NL8402080A - Piezo-elektrische verontreinigingsdetektor. - Google Patents
Piezo-elektrische verontreinigingsdetektor. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8402080A NL8402080A NL8402080A NL8402080A NL8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A NL 8402080 A NL8402080 A NL 8402080A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- detector according
- heating
- contamination detector
- temperature sensor
- contamination
- Prior art date
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 31
- 238000011109 contamination Methods 0.000 claims description 30
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 2
- 238000002848 electrochemical method Methods 0.000 claims 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 46
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 31
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 238000009388 chemical precipitation Methods 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000004035 construction material Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/063—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using piezoelectric resonators
- G01B7/066—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using piezoelectric resonators for measuring thickness of coating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02881—Temperature
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
i '·% N.0. 32.576
Piëzo-elektrische verontreinigingdetector.
De uitvinding heeft betrekking op een piëzo-elektrische verontreinigingdetector voor het bepalen van de massa of laagdikte van de in resp. op een oppervlak van een piëzo-elektrisch trillingsorgaan geadsorbeerde of gecondenseerde gasvormige, vloeibare of vaste stoffen.
5 Aan boord van raketten, satellieten en dergelijke vliegende licha men moet de verontreiniging van kritische onderdelen als gevolg van gassen en verdamping van de toegepaste constructiematerialen, de bekledingen daarvan en smeerstoffen door een restrictieve materiaalkeuze worden begrensd en moet de overblijvende verontreiniging van de kriti-10 sche onderdelen worden gecontroleerd. Bijzonder bedreigde onderdelen zijn: optische elementen, zoals infrarood-optieken, collectoren voor zonne-energie, of mechanische onderdelen zoals kleppen, of constructies die zijn voorzien van thermische strijklagen en andere thermische lagen voor een bepaald thermisch optisch gedrag (emissie- en reflectievermo-15 gen). Door toenemende toepassing van tot zeer lage temperaturen gekoelde optieken en sensoren en door de vervanging van metallische materialen door organische componenten is de problematiek ernstiger geworden en daardoor is een continue, aan boord toegepaste controle van de verontreiniging noodzakelijk.
20 £en van de meest toegepaste meetmethoden berust op de verandering van de trilllngsfrequentie van een piëzo-elektrisch trillingsorgaan door de extra massa van geadsorbeerde of gecondenseerde stoffen in resp. op een dergelijk kristaloppervlak dat naar de gasbron is toegekeerd.
25 Bij detectoren van bekende soort worden twee kwartskristallen toe gepast, een meetkwartskristal en een referentiekwartskristal. Deze worden gewoonlijk boven elkaar aangebracht en wel zodanig dat het meetkwartskristal het referentiekwartskristal bedekt cm te verhinderen dat dit wordt verontreinigd. Voor het selectief bepalen van de adsorptie of 30 condensatie van verschillende stoffen moet de temperatuur van het meet-kristal in het gewenste gebied controleerbaar kunnen worden gevarieerd.
Om meettechnische redenen moet het referentiekwartskristal dezelfde temperatuur aannemen, aangezien de trilllngsfrequentie niet slechts van de massa maar ook van de temperatuur van het kristal afhangt, die met 35 discrete temperatuuropnemers meestal tussen de beide kristallen wordt gemeten.
De temperatuurcontrole kan door een ingebouwd thermo-elektrisch moduul, door de warmte-uitwisseling door middel van van buiten af toe- 1402080 2 r ϊ· ΐ gevoerde, gekoelde resp. verwarmde gassen of vloeistoffen, of door andere geschikte methoden worden uitgevoerd.
Zoals verschillende auteurs hebben aangetoond, kunnen ondanks een compacte wijze van constructie aanzienlijke temperatuurverschillen tus-5 sen beide kwartskristallen ontstaan, die aanleiding geven tot oncontroleerbare en overeenkomstig daarmee niet corrigeerbare meetfouten.
Voorts werd vastgesteld dat met een discrete temperatuuropnemer, die tussen beide kwartskristallen is aangebracht, niet de werkelijke temperatuur van het meetkristal wordt gemeten, maar ongeveer de temperatuur 10 van de ondersteuning van het kwartskristal. Voorts kan met dergelijke detectoropstellingen een verontreiniging van het referentiekwartskris-tal niet volledig worden uitgesloten.
Bij dergelijke detectorontwerpen dient het referentiekwartskristal in de eerste plaats als temperatuurreferentie, aangezien een ideale de-15 tector een meetkwartskristal zonder een. of andere temperatuurcoëffi-cient moet bevatten. Aangezien dergelijke kwartskristallen die voor de betreffende detector geschikt zijn, niet bestaan, wordt daarom een tweede kwartskristal als temperatuurreferentie gebruikt, die op ideale wijze identiek is. Onvermijdelijke fabricagetoleranties van de kristal-20 snijhoek leiden in de praktijk echter tot afwijkende temperatuurcoëffi-cienten tussen beide kwartskristallen, die de meetwaarde vervalsen.
