarming is ingebouwd.
7. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 5, met het kenmerk, dat voor het verwannen van het meettrillingsorgaan, op het oppervlak daarvan een geïntegreerde weerstandsverwarming is aange- 25 bracht, die van de temperatuuropnemer van het dunne filmtype is gescheiden.
8. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 5, met het kenmerk, dat de temperatuuropnemer van het dunne filmtype eveneens als verwarmingselement voor het verwarmen van het meettrillingsorgaan 30 is uitgevoerd.
9. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de elektroden van het meettrillingsorgaan tevens als temperatuuropnemer van het dunne filmtype en ook als verwarmingselement voor het verwarmen van het meettrillingsorgaan zijn uitgevoerd.
10. Verontreinigingdetector volgens conclusies 2 en 5 tot en met 9, met het kenmerk, dat de geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype en de verwarmingselementen een weerstand-vergrotende geometrie, in het bijzonder een meandervormige of daarmee overeenkomende structuur hebben.
11. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 10, ’84 02 0 80 met het kenmerk, dat behalve het meettrillingsorgaan (1) een tweede re-ferentletrillingsorgaan (2) in de koel-/verwarmingskamer (4) is ingebouwd, dat van het eerste orgaan door een verontreinigingsschild (6) is gescheiden en door een optisch venster (7) tegen verontreiniging maar 5 niet tegen warmtestraling is beschermd.
12. Verontreinigingdetector volgens conclusie 11, met het kenmerk, dat het referentietrillingsorgaan (2) is voorzien van ten minste een of geen geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype volgens de conclusies 1 tot en met 5.
13. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat het optische venster (7) in de wand van de koel-/verwar-mingskamer (4) is aangebracht.
14. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat het optische venster (7) in de wand van het detectorhuis 15 (5) is aangebracht.
15. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat de koeling/verwarming in de koel-/verwarmingskamer (4) wordt uitgevoerd met een thermo-elektrisch element.
16. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het 20 kenmerk, dat voor het verminderen van de warmte-afgifte van de buitenwand van de koel-/verwarmingskamer (4) aan het detectorhuis (5), de buitenvlakken (19) van de koel-/verwarmingskamer (4) en de binnenvlakken (19) van het detectorhuis (5) ten minste gedeeltelijk zijn voorzien van een thermische strijklaag of andere thermische laag met een gerin- 25 ge, thermisch optische emissie maar met een sterke reflectie.
17. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat voor het bevorderen van de warmte-overdracht tussen de koel-/vervarmingskamer (4) en de beide piëzo-elektrische trillingsorga-nen (1 en 2), de binnenvlakken (20) van de koel-/verwarmingskamer (4) 30 ten minste gedeeltelijk zijn voorzien van een thermische strijklaag of andere thermische laag, waarvan de thermisch optische emissie- en ab-sorptiewaarden zo veel mogelijk de waarden van zwarte lichamen benaderen.
18. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 17, 35 met het kenmerk, dat de elektroden (15), de geïntegreerde temperatuur- opnemers van het dunne filmtype en de verwarmingselementen door middel van fysische, chemische en elektrisch chemische gas- of vloeistofreacties, of reacties van vaste stoffen worden aangebracht, in het bijzonder door kathodeverstuiving, opdampen en elektrischchemische methoden.
19. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 18 8402080 voor het bepalen van massaneerslag door gassen van materialen in vacuum, in het bijzonder in de ruimtevaarttechniek. iï 8402080
NL8402080A 1983-07-13 1984-06-29 Piëzo-elektrische verontreinigingsdetektor. NL191803C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH3826/83A CH662421A5 (de) 1983-07-13 1983-07-13 Piezoelektrischer kontaminationsdetektor.
