NL173688C - Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderelement bestaande uit een parallelschakeling van ten minste twee in hoofdzaak identieke deelelementen. - Google Patents

Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderelement bestaande uit een parallelschakeling van ten minste twee in hoofdzaak identieke deelelementen.

Info

Publication number
NL173688C
NL173688C NLAANVRAGE7502113,A NL7502113A NL173688C NL 173688 C NL173688 C NL 173688C NL 7502113 A NL7502113 A NL 7502113A NL 173688 C NL173688 C NL 173688C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
manufacturing
semiconductor element
parallel circuit
element containing
identical part
Prior art date
Application number
NLAANVRAGE7502113,A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Other versions
NL7502113A (nl
Original Assignee
Bosch Gmbh Robert
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bosch Gmbh Robert filed Critical Bosch Gmbh Robert
Publication of NL7502113A publication Critical patent/NL7502113A/xx
Application granted granted Critical
Publication of NL173688C publication Critical patent/NL173688C/xx

Links

Classifications

    • H10P74/232—
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/316—Testing of analog circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/006—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation at wafer scale level, i.e. wafer scale integration [WSI]
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
    • H10W20/493—

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
NLAANVRAGE7502113,A 1974-02-22 1975-02-21 Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderelement bestaande uit een parallelschakeling van ten minste twee in hoofdzaak identieke deelelementen. NL173688C (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2408540A DE2408540C2 (de) 1974-02-22 1974-02-22 Halbleiterbauelement aus einer Vielzahl mindestens annähernd gleicher Schaltungselemente und Verfahren zum Erkennen und Abtrennen defekter Schaltungselemente

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL7502113A NL7502113A (nl) 1975-08-26
NL173688C true NL173688C (nl) 1984-02-16

Family

ID=5908165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE7502113,A NL173688C (nl) 1974-02-22 1975-02-21 Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderelement bestaande uit een parallelschakeling van ten minste twee in hoofdzaak identieke deelelementen.

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4038677A (enExample)
JP (1) JPS50120583A (enExample)
BR (1) BR7501038A (enExample)
DE (1) DE2408540C2 (enExample)
FR (1) FR2262409B1 (enExample)
GB (1) GB1503935A (enExample)
IT (1) IT1031904B (enExample)
NL (1) NL173688C (enExample)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5393781A (en) * 1977-01-27 1978-08-17 Toshiba Corp Semiconductor device
JPS5685934A (en) * 1979-12-14 1981-07-13 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Control signal generating circuit
JPS60117663A (ja) * 1983-11-29 1985-06-25 Mitsubishi Electric Corp 機能トリミング方法
DE3532383A1 (de) * 1985-09-11 1987-03-19 Bosch Gmbh Robert Multizellentransistor
US4639760A (en) * 1986-01-21 1987-01-27 Motorola, Inc. High power RF transistor assembly
JPH01500784A (ja) * 1986-09-17 1989-03-16 ザ　ゼネラル　エレクトリック　カンパニー，ピー．エル．シー． 集積回路の製造方法
DE3802794A1 (de) * 1988-01-30 1989-08-10 Bosch Gmbh Robert Leistungstransistor
IT1230895B (it) * 1989-06-22 1991-11-08 Sgs Thomson Microelectronics Transistore di potenza integrabile con ottimizzazione dei fenomeni di rottura secondaria diretta.
EP0433650B1 (en) * 1989-11-17 1998-03-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device having bipolar-MOS composite element pellet suitable for pressure contacted structure
US5721144A (en) * 1995-04-27 1998-02-24 International Business Machines Corporation Method of making trimmable modular MOSFETs for high aspect ratio applications
US5737041A (en) * 1995-07-31 1998-04-07 Image Quest Technologies, Inc. TFT, method of making and matrix displays incorporating the TFT
US6246243B1 (en) * 2000-01-21 2001-06-12 Analog Devices, Inc. Semi-fusible link system
US6507264B1 (en) 2000-08-28 2003-01-14 Littelfuse, Inc. Integral fuse for use in semiconductor packages
JP2002171141A (ja) * 2000-11-30 2002-06-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP2009170903A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Hynix Semiconductor Inc 複数のカッティング部を有するヒューズ及びこれを含むヒューズセット構造

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3553830A (en) * 1968-01-19 1971-01-12 Ibm Method for making integrated circuit apparatus
DE2256688B2 (de) * 1972-11-18 1976-05-06 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Verfahren zum auftrennen von leiterbahnen auf integrierten schaltkreisen

Also Published As

Publication number Publication date
DE2408540A1 (de) 1975-09-04
AU7703974A (en) 1976-07-01
JPS50120583A (enExample) 1975-09-20
IT1031904B (it) 1979-05-10
US4038677A (en) 1977-07-26
DE2408540C2 (de) 1982-04-08
NL7502113A (nl) 1975-08-26
GB1503935A (en) 1978-03-15
FR2262409B1 (enExample) 1978-10-06
BR7501038A (pt) 1975-12-02
FR2262409A1 (enExample) 1975-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL187508C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van halfgeleiderinrichtingen.
NL167090C (nl) Werkwijze voor het bereiden van een uit twee afzonderlijke componenten bestaand materiaal voor het vervaardigen van verharde tandvullingen.
NL7510336A (nl) Halfgeleiderinrichting en werkwijze voor het ver- vaardigen daarvan.
NL176818C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting.
NL173688C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderelement bestaande uit een parallelschakeling van ten minste twee in hoofdzaak identieke deelelementen.
NL7505447A (nl) Inrichting voor het vergelijken van twee patro- nen.
NL161302C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderin- richting.
NL176416C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een thermo-electrische halfgeleiderinrichting.
NL186478B (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting.
NL7507157A (nl) Elementairdraadje uit polyethyleentereftalaat en werkwijze voor het vervaardigen ervan.
NL186048C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting met twee passiveringslagen.
NL182603C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting met een uit ten minste twee geleidende bedradingslagen samengesteld geleiderstelsel.
NL7414007A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL7504260A (nl) Celstructuurplaat, alsmede werkwijze voor het vervaardigen daarvan.
NL7608923A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting.
NL162789C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleider- inrichting.
NL7508657A (nl) Fotocel, alsmede werkwijze voor het vervaardigen daarvan.
NL7507891A (nl) Halfgeleiderbouwelement met een dielektrische dra- ger, en een werkwijze voor de vervaardiging hiervan.
NL7413791A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL7509464A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.
NL7503284A (nl) Een uit een aantal delen bestaande worm, in het bijzonder een extruderworm.
NL186933C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleidergeheugenschakeling van het ladinggekoppelde type.
NL188124C (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting van het ladinggekoppelde type.
NL7512832A (nl) Schakeling voor het op onderbreking controleren van twee ruststroomlussen.
NL7505134A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een half- geleiderinrichting.