Door D.A. Wallace (Journal of Spacecraft, volume 17, nr 2) werd een gasdetector voorgesteld, waarbij door de toepassing van een dubbel kwartskristal ("doublet crystal") het temperatuurverschil tussen meet-25 en referentiekristal kan worden verminderd. Deze uitvoering heeft echter het nadeel van overspreken tussen de resonantiegebieden, dat wordt bepaald door de mogelijke koppeling tussen de verschillende meet- en referentietrillingen. Deze koppeling geeft aanleiding tot onstabiele frequenties en interferentieverschijnselen.
30 Voor het weer verdampen van de geadsorbeerde en gecondenseerde stoffen wordt in het algemeen het meetkristal verwarmd. Bij de hierboven genoemde detectorontwerpen wordt daarvoor een extra discreet verwarmingselement, of in bepaalde uitvoeringen de hierboven genoemde discrete temperatuuropnemer toegepast. Aangezien de warmte-overdracht in 35 hoofdzaak indirect plaats vindt door stralingsuitwisseling, is het thermische rendement gering en is dus het benodigde elektrische vermogen aanzienlijk.
De uitvinding heeft ten doel te voorzien in een piëzo-elektrische verontreinigingdetector van de in de aanhef genoemde soort, waarbij de 40 hierboven genoemde nadelen van onnauwkeurige bepaling en controle van 8402080 » i 3 de temperatuur worden, vermeden.
Dit doel wordt volgens de uitvinding bereid, doordat ten minste het meettrillingsorgaan is voorzien van ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype. Door de nauwkeurige kennis 5 van de kristaltemperatuur is een elektronische of numerieke correctie van de temperatuurinvloed op de trillingsfrequentie mogelijk. Hierdoor bestaat in beginsel de mogelijkheid af te zien van het referentietril-lingsorgaanj dit vereist echter een absolute frequentiemeting, een eis waaraan meestal slechts onder laboratoriumvoorwaarden kan worden vol* 10 daan. Indien niet kan worden afgezien van het referentietrillingsorgaan om redenen van een vereenvoudigde verdere signaalverwerking, wordt door de temperatuurbepaling volgens de uitvinding de mogelijkheid geschapen cm het effect van het snijhoekenverschil en het temperatuurverschil tussen meet- en referentietrillingsorgaan te corrigeren.
15 Als verder voordeel van de detector volgens de uitvinding bestaat de mogelijkheid de geïntegreerde temperatuuropnemer zodanig uit te voeren, dat deze ook toepasbaar is voor de directe verwarming van het kristal, waardoor het thermische' rendement wordt verbeterd en het te gebruiken vetwarmingsvermogen wordt verlaagd. Hiertoe zijn weerstand-20 vergrotende geometrieën, zoals meandervormige dunne-filmstructuren voordelig. Ook bestaat de mogelijkheid ten minste een van de electroden als temperatuuropnemer en/of verwarmingselement uit te voeren. Als meet- en referentietrillingsorganen kunnen alle geschikte materialen en sneden worden toegepast, echter worden bij voorkeur voor deze toepas-25 sing AT- of BT-snede-kwartsresonatoren gebruikt en wel vanwege de economische vervaardigingsmethoden en uitgebreide toepassing daarvan.
Als geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype kunnen weerstandopnemers, thermo-elementen en halfgeleidersensoren worden gebruikt en bij voorkeur worden voor deze toepassing metallische dunne 30 films toegepast. Deze dunne films kunnen evenals de elektroden worden aangebracht door middel van fysische, chemische en elektrisch chemische gas-, vloeistof- of vaste-stofreacties en bij voorkeur worden in het bijzonder kathodeverstuiving, verdamping of elektrisch chemische neerslag toegepast. ’ 35 De detector volgens de uitvinding kan als een-kristaldetector die als enig piëzo-elektrisch trillingsorgaan het meettrillingsorgaan bevat, als twee-kristaldetector die het meettrillingsorgaan en het referentietrillingsorgaan bevat, alsmede als meer-kristaldetector voor speciale doeleinden worden geconstrueerd. Bovendien zijn verschillende 40 uitvoeringsvormen mogelijk.
8402080 4 #- *
De uitvinding zal hierna aan de hand van een uitvoeringsvoorbeeld van een twee-kristaldetector worden toegelicht.
Fig. 1 illustreert een doorsnede van de inrichting van de veront-reinigingdetector.
5 Fig. 2 toont een bovenaanzicht van de kwartskristalsensoren.
Fig. 3 geeft de montage van de kwartskristallen weer.
Fig. 1 illustreert het meetkwartskristal 1 en het referentiekwartskristal 2, die op de basisplaat 3 van de koel-/verwarmingskamer 4 zijn gemonteerd, deze is door het detectorhuis 5 omsloten. Het referen-10 tiekwartskristal 2 is van het meetkristal 1 door een als verontrei-nigingsscherm werkende scheidingswand 6 en van de verontreinigingsbron door een warmte-doorlatend optisch venster 7 gescheiden. Dit optische venster 7 kan ook in de opening van het detectorhuis worden aangebracht, wanneer het verontreinigingsscherm voldoende is voor de be-15 scheming tegen verontreiniging van het referentiekwartskristal. De zichthoek van meet- en referentiekwartskristal wordt door de diafragma-openingen 8 en 9 daarvan in de koel-/verwarmingskamer 4 en in het detectorhuis 5 bepaald. De koel-/verwarmingskarner 4 wordt door middel van een thermo-elektrisch element 10 op de werktemperatuur gebracht, waar-20 bij de montageflens 11 als warmte-afvoerorgaan bij koeling is uitgevoerd. De elektronische schakeling 12 van de kwartsoscillator is onmiddellijk onder de montageflens 11 en in een thermisch te scheiden huis 13 nabij de beide kwartskristallen ingebouwd. Via een doorvoersteker 14 worden de elektrische signalen aan het meetstelsel toegevoerd.