CH382683 1983-07-13

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8402080A true NL8402080A (nl) 1985-02-01
NL191803B NL191803B (nl) 1996-04-01
NL191803C NL191803C (nl) 1996-08-02

Family

ID=4264296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8402080A NL191803C (nl) 1983-07-13 1984-06-29 Piëzo-elektrische verontreinigingsdetektor.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4561286A (nl)
JP (1) JPS6039530A (nl)
CH (1) CH662421A5 (nl)
DE (1) DE3422741A1 (nl)
FR (1) FR2549219B1 (nl)
GB (1) GB2149109B (nl)
NL (1) NL191803C (nl)

Families Citing this family (105)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1227357A (en) * 1985-02-12 1987-09-29 Minister Of National Defence Method and apparatus for detecting presence and concentration of vapours in gaseous fluids
JPS61231419A (ja) * 1985-04-08 1986-10-15 Nok Corp 有機物質の微量測定法
JPH0446202Y2 (nl) * 1985-07-12 1992-10-29
US4928513A (en) * 1986-07-29 1990-05-29 Sharp Kabushiki Kaisha Sensor
US4917499A (en) * 1986-10-03 1990-04-17 Hughes Aircraft Company Apparatus for analyzing contamination
DE3644821A1 (de) * 1986-12-31 1988-11-17 Gyulai Maria Dobosne Anordnung und verfahren fuer den einbau und den austausch von sensoren in geraeten aller art
US4801837A (en) * 1987-01-09 1989-01-31 Tello Adams Piezoelectric load measurement apparatus and circuits
US4905701A (en) * 1988-06-15 1990-03-06 National Research Development Corporation Apparatus and method for detecting small changes in attached mass of piezoelectric devices used as sensors
GB8828277D0 (en) * 1988-12-03 1989-01-05 Glasgow College Enterprises Lt Dust monitors & dust monitoring
GB8922601D0 (en) * 1989-10-06 1989-11-22 Rolls Royce Plc Thermal piezoelectric microbalance and method of using the same
FR2656925B1 (fr) * 1990-01-08 1992-05-15 Eg G Capteur d'humidite et installation de mesure comportant une pluralite de tels capteurs.
US5112642A (en) * 1990-03-30 1992-05-12 Leybold Inficon, Inc. Measuring and controlling deposition on a piezoelectric monitor crystal
US5004914A (en) * 1990-04-20 1991-04-02 Hughes Aircraft Company Fiber-optic interferometric chemical sensor
EP0502197A4 (en) * 1990-08-24 1993-03-31 Vsesojuzny Nauchno-Issledovatelsky Institut Prirodnykh Gazov (Vniigaz) Method and device for determining physical state parameters of a medium
US5542298A (en) * 1990-08-24 1996-08-06 Sarvazian; Armen P. Method for determining physical stage parameters of a medium and an apparatus for carrying out same
US5201215A (en) * 1991-10-17 1993-04-13 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method for simultaneous measurement of mass loading and fluid property changes using a quartz crystal microbalance
DE4218926A1 (de) * 1992-06-10 1993-12-16 Asea Brown Boveri Vorrichtung zur Messung einer Gasdichte
AU4657193A (en) * 1992-07-02 1994-01-31 Purafil, Inc. Corrosion profiling and diagnostic system
AT399052B (de) * 1992-07-21 1995-03-27 Avl Verbrennungskraft Messtech Sensoreinrichtung zur bestimmung der masse eines flüssigkeitsfilmes
JP3094190B2 (ja) * 1993-03-17 2000-10-03 セイコーインスツルメンツ株式会社 化学計測装置
WO1994028372A1 (en) * 1993-05-25 1994-12-08 Rosemount Inc. Organic chemical sensor
JP3239542B2 (ja) * 1993-06-21 2001-12-17 株式会社村田製作所 振動ジャイロの調整装置
US5476002A (en) * 1993-07-22 1995-12-19 Femtometrics, Inc. High sensitivity real-time NVR monitor
DE4332944A1 (de) * 1993-09-28 1995-03-30 Bosch Gmbh Robert Sensor mit einer Quarz-Stimmgabel
DE4424422C2 (de) * 1994-07-12 1996-08-01 Lies Hans Dieter Prof Dr Vorrichtung zum Bestimmen der Konzentration einer Flüssigkeitsmischung
DE9416564U1 (de) * 1994-10-14 1996-02-15 Pector Gmbh Vorrichtung zur Bestimmung der Zusammensetzung von Gasmischungen
SE504199C2 (sv) * 1995-05-04 1996-12-02 Bengt Kasemo Anordning vid mätning av resonansfrekvens och/eller dissipationsfaktor hos en piezoelektrisk kristallmikrovåg
GB9523812D0 (en) * 1995-11-21 1996-01-24 Sun Electric Uk Ltd Method and apparatus for analysis of particulate content of gases
US5852229A (en) * 1996-05-29 1998-12-22 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Piezoelectric resonator chemical sensing device
US5918258A (en) * 1996-07-11 1999-06-29 Bowers; William D. High-sensitivity instrument to measure NVR in fluids
US6020047A (en) * 1996-09-04 2000-02-01 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Polymer films having a printed self-assembling monolayer
ES2176704T3 (es) 1996-11-01 2002-12-01 Bp Oil Int Dispositivo de prueba y metodo de uso.
