NL182601B - Magnetische elektronenobjectieflens voor gebruik in een aftastende elektroneninrichting. - Google Patents

Magnetische elektronenobjectieflens voor gebruik in een aftastende elektroneninrichting.

Info

Publication number
NL182601B
NL182601B NLAANVRAGE7902627,A NL7902627A NL182601B NL 182601 B NL182601 B NL 182601B NL 7902627 A NL7902627 A NL 7902627A NL 182601 B NL182601 B NL 182601B
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
objection
flange
magnetic
electron
scanning electron
Prior art date
Application number
NLAANVRAGE7902627,A
Other languages
English (en)
Other versions
NL182601C (nl
NL7902627A (nl
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Publication of NL7902627A publication Critical patent/NL7902627A/nl
Publication of NL182601B publication Critical patent/NL182601B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL182601C publication Critical patent/NL182601C/nl

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02—Details
    • H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/10—Lenses
    • H01J37/14—Lenses magnetic
    • H01J37/141—Electromagnetic lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
NLAANVRAGE7902627,A 1978-04-07 1979-04-04 Magnetische elektronenobjectieflens voor gebruik in een aftastende elektroneninrichting. NL182601C (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP53041082A JPS5842935B2 (ja) 1978-04-07 1978-04-07 走査電子顕微鏡等の対物レンズ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL7902627A NL7902627A (nl) 1979-10-09
NL182601B true NL182601B (nl) 1987-11-02
NL182601C NL182601C (nl) 1988-04-05

Family

ID=12598533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE7902627,A NL182601C (nl) 1978-04-07 1979-04-04 Magnetische elektronenobjectieflens voor gebruik in een aftastende elektroneninrichting.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4219732A (nl)
JP (1) JPS5842935B2 (nl)
DE (1) DE2913123C2 (nl)
FR (1) FR2422254A1 (nl)
GB (1) GB2018509B (nl)
NL (1) NL182601C (nl)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5945171B2 (ja) * 1979-12-28 1984-11-05 日本電子株式会社 電子レンズ
JPS57118357A (en) * 1981-01-14 1982-07-23 Jeol Ltd Objective lens for scan type electron microscope
US4412132A (en) * 1981-07-08 1983-10-25 Jeol Ltd. Electron lens equipped with three magnetic pole pieces
JPS6074250A (ja) * 1983-09-29 1985-04-26 Jeol Ltd 磁界型レンズ
JPS60220541A (ja) * 1984-04-17 1985-11-05 Jeol Ltd 透過電子顕微鏡
KR920000941B1 (ko) * 1988-02-16 1992-01-31 후지쓰 가부시끼가이샤 전자빔 노광장치
US5336891A (en) * 1992-06-16 1994-08-09 Arch Development Corporation Aberration free lens system for electron microscope
US6580074B1 (en) * 1996-09-24 2003-06-17 Hitachi, Ltd. Charged particle beam emitting device
US5729022A (en) * 1996-09-26 1998-03-17 Etec Systems, Inc. Composite concentric-gap magnetic lens and deflector with conical pole pieces
EP0910108B1 (de) * 1997-09-29 2004-11-24 Advantest Corporation Elektronenstrahl-Linse
US6960766B2 (en) * 2000-02-25 2005-11-01 Hermes-Microvision, Inc. Swinging objective retarding immersion lens electron optics focusing, deflection and signal collection system and method
US6392231B1 (en) 2000-02-25 2002-05-21 Hermes-Microvision, Inc. Swinging objective retarding immersion lens electron optics focusing, deflection and signal collection system and method
JP4772212B2 (ja) * 2001-05-31 2011-09-14 浜松ホトニクス株式会社 Ｘ線発生装置
EP2019414B1 (en) * 2007-07-27 2010-06-30 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Magnetic lens assembly
JP2014041734A (ja) * 2012-08-22 2014-03-06 Hitachi High-Technologies Corp 複合荷電粒子線装置
CN104133083A (zh) * 2014-07-09 2014-11-05 河冶科技股份有限公司 定量检测高v高速钢中mc碳化物的方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE914167C (de) * 1942-03-05 1954-06-28 Manfred Von Ardenne Magnetisches Objektiv fuer einen Korpuskularstrahlapparat
US2714678A (en) * 1950-09-03 1955-08-02 Siemens Ag Electron microscopes
NL190741A (nl) * 1953-09-24
NL285301A (nl) * 1961-11-15
NL294272A (nl) * 1963-06-19
NL145716B (nl) * 1964-06-06 1975-04-15 Philips Nv Elektronenstraalapparaat.
US3585546A (en) * 1969-10-21 1971-06-15 Jeol Ltd Objective lens pole pieces
JPS4936496B1 (nl) * 1970-04-18 1974-10-01
NL175245C (nl) * 1977-05-26 1984-10-01 Philips Nv Elektronenmicroscoop met hulplens en elektromagnetische lens hiervoor.

Also Published As

Publication number Publication date
NL182601C (nl) 1988-04-05
JPS54133069A (en) 1979-10-16
GB2018509B (en) 1982-09-02
JPS5842935B2 (ja) 1983-09-22
GB2018509A (en) 1979-10-17
NL7902627A (nl) 1979-10-09
DE2913123A1 (de) 1979-10-18
DE2913123C2 (de) 1989-07-20
FR2422254A1 (fr) 1979-11-02
FR2422254B1 (nl) 1983-01-28
US4219732A (en) 1980-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7904799A (nl) Afsluitinrichting voor een houder.
NL184505C (nl) Waarschuwingstoestel voor een anesthesie apparaat.
NL7903435A (nl) Ultrasonore aftastinrichting.
NL7901349A (nl) Aftastinrichting.
NL7900384A (nl) Aftastinrichting.
NL180055C (nl) Houder voor ten minste een afspeelplaat en een afspeelstelsel voor een afspeelplaat.
NL182601C (nl) Magnetische elektronenobjectieflens voor gebruik in een aftastende elektroneninrichting.
NL7900956A (nl) Instelbaar mondstuk voor een vloeistofuitstootin- richting.
NL179617C (nl) Registratiesysteem en cassette voor een dergelijk registratiesysteem.
NL7604463A (nl) Schakeling voor een televisie-ontvangbuis.
NL7607507A (nl) Deeltjesstraalmicroscoop met een raster voor doorstraling.
NL7901335A (nl) Generator voor een referentiespanning.
NL7803980A (nl) Beluchtingsinrichting voor een transportschip.
NL169159C (nl) Opendakconstructie voor een voertuig.
NL7900604A (nl) Schakeling voor bepaling van een tijdstip.
NL177768B (nl) Verbinding tussen een paar delen.
NL7806503A (nl) Inrichting voor twee-dimensionale aftasting.
NL7605491A (nl) Aftastinrichting voor een magneetbandapparaat.
NL182231C (nl) Neplanocine-antibiotica en een werkwijze voor de bereiding daarvan.
NL7709151A (nl) Deeltjesstraalmicroscoop met een raster voor doorstraling.
NL7900265A (nl) Aminoglycoside-antibiotica en een werkwijze voor de bereiding daarvan.
NL7904050A (nl) Tijdregistreerinrichting.
NL7902268A (nl) 2-hydroxymethylpyrazine-derivaten en een werkwijze voor de bereiding daarvan.
NL190630C (nl) Aftastinrichting voor een computer-gestuurd tomografisch stelsel.
NL7900753A (nl) Houder voor een handsproeier.

Legal Events

Date Code Title Description
A1A A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 19961101