25 Fig. 2 toont een mogelijke uitvoering van de kwartskristallen, waarbij behalve de elktroden 15 een geïntegreerde, meandervormige tem-peratuuropnemer 16 is aangebracht.
Fig. 3 toont de montage van de kwartskristallen in de koel-/ver-warmingskamer 4. Beide kwartskristallen zijn afzonderlijk door middel 30 van elektrisch geïsoleerde doorvoeren 17 in de basisplaat 3 gemonteerd, waarbij de kwartskristallen zelf door middel van een elastische ophanging 18 aan de doorvoeren 17 zijn bevestigd.
Om de warmteverliezen die door het mogelijke temperatuurverschil tussen' de koel-/verwamingskarner 4 en het detectorhuis 5 ontstaan, laag 35 te houden, zijn de betreffende vlakken 19 voorzien van een thermische strijklaag of andere thermische laag met een geringe, thermisch optische emissie en hoge reflectie in het temperatuurgebied van belang. Dit geldt eveneens voor vlakken die direct zijn blootgesteld aan warmtebronnen, zoals bijvoorbeeld de zon.
40 Aangezien daarentegen de warmte-overdracht tussen de koel-/verwar- 8402080 if % 5 mingskamer 4 en de beide kwartskristallen 1 en 2 zo groot mogelijk moet zijn om een laag benodigd vermogen te bereiken, zijn de binnenvlakken 20 van de koel-/verwarmingskamer 4 zodanig van een thermische strijk-laag of andere thermische laag voorzien, dat in het temperatuurgebied 5 van belang de thermisch optische emissie- en absorptiewaarden zo veel mogelijk de waarden van zwarte lichamen benaderen.
Afgezien van de ruimtevaarttoepassingen kan de detector volgens de uitvinding en de afzonderlijke onderdelen daarvan ook voor de verbetering van detectoren voor conventionele toepassingen worden gebruikt, 10 zoals aangroeisnelheidmonitors voor de bekledingstechnologieën, aero-sol-deeltjesanalysatoren voor milieubescherming en seismische detectoren voor de vroege waarschuwing voor aardbevingen.
8402080
Claims (19)
1. Piëzo-elektrische verontreinigingdetector, met het kenmerk, dat ten minste het piëzo-elektrische meettrillingsorgaan is voorzien 5 van ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne film-type.
2. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne film-type bestaat uit een weerstandselement.
3. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne film-type uit halfgeleidermateriaal bestaat.
4. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filrn- 15 type een thermo-element is.
5. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat ten minste een elektrode eveneens is uitgevoerd als weerstand-tem-peratuuropnemer van het dunne filmtype.
6. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 5, met 20 het kenmerk, dat voor het verwarmen van het meettrillingsorgaan een van het meettrillingsorgaan gescheiden weerstandsverwarming is ingebouwd.
7. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 5, met het kenmerk, dat voor het verwannen van het meettrillingsorgaan, op het oppervlak daarvan een geïntegreerde weerstandsverwarming is aange- 25 bracht, die van de temperatuuropnemer van het dunne filmtype is gescheiden.
8. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 5, met het kenmerk, dat de temperatuuropnemer van het dunne filmtype eveneens als verwarmingselement voor het verwarmen van het meettrillingsorgaan 30 is uitgevoerd.
9. Verontreinigingdetector volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de elektroden van het meettrillingsorgaan tevens als temperatuuropnemer van het dunne filmtype en ook als verwarmingselement voor het verwarmen van het meettrillingsorgaan zijn uitgevoerd.
10. Verontreinigingdetector volgens conclusies 2 en 5 tot en met 9, met het kenmerk, dat de geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype en de verwarmingselementen een weerstand-vergrotende geometrie, in het bijzonder een meandervormige of daarmee overeenkomende structuur hebben.
11. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 10, ’84 02 0 80 met het kenmerk, dat behalve het meettrillingsorgaan (1) een tweede re-ferentletrillingsorgaan (2) in de koel-/verwarmingskamer (4) is ingebouwd, dat van het eerste orgaan door een verontreinigingsschild (6) is gescheiden en door een optisch venster (7) tegen verontreiniging maar 5 niet tegen warmtestraling is beschermd.
12. Verontreinigingdetector volgens conclusie 11, met het kenmerk, dat het referentietrillingsorgaan (2) is voorzien van ten minste een of geen geïntegreerde temperatuuropnemer van het dunne filmtype volgens de conclusies 1 tot en met 5.
13. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat het optische venster (7) in de wand van de koel-/verwar-mingskamer (4) is aangebracht.
14. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat het optische venster (7) in de wand van het detectorhuis 15 (5) is aangebracht.
15. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat de koeling/verwarming in de koel-/verwarmingskamer (4) wordt uitgevoerd met een thermo-elektrisch element.
16. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het 20 kenmerk, dat voor het verminderen van de warmte-afgifte van de buitenwand van de koel-/verwarmingskamer (4) aan het detectorhuis (5), de buitenvlakken (19) van de koel-/verwarmingskamer (4) en de binnenvlakken (19) van het detectorhuis (5) ten minste gedeeltelijk zijn voorzien van een thermische strijklaag of andere thermische laag met een gerin- 25 ge, thermisch optische emissie maar met een sterke reflectie.
17. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 en 12, met het kenmerk, dat voor het bevorderen van de warmte-overdracht tussen de koel-/vervarmingskamer (4) en de beide piëzo-elektrische trillingsorga-nen (1 en 2), de binnenvlakken (20) van de koel-/verwarmingskamer (4) 30 ten minste gedeeltelijk zijn voorzien van een thermische strijklaag of andere thermische laag, waarvan de thermisch optische emissie- en ab-sorptiewaarden zo veel mogelijk de waarden van zwarte lichamen benaderen.
18. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 17, 35 met het kenmerk, dat de elektroden (15), de geïntegreerde temperatuur- opnemers van het dunne filmtype en de verwarmingselementen door middel van fysische, chemische en elektrisch chemische gas- of vloeistofreacties, of reacties van vaste stoffen worden aangebracht, in het bijzonder door kathodeverstuiving, opdampen en elektrischchemische methoden.
19. Verontreinigingdetector volgens conclusies 1 tot en met 18 8402080 voor het bepalen van massaneerslag door gassen van materialen in vacuum, in het bijzonder in de ruimtevaarttechniek. iï 8402080
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH3826/83A CH662421A5 (de) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | Piezoelektrischer kontaminationsdetektor. |
CH382683 | 1983-07-13 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8402080A true NL8402080A (nl) | 1985-02-01 |
NL191803B NL191803B (nl) | 1996-04-01 |
NL191803C NL191803C (nl) | 1996-08-02 |
Family
ID=4264296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8402080A NL191803C (nl) | 1983-07-13 | 1984-06-29 | Piëzo-elektrische verontreinigingsdetektor. |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4561286A (nl) |
JP (1) | JPS6039530A (nl) |
CH (1) | CH662421A5 (nl) |
DE (1) | DE3422741A1 (nl) |
FR (1) | FR2549219B1 (nl) |
GB (1) | GB2149109B (nl) |
NL (1) | NL191803C (nl) |
Families Citing this family (105)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1227357A (en) * | 1985-02-12 | 1987-09-29 | Minister Of National Defence | Method and apparatus for detecting presence and concentration of vapours in gaseous fluids |
JPS61231419A (ja) * | 1985-04-08 | 1986-10-15 | Nok Corp | 有機物質の微量測定法 |
JPH0446202Y2 (nl) * | 1985-07-12 | 1992-10-29 | ||
US4928513A (en) * | 1986-07-29 | 1990-05-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Sensor |
US4917499A (en) * | 1986-10-03 | 1990-04-17 | Hughes Aircraft Company | Apparatus for analyzing contamination |
DE3644821A1 (de) * | 1986-12-31 | 1988-11-17 | Gyulai Maria Dobosne | Anordnung und verfahren fuer den einbau und den austausch von sensoren in geraeten aller art |
US4801837A (en) * | 1987-01-09 | 1989-01-31 | Tello Adams | Piezoelectric load measurement apparatus and circuits |
US4905701A (en) * | 1988-06-15 | 1990-03-06 | National Research Development Corporation | Apparatus and method for detecting small changes in attached mass of piezoelectric devices used as sensors |
GB8828277D0 (en) * | 1988-12-03 | 1989-01-05 | Glasgow College Enterprises Lt | Dust monitors & dust monitoring |
GB8922601D0 (en) * | 1989-10-06 | 1989-11-22 | Rolls Royce Plc | Thermal piezoelectric microbalance and method of using the same |
FR2656925B1 (fr) * | 1990-01-08 | 1992-05-15 | Eg G | Capteur d'humidite et installation de mesure comportant une pluralite de tels capteurs. |
US5112642A (en) * | 1990-03-30 | 1992-05-12 | Leybold Inficon, Inc. | Measuring and controlling deposition on a piezoelectric monitor crystal |
US5004914A (en) * | 1990-04-20 | 1991-04-02 | Hughes Aircraft Company | Fiber-optic interferometric chemical sensor |
EP0502197A4 (en) * | 1990-08-24 | 1993-03-31 | Vsesojuzny Nauchno-Issledovatelsky Institut Prirodnykh Gazov (Vniigaz) | Method and device for determining physical state parameters of a medium |