RU2094804C1 (ru) * 1997-01-16 1997-10-27 Виталий Васильевич Баранов Химический сенсор для определения пропанона-2 в воздухе, устройство для определения пропанона-2 в выдыхаемом воздухе и способ диагностики гиперкетонемии
US6180288B1 (en) 1997-03-21 2001-01-30 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Gel sensors and method of use thereof
AU737392B2 (en) * 1997-12-02 2001-08-16 Allan L Smith Mass and heat flow measurement sensor
US6060256A (en) 1997-12-16 2000-05-09 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Optical diffraction biosensor
US6167747B1 (en) 1998-08-14 2001-01-02 Tokheim Corporation Apparatus for detecting hydrocarbon using crystal oscillators within fuel dispensers
US6125687A (en) * 1998-08-20 2000-10-03 International Business Machines Corporation Apparatus for measuring outgassing of volatile materials from an object
US6221579B1 (en) 1998-12-11 2001-04-24 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Patterned binding of functionalized microspheres for optical diffraction-based biosensors
US6579673B2 (en) 1998-12-17 2003-06-17 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Patterned deposition of antibody binding protein for optical diffraction-based biosensors
DE19914109C2 (de) 1999-03-23 2001-10-11 Atotech Deutschland Gmbh Halterung für einen Schwingquarz
US6250140B1 (en) 1999-06-22 2001-06-26 Nalco Chemical Company Method for measuring the rate of a fouling reaction induced by heat transfer using a piezoelectric microbalance
US6223789B1 (en) * 1999-06-24 2001-05-01 Tokheim Corporation Regulation of vapor pump valve
ATE356441T1 (de) * 1999-06-29 2007-03-15 Siemens Ag Piezoaktor mit einer elektrisch leitenden mehrschichtfolie
WO2001033175A1 (en) * 1999-11-01 2001-05-10 The Johns Hopkins University Self-monitoring controller for quartz crystal microbalance sensors
US7167615B1 (en) 1999-11-05 2007-01-23 Board Of Regents, The University Of Texas System Resonant waveguide-grating filters and sensors and methods for making and using same
US6399295B1 (en) 1999-12-17 2002-06-04 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Use of wicking agent to eliminate wash steps for optical diffraction-based biosensors
ATE360815T1 (de) * 2000-08-08 2007-05-15 Akubio Ltd Quartzkristall sensorzelle
US6448697B1 (en) * 2000-12-28 2002-09-10 Cts Corporation Piezoelectric device having increased mechanical compliance
US6668618B2 (en) 2001-04-23 2003-12-30 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods of monitoring thin film deposition
US7098041B2 (en) 2001-12-11 2006-08-29 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Methods to view and analyze the results from diffraction-based diagnostics
US7102752B2 (en) 2001-12-11 2006-09-05 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Systems to view and analyze the results from diffraction-based diagnostics
US8367013B2 (en) 2001-12-24 2013-02-05 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Reading device, method, and system for conducting lateral flow assays
US20030119203A1 (en) 2001-12-24 2003-06-26 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Lateral flow assay devices and methods for conducting assays
US7214530B2 (en) 2002-05-03 2007-05-08 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Biomolecule diagnostic devices and method for producing biomolecule diagnostic devices
US7771922B2 (en) 2002-05-03 2010-08-10 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Biomolecule diagnostic device
US7118855B2 (en) * 2002-05-03 2006-10-10 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Diffraction-based diagnostic devices
US7485453B2 (en) 2002-05-03 2009-02-03 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Diffraction-based diagnostic devices