US5542298A (en) * | 1990-08-24 | 1996-08-06 | Sarvazian; Armen P. | Method for determining physical stage parameters of a medium and an apparatus for carrying out same |
US5201215A (en) * | 1991-10-17 | 1993-04-13 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Method for simultaneous measurement of mass loading and fluid property changes using a quartz crystal microbalance |
DE4218926A1 (de) * | 1992-06-10 | 1993-12-16 | Asea Brown Boveri | Vorrichtung zur Messung einer Gasdichte |
AU4657193A (en) * | 1992-07-02 | 1994-01-31 | Purafil, Inc. | Corrosion profiling and diagnostic system |
AT399052B (de) * | 1992-07-21 | 1995-03-27 | Avl Verbrennungskraft Messtech | Sensoreinrichtung zur bestimmung der masse eines flüssigkeitsfilmes |
JP3094190B2 (ja) * | 1993-03-17 | 2000-10-03 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 化学計測装置 |
WO1994028372A1 (en) * | 1993-05-25 | 1994-12-08 | Rosemount Inc. | Organic chemical sensor |
JP3239542B2 (ja) * | 1993-06-21 | 2001-12-17 | 株式会社村田製作所 | 振動ジャイロの調整装置 |
US5476002A (en) * | 1993-07-22 | 1995-12-19 | Femtometrics, Inc. | High sensitivity real-time NVR monitor |
DE4332944A1 (de) * | 1993-09-28 | 1995-03-30 | Bosch Gmbh Robert | Sensor mit einer Quarz-Stimmgabel |
DE4424422C2 (de) * | 1994-07-12 | 1996-08-01 | Lies Hans Dieter Prof Dr | Vorrichtung zum Bestimmen der Konzentration einer Flüssigkeitsmischung |
DE9416564U1 (de) * | 1994-10-14 | 1996-02-15 | Pector Gmbh | Vorrichtung zur Bestimmung der Zusammensetzung von Gasmischungen |
SE504199C2 (sv) * | 1995-05-04 | 1996-12-02 | Bengt Kasemo | Anordning vid mätning av resonansfrekvens och/eller dissipationsfaktor hos en piezoelektrisk kristallmikrovåg |
GB9523812D0 (en) * | 1995-11-21 | 1996-01-24 | Sun Electric Uk Ltd | Method and apparatus for analysis of particulate content of gases |
US5852229A (en) * | 1996-05-29 | 1998-12-22 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Piezoelectric resonator chemical sensing device |
US5918258A (en) * | 1996-07-11 | 1999-06-29 | Bowers; William D. | High-sensitivity instrument to measure NVR in fluids |
US6020047A (en) * | 1996-09-04 | 2000-02-01 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Polymer films having a printed self-assembling monolayer |
ES2176704T3 (es) | 1996-11-01 | 2002-12-01 | Bp Oil Int | Dispositivo de prueba y metodo de uso. |
RU2094804C1 (ru) * | 1997-01-16 | 1997-10-27 | Виталий Васильевич Баранов | Химический сенсор для определения пропанона-2 в воздухе, устройство для определения пропанона-2 в выдыхаемом воздухе и способ диагностики гиперкетонемии |
US6180288B1 (en) | 1997-03-21 | 2001-01-30 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Gel sensors and method of use thereof |
AU737392B2 (en) * | 1997-12-02 | 2001-08-16 | Allan L Smith | Mass and heat flow measurement sensor |
US6060256A (en) | 1997-12-16 | 2000-05-09 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Optical diffraction biosensor |
US6167747B1 (en) | 1998-08-14 | 2001-01-02 | Tokheim Corporation | Apparatus for detecting hydrocarbon using crystal oscillators within fuel dispensers |
US6125687A (en) * | 1998-08-20 | 2000-10-03 | International Business Machines Corporation | Apparatus for measuring outgassing of volatile materials from an object |
US6221579B1 (en) | 1998-12-11 | 2001-04-24 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Patterned binding of functionalized microspheres for optical diffraction-based biosensors |
US6579673B2 (en) | 1998-12-17 | 2003-06-17 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Patterned deposition of antibody binding protein for optical diffraction-based biosensors |
DE19914109C2 (de) | 1999-03-23 | 2001-10-11 | Atotech Deutschland Gmbh | Halterung für einen Schwingquarz |
US6250140B1 (en) | 1999-06-22 | 2001-06-26 | Nalco Chemical Company | Method for measuring the rate of a fouling reaction induced by heat transfer using a piezoelectric microbalance |
US6223789B1 (en) * | 1999-06-24 | 2001-05-01 | Tokheim Corporation | Regulation of vapor pump valve |
ATE356441T1 (de) * | 1999-06-29 | 2007-03-15 | Siemens Ag | Piezoaktor mit einer elektrisch leitenden mehrschichtfolie |
WO2001033175A1 (en) * | 1999-11-01 | 2001-05-10 | The Johns Hopkins University | Self-monitoring controller for quartz crystal microbalance sensors |
US7167615B1 (en) | 1999-11-05 | 2007-01-23 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Resonant waveguide-grating filters and sensors and methods for making and using same |
US6399295B1 (en) | 1999-12-17 | 2002-06-04 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Use of wicking agent to eliminate wash steps for optical diffraction-based biosensors |
ATE360815T1 (de) * | 2000-08-08 | 2007-05-15 | Akubio Ltd | Quartzkristall sensorzelle |
US6448697B1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-09-10 | Cts Corporation | Piezoelectric device having increased mechanical compliance |
US6668618B2 (en) | 2001-04-23 | 2003-12-30 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods of monitoring thin film deposition |
US7098041B2 (en) | 2001-12-11 | 2006-08-29 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Methods to view and analyze the results from diffraction-based diagnostics |
US7102752B2 (en) | 2001-12-11 | 2006-09-05 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Systems to view and analyze the results from diffraction-based diagnostics |
US8367013B2 (en) | 2001-12-24 | 2013-02-05 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Reading device, method, and system for conducting lateral flow assays |
US20030119203A1 (en) | 2001-12-24 | 2003-06-26 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Lateral flow assay devices and methods for conducting assays |
US7214530B2 (en) | 2002-05-03 | 2007-05-08 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Biomolecule diagnostic devices and method for producing biomolecule diagnostic devices |
US7771922B2 (en) | 2002-05-03 | 2010-08-10 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Biomolecule diagnostic device |
US7118855B2 (en) * | 2002-05-03 | 2006-10-10 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Diffraction-based diagnostic devices |
US7485453B2 (en) | 2002-05-03 | 2009-02-03 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Diffraction-based diagnostic devices |
US7223534B2 (en) | 2002-05-03 | 2007-05-29 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Diffraction-based diagnostic devices |
US7223368B2 (en) | 2002-05-03 | 2007-05-29 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Diffraction-based diagnostic devices |
US7091049B2 (en) | 2002-06-26 | 2006-08-15 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Enhanced diffraction-based biosensor devices |
US7314763B2 (en) | 2002-08-27 | 2008-01-01 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Fluidics-based assay devices |
US7432105B2 (en) | 2002-08-27 | 2008-10-07 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Self-calibration system for a magnetic binding assay |
US7285424B2 (en) | 2002-08-27 | 2007-10-23 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Membrane-based assay devices |
US7169550B2 (en) * | 2002-09-26 | 2007-01-30 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Diffraction-based diagnostic devices |
US6922118B2 (en) * | 2002-11-01 | 2005-07-26 | Hrl Laboratories, Llc | Micro electrical mechanical system (MEMS) tuning using focused ion beams |
EP1418424A1 (en) * | 2002-11-05 | 2004-05-12 | Hok Instrument AB | Gas content microsensor |
US7781172B2 (en) | 2003-11-21 | 2010-08-24 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Method for extending the dynamic detection range of assay devices |
US20040141541A1 (en) * | 2002-12-02 | 2004-07-22 | John Williams | MEMS-based thermogravimetric analyzer |
US7247500B2 (en) | 2002-12-19 | 2007-07-24 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Reduction of the hook effect in membrane-based assay devices |
US7209234B2 (en) * | 2002-12-31 | 2007-04-24 | J.A. Woollam Co., Inc. | Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of material deposited from a fluid |
US7030982B1 (en) | 2002-12-31 | 2006-04-18 | J.A. Woollam Co., Inc. | Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of accumulated material |
US7091427B2 (en) * | 2003-01-28 | 2006-08-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Apparatus using resonance of a cavity to determine mass of a load |
US7851209B2 (en) | 2003-04-03 | 2010-12-14 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Reduction of the hook effect in assay devices |
US20040197819A1 (en) | 2003-04-03 | 2004-10-07 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Assay devices that utilize hollow particles |
US6820485B2 (en) * | 2003-04-21 | 2004-11-23 | Tangidyne Corporation | Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth |
US7275436B2 (en) * | 2003-04-21 | 2007-10-02 | Tangidyne Corporation | Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth |
JP4329492B2 (ja) * | 2003-10-28 | 2009-09-09 | セイコーエプソン株式会社 | 圧電振動片と圧電デバイスおよびこれらの製造方法、ならびに圧電デバイスを利用した携帯電話装置および圧電デバイスを利用した電子機器 |
US7713748B2 (en) | 2003-11-21 | 2010-05-11 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Method of reducing the sensitivity of assay devices |
US20050112703A1 (en) | 2003-11-21 | 2005-05-26 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Membrane-based lateral flow assay devices that utilize phosphorescent detection |
US7943395B2 (en) | 2003-11-21 | 2011-05-17 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Extension of the dynamic detection range of assay devices |