US7223534B2 (en) 2002-05-03 2007-05-29 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Diffraction-based diagnostic devices
US7223368B2 (en) 2002-05-03 2007-05-29 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Diffraction-based diagnostic devices
US7091049B2 (en) 2002-06-26 2006-08-15 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Enhanced diffraction-based biosensor devices
US7314763B2 (en) 2002-08-27 2008-01-01 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Fluidics-based assay devices
US7432105B2 (en) 2002-08-27 2008-10-07 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Self-calibration system for a magnetic binding assay
US7285424B2 (en) 2002-08-27 2007-10-23 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Membrane-based assay devices
US7169550B2 (en) * 2002-09-26 2007-01-30 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Diffraction-based diagnostic devices
US6922118B2 (en) * 2002-11-01 2005-07-26 Hrl Laboratories, Llc Micro electrical mechanical system (MEMS) tuning using focused ion beams
EP1418424A1 (en) * 2002-11-05 2004-05-12 Hok Instrument AB Gas content microsensor
US7781172B2 (en) 2003-11-21 2010-08-24 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method for extending the dynamic detection range of assay devices
US20040141541A1 (en) * 2002-12-02 2004-07-22 John Williams MEMS-based thermogravimetric analyzer
US7247500B2 (en) 2002-12-19 2007-07-24 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Reduction of the hook effect in membrane-based assay devices
US7209234B2 (en) * 2002-12-31 2007-04-24 J.A. Woollam Co., Inc. Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of material deposited from a fluid
US7030982B1 (en) 2002-12-31 2006-04-18 J.A. Woollam Co., Inc. Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of accumulated material
US7091427B2 (en) * 2003-01-28 2006-08-15 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Apparatus using resonance of a cavity to determine mass of a load
US7851209B2 (en) 2003-04-03 2010-12-14 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Reduction of the hook effect in assay devices
US20040197819A1 (en) 2003-04-03 2004-10-07 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Assay devices that utilize hollow particles
US6820485B2 (en) * 2003-04-21 2004-11-23 Tangidyne Corporation Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth
US7275436B2 (en) * 2003-04-21 2007-10-02 Tangidyne Corporation Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth
JP4329492B2 (ja) * 2003-10-28 2009-09-09 セイコーエプソン株式会社 圧電振動片と圧電デバイスおよびこれらの製造方法、ならびに圧電デバイスを利用した携帯電話装置および圧電デバイスを利用した電子機器
US7713748B2 (en) 2003-11-21 2010-05-11 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method of reducing the sensitivity of assay devices
US20050112703A1 (en) 2003-11-21 2005-05-26 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Membrane-based lateral flow assay devices that utilize phosphorescent detection
US7943395B2 (en) 2003-11-21 2011-05-17 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Extension of the dynamic detection range of assay devices
DE10357611A1 (de) * 2003-12-10 2005-07-07 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen von Partikeln in einem Abgas
US7943089B2 (en) 2003-12-19 2011-05-17 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Laminated assay devices
US7521226B2 (en) 2004-06-30 2009-04-21 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. One-step enzymatic and amine detection technique
ITVR20040149A1 (it) * 2004-09-22 2004-12-22 Sanitaria Scaligera Spa Sistema di monitoraggio rapido del gruppo sanguigno e per la rivelazione di reazioni immunoematologiche
WO2006138678A2 (en) * 2005-06-17 2006-12-28 Tangidyne Corporation Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth
JP4872576B2 (ja) * 2006-09-28 2012-02-08 凸版印刷株式会社 球状弾性表面波素子及びその駆動方法、温度計測装置
US20080236481A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Intevac Corporation Method of and apparatus for monitoring mass flow rate of lubricant vapor forming lubricant coatings of magnetic disks
US20090047417A1 (en) * 2007-03-30 2009-02-19 Barnes Michael S Method and system for vapor phase application of lubricant in disk media manufacturing process
US8109161B2 (en) * 2008-02-27 2012-02-07 Baker Hughes Incorporated Methods and apparatus for monitoring deposit formation in gas systems
DE102008050266A1 (de) * 2008-10-07 2010-04-08 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße eines Mediums
JP5347684B2 (ja) * 2009-04-22 2013-11-20 富士通株式会社 温度補償型水晶発振器、温度補償型水晶発振器を実装したプリント基板、及び温度補償型水晶発振器を搭載した電子機器
JP5624864B2 (ja) * 2010-12-06 2014-11-12 日本電波工業株式会社 温度制御型水晶振動子及び水晶発振器
JP5740274B2 (ja) * 2011-09-30 2015-06-24 京セラクリスタルデバイス株式会社 微少質量測定用センサ素子
WO2014003726A1 (en) * 2012-06-26 2014-01-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Geological seismic sensing apparatus temperature control
CN102818815B (zh) * 2012-08-16 2014-06-18 安徽万瑞冷电科技有限公司 热真空释气试验装置
US8945371B2 (en) * 2013-03-14 2015-02-03 Ecolab Usa Inc. Device and methods of using a piezoelectric microbalance sensor
US9128010B2 (en) * 2013-03-14 2015-09-08 Ecolab Usa Inc. Device and methods of using a piezoelectric microbalance sensor
US9971341B2 (en) * 2014-01-06 2018-05-15 Globalfoundries Inc. Crystal oscillator and the use thereof in semiconductor fabrication
US10048059B1 (en) 2015-08-21 2018-08-14 J. A. Woollam Co., Inc Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of material deposited at or etched from a working electrode that preferrably comprises non-normal oriented nanofibers
WO2017050355A1 (en) * 2015-09-22 2017-03-30 Applied Materials, Inc. Diffusion barrier for oscillation crystals, measurement assembly for measuring a deposition rate and method thereof
CN106370570B (zh) * 2016-08-25 2020-07-10 北京小米移动软件有限公司 颗粒物测量值的校准方法及装置
JP6714235B2 (ja) * 2016-11-14 2020-06-24 日本電波工業株式会社 物質検出システム及び物質検出方法
IT201900006274A1 (it) * 2019-04-23 2020-10-23 Nuovo Pignone Tecnologie Srl Disposizione con sensore e metodo per misurare sporcamento o erosione o corrosione, nonché macchina che monitorizza sporcamento o erosione o corrosione
FR3142006A1 (fr) * 2022-11-10 2024-05-17 Centre National d'Études Spatiales Appareil pour mesurer un taux d’humidité dans l’air

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1094677A (en) * 1961-05-15 1967-12-13 Exxon Research Engineering Co Integral heater piezoelectric devices
US3329004A (en) * 1963-09-23 1967-07-04 Exxon Research Engineering Co Coated piezoelectric analyzer
GB1062059A (en) * 1964-07-08 1967-03-15 Ultra Electronics Ltd Quartz crystal temperature control
US3478573A (en) * 1965-07-29 1969-11-18 Exxon Research Engineering Co Integral heater piezoelectric devices
DE1548215A1 (de) * 1966-05-04 1969-05-14 Feinpruef Gmbh Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der relativen Abweichungen von Laengen bezogen auf eine Sollaenge
CH440731A (de) * 1966-11-24 1967-07-31 Balzers Patent Beteilig Ag Verfahren und Anordnung zur Messung der Dicke von Aufdampfschichten
US3879992A (en) * 1970-05-12 1975-04-29 California Inst Of Techn Multiple crystal oscillator measuring apparatus
US3856466A (en) * 1971-01-04 1974-12-24 Exxon Research Engineering Co Fluid impurity analyzer
US3715563A (en) * 1971-04-19 1973-02-06 Frequency Electronics Inc Contact heaters for quartz crystals in evacuated enclosures
US3886785A (en) * 1971-11-15 1975-06-03 Ford Motor Co Gas sensor and method of manufacture
US3818254A (en) * 1973-01-18 1974-06-18 Quality Corp Thermally compensated crystal unit