DE10357611A1 (de) * | 2003-12-10 | 2005-07-07 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen von Partikeln in einem Abgas |
US7943089B2 (en) | 2003-12-19 | 2011-05-17 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Laminated assay devices |
US7521226B2 (en) | 2004-06-30 | 2009-04-21 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | One-step enzymatic and amine detection technique |
ITVR20040149A1 (it) * | 2004-09-22 | 2004-12-22 | Sanitaria Scaligera Spa | Sistema di monitoraggio rapido del gruppo sanguigno e per la rivelazione di reazioni immunoematologiche |
WO2006138678A2 (en) * | 2005-06-17 | 2006-12-28 | Tangidyne Corporation | Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth |
JP4872576B2 (ja) * | 2006-09-28 | 2012-02-08 | 凸版印刷株式会社 | 球状弾性表面波素子及びその駆動方法、温度計測装置 |
US20080236481A1 (en) * | 2007-03-29 | 2008-10-02 | Intevac Corporation | Method of and apparatus for monitoring mass flow rate of lubricant vapor forming lubricant coatings of magnetic disks |
US20090047417A1 (en) * | 2007-03-30 | 2009-02-19 | Barnes Michael S | Method and system for vapor phase application of lubricant in disk media manufacturing process |
US8109161B2 (en) * | 2008-02-27 | 2012-02-07 | Baker Hughes Incorporated | Methods and apparatus for monitoring deposit formation in gas systems |
DE102008050266A1 (de) * | 2008-10-07 | 2010-04-08 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße eines Mediums |
JP5347684B2 (ja) * | 2009-04-22 | 2013-11-20 | 富士通株式会社 | 温度補償型水晶発振器、温度補償型水晶発振器を実装したプリント基板、及び温度補償型水晶発振器を搭載した電子機器 |
JP5624864B2 (ja) * | 2010-12-06 | 2014-11-12 | 日本電波工業株式会社 | 温度制御型水晶振動子及び水晶発振器 |
JP5740274B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-06-24 | 京セラクリスタルデバイス株式会社 | 微少質量測定用センサ素子 |
WO2014003726A1 (en) * | 2012-06-26 | 2014-01-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Geological seismic sensing apparatus temperature control |
CN102818815B (zh) * | 2012-08-16 | 2014-06-18 | 安徽万瑞冷电科技有限公司 | 热真空释气试验装置 |
US8945371B2 (en) * | 2013-03-14 | 2015-02-03 | Ecolab Usa Inc. | Device and methods of using a piezoelectric microbalance sensor |
US9128010B2 (en) * | 2013-03-14 | 2015-09-08 | Ecolab Usa Inc. | Device and methods of using a piezoelectric microbalance sensor |
US9971341B2 (en) * | 2014-01-06 | 2018-05-15 | Globalfoundries Inc. | Crystal oscillator and the use thereof in semiconductor fabrication |
US10048059B1 (en) | 2015-08-21 | 2018-08-14 | J. A. Woollam Co., Inc | Combined use of oscillating means and ellipsometry to determine uncorrelated effective thickness and optical constants of material deposited at or etched from a working electrode that preferrably comprises non-normal oriented nanofibers |
WO2017050355A1 (en) * | 2015-09-22 | 2017-03-30 | Applied Materials, Inc. | Diffusion barrier for oscillation crystals, measurement assembly for measuring a deposition rate and method thereof |
CN106370570B (zh) * | 2016-08-25 | 2020-07-10 | 北京小米移动软件有限公司 | 颗粒物测量值的校准方法及装置 |
JP6714235B2 (ja) * | 2016-11-14 | 2020-06-24 | 日本電波工業株式会社 | 物質検出システム及び物質検出方法 |
IT201900006274A1 (it) * | 2019-04-23 | 2020-10-23 | Nuovo Pignone Tecnologie Srl | Disposizione con sensore e metodo per misurare sporcamento o erosione o corrosione, nonché macchina che monitorizza sporcamento o erosione o corrosione |
FR3142006A1 (fr) * | 2022-11-10 | 2024-05-17 | Centre National d'Études Spatiales | Appareil pour mesurer un taux d’humidité dans l’air |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1094677A (en) * | 1961-05-15 | 1967-12-13 | Exxon Research Engineering Co | Integral heater piezoelectric devices |
US3329004A (en) * | 1963-09-23 | 1967-07-04 | Exxon Research Engineering Co | Coated piezoelectric analyzer |
GB1062059A (en) * | 1964-07-08 | 1967-03-15 | Ultra Electronics Ltd | Quartz crystal temperature control |
US3478573A (en) * | 1965-07-29 | 1969-11-18 | Exxon Research Engineering Co | Integral heater piezoelectric devices |
DE1548215A1 (de) * | 1966-05-04 | 1969-05-14 | Feinpruef Gmbh | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung der relativen Abweichungen von Laengen bezogen auf eine Sollaenge |
CH440731A (de) * | 1966-11-24 | 1967-07-31 | Balzers Patent Beteilig Ag | Verfahren und Anordnung zur Messung der Dicke von Aufdampfschichten |
US3879992A (en) * | 1970-05-12 | 1975-04-29 | California Inst Of Techn | Multiple crystal oscillator measuring apparatus |
US3856466A (en) * | 1971-01-04 | 1974-12-24 | Exxon Research Engineering Co | Fluid impurity analyzer |
US3715563A (en) * | 1971-04-19 | 1973-02-06 | Frequency Electronics Inc | Contact heaters for quartz crystals in evacuated enclosures |
US3886785A (en) * | 1971-11-15 | 1975-06-03 | Ford Motor Co | Gas sensor and method of manufacture |