US3828607A (en) * 1973-01-24 1974-08-13 Du Pont Phase lock detection and control for piezoelectric fluid analyzers
US3953844A (en) * 1973-04-11 1976-04-27 Celesco Industries Inc. Incipient fire detector
HU167641B (nl) * 1974-02-07 1975-11-28
FR2298099A1 (fr) * 1975-01-15 1976-08-13 Aquitaine Petrole Dispositif pour la mesure de la masse des particules d'un aerosol par unite de volume
US4091303A (en) * 1975-08-21 1978-05-23 Chiba Tadataka Piezoelectric quartz vibrator with heating electrode means
JPS5360293A (en) * 1976-11-10 1978-05-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Frost detector
JPS55113904A (en) * 1979-02-26 1980-09-02 Hitachi Ltd Method of zero point temperature compensation for strain-electric signal transducer
DE2916427C2 (de) * 1979-04-23 1987-02-12 Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh, 6100 Darmstadt Meßumformer mit einer Feder und einer darauf applizierten Dehnungsmeßstreifenanordnung
US4259606A (en) * 1979-05-25 1981-03-31 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Fast warm-up oven controlled piezoelectric oscillator
EP0022444B1 (en) * 1979-07-04 1983-10-12 Kidde-Graviner Limited Improvements in and relating to the detection of particles in a gaseous medium
FI60079C (fi) * 1980-02-29 1981-11-10 Vaisala Oy Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande
DE3007747A1 (de) * 1980-02-29 1981-09-24 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Sensor fuer eine physikalische groesse
GB2076151B (en) * 1980-04-18 1984-05-02 Secr Social Service Brit Method and apparatus for detecting the presence of a contaminant in a gaseous carrier
JPS5649299A (en) * 1980-04-24 1981-05-02 Iwasaki Kosei Extrusion type note
CH644722A5 (de) * 1980-07-21 1984-08-15 Balzers Hochvakuum Schwingquarzmesskopf.

Also Published As

Publication number Publication date
GB8416481D0 (en) 1984-08-01
FR2549219A1 (fr) 1985-01-18
NL191803B (nl) 1996-04-01
DE3422741C2 (nl) 1993-07-29
GB2149109A (en) 1985-06-05
FR2549219B1 (fr) 1989-12-22
DE3422741A1 (de) 1985-02-14
CH662421A5 (de) 1987-09-30
NL191803C (nl) 1996-08-02
JPS6039530A (ja) 1985-03-01
GB2149109B (en) 1986-12-17
US4561286A (en) 1985-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8402080A (nl) Piezo-elektrische verontreinigingsdetektor.
EP1036314B1 (en) Mass and heat flow measurement sensor
RU2122278C1 (ru) Термостатированный кварцевый генератор и способ настройки его терморегулятора
US5869763A (en) Method for measuring mass change using a quartz crystal microbalance
US5661226A (en) High sensitivity real-time NVR monitor
US7000479B1 (en) Heated pressure transducer
US7124640B1 (en) Thermal mounting plate for heated pressure transducer
EP0285451B1 (en) A flow sensor
US7275436B2 (en) Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth
Behrndt et al. Automatic control of film-deposition rate with the crystal oscillator for preparation of alloy films
EP0825717A1 (en) High thermal gain oven
EP0053341B1 (en) Digital temperature sensor
EP0288487A1 (en) CONTAMINATION ANALYSIS APPARATUS.
US5604392A (en) Levitated crystal resonator
US20040206178A1 (en) Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth
Vig et al. Microresonator sensor arrays
Vig et al. Application of quartz microresonators to uncooled infrared imaging arrays
RU2819747C1 (ru) Датчик для исследования загрязнения поверхности
Roundy et al. Pyroelectric sputtered thin film detectors
Shupenev et al. Hybrid mass and radiation sensor based on piezoelectric and thermoelectric effects
JPH0634448A (ja) 放射温度計
RU2018812C1 (ru) Детектор теплопроводности
JP2000321161A (ja) 静電容量型真空センサ
JPS61235725A (ja) 流量センサ
JPS60249023A (ja) 熱流センサ

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 20040101