US3818254A (en) * | 1973-01-18 | 1974-06-18 | Quality Corp | Thermally compensated crystal unit |
US3828607A (en) * | 1973-01-24 | 1974-08-13 | Du Pont | Phase lock detection and control for piezoelectric fluid analyzers |
US3953844A (en) * | 1973-04-11 | 1976-04-27 | Celesco Industries Inc. | Incipient fire detector |
HU167641B (nl) * | 1974-02-07 | 1975-11-28 | ||
FR2298099A1 (fr) * | 1975-01-15 | 1976-08-13 | Aquitaine Petrole | Dispositif pour la mesure de la masse des particules d'un aerosol par unite de volume |
US4091303A (en) * | 1975-08-21 | 1978-05-23 | Chiba Tadataka | Piezoelectric quartz vibrator with heating electrode means |
JPS5360293A (en) * | 1976-11-10 | 1978-05-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Frost detector |
JPS55113904A (en) * | 1979-02-26 | 1980-09-02 | Hitachi Ltd | Method of zero point temperature compensation for strain-electric signal transducer |
DE2916427C2 (de) * | 1979-04-23 | 1987-02-12 | Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh, 6100 Darmstadt | Meßumformer mit einer Feder und einer darauf applizierten Dehnungsmeßstreifenanordnung |
US4259606A (en) * | 1979-05-25 | 1981-03-31 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Fast warm-up oven controlled piezoelectric oscillator |
EP0022444B1 (en) * | 1979-07-04 | 1983-10-12 | Kidde-Graviner Limited | Improvements in and relating to the detection of particles in a gaseous medium |
FI60079C (fi) * | 1980-02-29 | 1981-11-10 | Vaisala Oy | Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande |
DE3007747A1 (de) * | 1980-02-29 | 1981-09-24 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Sensor fuer eine physikalische groesse |
GB2076151B (en) * | 1980-04-18 | 1984-05-02 | Secr Social Service Brit | Method and apparatus for detecting the presence of a contaminant in a gaseous carrier |
JPS5649299A (en) * | 1980-04-24 | 1981-05-02 | Iwasaki Kosei | Extrusion type note |
CH644722A5 (de) * | 1980-07-21 | 1984-08-15 | Balzers Hochvakuum | Schwingquarzmesskopf. |
-
1983
- 1983-07-13 CH CH3826/83A patent/CH662421A5/de not_active IP Right Cessation
-
1984
- 1984-06-19 DE DE19843422741 patent/DE3422741A1/de active Granted
- 1984-06-28 GB GB08416481A patent/GB2149109B/en not_active Expired
- 1984-06-28 US US06/625,550 patent/US4561286A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-06-29 NL NL8402080A patent/NL191803C/nl not_active IP Right Cessation
- 1984-07-06 JP JP59140436A patent/JPS6039530A/ja active Pending
- 1984-07-11 FR FR848411046A patent/FR2549219B1/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB8416481D0 (en) | 1984-08-01 |
FR2549219A1 (fr) | 1985-01-18 |
NL191803B (nl) | 1996-04-01 |
DE3422741C2 (nl) | 1993-07-29 |
GB2149109A (en) | 1985-06-05 |
FR2549219B1 (fr) | 1989-12-22 |
DE3422741A1 (de) | 1985-02-14 |
CH662421A5 (de) | 1987-09-30 |
NL191803C (nl) | 1996-08-02 |
JPS6039530A (ja) | 1985-03-01 |
GB2149109B (en) | 1986-12-17 |
US4561286A (en) | 1985-12-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL8402080A (nl) | Piezo-elektrische verontreinigingsdetektor. | |
EP1036314B1 (en) | Mass and heat flow measurement sensor | |
RU2122278C1 (ru) | Термостатированный кварцевый генератор и способ настройки его терморегулятора | |
US5869763A (en) | Method for measuring mass change using a quartz crystal microbalance | |
US5661226A (en) | High sensitivity real-time NVR monitor | |
US7000479B1 (en) | Heated pressure transducer | |
US7124640B1 (en) | Thermal mounting plate for heated pressure transducer | |
EP0285451B1 (en) | A flow sensor | |
US7275436B2 (en) | Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth | |
Behrndt et al. | Automatic control of film-deposition rate with the crystal oscillator for preparation of alloy films | |
EP0825717A1 (en) | High thermal gain oven | |
EP0053341B1 (en) | Digital temperature sensor | |
EP0288487A1 (en) | CONTAMINATION ANALYSIS APPARATUS. | |
US5604392A (en) | Levitated crystal resonator | |
US20040206178A1 (en) | Method and apparatus for measuring film thickness and film thickness growth | |
Vig et al. | Microresonator sensor arrays | |
Vig et al. | Application of quartz microresonators to uncooled infrared imaging arrays | |
RU2819747C1 (ru) | Датчик для исследования загрязнения поверхности | |
Roundy et al. | Pyroelectric sputtered thin film detectors | |
Shupenev et al. | Hybrid mass and radiation sensor based on piezoelectric and thermoelectric effects | |
JPH0634448A (ja) | 放射温度計 | |
RU2018812C1 (ru) | Детектор теплопроводности | |
JP2000321161A (ja) | 静電容量型真空センサ | |
JPS61235725A (ja) | 流量センサ | |
JPS60249023A (ja) | 熱流センサ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
BB | A search report has been drawn up | ||
BC | A request for examination has been filed | ||
V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 20040101 |